Параметры ионного тока

По-видимому, в общем случае при любом заданном наборе параметров ионный ток, регистрируемый детектором после разделения по массам, не служит характеристикой плазмы как единого целого — его химический состав отличается от среднего состава плазмы. [c.14]

З.А. Параметры ионного тока [c.142]

Однако литиевый электрод нашел применение в элементах с неводным электролитом на основе полярных растворителей, не образующих ИОНОВ водорода. Эдс наиболее распространенных химических источников тока с водным электролитом обычно находится в пределах 0,5—2,3 В эдс элементов с неводными электролитами может быть до 3,9 В. Величина эдс является наиболее характерным параметром источников тока одной и той же электрохимической [c.19]

Интенсивность эмиссии вторичных ионов 1-го элемента (/,) сильно зависит от параметров первичного ионного пучка (типов ионов, их энергии, плотности тока), анализируемой пробы (характера хим связей, физ. св-в, потенциала ионизации атомов, работы выхода электронов бомбардируемой пов-сти и др.), давления и состава остаточных газов в приборе. Величина /, характеризуется величиной вторичного ионного тока (в А) или скоростью счета импульсов (имп/с). Дифференц. выход вторичных ионов у, = К,/С где К,= = представляет собой отношение числа испускае- [c.260]

Электронную плотность Пе г, 2), ионную температуру / (г, г), электронную температуру Те г, г), скорость массового потока у (г, г) и потенциал плазмы Ф(г, г) измеряли в зависимости от параметров разряда тока дуги / (10—300 А), газового питания Р (0,2—8 см НТД/с), напряженности магнитного поля В (0,02— 0,54 Тл), однородного в пределах 5 /о, длины дуги I (непрерывно изменяемой от 25 до 250 см) и диаметра шнура (1 (внутренний диаметр катодных трубок составлял 6, 9, 12, 20, 30 мм кроме того, использовалось несколько специальных моделей). Разряд поддерживали стационарным. При стандартных условиях 1= = 140 см, =1,3 см, В = 0,34 Тл, /=100 А и Р = А,Ъ см НТД/с) падение напряжения на дуге составляло около 70 В. Приведенные далее рисунки могут служить иллюстрацией того, что даже в простой установке реальная плазма весьма сложна. [c.290]

Одна" кривая (О) получается путем настройки всех параметров (включая выталкивающий потенциал) на максимальный ионный ток, после чего изменяют выталкивающий потенциал, оставляя остальные параметры постоянными. Другая кривая (X) получается путем варьирования выталкивающего потенциала, при условии, что предварительная настройка на максимум осуществлялась при значении выталкивающего напряжения +5в по отношению к стенке ионизационной камеры. О настройка на первый максимум X настрой ка на второй максимум. [c.118]

От прибора требовалась разрешаюш ая сила 2500 в области массы 2500 при ширине щели Зц 0,05 мм и при использовании источника ионов с ионизацией электронным ударом. Как уже упоминалось, разрешаюш,ая сила прибора определяется величинами 8о, и аберрациями, вызванными в данном случае главным образом краевым магнитным полем, объемным зарядом и членом Аца . На рис. 8 показана зависимость рассчитанной величины разрешения от при различных значениях параметра с учетом аберрации. При расчете аберрации, обусловленной объемным зарядом, было принято, что ионный ток равен а для массы 500 с равномерным распределением пиков углеводородного масс-спектра при меньших массах. Пользуясь рис. 8, авторы выбрали величины = 254 мм и о = 0,046 мм. [c.65]

НИМИ, полученными в результате ряда экспериментов. Погрешности вычислены как максимальные отклонения от средних значений. Эти результаты получены в различное время и при различных условиях. Результаты практически не зависели от изменений таких параметров, как ток ионизирующих электронов, давление, условия фокусировки электронного пучка, положение магнита ионного источника и энергия ионов. Изломы на кривых ионизации для однозарядных и двухзарядных ионов могут быть скоррелированы со спектроскопически определенными энергетическими уровнями. Для ионов более высокого заряда нет, к сожалению, сведений об энергетических уровнях. Несколько известных уровней для иона Хе не соответствуют изломам на кривой появления этого иона. [c.399]

Электронный пучок оказывает сильное влияние на работу ионного источника. Такие параметры электронного пучка, как его общая интенсивность, распределение интенсивности по поперечному сечению пучка, положение пучка внутри ионизационной камеры, определяют наряду с другими факторами величину ионного тока, вытягиваемого через щель 5з. Поэтому знание всех этих параметров имеет первостепенную важность для управления процессами, происходящими в ионизационной камере. [c.80]

Заканчивая обзор, ещё раз обратим внимание на потенциальные возможности ИЦР-метода разделения изотопов. Приводя в разделе 7.2.2 оценку допустимых (по отношению к изотопической селективности нагрева) параметров плазмы и рассчитывая на их основе возможную разделительную мощность ИЦР-установки, мы фактически принимали плотность эквивалентного ионного тока порядка 100 мА/см . При коэффициенте извлечения 7 = = 0,3 0,5 ток ионов выделяемого изотопа на коллектор с единицы сечения плазменного потока будет на уровне тока ионов в одном луче электромагнитной разделительной установки. Уже показана возможность создания потока плазмы с площадью сечения 1000 см [24]. Нет запрета в теории на нагрев ионов по всему сечению таких потоков [19]. Поэтому представляются оправданными дальнейшие усилия, направленные на решение научных и технологических проблем ИЦР-метода разделения изотопов. Мы стремились показать наличие серьёзного задела в решении этих проблем. [c.325]

В первых двух вариантах возникают проблемы синхронизации сигнала, снимаемого с детектора хроматографа, с измеряемыми масс-спектральными параметрами. В первом варианте дополнительным требованием является также постоянство всех характеристик анализируемого образца после прохождения его через детектор хроматографа. Поэтому более предпочтителен третий вариант, в котором масс-спектрометр выступает в роли детектора. Регистрация изменений полного ионного тока дает в конечном итоге хроматограмму. [c.302]

В работе [87] описан интересный метод измерения полного ионного тока при помощи небольшого квадрупольного масс-спектрометра, встроенного дополнительно к главному ионному источнику в корпус источника масс-спектрометра с магнитным секторным полем. При регистрации полного ионного тока масс-фильтр работает только в режиме высокочастотного напряжения постоянное напряжение при этом не подключается. В этих условиях не происходит разделения ионного пучка по параметру miz. Нижняя граница области массовых чисел, ионы которых должны быть измерены как полный ионный ток, определяется амплитудой высокочастотного переменного напряжения. Большим преимуществом этой техники измерения является отличная стабильность нулевой линии сигнала полного ионного тока — даже в случае использования водородно-гелиевых смесей в качестве газа-носителя, когда детектирование полного ионного тока начинается со значения т/г=10. Квадрупольный фильтр может быть одновременно (и независимо от главного источника ионов) использован для измерения более полного масс-спектра или для селективного детектирования ионов. [c.303]

Более подробного рассмотрения заслуживают ошибки, связанные с интерференцией ионных пиков соседних масс изотопов. Такие погрешности трудно учесть ввиду того, что частичное совмещение пиков является функцией многих параметров напуска газа, фокусировки, процентной распространенности изотопов. Ионов [92] считает, что даже при двойной фокусировке всегда обнаруживается эффект совмещения изотопных пиков вследствие рассеяния ионов на молекулах остаточного газа в камере масс-спектрометра и его величина на расстоянии, соответствующем одной массовой единице, составляет 10 % от интегральной величины наиболее интенсивного пика. Нир [93] указывает, что при регистрации изотопного состава углерода вклад хвоста пика массы М 44 в пик массы М 45 составляет 0,5% от общего ионного тока, соответствующего изотопу С . [c.149]

Увеличение любого из этих параметров могло бы привести к линейному возрастанию ионного тока, который, при существующих инженерных рещениях конструкций ионных источников с электронным ударом, уже достиг своего оптимума. [c.19]

Подобная характеристика н-алканов, представляющая собой график дискретной функции /х(х), приведена на рис. 4.1. Для данного ряда п = X и вне зависимости от числа атомов углерода в конкретном гомологе более 90% суммарного ионного тока составляют ионы с д 6, попадающие в область массовых чисел с т/г < 100 (максимальны пики ионов с X = 2—4, т. е. с т/г 29, 43 и 57). Подобным же распределением интенсивностей характеризуются все углеводороды, не содержащие систем кратных связей, и их монофункциональные производные алкены, ацетилены, спирты, карбоновые кислоты, первичные амины, галогеналканы и другие классы веществ. Заметные изменения характера распределения интенсивностей пиков по параметрам х, в частности появление интенсивных пиков с х > 4, служат указанием на наличие систем сопряженных кратных связей в молекуле, нескольких циклов (в сочетании с относительно высокой интенсивностью пика молекулярных ионов), функциональных групп, связанных с несколькими углеводородными радикалами, либо же нескольких функциональных групп (вторичные и третичные амины, сложные эфиры моно- и поликарбоновых кислот, эфиры ди- и полиатомных спиртов и т. д.). В последнем случае интенсивности пиков молекулярных ионов могут быть небольшими. [c.56]

Фактор Е равен суммарной интенсивности всех пиков с четными массовыми числами в суммарном ионном токе или же сумме величин 1у с четными параметрами у. Значения Е также указаны в приложении VI для рядов, не дающих пиков молекулярных ионов. Учитывай возможные колебания этих величин в пределах 10% ионного тока от средних для ряда значений, они округлены до десятков процентов. Учет фактора Е значительно сокращает число предполагаемых рядов и делает возможным анализ даже области Р < 5. Так, если Р = 4, а Е = 70, то такое соединение может быть отнесено только к пяти рядам, удовлетворяющим условиям 2,5 Р 5,5 и 60 80. [c.96]

Для измерения парциального давления используются различные виды масс-спектрометров, основными параметрами которых являются диапазон регистрируемых масс разрешающая способность, определяемая как отношение М/Д7И, где М — регистрируемая масса, а АМ — разность двух соседних масс, еще разрешаемых прибором (разрешающая способность обычно выражается отношением массового числа к ширине пика ионного тока на половине его высоты и для большинства масс-спектрометров лежит в пределах от 20 до 50) чувствительность, определяемая минимальным регист рируемым парциальным давлением (отношение ионного тока к соответствующему ему парциальному давлению), причем у различных типов масс-спектрометров чувствительность колеблется в широких пределах диапазон измеряемых давлений (обычно от 10 до 10 мм рт. ст.). [c.149]

Однако несомненно, что наиболее важные факторы, ограничивающие точность и воспроизводимость, связаны не с детектором, а со случайными измерениями определенных параметров источника ионов. Значительные вариации состава ионного тока могут быть вызваны изменениями напряжения пробоя, расстояния между электродами, длительности и частоты повторения импульсов, ускоряющего напряжения, смещением искрового разряда вдоль ионно-оптической оси прибора или в перпендикулярном направлении, а также изменением локальной геометрии области разряда (включая размеры, форму и относительное расположение электродов из исследуемого вещества). Ряд параметров подвержен значительным неконтролируемым изменениям. Влияние некоторых из них демонстрируется в гл. 2 и 8 о других автору было сообщено в частном порядке. [c.13]

Наложение этого поля между электродами на постоянное поле, проникающее через апертурную диафрагму, создает в области плазмы искрового разряда сложное асимметричное поле, которое трудно описать математически. Вероятно, при этих условиях ионы неоднородно извлекаются из отдельных элементов объема плазмы. Для данного режима работы источника ионов должны быть некоторые части этого объема, находящиеся в наиболее благоприятных условиях, вследствие чего они поставляют наибольшее число ионов, экстрагируемых из плазмы. При изменении условий эксперимента неизбежно произойдет увеличение, уменьшение или экранирование этих областей. Если плазма негомогенна, это приведет к вариациям состава ионного тока при изменении параметров работы источника ионов. [c.13]

Другой способ разделения по массам был предложен Паулем и Штейн-веделем [1579]. В этом методе пучок ионов направляется вдоль оси системы электродов, выполненных в форме, изображенной на рис. 15. Поперечное сечение электродов представляет две идентичные гиперболы. Потенциал в двумерном электрическом поле образуется четырьмя подобными электродами потенциалы соседних электродов равны по величине, но противоположны по знаку и могут быть описаны формулойф= фо (л —у )12г1 , где фо — напряжение, прилагаемое к электродам, а 2го— расстояние между противоположными электродами, фо представляет собой радиочастотное напряжение в несколько мегагерц, наложенное на малое напряжение постоянного тока время пролета ионов велико по сравнению с периодом колебания поля. Ион, введенный в пространство вдоль оси электродов, в зависимости от своей массы, частоты и амплитуды напряжения на электроде может либо столкнуться с электродом, либо пройти сквозь поле. Был построен ряд приборов описанной выше конструкции [1545, 1580, 1581]. Анализ уравнений движения ионов в приборе показывает, что теоретически возможно осуществить такой выбор параметров, что ионы с определенной массой будут обладать конечной амплитудой, независимо от их направления до вхождения в поле, начальной энергии и исходного положения в плоскости л —у, в то время как ионы с соседними массами будут обладать бесконечной амплитудой. Система привлекает возможностью применения ее в качестве разделителя изотопов, но практически это трудно осуществить, так как необходим ионный пучок с резко очерченным сечением порядка 0,1 мм . Рассмотренный выше прибор был использован для получения пучков ионов магния и рубидия, причем интенсивность пучка ионов магния достигала 15 мш. При сильном ограничении размеров сечения ионного пучка для ионов рубидия с энергией 100 эв было достигнуто разрешение, равное нескольким сотням, однако ионный ток был при этом менее 10 1 а. Было достигнуто также разрешение свыше 1500 [1235]. [c.39]

В существующих приборах величина мгновенного ионного тока не контролируется. Ни в одной из опубликованных работ не описано влияние вибрации или вращения электродов на величину этих токов. Очевидно, что величина мгновенного ионного тока зависит и от вариаций напряжения пробоя. Устройство для прерывания ионного тока, снижающее среднюю величину ионного тока при непрерывном искровом разряде в случае фотографической регистрации, не приводит к снижению нестабильности мгновенного ионного тока в приборах с искровым источником (Браун и др., 1968). Поэтому в настоящее время при конструировании системы электрической регистрации нужно учитывать ожидаемые параметры мгновенного ионного тока, особенно в тех случаях, когда измерения проводятся в короткие промежутки времени. При этом искажения сигнала могут быть максимальными. [c.144]

Величина представляет собой динамическую чувствительность датчика, т. е. параметр, который определяет соотношение между ионным током и потоком паров. Эту величину следует отличать от статической чувствительности, которая обычно приводится для ионных манометров, но относится к стационарному состоянию газов [281]. Динамическая чувствительность, определенная для датчиков, лежит в области от 0,05 до 0,5 мм рт. ст. [280, 282]. [c.136]

Синтез NaNH2 по приведенной в основном тексте реакции хорошо идет при 350 °С. Структурные параметры иона NH [ (HN) = 1,03 А, ZHNH = 104°, = 5,7] близки к соответствующим данным для аммиака. В расплавленном состоянии амид натрия (т. пл. 206 °С) хорошо проводит электрический ток, а при нагревании разлагается лишь около 500 °С. Из других амидов довольно устойчивы по отношению к нагреванию только производные наиболее активных металлов, тогда как остальные легко разлагаются (иногда со взрывом). Например, Сг(ЫНз)з начинает отщеплять аммиак уже при 100 °С. [c.397]

Масс спектры сканировались от 12 до 200 а е м за 10 с при динамическом диапазоне 1 10 Все спектры регистрировались в виде 3840 цифровых точек, каждая из которых представляла величину ионного тока, закодированную 9 бит в логарифмической шкале Все эти данные вместе с рабочими параметра ми телеметрировались на Землю [около (1,4—1,8) 10 бит за эксперимент] [c.173]

Для алюминия параметры а и Q ъ уравнениях (82 — 84) можно оценить, исследуя образование тонких слоев окисла на аноде. Гюнтершульце и Бетц (36) первые предположили, что ионный ток через слой окисла в процессе анодного окисления зависит от напряженности поля Р следующим образом [c.483]

Максимально возможная величина ионного тока является функцией нескольких параметров самым важным из них является объемпьпг заряд. Кроме того, требуемая разрешающая сила и эффективность собирания яонов также ограничивают эту величину. [c.61]

Методом молекулярных орбит рассчитаны электронные плотности и энергии вязей в молекулах парафинов. Рассмотрено значение этих параметров молекулы для понимания процессов образования осколочных ионов. Аналогичные понятия теории молекулярных орбит нашли широкое применение для объяснения обычной химической реакционной способности. Предположено, что для описания процессов разрыва связей можно применить законы моиомолекулярных реакций и что различия в величинах энергий связей в молекуле определяют отяосителыше скорости различных процессов. Такие различия можно рассматривать как результат сверхсопряжения, или, в терминах теории молекулярных орбит, перекрывания. Можно получить удовлетворительное соответствие между интенсивностью ионного тока и энергией связей при условии,,что в молекулярном ионе электронные плотности достаточно однородны. Обсуждено значение этого факта. Предпринята попытка применить ото положение для объяснения масс-спектров, сопряжеп]Ц11х циклических углеводородов. Одяако энергия индивидуальной связи не является в этом случае определяющим параметром, что, видимо, связано с нарушением более чем одной связи в процессе образования осколочного иона. [c.285]

В работах, опубликованных разными авторами, в особенности в течение последних 10—15 лет, можно найти много различных сведений о влиянии этих факторов. Однако эти сведения, как правило, недостаточно систематичны. Из-за многочисленности и разного направления происходящих эффектов действие перечисленных выше факторов стараются исключить, выбрать такую область параметров, где бы влияние их было наименьшим, т. е. наименьшей была бы производная ионного тока по рассматриваемому параметру и при-этом обеспечивалось бы наименьшее изменение самого параметра. На практике это не всегда возможно и приводит к необходимости пользоваться в количественном масс-спектрометрическом анализе криволинейными калибровочными графиками. В связи с этим масс-спектрометрический анализ микропрпмесей в газах можно подразделить по характеру калибровочных графиков на анализ в условиях, обеспечивающих или не обеспечивающих достаточную линейность калибровочных графиков. В первом случае оправдано применение коэффициентов относительной чувствительности, полученных для эталонных смесей известного состава. В другом случае анализ проводят в условиях заметного влияния компонентов смеси друг на друга, вызывающего нелинейность калибровочных графиков и непостоянство коэффициентов относительной чувствительности. При определении микропримесей целесообразно использовать метод экстраполяции калибровочных графиков, построенных в логарифмических координатах. [c.162]

Часть излучения лазера, отразившись от плоскапараллель-ной кварцевой пластины, попадает через кремневый фильтр на ФЭК-09, сигнал от которого идет на запуск ждущих разверток осциллографа С1-29 и хронотропа , а также на измеритель временных интервалов И2-17 для просмотра временных и амплитудных параметров лазерного излучения. Остальная часть излучения 90%) через окно и фокусирующую линзу попадает па анализируемый образец. Плазма, образующаяся при взаимодействии импульса излучения ОКГ с образцом и имеющая разброс по энергиям ионов 1 кэв, выбрасывается в вакуум пролетной трубы. Во времяпролетной трубе образуются пакеты ионов, которые после анализа их по времени пролета в магнитном поле попадают на первый динод умножителя. Усиленный умножителем сигнал ионного тока поступает на входы осциллографа С1-29 и хронотрона , на экранах которых отображается масс-спектр исследуемого образца. Хронотрон позволяет с хорошим временным разрешением просматривать отдельные участки спектра, а на приборе С1-29 отображается весь массовый спектр образца. Длительность пика данной массы 1 мксек. [c.169]

В табл. 2.1 приведен статистически обработанный спектр (я = 4) следов этого лее соединения, записанный при хромато-масс-спектромет-рпческом анализе с использованием колонки со скваланом, имеющем малую термостабильность. Несмотря на то, что в нем отсутствуют сигналы с б/> 1007о, параметр К для него равен 524, поэтому данный спектр следует считать неудовлетворительным. За счет влияния фона искажены интенсивности нескольких сигналов, выраженные в процентах от максимального пика спектра (например, с т/г 71, 43, 28), и почти все их значения в суммарном ионном токе. Например, для пика молекулярных ионов с т/г 72 б/отн = 2%, б/(% 2 2б) = 17 %. По этому признаку могут быть выявлены масс-спектры, сильно искаженные фоном хроматографической колонки. [c.38]

Однако количественная расшифровка масс-фрагментограмм и хроматограмм, записанных по полному ионному току при анализах смесей компонентов, различающихся по основным физикохимическим характеристикам (в первую очередь, по молекулярной массе, плотности, температуре кипения и по параметрам удерживания), как правило, затруднена или невозможна, главным образом, из-за искажающего влияния сепаратора — устройства, через которое поток газа из хроматографической колонки попадает в ионный источник масс-спектрометра. [c.177]

Чарлсби [150] исследовал анодное окисление алюминия в разбавленном водном растворе бората аммония при 20°. Полученные им точные данные согласуются в общем с данными Гунтершульце и Бетца, представленными в виде экспоненциальной зависимости между ионным током и напряжением поля. Однако значения параметров в данном случае соверщенно другие Л,- = 10 а см , = 3 10 гж/в. Из его результатов следует, что высота и полуширина энергетического барьера для движущегося иона с зарядом Зе равны соответственно 1,55 эв и 2,5 А. Он считает, что барьер локализован на границе раздела, поскольку пленочный барьер в катионно-дефектной АЬОз должен быть сравнительно небольшим по аналогии с барьером в катионно-дефектной Ag2HgJ4. (Учитывая, что величина удельного сопротивления АЬОз на много порядков выше, чем АдгН Л4, и ионная проводимость наблюдается только в сильном поле, этот аргумент, по-видимому, следует считать ошибочным.) Чарлсби [151] также показал, что электронный ток, или ток утечки, проходящий при относительно слабых полях через слой [c.323]

Теории газового разряда. Задача любой теории газового разряда состоит в том, чтобы связать качественно и количественно макроскопические, непосредственно наблюдаемые явления разряда и характеризую,щие их макроскопические параметры (силу тока, градиент потенциала, интенсивность излучения какой-либо данной длины волны, температуру газа и т. д.) с элементарными процессами, имеющими место в разряде, и с характеризующими эти процессы величинами — микропараметрами. Каждая из современных теорий разряда более или менее хорошо отражает реальную действительность для определённых форм разряда и для определённых частей разрядного промежутка. Поэтому из рассмотрения области применимости каждой данной теории естественно вытекает классификация разрядов, основанная на преобладании того или иного элементарного процесса и на характерных особенностях движения электронов и ионов в разряде. [c.391]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология