Проведение измерений под микроскопом

Значительная диффузность линий, преобладающая на диф-фракционных рентгенограммах [1—3], и малое количество достаточно четких углов отражения указывают на присутствие малых величин атомных или молекулярных размеров [4]. Несостоятельность органической химии объяснить структуру угля подтверждает подобное заключение. С другой стороны, мелкие угольные частицы, когда их рассматривают под микроскопом или под электронным микроскопом, обладают той же неправильностью контура, как и обычные угольные сажи. Несомненно, что структурные единицы слишком малы, для того чтобы быть различимыми с помощью электронного микроскопа, однако причина этого кроется не в их малой величине, а в том, что они слишком сближены одна с другой. В связи с этим наиболее плодотворными были бы измерения области величин порядка 1 — 100 т 1, т. е. 10—1000 А. Однако проведение измерений в этой области сопряжено с самыми большими экспериментальными затруднениями. [c.44]

Нельзя ограничиваться одним измерением за результат принимается среднее арифметическое ряда измерений. Шкалы объект-микрометра и измерительного окуляра имеют погрешности, поэтому определение цены деления и проведение измерений объектов необходимо производить на различных участках шкал объект-микрометра и микроскопа. [c.105]

Для точного наблюдения положения коромысла использовался микроскоп с микроскопической шкалой. Для того чтобы определить нулевую точку весов, необходимо так отрегулировать микрометрический винт, чтобы коромысло весов отклонялось на одинаковое число делений в обе стороны от фиксированной отсчетной точки шкалы. Такой отсчет амплитуд небходим только при проведении измерений в высоком вакууме (большем, чем 10 мм рт. ст.). При измерениях, проводимых в газах с заметной концентрацией, коромысло приходит в стабильное положение в течение нескольких минут. В этом случае положение указателя отмечается непосредственно по микрометрическому винту. [c.198]

ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИИ ПОД МИКРОСКОПОМ, з [c.25]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

Точные измерения величин Лэ, а следовательно, и а возможны лишь при условии, что наблюдения с помощью микроскопа за положением мениска в капилляре проводятся через оптическое стекло, впаянное в ячейку напротив капилляра. При его отсутствии оптическая неоднородность стекла ячейки в значительной степени элиминируется при фиксации на нем смоченного бидистиллятом покровного стеклышка. Последнее следует располагать против кончика капилляра перпендикулярно оптической оси микроскопа. В ходе проведения эксперимента по мере испарения воды следует периодически смачивать покровное стеклышко. [c.160]

Определение температуры плавления особенно важно вследствие простоты его проведения. Правда, в некоторых случаях для веществ с высокими температурами плавления нельзя использовать обычный метод с капиллярами, погружаемыми в жидкостные бани, или воспользоваться микроскопом с нагреваемым столиком. Для более высоких температур применяют медный блок, нагревая образец на воздушной бане. В измеренное термометром значение температуры следует внести поправку (см. разд. 8). [c.143]

В контрольных оптических измерениях, проведенных для оценки надежности нового метода, положение ртутной нити в капилляре определяли бинокулярным стереоскопическим микроскопом с увеличе нием 5 - 50х, Такой микроскоп обладает большой глубиной резкости, так что ртутная нить в нем хорошо видна. Наблюдение облегчалось благодаря освещению электролитической ячейки сбоку, а не сзади (рис. 38). В этом случае ртутная нить кажется яркой тонкой линией, и ее положение легко определить. [c.483]

Микроскоп идеально приспособлен для проведения некоторых типов измерений с высокой степенью точности. К простым его применениям относятся определения длины и площади. Некоторые приборы, снабжены градуированным механическим устройством, позволяющим передвигать образец вправо и влево, а также вдоль оси наблюдения. Визир окуляра наводят на край образца и фиксируют показания по шкале. Затем столик передвигают до тех пор, пока визир не совместится с другим краем измеряемого предмета. Разница в отсчетах шкалы (калиброванной через 0,1 мм) дает искомый размер. [c.242]

Порядок проведения опыта следующий необходимое для опыта количество газа (фосфина или кислорода) отмеривали по манометру 7 в колбе 6 (емкостью 1.25 л) и затем плавным поворотом крана впускали в прибор (время впуска около 1 сек.). Первый отсчет по шкале микроскопа после впуска производили обычно на 10-й сек. дальнейшие измерения делались сначала через каждые 10 сек., а затем через все более и более увеличивающиеся интервалы времени. Десорбция фосфина с угля проводилась следующим образом в специальный сосуд 5, соединенный шлифом и краном с вакуумной установкой, всыпали 10 г хорошо просушенного активного угля без добавок. Этот уголь перед опытом по десорбции охлаждался до температуры жидкого воздуха. Быстрым поворотом крана сосуд 1 или 2 с весами соединялся с сосудом 5, содержащим охлажденный уголь, и наблюдалась десорбция [c.294]

До последнего времени микростроение поверхности минералов и пород проводили в просвечивающих электронных микроскопах с помощью реплик и ультратонких срезов [1—6]. Методика подготовки образцов к исследованию трудоемка и длительна [5,6]. Наличие большого количества операций в какой-то степени искажает истинное строение изучаемой поверхности минерала и требует многократной проверки и повторения. Кроме того, часто проявляется разрушающее объект влияние вакуума и вредное действие потока электронов [9]. Недостатком указанных методов является и то обстоятельство, что при работе с использованием максимального разрешения оптический и электронный микроскопы имеют малую глубину фокуса и поэтому микрофотографии дают изображение объекта в двух измерениях [10]. Применение сканирующего электронного микроскопа Л5М-2 (Япония) позволяет лучше изучить поверхностную структуру и получить изображение объекта в трех измерениях с большой глубиной резкости. Для проведения исследований на сканирующем микроскопе можно быстро и просто приготовить образцы к исследованию, наблюдать массивные объекты в виде монокристаллов или осадки любой дисперсности. При этом можно увидеть общую картину, ультраструктуру поверхности, ее пористость и агрегацию. Анализирующий электронный луч, сканирующий по объекту, имеет очень малую мощность, поэтому взаимодействие его с объектом не приводит к нагреву и разрушению даже весьма чувствительных биологических объектов. С помощью сканирующего электронного микроскопа впервые удалось различить типы красных кровяных клеток, которые трудно идентифицируются с помощью оптической микроскопии [10]. [c.27]

По окончании выдержки образцов в заданных условиях производится оценка коррозионных изменений и степени их разрушения. Образцы изучаются визуально и под микроскопом (оценивается состояние их поверхности, наличие и характер коррозионных поражений, определяется степень коррозии поверхности), определяется изменение массы образцов за некоторое время (гравиметрические измерения ), исследуются изменения механических, электрических, оптических и других свойств. Получаемые результаты носят, как правило, сравнительный характер, поэтому методика и условия проведения коррозионных испытаний должны быть точно оговорены. [c.109]

Проведение опыта. Чистые поверхности, после хорошего предварительного обезгаживания в вакууме, окисляют либо О2, либо N0 при 10 мм рт. ст. в течение 2 час. Затем снимают микрофотографии, как описано в разд. 3, Б-б. С помощью интерференционного микроскопа получают детальную топографическую карту травленых поверхностей, обеспечивая при этом горизонтальность плоскостей ООО/ и вертикальность оси микроскопа. Измерение диаметра и глубины какой-либо ямки травления непосредственно дает величину требуемого отношения. [c.157]

Из других методов дисперсионного анализа порошков довольно широко распространен метод определения гранулометрического состава с помощью микроскопа. Метод заключается в измерении размеров частиц визуально либо по микрофотографиям препарата. Для зернового анализа частиц размером более 0,5 мкм используются микроскопы с обычной световой оптикой, для частиц с размерами менее 0,5 мкм применяются электронные микроскопы. Точность микроскопического анализа становится приемлемой, если число измерений достигает не менее тысячи для каждой фракции. Часто к недостатку этого метода относят отсутствие возможности производить замеры в трех направлениях [6, 12]. Это объясняется стремлением каждого зерна принять самое устойчивое положение, т. е. лечь на свою большую поверхность, благодаря чему становятся видимыми и доступными измерению только большие размеры. Необходимость подсчета значительного количества частиц приводит к существенным затратам времени при проведении микроскопических измерений. [c.20]

Определение размеров частиц с помощью микроскопа можно проводить прямым измерением, методом сравнения, методом счета и др. Для проведения прямого измерения обычно пользуются окуляр-микрометром. Он представляет собой круглую стеклянную пластинку, на которой нанесена шкала с делениями. Наиболее точные окуляр-микрометры имеют интервал между штрихами в 50 мкм. При абсолютных измерениях окуляр-микрометр предварительно калибруют относительно применяемых оптических линз и для каждой длины тубуса микроскопа. Измерения удобно проводить н по фотографиям, полученны.м путем микрофотографирования и фотоувеличения изображения объекта. [c.292]

Исследования с применением различных методов — электронной и поляризационной микроскопии, измерений рентгеновской и электронной дифракции, плотности, тепловых эффектов растворения и др., проведенные в ряде лабораторий (В. А. Каргина, А. Келлера, Килиани и др.), способствовали значительному выяснению особенностей строения аморфных и кристаллических полимеров. [c.207]

Контроль рассматриваемых элементов детали с помощью инструментального микроскопа может быть проведен как на обычных деталях, так и на деталях сложной формы, при контроле которых обычными методами могут возникать значительные деформации, вносящие большую погрешность в измерение. [c.248]

Измерение скорости электрофореза выполняли в специально сконструированной кювете, схема которой дана на рис. 12.1. Рабочую стеклянную кювету 1 в виде прямоугольного парал-лепипеда с открытыми торцами длиной 20 мм и поперечным сечением 20x0,8 мм помещали между двумя сосудами 2 также прямоугольного сечения, изготовленными из оргстекда. Толщина стенок измерительной ячейки составляла 0,2 мм, что обеспечивало надежную визуализацию микрообъектов при работе с темнопольным микроскопом. Боковые емкости 2 в месте их сочленения с кюветой имели ряд отверстий диаметром 0,5 мм эти емкости прочно закреплялись на основании 3, в котором было высверлено отверстие для вхождения темнопольного объектива 4. Б нижнюю часть емкостей 2 помещали гель агар-агара 5, приготовленный на 1 н. растворе КС1 сверху заливали 0,1 и. раствор USO4 (б) и помещали медные электроды 7. Такая установка удобна в обращении в ней обеспечена герметичность сочленения боковых емкостей с измерительной камерой и возможность тщательной очистки последней после проведения исследований. На основании данных о подвижности частиц дисперсной фазы вычисляли -потенциал по формуле Гельмгольца — Смолуховского без учета поправки на поверхностную проводимость [59]. [c.202]

БРОУНОВСКОЕ ДВИЖЕНИЕ - беспорядочное, непрерывное движение взвешенных в жидкости или газе маленьки.х частиц (до 5 мк), вызываемое тепловым движением молекул окружающей среды. Зпервые описано Р. Броуном в 1827 г. Интенсивность Б. д. зависит от температуры, внутреннего трения (вязкости) среды и размеров частиц движение усиливается при повышении температуры и уменьшении размера частиц и уменьшается при увеличении вязкости. В 1905—1906 гг. А. Эйнштейн и М. Смо-луховский дали полную количественную молекулярно-статистическую теорию Б. д. и вывели уравнение, по которому можно определить среднее значение квадрата смещения частицы в определенном, но произвольном направлении. Экспериментальная проверка этого уравнения, проведенная Ж- Перреном, Т. Сведбер-гом и др., полностью подтвердила его справедливость, утвердив тем самым общность молекулярно-статистических представлений. Измерения броуновских смещений позволяют судить о размерах коллоидных частиц, которые нельзя определить другими методами (напр., при помощи оптических микроскопов). [c.48]

Экспериментальные установки обычйо сочетают проведение в одной и той же вакуумной камере Оже-спектроскопии и измерений дифракции электронов низкой энергии. В результате получается информация как о химическом составе поверхности, так и о ее атомной структуре. Для изучения геометрической структуры поверхности используют электронный сканирующий микроскоп. Принцип действия этого прибора аналогичен передаче телевизионного изображения, только здесь на исследуемый объект направляется сфокусированный пучок электронов, а детектируется интенсивность отраженных электронов, которая затем передается на экран электронно-лучевой трубки. Движение сфокусированного пучка электронов вдоль исследуемого образца синхронизовано с движением луча электронно-лучевой трубки, в результате чего на ее экране получается изображение изучаемой поверхности. Разрешение современных сканирующих микроскопов составляет 5—10 нм. [c.86]

Техника проведения электрофоретических измерений может быть различной в виде макроэлектрофореза (метод подвижной границы) или микроэлектрофореза, когда ведется наблюдение за отдельными частицами дисперсной фазы с помощью микроскопа. [c.406]

При проведении опытов положение мениска в капилляре обычно поддерживают постоянным, следовательно, радиус не меняется. Величина диаметра капилляра и его другие параметры также остаются постоянными. Поэтому с изменением величины ф изменяется только величина Н, т. е. высота уравновещивающего столба ртути, которая легко поддается измерению. На этом основании, зная величины Н, диаметр капилляра ё и определив с помощью микроскопа величину г мениска, можно рассчитать величину межфазного натяжения и его зависимость от изменения потенциала ртути. [c.182]

Химический анализ в растровом электронном микроскопе и peнтгeнoв кOiM микроанализаторе осуществляется иутем измерения энергии и интенсивности рентгеновского излучения, генерируемого ири бомбардировке образца сфокусированным электронным пучком. Вопросы генерирования рентгеновского излучения обсуждались в гл. 3, посвященной взаимодействию электронного иучка с образцом, где рассматривались механизмы образования характеристического и непрерывного рентгеновского излучения. В данной главе обсуждаются методы регистрации и измерения рентгеновского излучения, а также преобразования их в форму, пригодную для проведения качественного и количественного анализа. [c.190]

Так при установке образца в плоскости фокусировки оптического микроскопа ручками регулировки положения столика образца происходит его установка в фокус рентгеновского спектрометра. Направление малой оси эллипсоида является наиболее критичным. Для приборов с малыми углами выхода рентгеновского излучения это направление почти параллельно оси Z, и установка образца по оси Z является самой критичной юстировкой. При больших углах выхода за счет наклона области фокуса Z-компонента увеличивается в l/ os0 раз, что в свою очередь немного уменьшает чувствительность к изменению положения образца по высоте. Другим подходом к решению проблемы -является поворот плоскости круга фокусировки вокруг направления выхода рентгеновского излучения. Такой принцип лежит в основе конструкции горизонтального спектрометра. В этом спектрометре большая ось эллипсоида почти параллельна направлению оси Z, и положение образца по вертикали наименее критично. Вместо этого более вероятной становится расфокусировка в плоскости X —Y. Следует отметить, что в РЭМ, снабженном кристалл-дифракционным спектрометром, отсутствие оптического микроскопа с малой глубиной фокуса для нахождения фокуса спектрометра может вызвать серьезные проблемы при проведении количественного анализа. В этом случае большая глубина фокуса РЭМ является помехой, поскольку трудно наблюдать изменение рабочего расстояния на несколько микрометров, которые критичны для рентгеновских измерений. [c.195]

Для определения показателя преломления в расплаве Кофлер [3] разработал микрометодику измерения в блоке без рефрактометра. Для проведения определения необходимо иметь набор образцов стеклянной пыли с известными, все возрастающими показателями преломления. Измерение проводят в монохроматическом свете (обычно применяют красный фильтр). Следы стеклянной пыли смешивают с кристаллами исследуемого вещества и нагревают до температуры его плавления. Опуская и поднимая тубус микроскопа, следят за движением границы частичек стекла Если показатель преломления подобранного стекла и расплава одинаковы, граница исчезает и частички стекла в расплаве становятся невидимыми. В том случае, если показатель преломления вещества больше показателя преломления стеклянного порошка, при поднимании тубуса частицы стекла как бы расширяются при опускании тубуса наблюдается обратное явление. Найдя два образца, между которыми находится показатель преломления исследуемого вещества, получают информацию о приблизительном его значении. Можно найти и более точное значение, используя то явление, что при повышении температуры расплава его показатель преломления понижается намного быстрее, чем показатель преломления стеклянной пыли. [c.714]

Визуально-оптическим называют неразрушаюший контроль качества с применением оптических средств, позволяющих существенно расширить пределы естественных возможностей органов зрения человека. Он является техническим продолжением визуального контроля, дает возможность обнаруживать более мелкие дефекты и производить измерения с высокой разрешающей способностью (1—5 мкм). При проведении визуально-оптического контроля надо учитывать основные особенности ( 6.5), характерные для визуального контроля, так как в обоих случаях решающую роль играет оператор. Усилить возможности человека позволяют лупы, микроскопы, телескопические устройства и другие технические средства. Главным недостатком визуально-оптического контроля является снижение производительности проведения неразрушающего контроля. Поэтому обычно проводят многоступенчатый контроль осматривают поверхность изделия без оптических средств, выявляя крупные дефекты и подозрительные места, изучают эти места через лупу (однолинзовый микроскоп), а затем исследуют отдельные участки контролируемого изделия с помощью многолинзового микроскопа, последовательно повышая кратность его увеличения. При правильном выборе условий визуально-оптического контроля размеры элементов объекта или минимальных выявляемых дефектов 1т1а (в мм) уменьшаются в соответствии с оптическим увеличением устройства Кув- [c.239]

Преимущества этих методов различны. У метода электронной микроскопии это — возможность визуального наблюдения микрочастиц, у метода ртутной порометрии — возможность получения кривой распределения внутренних нор по размерам, у кинетического метода — возможность измерения удельной поверхности в процессе проведения опытов при получении нироуглерода на различных поверхностях. [c.117]

Если изображение частицы в электронном микроскопе имеет неправильную форму, необходимо выбрать характеристики ее размера. Само собой разумеется, что изображение частицы двумерно, и, если частицы исследуемого образца не ориентированы произвольно, возможна ошибка. Существует ряд общих способов выражения размера частиц. Наиболее удовлетворительные результаты дает метод выражения размера частиц с помощью проекционного диаметра, т. е. диаметра круга с площадью, равной двумерному изображению частицы. Вручную измерять его достаточно утомительно, но разработан анализатор Цейса—Эндтера, позволяющий непосредственно сравнивать площадь проекции частицы и площадь эталонного круга последнюю можно регулировать [190, 191]. Второй и, возможно, самый распространенный способ состоит в измерении по точкам пересечения каждой частицей линии, проведенной через ряд частиц [192]. Третий метод — это измерение диаметра Фере, представляющего собой расстояние между двумя касательными, проведенными к противоположным сторонам частицы параллельно некоторому фиксированному направлению, которое одинаково для всего ряда частиц. Наконец, можно измерять среднее между максимальной и минимальной шириной каждой частицы. Средний диаметр всего ряда частиц для каждого из этих измеренных параметров определяется обычным путем. [c.368]

Разрешение индивидуальных металлических атомов как в виде отдельных атомов, так и их кластеров находится на грани чувствительности просвечивающей электронной микроскопии (или даже за ее пределами). Теоретический анализ, проведенный Хашнмото и др. [23—25], показал, что для последовательности из нескольких атомов разрешение метода наклонного темного поля лучше, чем метода светлого поля. Конечно, для очень небольших агрегатов из нескольких атомов возникновение контрастности изображения полностью обусловлено эффектом фазового контраста, в то время как для больших частиц наблюдается дифракционный контраст. Флин и др. [26] рассмотрели, насколько фазовый контраст от таких атомных агрегатов определяется условиями фокусировки. В частности, оказалось, что связь между геометрическим расположением атомов-в агрегате и характером расчетного изображения существенно зависит от условий фокусировки и даже качественное соответствие между ними не обязательно. Очевидно, что интерпретацик> изображения, которое на первый взгляд показывает наличие кластера из нескольких атомов, следует принимать с большой осмотрительностью. Прежде всего необходимо детально исследовать изображение в зависимости от дефокусировки. Данное рассмотрение также показывает, что, поскольку речь идет об измерении размера частиц, зависящих от условий фокусировки, связь между истинным и кажущимся размером частиц при их [c.409]

Даже из этого единственного частного примера ясно, что электронный проектор и флэш-десорбция существенным образом дополняют друг друга. Электронный проектор при соответствующем проведении опытов может дать подробные сведения о распределении адсорбированного вещества по поверхности и о скорости процессов на атомарном уровне, происходящих в самом адсорбированном слое. Необходимые для этих наблюдений поля таковы, что, по-видимому, не могут создать серьезных ирепятствий. С другой стороны, флэш-десорбция дает прямые сведения о кинетике молекулярного переноса между газовой фазой и поверхностью. Эти данные не только чрезвычайно важны для понимания кинетики гетерогенных реакций, но и позволяют легко сделать подробные выводы об энергетике связывания газа поверхностью. Без данных по автоэлектронной эмиссии трудно связать эту информацию со структурой и свойствами поверхностного слоя. И наоборот, без сведений, получаемых из макроскопических измерений, трудно однозначно установить природу кинетических процессов, ответственных за изменения, которые наблюдаются в эмиссионном микроскопе. [c.200]

В случае фталоцианина меди Ментер не получил для величин межплоскостных расстояний, измеренных на снимках и известных из рентгеновских данных, такого хорошего соответ-<. твия, как для фталоцианина платины. Суито и Уеда [И, 12] при помош и метода микродифракции показали, что кристаллы фталоцианина меди могут обладать двумя различными габитусами. Так как эти кристаллы обычно ориентируются плоскостью (100) параллельно подложке, то почти перпендику.пярньт-ми к ней и, следовательно, ответственными за появление изображения в одном случае будут плоскости (201), а в другом-плоскости (001). В подтверждение этих данных авторы для разных кристаллов фталоцианина меди наблюдали линейчатые структуры с межплоскостными расстояниями как —9,8 А, так и —12,7 А (фото 45 микрофотография взята из проспекта японского микроскопа 1ЕМ-5 [13]). В некоторых случаях были получены изображения решетки со смешанной структурой, что авторами было интерпретировано как двойниковая структура. Этот пример снова указывает на необходимость проведения комплексных исследований и соблюдение осторожности при расшифровке электронных микрофотографий. [c.192]

В результате длительных исследований, проведенных многими авторами, Брунауер, Эмметт и Теллер разработали особенно удачный метод определения удельной поверхности твердых тел посредством адсорбции азота при низких температурах. Этот метод был успешно сверен сданными не зависимых друг от друга определений при помощи электронной микроскопии, рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами или измерения диффузии [1]. [c.28]

Описанные в литературе экспериментальные исследования но горению одиночных частиц показывают, что диаметр частиц изменяется со временем по квадратичной зависимости [9, 10]. Исследования же, проводимые с пылевзвесыо, не подтверждают квадратичного закона изменения диаметра при горении натуральных топлив [11, 12]. Так, например, эксперименты, проведенные на огневом стенде в ГДР при сжигании пылевидного фракционированного угля, показали, что в условиях высоких значений температур и коэффициенте избытка воздуха, близком к топочному значению, размер частиц изменялся по зависимости, имеющей степень меньше единицы [11]. Размер частиц угля при этом фиксировался непосредственным измерением с помощью микроскопа. [c.80]

Измерение степени шероховатости поверхностей, обработанных различными способами, проведенное Эйлендером [16] с помощью интерференционного микроскопа, показало, насколько шерохова-тость зависит от обработки (табл. 12.7). В качестве единицы измерения использовалось расстояние между двумя интерферен- ционными линиями монохроматического зеленого излучения таллия. [c.596]

Влияние вязкости 2 вес.%-ного раствора полиэтиленсебацината (М 40 ООО) в смеси канифоль - ксилол на характер его кристаллизации исследовали Ас лубеков и др. [7] при помощи световой микроскопии. Вязкость изменяли соответствующим подбором соотношения канифоли и ксилола (от 4 до 10 сП при различных температурах кристаллизации). Было обнаружено, что вязкость в пределах точности измерения не влияет ни на скорость роста сферолитов, ни на диаметр дендритов. Этот результат является неожиданным, так как принято считать, что процесс роста сферолитов и дендритов определяется диффузией (разд. 3.6.1). Однако объяснить наблюдаемый факт можно тем, -что рост кристаллической фазы на границах раздела над-структур не лимитируется диффузионными процессами (точка О на рис. 3.101). В связи с этими экспериментами становится интересным проведение более детального анализа изменения морфологии кристаллической фазы при изменении вязкости растворов. [c.263]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология