Рассеяние рентгеновских лучей коэффициент

Интерпретация потенциальных кривых углеродных и оксидных материалов. Поскольку хемосорбция на углеродных материалах связана с переходами делокализованных электронов графитоподобных слоев, то размер структурных элементов и характер их соединения, а также тип функциональных групп должны сказываться на угловых коэффициентах изотерм фт—1п и потенциальных кривых. Известно, что с увеличением удельной поверхности технического углерода размеры кристаллитов уменьшаются от 3,0 до 2,4 нм . Кристаллиты дисперсных графитов значительно крупнее (более 5 лм ). Размеры кристаллитов активированных углей, напротив, намного меньше и, по данным малоуглового рассеяния рентгеновских лучей, они составляют около I нм2 и уменьшаются с увеличением удельной поверхности (эффективного значения) углей. [c.206]

Сведения о размерах, молекулярном весе и втором вириальном коэффициенте для олигомерных молекул можно получить методом малоуглового рассеяния рентгеновских лучей. [c.402]

Величины Л а суть коэффициенты рассеяния ионов, Яг —длина волны излучения. Входящие сюда интегралы представляют трехмерные фурье-преобразования, так что для однокомпонентных жидкостей их легко обратить, приходя в результате к бинарной функции, определяемой экспериментально [29]. В случае смесей также можно провести обращение, если одновременно использовать результаты экспериментов по рассеянию рентгеновских лучей и нейтронов. Во всяком случае, формулу (53) можно использовать для проверки точности теоретически полученных бинарных корреляционных функций расплавленных солей. Для этого их надо подставить в уравнение (53), а затем сравнить результат с экспериментально полученными рентгенограммами. [c.115]

На рис, 40 приводится зависимость полного коэффициента поглощения а от длины волны к при 0° С и 1 мм Hg для различных газов. Пунктирные части кривой указывают области, в которых преобладает рассеяние. При рассеянии рентгеновских лучей ионизация происходит вследствие поглощения рассеянного излучения, а также под действием комптоновских электронов и квантов, рассеянных при комптон-эффекте. Значение а пропорционально плотности и зависит от /. я Z [о. VZ ). Для малых ). комптоновское и упругое рассеяния превышают поглощение. [c.86]

Значение совпадающее с координатой минимума V2 (хг) для систем, приведенных выше, позволяет рассматривать парциальный мольный объем неэлектролита в растворе, в качестве структурно-чувствительного свойства. Следуя авторам [2, v. II] отметим еще раз, что oFf/ox2 < О свидетельствует о явлении гидрофобной гидратации, которая приводит к упрочнению связей вода — вода в окрестности растворенной частицы неэлектролита. Усиление структурной организации воды в области О <хг <х1 подтверждается несколькими независимыми методами. Так, вблизи х2 = х1 коэффициент диффузии воды минимален [247], проходит через максимум теплоемкость f(x) [212, р. 297]. Хотя структурная организация водных растворов неэлектролитов в области Х 2<Х2< Х2 не вполне ясна, имеются свидетельства в пользу микрогетерогенности подобных растворов, т. е. сосуществования в них микрообластей-, обогащенных водой или неэлектролитом (относительно формальной концентрации). В частности, наличие микрогетерогенности подтверждается данными о светорассеянии [220], о рассеянии рентгеновских лучей [221, с. 302]. [c.143]

Целью издания настоящего справочника является по крайней мере частичное восполнение указанного пробела в литературе по рентгеновской спектроскопии. Для большего удобства пользования справочником было решено распределить имеюш,ийся материал в двух томах, каждый из которых представлял бы самостоятельный интерес. Настоя-ш,ая книга, являющаяся первым томом справочника, содержит достаточно полную сводку длин волн известных в настоящее время линий рентгеновских спектров элементов, данные об относительных интенсивностях этих линий, общие сведения о коэффициентах ослабления и рассеяния рентгеновских лучей, а также некоторые данные из теории строения атома, используемые в рентгеновской спектроскопии. [c.4]

Ближний порядок, т. е. способ расположения соседних частиц в жидкостях вблизи температуры плавления, имеет много общего с расположением частиц в решетке кристалла. Об этом говорят как прямые методы исследования структуры (рассеяние рентгеновских лучей в жидкостях и кристаллах), так и косвенные данные, например, близость удельных объемов, теплоемкостей, сжимаемостей и термических коэффициентов термодинамических функций для кристаллов и жидкостей вблизи температуры плавления. В некоторых случаях после осторожного [c.131]

Несмотря на кажущуюся сложность, процесс поглощения рентгеновских лучей гораздо проще, чем в случае более длинноволновых оптических, где процесс излучения связан с валентными электронами. Поскольку поглощение и рассеяние рентгеновских лучей происходят в атомах вещества, массовый коэффициент их ослабления в большинстве случаев не зависит от агрегатного состояния образца и характера химических соединений элементов в нем. За редким исключением (в некоторых случаях полихроматического излучения), справедливо простое соотношение [c.222]

Прежде всего стал вопрос об определении числа электронов в том или ином атоме. Впервые это число для легких атомов было определено Томсоном путем изучения интенсивности рассеянных рентгеновских лучей тем или иным веществом. Опираясь на законы классической электродинамики, а также электромагнитную теорию светового излучения, Томсон вывел формулу, связывающую интенсивность рассеянны веществом рентгеновских лучей I с интенсивностью /о падающего на вещество пуч а этих лучей 1—Мо коэффициент пропорциональности к оказался величиной, зависящей не только от значений универсальных постоянных, но и еще от числа атомов в 1 см , а также от числа электронов в самом атоме. Применимость этого метода определения числа электронов только для легких атомов обусловлена тем, что при выводе формулы Томсону пришлось сделать допущение о слабой связи электронов в атоме и о том, что эти электроны выполняют гармонические колебания с той же частотой, что в падающее на них рентгеновское излучение, а потому обусловливают его рассеяние. Это допущение нельзя сделать в случае рассеяния рентгеновских лучей тяжелыми атомами. [c.14]

На основании измерения малоуглового рассеяния рентгеновских лучей были рассчитаны [961] молекулярная масса, радиус вращения, второй вириальный коэффициент, масса на единицу длины, гидродинамическая длина и радиус вращения поперечного сечения для полистирола в метилэтилкетоне. [c.241]

Из этих данных, а также из данных работ по изучению механизма разрушения полимеров с использованием методов рассеяния рентгеновских лучей, ядерного магнитного резонанса, ИК-спектроскопии и др. [15, 18, 19] следует, что за прочность полимеров ответственны химические связи. Вероятность процесса разрушения определяется величиной 11= По—уст. Чем больше напряжения, тем меньше величина энергетического барьера и более вероятен процесс разрушения. Предполагается, что благодаря межмолекулярным связям достигается определенное распределение механических усилий по цепям полимера. С этих позиций коэффициент у является количественной мерой микронеоднородности в распределении напряжений. Наименьшая величина коэффициента у, а следовательно, и высокая прочность полимеров соответствует более равномерному распределению напряжений по полимерным цепям. Эта закономерность сохраняется также при изменении молекулярной массы полимера. На основании этих исследований было сделано заключение о том, что уравнение временной зависимости прочности [c.11]

Для доказательства справедливости той или иной гипотезы ученые пользовались самыми разнообразными методами изучались коэффициенты преломления стекол, термическое расширение, спектры поглощения и пропускания, рассеяние рентгеновских лучей, сорбционные свойства, вязкость и многие другие свойства стекла. И несмотря на такое всестороннее изучение вопрос строения стекла в настоящее время не решен. [c.13]

Отсутствие в соединении атома, легко фиксируемого благодаря преобладающему участию в рассеянии рентгеновских лучей, значительно уменьшает возможности исследования структуры на первых его стадиях. Главная трудность заключается в отсутствии разумных оснований для выбора фазовых коэффициентов или знаков структурных амплитуд при построении ряда Фурье первого приближения. К кристаллохимическим данным приходится прибегать уже на этой сравнительно ранней стадии исследования. Принципы плотнейшей упаковки молекул—в случае чисто органических кристаллов, плотнейшей упаковки шаров—в случае ионных кристаллов, плотнейшей упаковки комплексов и ионов внешней сферы—в случае комплексных соединений—часто позволяют найти одну или несколько правдоподобных моделей структуры. Иногда определенные соображения о размещении атомов могут быть высказаны, исходя из оптических, магнитных и других свойств кристалла. Расчет фаз дифрагированных лучей (или знаков структурных амплитуд при наличии центров инверсии) на основе этих данных позволяет построить ряд первого приближения. Распределение электронной плотности, получаемое в результате суммирования ряда, должно либо подтвердить, либо отвергнуть предполагаемую модель структуры. Если модель была в общих чертах правильна, расположение максимумов будет ей соответствовать, и дальнейшая работа заключается лишь в уточнении координат атомов путем перерасчета фаз и повторных построений ряда. Неправильность исходного варианта структуры обнаруживается при наличии резких разногласий между предполагаемыми координатами атомов и расположением максимумов электронной плотности. Может оказаться, что распределение электронной плотности, полученное в результате суммирования первого ряда, является настолько размытым, что не позволяет категорически подтвердить или отвергнуть структуру. В этом случае решение дается после построения нескольких повторных рядов. В случае правильности исходной модели последовательные приближения должны выделять структуру все более четко. В противоположном случае повторные построения рядов не приводят к положительному результату. Взятый за основу вариант строения кристаллов приходится отвергнуть и все расчеты производить снова, исходя из иного предположения о структуре. [c.515]

Требование к исследуемому образцу. Для получения дифракционного эффекта требуется кристалл определенного размера. Последний зависит от коэффициента рассеяния и быстроты поглощения лучей в веществе поток электронов полностью поглощается при прохождении через слой в несколько микронов рентгеновские лучи дают достаточную интенсивность рассеяния при пересечении слоя в 1 мм для ощутимого рассеяния потока нейтронов нужны уже не миллиметры, а сантиметры. Поэтому для рентгеноструктурных исследований необходим монокристалл с размерами в пределах 0,1 —1,0 мм. В частности, можно использовать игольчатые (нитевидные) кристаллы очень небольшого поперечного сечения. Для нейтронографического исследования обычно требуется более массивный монокристалл — размером в 0,5—1 см (что, впрочем, существенно зависит от интенсивности первичного пучка нейтронов). Получение таких монокристаллов часто составляет самостоятельную техническую проблему. Наоборот, в электронографии можно пользоваться лишь кристаллическими пленками. Обычно они создаются путем кристаллизации вещества на аморфной, прозрач- [c.172]

Коэффициент поглощения рентгеновского излучения веществом убывает с увеличением его частоты. Монотонность этой зависимости скачкообразно нарушается (скачки поглощения) в областях частот, при которых энергия рентгеновских квантов становится достаточной для освобождения из атома электрона с А-, 1-, М-... оболочек. Направленный пучок рентгеновских лучей сечением 1 см , проходя через слой вещества, испытывает ослабление в результате взаимодействия с его атомами. Ослабление рентгеновских лучей обусловлено процессами когерентного и некогерентного рассеяния на атомах вещества (коэффициент рассеяния о) и истинным поглощением (коэффициент поглощения т). При порядковых номерах элементов 10—35 и длине рентгеновских лучей 0,1—1,0 им преобладающую роль в процессах ослабления играет истинное поглощение рентгеновских лучей. [c.215]

Один грамм любого вещества рассеивает примерно одну и ту же долю энергии рентгеновских лучей, падающих на вещество (эту долю называют массовым коэффициентом рассеяния и обозначают а/р). [c.167]

Недавние рентгеновские измерения Нартена [76, 77] и Дэнфорда [78] также указывают на постоянство структуры воды в присутствии растворенных веществ. Авторы исследовали водные растворы а у1миа-ка, фторида аммония, фторида тера-и-бутиламмония и сопоставили РФР этих растворов с РФР воды (рис. 5). Коэффициенты рассеяния рентгеновских лучей для азота, фтора и кислорода достаточно близки, и поэтому между этими атомами нельзя найти резкого различия. В работе [77] обнаружено разительное сходство (рис. 13) РФР аммиачных растворов и воды [77]. Были сделаны попытки объяснить РФР этих растворов с точки зрения структуры жидкого и твердого аммиака, а также структуры кристаллогидратов аммония. Однако полученные таким образом РФР значительно отличаются от РФР растворов. Хорошее согласие теории с экспериментальными данными для этих растворов получено в предположении, что молекулы занимают большие полиэдрические полости структуры воды аналогично несвязанным молекулам воды, чем и объясняли рентгеновские данные для чистого растворителя (рис, 6), Так, в случае 28,5 мол. % раствора NHз около 20% молекул NHз находится в полостях. По- [c.263]

Определение в-температуры по второму вириальному коэффициенту. При 0-температуре = О, следовательно, угол наклона графика зависимости л/с (или Нс/Яд) от с равен нулю. Для определения Лз, помимо измерений осмотического давления, могут использоваться такие методы определения молекулярных масс и размеров макромолекул, как светорассеяние, малоугловое рассеяние рентгеновских лучей и малоугловсе рассеяние тепловых нейтронов. Для определения 0 температуры находят А при разных температурах и строят зависимость от Г, которая линейна лишь вблизи 0-температуры. С другой стороны, Лд можно определять при одной температуре, варьируя состав смеси растворитель — осадитель. Состав, при котором А, = О, называется 0-составом. [c.161]

В настоящей работе методом малоуглового рассеяния рентгеновских лучей исследована молекулярная структура гептана и четыреххлористого углерода в жидком состоянии. Измерение угловой зависимости интенсивности рассеяния углеводородами выполнено на дифрактометре КРМ-1 с программным устройством в GuZa-излучении, в интервале углов 0,5 10 —3,5 10" paд при температуре 293 К. Для каждого угла рассеяния регистрировалось не менее 3 10 импульсов. Сглаживание кривых рассеяния проведено па ЭВМ методом частотного фильтрования [9], после чего вносилась поправка на коллимационные искажения [10]. Радиусы инерции (Rg) областей неоднородности электронной плотности определены по методу Гинье [11] из величины углового коэффициента зависимости 1п/(е) от и методом многократного рассеяния [12]. Максимальный размер и форма рассеивающих частиц определены по положению максимумов функции рассеяния [13] и асимптотическому поведению интенсивности малоуглового рассеяния/(е ") [14]. [c.114]

Представленные в табл. 1 данные для водных растйоров агара и низкомолекулярных жидкостей были получены методом светорассеяния, а для неорганических стекол —по рассеянию рентгеновских лучей с использованием для расчета тех же уравнений — (8) и (9). Из таблицы видно, что для всех исследованных систем коэффициенты диффузии отрицательны, что свидетельствует о восходящей диффузии — из области более разбавленной Б область более концентрированную. Это характерно для спино-дального фазового разделения. Величина О для 2%-ного раствора [c.74]

Сопоставляя результаты кинематического и динамического рассмотрения рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах, исследователи в период времени между двумя войнами сводят различия между ними к двум пунктам в направлениях и угловой ширине дифрагированных пучков и в величинах интегрального отражения. Что касается геометрии интерференции, то в течение указанного периода было выполнено значительное число работ, посвященных отклонению от формулы Вульфа — Брэгга измерениям коэффициента преломления методами, перенесенными из оптики видимого света определению универсальных констант, таких, как заряд электрона абсолютному определению длин волн и других величин. Эти исследования, выполненные Парратом, Бирдином, Бергеном и Дэвисом, Ларссоном, Бэклином, Стен-стремом, Реннингером и другими авторами, показали с полной убедительностью справедливость формул динамической теории. Вместе с тем полученные результаты имели во многих случаях скорее качественный, чем количественный характер [14]. [c.10]

Существенную роль в рассеянии рентгеновских лучей в кристаллах, в том числе и в динамическом рассеянии, играют тепловые движения атомов, а также диффузное рассеяние, частично также зависящее от тепловых колебаний. ]3лияние неупругого рассеяния па коэффициенты отражения и прохождения в динамическом режиме изучали теоретически ряд авторов, в частности Отеки [34], Афанасьев и Каган [35]. По-видимому, в теории двух последних авторов получено наиболее ясное физически и полное решение проблемы. Диффузное рассеяние, имеющее несколько различных аспектов, продолжает служить предметом теоретических и экспериментальных исследований [36]. [c.14]

Теория Орнстейна — Зернике не является молекулярной теорией, хотя в окончательной формуле для коэффициента рассеяния фигурирует величина, непосредственно связанная с силами межмолекулярного взаимодействия. Многими исследователями было показано, что теорию молекулярного рассеяния света в жидкостях и газах можно построить аналогично теории когерентного рассеяння рентгеновских лучей в жидкостях и газах [19, 20]. Моле- [c.330]

Глава 1. Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом и рентгеновские спектры. 1-1. Характеристическое рентгеновское излучение (длины волн К-серии рентгеновского излучения, длины волн Ь-серии рентг(Шовского излучения, относительные интенсивности линий if-серии характеристического спектра, ширина линий характеристического спектра, индексы асимметрии линий характеристического спектра). 1-2. Перевод С-единиц в абсолютные ангстремы. 1-3. Соотношения между единицами коэффициентов поглощения. 1-4. Рассеяние рентгеновских лучей (рассеяние рентгеновских лучей различных энергий электронными оболочками и ядрами атомов, рассеяние рентгеновских лучей в газах, массовые коэффициенты рассеяния рентгеновских лучей, массовые коэффициенты рассеяния о /р, коэффициенты рассеяния сечения некогерентного рассеяния рентгеновских лучей). 1-5. Поглощение рентгеновских лучей (скачок поглощения для некоторых элементов, вычисление коэффициентов поглощения, номограмма для определения коэффициентов поглощения). 1-6. Суммарное ослабление рентгеновских лучей (атомные коэффициенты ослабления для элементов, массовые коэффициенты ослабления у,/р для элементов, массовые коэффициенты ослабления ц/р для больших длин волн, массовые коэффициенты ослабления ц/р для малых длин волн, массовые коэффициенты ослабления ц/р для некоторых соединений, толщина слоя половинного ослабления рентгеновских лучей для некоторых элементов, толщина слоя ослабления при различных углах падения лучей на образец). 1-7. Ионизирующее действие рентгеновских лучей. 1-8. Преломление рентгеновских лучей (единичные декременты показателя преломления, углы полного внутреннего отражения). [c.320]

Атомы структуры не должны занимать частных беспараметри-ческих положений. Если атом имеет координаты л = О, у = О, г = О, то при усреднении величины со8 2т (кх + ку + 1г) будет получен не коэффициент 2, а 1. Если роль таких атомов в общем рассеянии рентгеновских лучей кристаллом невелика, погрешность будет незначительной однако, если в частных положениях находятся атомы с особенно большой рассеивающей способностью, — формулой Вильсона в обычном ее виде пользоваться нельзя. [c.168]

Основное неудобство, связанное с использованием нейтронов, состоит в том, что при доступных потоках этих частиц получение интенсивностей рассеяния, достаточных для структурного анализа, требует довольно длительных экспозиций. Кроме того, в настоящее время в мире существует всего несколько реакторов, способных давать подходящие потоки нейтронов с нужной энергией. В то же время у метода нейтронного рассеяния есть определенные преимущества перед рентгеновским рассеянием. Для прямого сравнения нейтронного и рентгеновского рассеяний нам нужно ввести понятие длины рассеяния. Это абсолютная мера рассеивающей способности частицы. Рассмотрим рассеяние рентгеновских лучей одним электроном. Интенсивность, т.е. энергия, излучаемая за единичное время в единицу телесного угла, равна 7 (0) = 7,90 10 %(1 -I- со5 2е)/2, где 26 — угол рассеяния, а /д — поток энергии через I см в падающем пучке (см. Си1П1ег, 1960). Таким образом, константа 7,90 10 , определяющая действительное количество рассеянной энергии, имеет размерность см. Это — сечение рассеяния, совершенно аналогичное коэффициенту экстинкции (см. Дополнение 7.2). [c.437]

В данном уравнении К представляет собой масштабный коэффициент, необходимый для того, чтобы привести экспериментальные данные (полученные в произвольном масштабе, зависящем от размера кристалла и интенсивности пучка рентгеновского излучения) к абсолютному масштабу рассеяния (величины /), используемому при определении расчетных структурных амплитуд (Fhfei) (или F ) из известных координат атомов Xj, yj, zj с использованием уравнения 11.2-7. Фактор А представляет собой коэффициент коррекции на поглощение рентгеновского излучения в соответствии с законом Бугера—Ламберта—Бера, который также должен учитьшать размер и характер (распределение сходных по симметрии граней) кристалла. Фактор Лоренца L компенсирует разницу в эффективных временах измерения для брэгговских отражений и зависит от брэгговского угла в и схемы экспериментальной установки. Р — поляризационный фактор, который позволяет учесть тот факт, что эффективность дифракции рентгеновских лучей зависит от поляризации падающего луча. [c.400]

Логически мы могли бы ожидать, что эта формула даст правильное значение отношения рассеяния электронов центральным электрическим зарядом —Ze. Однако фактически, как уже говорилось, электроны не действуют подобным образом, ибо они распределены вокруг ядра концентрическими слоями. Борр) показал, что заменой 2 на (2—/) вводится вполне достаточная поправка на распределение электронов. Здесь /—атомный коэффициент рассеяния для данного атома по отношению к рентгеновским лучам. Если же имеются два типа атомов, то вводится произведение (Z —/ )(2 —/ ). Для определения среднего отношения рассеяния для атома из данных опытов, проведенных с очен1. большим числом атомов в молекулах, неупорядоченно распределенных в газовой фазе, используется метод усреднения Вирля. Как п в предыдущем разделе, он ведет к следующей форме закона рассеяния электронов молекулами газа [c.464]

Число элементарных актов (рассеяния, выбивания фотоэлектронов и т. д.), приводящих к потере энергии пучком рентгеновских лучей, пропорционально числу атомов, находящихся на пути лучей. Пучок лучей сечением 100 мм на пути в 10/р мм пронизывает 1 г кещест-ва, а в 1 г данного вещества независимо от его агрегатного состояния, температуры, давления, под которым оно находится, всегда содержится одно и то же число атомов. Очевидно, для лучей данного спектрального состава потеря ин енсивности на пути в 1/р — постоянная величина. Поэтому в справочных таблицах фигурируют всегда значения не линейного коэффициента ослабления р,, а так называемого массового коэффициента )л/р, характеризующего потери на пути в 10/р мм. [c.149]

Смотреть страницы где упоминается термин Рассеяние рентгеновских лучей коэффициент: [c.120] [c.144] [c.558] [c.112] [c.65] [c.315] [c.303] [c.313] [c.184] [c.34] [c.376] [c.324] [c.224] [c.224] [c.558] [c.410] [c.311] [c.276] [c.65]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология