Температура ширина линии

В п. Е приведены выражения, физические величины и графический материал для нахождения и 1) , для газообразных продуктов сгорания Н2О, СО2, СО, N0, ЗОг и топлива СН,1. Указанные величины получены для ударно-уширенных линий. При очень высоких температурах и малых давлениях для газов с малым отношением ширины линий к среднему расстоянию (таких, как НЕ и НС1) необходимо учитывать допплеровское уширение. [c.489]

Ширина линий, наблюдаемых в спектрах кристаллов, может быть очень небольшой (часто меньше чем 1 см ). Общее представление относительно ширины линий таково ширина линий уменьщается с понижением температуры ширина увеличивается с уменьшением упорядоченности в кристалле, причем в случае стеклообразных веществ ширина полос весьма велика большая ширина наблюдается часто у очень интенсивных полос колебательных переходов. В спектре совершенного кристалла при низких температурах ширина линии, по-видимому, непосредственно зависит от скорости перехода колебательной энергии в энергию решетки. По мере того как повышается температура, взаимодействие с колебаниями решетки становится сильнее (вследствие роста значения ангармоничности) и ширина линии увеличивается. Если инструментальная ширина щели значительно превышает ширину линии, то увеличение ширины линии с повышением температуры может сопровождаться кажущимся увеличением наблюдаемой интенсивности поглощения. [c.589]

С повышением температуры ширина линий уменьшается. Это свидетельствует о том, что уширение линий определяется анизотропными взаимодействиями, которые усредняются цо мере увеличения интенсивности внутренних движений тина вращательных осцилляций фрагмента С—Н с большой амплитудой [561. В спектре полимера, облученного при 90° К дозой —200 Мрад, после нагревания [c.290]

Показано [44—46], что при появлении заторможенного вращения Ti начинает уменьшаться по экспоненциальному закону с повышением температуры. Ширина линии ЯКР начинает увеличиваться по закону [c.47]

Для термической сажи наблюдались четыре максимума концентрации ПМЦ, а для канальной и антраценовой саж — три. Обращает на себя внимание исключительная резкость максимумов, лежащих в районе температур обработок 1500, 1800 и 2000° С. В образцах, обработанных при температурах, отличавшихся от только что приведенных на 100—200° С, интенсивность сигнала ЭПР уменьшалась на несколько порядков и становилась меньшей чувствительности прибора. Маловероятно, что парамагнитное поглощение в некоторых образцах не наблюдалось из-за слишком большой ширины линий поглощения, так как ширина линий в соседних точках невелика, а со стороны высоких температур ширина линий поглощения уменьшается при переходе от 2200 к 2100° С от 26 до 16,5 д для термической сажи при одновременном незначительном увеличении концентрации ПМЦ. [c.154]

Установлено, что при повышении температуры ширина линий в спектрах комбинационного рассеяния увеличивается и что [c.325]

Для интерпретации радиационных эффектов снимались спектры ЭПР на приборе диапазона 3 см с двойной модуляцией (РЭ-1301). Все измерения проводились при комнатной температуре. Ширина линии облученного образца составляла около 33 э, после четырехчасовой термообработки при 450° С перед опытом сигнал стал более симметричным, амплитуда Сигнала несколько уменьшилась, ширина линии составила 9,6 э (рис. 1). [c.252]

Рис. 44. Изменение концентрации ПМЦ (кривые I и 2) и ширины линии поглощения (кривые 3 и 4) спектров ЭПР в зависимости от температуры

Ширина полос поглощения жидкостей на два-четыре порядка превосходит ширину линий поглощения газов при обычных давлениях, а ее зависимость от изменений среды (растворитель, другие компоненты смеси, температура) относительно много меньше зависимости ширины линий газа от давления. У жидких углеводородов ширина полос достигает 30 см -, как правило, она имеет величину от 15 до —5 см . Примерно в тех же пределах меняется и ширина полос обычных призменных монохроматоров. Поэтому наблюдаемые контуры полос оказываются в большей иди меньшей степени сглаженными (рис. 7), но в отличие от газов наблюдаемая величина может сравниваться с соответствующей истинной в той же точке . В последние годы инфракрасные спектрофотометры быстро совершенствуются, повышается их практическая разрешающая способность и соответственно измеряемые интенсивности полос приближаются к истинным. Например, такие большие расхождения, как 13 приведенном выше примере бензола, уже сравнительно редки, а обычные величины расхождений составляют 10—100%. [c.497]

Рис. 8-4. Изменение концентрации ПМЦ (х) и ширины линии поглощения (АН) в зависимости от температуры термообработки [В-5]

Рис. 9-46. Зависимость ширины линии ЭПР поглощения ПАН-волокна от температуры термообработки [9-82]

Допплеровская ширина линий зависит от массы излучающих атомов и их температуры в соответствии с законом Максвелла для распределения частиц по скоростям. Например, для линии неона (Л = 20) с длиной волны 585,2 нм при комнатной температуре (Г = 300 К) допплеровская полуширина равна 1,66-10" нм, т. е. больше естественной полуширины на два порядка. [c.140]

При обычных условиях атомизации (атмосферное давление, температура 2500—3500 К) ширина линий поглощения составляет всего 10- —10-2 ди Поэтому, если наблюдать абсорбцию на фоне источника сплошного спектра, для обеспечения приемлемой чувствительности измерений требуется спектральный прибор с высокой разрешающей способностью. Одновременно выделяемая им ширина спектрального интервала должна быть не больше ширины линии поглощения. В противном случае на линию поглощения будет накладываться непоглощенный свет от соседних с линией участков спектра источника и чувствительность измерений резко упадет. Именно по этой причине атомноабсорбционный метод долгое время не находил практического применения. [c.141]

Рис. 8.3. Зависимость ширины линий протонного резонанса от температуры

Имеются две области температур, различающиеся ио характеру зависимости ширины линии и второго момента, В низкотемпературной области сужение линии ЯМР обусловлено мелкомасштабными движениями, которые ответственны таклсе и за дипольно-груп-повую диэлектрическую релаксацию в полимерах. [c.223]

При температурах значительно выше температуры стеклования или плавления полимеров измерение ширины линии затруднительно, поэтому целесообразно измерять времена ядерной магнитной релаксации Т1 и Т2. Из данных рис. 8.8 следует наличие расхождений с результатами теории (пунктирная кривая), основанной на предположении о виде функции корреляции (8.10). При повышении температуры не обнаруживается тенденции к сближению Т1 и тз, которое, согласно теории, должно наступать сразу после проявления минимума Ть Еще более существенно наличие при высоких температурах двух поперечных времен релаксации и одного продольного. [c.225]

Диполь-дипольное взаимодействие. Каждая частица с неспаренным электроном является магнитным диполем с моментом [г, который создает локальное магнитное поле. Две частицы — диполи, находящиеся на расстоянии г, взаимодействуют друг с другом, что приводит к расщеплению линии поглощения. В среде, где таких частиц много, происходит уширение линии поглощения, вызванное диполь-дипольным взаимодействием. Обусловленная таким взаимодействием спин спиновая релаксация характеризуется временем Т . Вклад диполь-дипольного взаимодействия в ширину линии спектра ЭПР можно оценить, сняв спектр ЭПР при низкой температуре (например, температуре жидкого азота), когда спин-решеточным взаимодействием можно пренебречь. [c.298]

Экспериментальные измерения ширины линии или второго момента кривой поглощения ЯМР, а также времен релаксации с помощью импульсной аппаратуры в широком интервале температур, дающей возможность получить интересные сведения, позволяют детально охарактеризовать молекулярные движения в полимерах. Используя эту же методику, можно с успехом исследовать ряд процессов, например полимеризацию, деструкцию, кристаллизацию, пластификацию и т. д. [c.220]

Наибольшее распространение получили электрические разряды специального типа (так называемый разряд в полом катоде), ширины линий испускания которых уже, чем ширины линий поглощения атомов. Последнее связано с тем, что атомы определяемых элементов находятся в атомизаторах при значительно более высоких температурах и давлении по сравнению с атомами тех же самых элементов, которые являются источниками спектров испускания. [c.143]

Если металлы, образуя твердые растворы, при ширине области гомогенности до 10 вес.% заметно не изменяют своих свойств, то полупроводники чувствительны к изменению состава в пределах, гораздо, меньших (даже до 10 %), и их диаграммы надо показывать в гораздо больших масштабах. При такой чувствительности свойств (особенно электрофизических) к изменению состава полупроводники почти всегда придется считать твердыми растворами переменного состава, потому что очистка веш,еств до 10 % очень затруднительна. На рис. 52-а. этот важный участок диаграммы изображен в крупном масштабе по оси абсцисс и в уменьшенном — по оси ординат. Видно, чт растворимость сурьмы в твердом германии Х при некоторой температуре Тх и также при 590° С, хотя и мала, но все же не равна нулю, а максимальная растворимость еще несколько больше (Хм). Очень важно отношение содержания примеси в твердой фазе к содержанию той же примеси в жидкой фазе при данной температуре Хз. Это отношение представляет собой коэффициент распределения (гл. 1, 16) или коэффициент сегрегации примеси К- Хз и Х/. находятся по точкам пересечения изотермы, отвечающей данной температуре, с линиями ликвидуса и солидуса. (Равновесный коэффициент К. для сурьмы в германии при температуре кристаллизации последнего можно считать 0,003 [45].) [c.143]

Уравнение устанавливает связь между Т и параметром т]// для данной жидкости. Из этой связи можно ожидать, что для одной температуры более узкие линии будут у образцов с меньшей вязкостью, а для любого раствора при повышении температуры линии будут сужаться до тех пор, пока сохраняется зависимость ширины линии от температуры. [c.63]

Помимо частоты (рис. 31.10) характеристическими параметрами спектров ЯКР являются ширина линии Дv и времена спин-спиновой и спин-решеточной релаксации. Ширина линии ЯКР определяется, как правило, беспорядочным статистическим разбросом значений градиента из-за дефектов или напряжений, возникающих в неидеальных кристаллах, содержащих примеси. Температура заметно влияет на частоту, ширину и интенсивность линий ЯКР. Поэтому измерение частот ЯКР для химических исследований обычно [c.743]

Ширина линии АЯ. зависит от физической природы излучающего газа и увеличивается с увеличением давления и температуры. Длина когерентности соответственно уменьшается (уширение спектральных линий с увеличением давления). Волновые пакеты конечной длины не могут быть монохроматическими их полоса частот всегда конечна, поскольку волновой пакет конечной длины можно описать суммой членов разложения Фурье относительно основной частоты Vm- Даже воображаемый монохроматический и непрерывный волновой пакет имеет определенную полосу частот, поскольку он не бесконечный, а начинается в определенный момент времени. [c.100]

Рис.З. Зависимость интенсивности и ширины линии сдектра ЭПР-поглощения коксов от температуры термообработки. Метка "20" соответствует спектру исходного сырого кокса.

Из сопоставления полученных нами значений Г и Л вытекает, что ширина испускаемых ядрами при комнатной температуре спектральных линий в основном определяется допплеровской шириной и составляет примерно 0,25 эВ. [c.394]

Исследование кинетики графитации кокса с помощью высокотемпературного дифрактометра при изотермических выдержках от одной до 60 мин и температурах от 1000 до 2600 °С дали возможность установить, что основные изменения ширины дифракционных линий (002), (004), (110) и положения линии (002) происходили в течение первых 10 мин изотермической обработки. Формирование же трехмерных отражений (101) и (112) продолжалось в течение всего времени съемки, т.е. 1 ч. При этом трехмерного упорядочения не наблюдали при температуре ниже 2300 °С [15]. Тот факт, что измеренная при температуре изотермической выдержки ширина дифракционных линий (004) и (112) при охлаждении до комнатной температуры уменьшилась соответственно на 10 и 15 %, свидетельствовало о наличии напряжений в решетке из-за резкой деформации вдоль оси с. Они снимались при охлаждении ширина линий (002) и (110) при охлаждении не менялась. [c.21]

Сплавы последовательно отжигали в интервале температур 2200—500 С для сплавов различных составов. Время отжигов составляло от 1,5 до 500 ч. Закалку сплавов от температуры 1200° С и выше осуществляли в масле от 1050° С и ниже — в воде в установке типа описанной у Юм-Розери, в которой воду в момент закалки подавали под давлением непосредственно в вакуумированную зону нагрева образцов. О достижении равновесия судили по микроструктуре сплавов, отожженных при различных температурах, ширине и расщеплению линий на рентгенограммах сплавов. В отдельных случаях достижение равновесия контролировалось повторными отжигами при тех же температурах. [c.176]

Формирование значительного количества 5- феррита в структуре околошовного металла резко уменьшает склонность сварных соединений к образованию холодных трещин. Образование большого количества 5- феррита характерно для 13% -ных хромистых сгалей с содержанием С < 0,1%. Количество 6- феррита в структуре околошовного металла зависит от уровня температуры нагрева. В участках, нагреваемых до температур, близких к температуре соли-дуса, количество 6- феррита в структуре может стать подавляющим. Такая структура характерна для участка зоны термического влияния, примыкающего к линии сплавления со швом и подвергающегося при сварке влиянию наиболее высоких температур. Ширина этого участка мало зависит оз температуры подогрева, но возрастает с погонной энергией сварки. Поэтому ддя сталей 08X13 и 08Х14МФ с увеличением ширины участка с большим количеством 6- феррита отрицательное влияние его на вязкость сварных соединений возрастает. [c.238]

В результате влияния подвижности на ширину линии ЯМР-сигнал частично кристаллического полимера выше температуры стеклования состоит из двух компонент (рис. 20.21) [c.337]

Маттес и Рохов [51 на основании интерпретации данных ядерного магнитного резонанса заключили, что вращение метиленовых групп сохраняется даже до температуры жидкого азота. С повышением температуры ширина линии ядерного магнитного резонанса плавно увеличивается, что указывает на постепенное развитие молекулярного движения. По мнению Михайлова и Сажина [35], при температурах ниже температуры р-перехода диэлектрические потери являются дипольно-радикальными, т. е. связаны с тепловьм двин ением небольших участков, типа монозвеньев или радикалов. Для аморфного полиэфира при более высоких температурах дипольноэластические потери связаны с тепловым движением сегментов. [c.108]

Для выяснения того, какие из наблюдаемых в спектре ЯМР неэквивалетных линий относятся к аксиальным, а какие к экваториальным протонам СНг- и СНз-групп, проведем анализ ширин этих линий. При всех температурах ширины линий 2 и 4 от протонов СНз-групп практически одинаковы, хотя ширина линии 2 определяется только вкладом от дипольного взаимодействия (для нее у-снз О э), а для линии 4 велик вклад контактного взаимодействия (а снз —0,4 э). Отсюда следует, что дипольный вклад в ширину линии 4 меньше, чем в ширину линии 2. Это различие может быть обусловлено только тем, что протоны СНз-группы неодинаково удалены от иеспаренного электрона в радикале. Так как расстояния от атома азота до протонов аксильных и экваториальных групп СНз практически одинаковы, то различие в дипольных вкладах может быть обусловлено только разным расстоянием от иеспаренного электрона на атоме кислорода. Из геометрической структуры радикала (см. гл. VI, ) следует, что экваториальные группы СНз ближе расположены к атому кислорода. Поэтому можно считать, что линия 2 принадлежит протонам, которые занимают преимущественно экваториальное положение, а линия 4 относится к протонам, которые преобладающую часть времени проводят в аксиальном положении. [c.289]

Предложена модель, описывающая продукты термического синтеза фуллерена с ацетилацетонатом железа, по аналогии с хорошо изученными в физике твердого тела сплавами металлов с металлоидами, а также металлополимерами, магнитные и резонансные характеристики которых имеют сходство с полученными материалами. Мы установили, что при повышении температуры резонансное поле увеличивается, а ширина линии МР уменьшается, что позволяет воспользоваться теорией независимых зерен Шлемана для анализа данных МР и определения величины магнитной анизотропии, ее зависимости от состава исходной смеси уменьшение при снижении количества железа. Привлекая теорию Сликтера, мы провели оценку размера полученных частиц магнитной фазы и установили аналогичную закономерность. [c.163]

Из приведенных на рис. 8-4 кривых видно, что максимум концентрации ПМЦ и минимум ширины линии ЭПР поглощения (АЯ) с увеличением скорости нагрева смещаются в сторону более высоких температур. Это связано с запаздыванием описываемых ниже некоторых этапов пиролиза, по-видимому, ответственных за появление и увеличение концентрации локализованных ПМЦ. Ранее [В-4,5] отмечалось, что образование локализованных ПМЦ связано с процессами дегидрополиконденсации в веществе и взаимодействием карбояизованных фрагментов с выделяющимися газами и газовой атмосферой. Как правило, локализованные ПМЦ чувствительны к кислороду. [c.471]

При температурах значительно выше температуры стеклования или плавления полимеров измерение ширины линии затруднительно, поэтому целесообразно измерять времена ядерной магнитной релаксации ti и та. Данные рис. VIII. 6 свидетельствуют о наличии расхождений с результатами теории, основанной на предположении об экспоненциальном виде функции корреляции. При повышении температуры не обнаруживается тенденция к сближе [c.274]

При наложении переменного поля Я], для которого характерна частота v, возникает некоторая намагниченность, перпендикулярная постоянному полю Яо. Скорость установления этой намагниченности характеризуется поперечным временем релаксации хг, которое по порядку величины равно (уАЯ1/2) или (уАЯ ) . Следовательно, Хг (называемое также спин-спиновым временем релаксации), как и ширина линии, определяется магнитным дипольным взаимодействием ядерных спинов. При сильном сужении линии ЯМР полимеров (при высоких температурах) Тг стремится к Ть [c.216]

Деформационные свойства, в том числе механические потёри, являются проявлением релаксационных свойств полимеров. Влияние механических потерь на процесс разрушения поставило более широкую проблему о взаимосвязи релаксационных свойств (деформационных) и процессов разрушения в полимерах. Эта важная проблема находится в стадии развития как в теоретическом [10 11.20], так и в экспериментальном плане [11.21 11.22]. Так, замечено, что прочность испытывает на температурной зависимости скачкообразные изменения при температурах у- и -релаксационных переходов, когда изменяется молекулярная подвижность в цепях полимера. В стеклообразном состоянии существует ряд характерных температур (релаксационных переходов), в которых долговечность претерпевает изменение. Для исследования природы деформация и разрушения полимера в стеклообразном состоянии изучались ползучесть, долговечность, разрывное напряжение и ширина линии ЯМР в широком температурном интервале. Установлены следующие принципиальные положения. [c.317]

Малые размеры ОКР вызывают уширение линий, но это не единственная причина уширения, так как похожий эффект может быть вызван колебаниями в величинах парамет зов элементарных ячеек в пределах образца (определяется экспериментально среднее значение). Такая не вполне строгая периодичность связана с образованием вакансий или внедрением избыточных атомов. Если она не вызывает изменения в дальнем порядке, то влияние этих дефектов (микроискажений, микронапряжений) также отражается в ширине линий. Наконец, возможно статистическое смещение атомов из равновесных положений. Их влияние на дифракционную картину напоминает влияние тепловых колебаний интенсивность линий уменьшается, а диффузное рассеяние ( фон ) увеличивается. Перемещение атомов из неравновесных положений в равновесные может требовать энергии активации и не будет самопроизвольно происходить при низких температурах (например, при 25 С). Атомы колеблются около неравновесных положений, но амплитуда колебаний недостаточна для смещения их в равновесные. Поэтому такие дефек- [c.229]

Время спин-решеточной релаксации зависит от многих факторов температуры, вязкости среды и др. Время тем короче, чем выше концентрация магнитных ядер в образце. Присутствие парамагнитных ионов и свободных радикалов сильно сокращает величину Т , поскольку неспаренные электроны отличаются большим магнитным моментом, в сотни раз превосходящим магнитные моменты атомных ядер. Большинство твердых тел и вязких жидкостей имеет большое время спин-решеточной релаксации, порядка нескольких часов. У жидкостей и газов значение гораздо меньше — всего несколько секунд. Время спин-решеточной релаксации определяет ширину линий в спектрах ЯМР (она обратнопропорциональна Г ), а также то, насколько далека система ядерных спинов от состояния насыщения, т. е. максимально допустимую амплитуду вращающегося магнитного поля (мощность радиочастотного генератора ЯМР-спектрометра). [c.24]

Если взять источник света, в спектре которого содержатся линии, точно совпадающие но длине волны с линиями поглощения исследуемых атомов, причем ширина линий испускания этого источника (АХнсп) будет уже (или по крайней мере равна) ширине линий поглощения, то закон Бера будет выполняться с хорошей степенью точности. Такими источниками оказались свечения электрических разрядов разных типов, содержащих пары соединений того элемента, который необходимо определить в той или иной пробе. Причем как общее давление газа в таких источниках, так и давление паров соединений значительно меньше атмосферного (1 — 10 мм рт. ст.), что обусловливает малую ширину линий испускания в электрических разрядах пониженного давления. Узость линий обусловлена еще и тем, что такие разряды используют при температурах порядка 200° С. [c.142]

На основании приведенных в таблице данных сделан вывод о существенных различиях в структуре исследованых типов 1-фракций. Высокая парамагнитная восприимчивость и низкая ширина ЛИНИН для а-фракции первого типа являются характерными для карбонизованных углеродных материалов, полученных при температурах 500- 700° С (область максимума для сигнала ЭПР в углеродных материалах), (-фракция второго типа представляет собой мезофазу и отличается от исходного нефтяного пека большей парамагнитной восприимчивостью и меньшей шириной линии сигнала ЭПР. Для 1-фрак ции третьего типа параметры сигнала ЭПР мало отличаются от соответствующих параметров исходного нефтяного пека. [c.85]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология