Влияние Т1 и Т2 на ширину линии

Рис. 135. Влияние ширины линии испускания на измеряемую абсорбционность

Построение модели начнем с анализа закономерностей движения газовой фазы, поскольку в рассматриваемой ситуации она оказывает решающее влияние на формирование структуры двухфазного потока в плоской камере с наклонными перегородками. При построении математической модели будем исходить из того, что реальное движение газового потока с числами Ке -- 10 - -10 в канале с системой наклонных перегородок по своему характеру близко к кавитационному движению газа в плоском диффузоре. При этом для указанных чисел Ке поток отрывается от всей поверхности диффузора, возникают обратные токи и сосредоточенные вихри значительного напряжения. Однако в этом случае по глубине аппарата (в отличие от его ширины) линии тока мало [c.173]

Рост интенсивности сопровождается увеличением ширины спектральной линии. Ширина спектральной линии определяется также рядом факторов — естественное уширение допплеровское уширение, связанное с учетом движения атома уширение вследствие влияния электрического поля (эффект Штарка) и вследствие влияния магнитного поля (эффект Зеемана). На ширину линии влияет концентрация атомов на нижнем уровне и характеристика прибора (аппаратурная ширина). [c.11]

В источниках света при столкновении атомов между собой под влиянием электрического поля ионов и вследствие ряда других причин происходит случайное смещение уровней и их расщепление. В результате ширина линии увеличивается и может составлять даже целые ангстремы. [c.54]

Чем меньше время жизни, тем больше ширина линии, т. е. как бы увеличивается число почти одинаковых, но все же слегка отличных по энергии путей протекания процесса. В случае влияния теплового движения молекул [c.302]

Такой тип релаксации обычно сильно проявляется в твердых телах и сильно вязких жидкостях, когда взаимодействующие частицы оказываются во множестве локальных полей соседних магнитных диполей. В твердых телах обычно Т2<Т], т. е. спин-спиновое взаимодействие сильнее спин-решеточного и оказывает основное влияние на ширину линии. В жидкостях вследствие быстрого движения молекул локальные магнитные поля усредняются и основной вклад в ширину линии дает спин-решеточная релаксация. [c.119]

Как правило, наблюдаются следующие случаи влияния локального поля на ширину линий. [c.334]

В результате влияния подвижности на ширину линии ЯМР-сигнал частично кристаллического полимера выше температуры стеклования состоит из двух компонент (рис. 20.21) [c.337]

Рис. 12.3-14. а — сигнал включает в себя два пика, отстоящие примерно на 0,6 ширины на половине высоты. Базовая линия возрастает и слегка искривлена. Уровень шумов составляет 5% б—двойное дифференцирование устраняет влияние базовой линии и делает пики (направлены вниз) достаточно хорошо разрешимыми. Использован 7-точечный фильтр из табл. 12.3-2. [c.491]

Нагата с сотрудниками [74, 75] провел обширные исследования влияния ширины отражательных перегородок на мощность, расходуемую лопастными мешалками на перемешивание. Результаты их исследований представлены на рис. IV-14. Начальное возрастание ширины отражательных перегородок вызывает повышение мощности, расходуемой на перемешивание, до некоторого значения, достигающего максимума, после чего дальнейшее увеличение ширины перегородок ведет к снижению мощности. Существует оптимальная ширина отражательных перегородок, при которой мощность системы максимальна. Этот максимум находится в диапазоне отношений B D = 0,11-f-0,14 для различных значений d D. Из рис. IV-14 следует также, что увеличение ширины отражательных перегородок более В = 0,2Z) уже не влияет на мощность, расходуемую на перемешивание (кривые переходят в горизонтальную линию). Правда, максимум несколько колеблется для кривых с различными отношениями B[D и d/Z), однако средний их максимум приходится на B/D = 0,125. Для четырех отражательных перегородок это дает общую ширину, равную 0,5Z). Поэтому Нагата и его сотрудники предложили зависимость [c.198]

Метод основан на влиянии исследуемого вещества на параметры лазерного излучения. Суть метода заключается в том, что реактор с газом помещают внутрь резонатора лазера с широким контуром усиления, как это показано на рис. 5.2. Главное - это подобрать параметры активной среды лазера так, чтобы усиление интенсивности света в ней компенсировало потери на зеркалах, но не компенсировало потери, связанные с исследуемым поглощением. Эти потери различаются по частотной зависимости. (Потери на зеркалах являются широкополосными по сравнению с узкими линиями поглощения регистрируемых молекул газа.) Необходимо, чтобы ширина линии поглощения регистрируемой частицы была значительно меньше ширины однородного контура генерации лазера. Теория показывает, что при выполнении этого условия интенсивность генерации света на частоте линии поглощения регистрируемых молекул будет описываться тем же законом Ламберта - Бера [c.118]

Помимо остаточной неоднородности магнитного поля (что является обычным), на ширину линий спектров ЯМР жидкостей могут влиять два фактора. Время жизни квантового стационарного состояния имеет порядок 27 следовательно, неопределенность значений связанной с ним энергии распределяется в диапазоне порядка А/27 ь что обусловливает разброс резонансных частот в диапазоне порядка У яТу. В случае жидкостей с очень коротким временем спин-решеточной релаксации Ту уширение линий благодаря неопределенности может быть весьма значительным. Другой тип уширения, известный под названием уши-рения за счет прямого дипольного влияния, обусловлен переменным локальным магнитным полем, появляющимся у ядра под влиянием соседних ядерных магнитов. Составляющая локального поля в направлении приложенного магнитного поля, обусловленная соседними магнитными диполями, весьма близка к нулю в жидкостях, молекулы в которых могут свободно поворачиваться. В вязких жидкостях, движение молекул в которых затруднено, влияние местного магнитного поля может оказаться достаточно большим, чтобы нарушить спектр ЯМР. [c.261]

Влияние плотности цепей сетки на сигналы ЯМР можно проследить с помош,ью сопоставления спектров и количественно оценить путем измерения ширины сигнала. Возможны два вида зависимости ширины линии в спектре ЯМР дН) от плотности пространственной сетки [c.514]

Если вращение свободно-радикальной молекулы нельзя рассматривать как изотропное, коэффициенты А, В, С в выражении (XI.6) будут зависеть от углов ориентации осей главных значений тензоров gii и Ац относительно осей эллипсоида вращения, которым может быть описана молекула. Влияние анизотропии движения молекул в изотропной среде на спектр ЭПР подробно рассмотрено в работах [200, 205]. Показано, в частности, что для радикала, имеющего форму эллипсоида, ширина линий спектра определяется комбинацией времен корреляции тц и тх, т. е. времен вращения эллипсоида вокруг оси симметрии и вокруг любой из осей, перпендикулярных оси симметрии. [c.284]

Разрешение, достигаемое на данной стадии литографического процесса, определяется параметрами экспонирующего устройства, свойствами резистов и факторами, влияющими на скорость обработки слоя резиста и образование нужного рельефа. Когда указывается разрешающая способность резиста, необходимо всегда приводить условия, в которых был образован рельеф, прежде всего ускоряющее напряжение, толщину слоя резиста, условия обработки резиста, а в некоторых случаях и последующих слоев [82], и способы измерения ширины линий. Без этих основных данных невозможно сравнивать отдельные материалы и сопоставлять результаты литографических процессов. Ниже перечислены факторы, оказывающие влияние на разрешающую способность электронной (I), рентгеновской (П) и ионной (И1) литографии. [c.241]

Для расплавов и растворов полимеров характерны спектры ЯМР высокого разрешения. Однако использование этих спектров затрудняется из-за большой ширины линий спектра вследствие высокой вязкости и наличия различных конфигурационных и конформационных последовательностей в цепи макромолекулы. Для уменьшения влияния этих явлений подбирают оптимальные растворители, съемку спектров проводят при повышенных температурах в разбавленных растворах. [c.28]

Для того чтобы с помощью двумерной спектроскопии определить естественные ширины линий многоквантовых переходов, необходимо рассмотреть вопрос о том, какое влияние оказывают неоднородные статические поля. Выражение (5.3.25) показывает, что р-квантовая когерентность испытывает усиленную в р раз зависимость от неоднородности статического поля ДБо(г) [c.337]

Влияние суммарной нестабильности уровней запуска ДХз на результаты измерений можно считать несущественной, если случайные смещения изображения на экране осциллографа не превышают половины ширины линии луча А х [c.109]

Влияние степени кристалличности па ширину линии ЯМР 213 [c.4]

Влияние степени поперечного сшивания на ширину линии ЯМР [c.5]

J, D. Winefordner, Appl. Spe tros ., 17, 109 (1963). Влияние щирины щели спектрометра на интенсивность атомных эмиссионных линий в эмиссионной пламенной фотометрии и влияние ширины линии источника на поглощение атомных абсорбционных линий в абсорбционной пламенной фотометрии. [c.236]

Ароматические углеводороды. Для количественного анализа типов ароматических углеводородов или структурных групп колебательные спектры применялись лишь в ограниченном числе случаев. Метод определения общего содержания ароматических соединений был описан Хейглем н др. [21], использовавшими линию комбинационного рассеяния в области 1600 см— , относящуюся к колебаниям сопряженной С=С связи ароматического кольца. Метод измерений аналогичен методу, предложенному этими авторами для определения общей непредельности. Для снижения влияния изменения положения линии в спектре для различных индивидуальных ароматических соединений бралось произведение коэффициента рассеяния на ширину линии у основания. Эта величина линейно связана с площадью под регистрируемым пиком. Среднее отклонение этой величины для 22 алкилбензолов составляло приблизительно 10%. [c.333]

Деформационные свойства, в том числе механические потёри, являются проявлением релаксационных свойств полимеров. Влияние механических потерь на процесс разрушения поставило более широкую проблему о взаимосвязи релаксационных свойств (деформационных) и процессов разрушения в полимерах. Эта важная проблема находится в стадии развития как в теоретическом [10 11.20], так и в экспериментальном плане [11.21 11.22]. Так, замечено, что прочность испытывает на температурной зависимости скачкообразные изменения при температурах у- и -релаксационных переходов, когда изменяется молекулярная подвижность в цепях полимера. В стеклообразном состоянии существует ряд характерных температур (релаксационных переходов), в которых долговечность претерпевает изменение. Для исследования природы деформация и разрушения полимера в стеклообразном состоянии изучались ползучесть, долговечность, разрывное напряжение и ширина линии ЯМР в широком температурном интервале. Установлены следующие принципиальные положения. [c.317]

Малые размеры ОКР вызывают уширение линий, но это не единственная причина уширения, так как похожий эффект может быть вызван колебаниями в величинах парамет зов элементарных ячеек в пределах образца (определяется экспериментально среднее значение). Такая не вполне строгая периодичность связана с образованием вакансий или внедрением избыточных атомов. Если она не вызывает изменения в дальнем порядке, то влияние этих дефектов (микроискажений, микронапряжений) также отражается в ширине линий. Наконец, возможно статистическое смещение атомов из равновесных положений. Их влияние на дифракционную картину напоминает влияние тепловых колебаний интенсивность линий уменьшается, а диффузное рассеяние ( фон ) увеличивается. Перемещение атомов из неравновесных положений в равновесные может требовать энергии активации и не будет самопроизвольно происходить при низких температурах (например, при 25 С). Атомы колеблются около неравновесных положений, но амплитуда колебаний недостаточна для смещения их в равновесные. Поэтому такие дефек- [c.229]

Основным методом для определения влияния обменных нроцессов на ширину линий в нарамагннтны, системах является не- [c.319]

Дальнейшую литературу о влиянии стохастических возмущений на ширину линий можно найти в работе G. S. Agarwal, Z. Phys. ВЗЗ, 111 (1979). [c.369]

Значительное влияние на наблюдаемую ширину линии и релаксационные свойства образца оказывает вязкость растворителя. Эти эффекты будут подробно обсуждаться далее. В первом приближении можно разделить применяемые для ЯМР растворители на вязкие (бензол, ДМФ, ДМСО, пиридин, толуол и вода) и невязкне (ацетон, ацетонитрил, хлороформ, хлористый метилен и метанол). Предельно высокое разрешение можно получить только в невязких растворителях. Наиболее подходящими для использования в ЯМР свойствами среди них обладает ацетон, который обычно и применяется при изготовлении образцов для тестов на разрешение. В рутинных экспериментах ЯМР вязкость раство- [c.57]

Все г-градиенты оказывают влияние иа ширину линии, причем чем выше порядок градиента, тем в более низкой части линии проявляются искажения. Градиенты нечетных порядков (7, 2 , Z ) вызывают симметричное уширение, а четных порядков - несимметричное (рис. 3.6, 6, г ТА (3). Обьлно чем выше порядок градиента, тем большие изменения требуются в нем на уровне поворота ручки это определяется конструкцией спектрометра. Для получения заметных искажений линии, приведенных иа рис. 3.6, использовались довольно большие смещения шиммов от правильного положения, При слабых отклонениях от правильных значений или в случае спектрометра с более слабым полем вместо отчетливых горбов на линин наблюдалось бы только ее уширение. [c.77]

Настройка шиммов но ССИ. Хотя амплитуда лока довольно хорошо отражает однородность поля и вполне достаточна для настройки прибора при измерении рутинных спектров, иногда она может вводи1ь оператора в заблуждение. Причина этого станет понятна, если задуматься, каким образом высота сигнала дейтерия связана с происходящими в магнитном поле изменениями. Сигнал лока это просто синглетная линия дейтериевого спектра, принадлежащая обычно растворителю. Однородность магнитного поля не оказывает влияния на площадь под этой линией, но влияет на ее фирму. Таким образом, при сужении линии, чтобы сохранить постоянной площадь, должна увеличива ься ее высота, которая как раз и отражает уровень лока. Теперь мы без труда можем вообразить такую ситуацию, когда линия становрггся выше, но при этом не приближается к идеальной лореицевой форме. Например, так может произойти при сужении верхией части линии с сохранением широкого основания. Можно сказать, что амплитуда лока отражает в основном изменения ширины линии (в том числе и упомянутого типа), а для более строгой оценки формы линии требуются иные критерии. [c.79]

С точки зрения влияния растворителей наибольший интерес представляют три параметра спектра электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) органического радикала — gf-фактор радикала, константа изотропного сверхтонкого расщепления (КСТР) от любого ядра в изучаемом радикале с отличным от нуля спином, ширина различных линий в спектре [2, 183—186, 390]. Величина g -фактора определяется напряженностью магнитного поля, при которой неспаренный электрон свободного радикала вступает в резонанс с постоянной частотой спектрометра ЭПР (обычно равной 9,5 ГГц). Константа изотропного СТР связана с распределением спиновой плотности я-электро-на (называемой также населенностью спина) в я-радикалах. Ширина линий связана с зависящими от температуры динамическими процессами, например с внутримолекулярным вращением или переносом электрона. Несколько вполне современных обзоров, посвященных изучению органических радикалов в растворах, опубликовано в сборнике [390]. [c.457]

Благодаря этому удается значительно уменьшить влияние трансляционной диффузии молекул во внешнем неоднородном поле на ширину линий в о)1-области. Частота повторения рефокусирующих импульсов должна быть меньше разности частот химических сдвигов взаимодействующих ядер. При этом удается избежать искажений сигнала из-за эффекта кажущейся сильной связи, возникающего под действием эффективного гамильтониана [7.7]. [c.436]

В литературе описано влияние температуры и значений pH на ширину линий ЯМР водных растворов хелатных комплексов Си - , N1 + и Ре + с этилендиаминтетрауксусной кислотой (ЭДТА) [192]. Концентрация этих комплексов, которая необходима для получения линии с шириной 10 Гц, почти, в два раза больше, чем для гидратированных ионов металлов, что указывает на быстрый обмен растворителя в центре координации —хелати-рованном ионе металла. [c.485]

Морариу и Миллс [117] измерили температурную зависимость ширины линий ЯМР в процессе адсорбции воды образцами диоксида кремния, имеющими центры с очень высокой энергией адсорбции. В ходе работы было изучено влияние изменения параметров, характеризующих поверхность адсорбента, на спин-спиновую релаксацию. С помощью импульсного ЯМР-метода определяли воду в песчанике при содержании воды в нем от 1 до 10% [воспроизводимость определения 1% (отн.)] [6]. Пористость образца, размеры частиц и наличие ферромагнитных примесей не влияли на результаты анализа. [c.487]

Влияние концентрации пластификатора на ширину линии ЯМР в пластифицированных полимерах Влияние структуры и состава на второй момент и время епин-решеточной релаксации Исследование молекулярного движения в полимерах методом ЯМР [c.5]

Результаты, полученные методом ЯМР, хорошо согласуются с температурной зависимостью динамического модуля Юнга для этих полимеров [18]. Было экспериментально показано, что при низких температурах динамический модуль Юнга и скорость звука в менее закристаллизованном полиэтилене высокого давления превышают соответствующие значения для более закристаллизованного линейного полиэтилена. Установлено [18], что аномальное влияние кристалличности на модуль упругости и скорость звука (при котором эти. параметры убывают с ростом к] связано с изменением эффективности межмолекулярного взаимодействия в аморфных областях и является типичным для тех кристаллических полимеров, для которых справедлива структурная модель Хоземанна — Бонара. Если эта аналогия между влиянием к на акустические свойства и ширину линии ЯМР при низких температурах является правильной, то можно ожидать, что результаты, подобные приведенным на рис. 51, должны наблюдаться при низких температурах для полиэтилентерефталата, но-ликапроамида, полиамида 68. [c.218]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология