Спектроскопия используемые единицы

В табл. 13-4 указаны диапазоны электромагнитного излучения, энергия которого выражена в различных единицах, а также названы источники излучения и приемные устройства, применяемые в каждом диапазоне. Квантованный характер молекулярных энергетических уровней используется в современных спектроскопических исследованиях для идентификации молекул и выяснения их молекулярного строения. Например, изучение вращательных переходов методами спектроскопии в дальней ИК-области и микроволновой спектроскопии дает исключительно точные сведения [c.587]

В ультрафиолетовой спектроскопии в качестве растворителей обычно используют циклогексан, 95%-ный этанол, абсолютный этанол (не содержащий бензола) и диоксан. В табл. 8.2 приведены растворители для УФ-спектроскопии, расположенные в порядке уменьшения их практической значимости. Необходимые для измерения концентрации растворов определяются из ожидаемых максимальных значений е. Так как шкала поглощения прибора Сагу имеет пределы от 0,0 до 2,4 единицы поглощения, то, считая, что при максимальном значении е = 10 поглощение должно быть равно 2,0, можно выбрать правильную концентрацию, равную 2/10 или 2 10- молярной, при толщине кюветы 1 см. [c.483]

Сравнение обеих систем единиц СИ и СГС дается в табл. XI. 7, где представлены единицы величин, используемых в тексте книги. Для спектроскопии ЯМР важно, что в системе СИ единицы напряженности магнитного поля Н и магнитной индукции В различаются в 4Я-10 раз, в то время как в СГС-снстеме обе величины измеряются в одних и тех же единицах (дин -см ). Более того, напряженность магнитного поля следует выражать в эрстедах, а не в гауссах. Поскольку наблюдаемые физические свойства являются функциями В, а не Я (В = Н только в вакууме), то в СИ следует использовать единицы В. Две снстемы существенно различаются по единицам энергии. СГС-единица энергии ккал/моль заменяется в СИ иа кДж/моль (1 ккал = = 4,18 кДж). [c.432]

В УФ спектроскопии за единицу длины волны принимают нанометр (1 нм= = 10- см). Применяемые для исследования органических соединений УФ спектрометры обычно захватывают область от 200 до 400 нм. Диапазон от 400 до 1000 нм относится к видимой области. Этим областям соответствует энергия падающего излучения порядка десятка электронвольт. В более старых работах единице 1 нм в описании УФ спектров используются единица 1 ммк или мц (миллимикрон), а в ИК спектрах применялась единица длин волн микрон (х=10- см [c.192]

Применение различных ИК-методов для анализа полиизопрена, содержащего в основном цис- и транс-1,4-структурные единицы и небольшое количество 3,4-структур, описано в работах [2645— 2648]. ИК-спектроскопию использовали [2649, 2650] для установления структуры полиизопренов. Проведено [2651] подробное изучение поляризационных ИК-спектров различных полиизопренов (рис. 148). Интерпретация спектров различными авторами [2650, 2649 и 2651] сопоставлена в табл. 75 на примере полиизопренов, полученных из латекса гевеи и балаты. [c.399]

Поскольку параметры для этого расчета взяты из фотоэлектронной спектроскопии, удобно использовать в качестве единицы измерения энергии электронвольт. [c.117]

Эта величина, данная в единицах Л/2я, будет использована при рассмотрении спектроскопии ядерного магнитного резонанса (гл. 29). [c.13]

Из физических методов для определения 0-, 8- и Н-единиц используют УФ- и ИК-спектроскопию [51, 52, 71, 102, 115, 135, 244, 2 В, 246] и С-ЯМР-спектроскопию [170, 215, 216, 217, 218, 233]. [c.119]

Концентрация раствора. Для получения удовлетворительного уровня отношения сигнал/шум в спектроскопии ЯМР как правило, используют довольно концентрированные растворы и большие объемы растворов (более 2 см ). Концентрации выражают в мольных долях или других единицах (см. выше). [c.157]

В системе СИ производной единицей энергии является джоуль (Дж). Однако в спектроскопии традиционно используется электрон-вольт (эВ), так как джоуль является слишком большой величиной и его неудобно применять в качестве единицы измерения атомных [c.357]

Атомные ядра и электроны обладают магнитными моментами. Это свойство используют в технике магнитной резонансной спектроскопии наложение магнитного поля на ядра и электроны приводит к расщеплению квантовых состояний магнитного момента на ряд энергетических уровней (расщепление Зеемана). Относительно направления приложенного магнитного поля магнитный момент ориентируется в определенных направлениях, отличающихся по магнитной энергии. Наряду с магнитным моментом, ядра и электроны имеют спиновый момент количества движения. Компонент момента количества движения вдоль направления приложенного магнитного поля является целым или полуцелым числом, кратным основной единице момента количества движения Ь (константа Планка, деленная на 2ц). Ядро (или система электронов) со спином / (или 5) могут иметь только 2/ -Ь 1 различных ориентаций в постоянном магнитном поле и, следовательно, 2/ +1 состояний с различной магнитной энергией. Переходы магнитного момента между этими состояниями, сопровождающиеся резонансным поглощением магнитной энергии, происходят под действием излучения соответствующей частоты и поляризации. Наблюдая интенсивности и частоты резонансного поглощения в исследуемом материале, можно установить детали окружения ядер и электронов. Так как большинство веществ, представляющих интерес в гетерогенном катализе, является твердыми телами, в последующем изложении будет обращено особое внимание на магнитный резонанс в твердых телах. [c.9]

Как правило, методы титрования используются для кали бровки в абсолютных единицах спектроскопически измеренных концентраций радикалов. Большинство кинетических исследований реакций радикалов проведено методом абсорбционной спектроскопии в электронном спектре или методом ЭПР. Обзор этих методов дан в разд. 4.2 некоторые примеры обсуждаются ниже. [c.373]

Механизм синтеза цеолитов. Спектроскопию средней ИК-области можно также использовать для изучения механизма кристаллизации цеолитов из. водных алюмосиликатных гелей или других алюмосиликатных систем, например при получении цеолитов из глин [54]. Результаты таких исследований иллюстрируют. приведенные на рис. 2-21 данные, соответствующие различным стадиям кристаллизации натриевой формы цеолита X из натриевого алюмосиликатного геля. В спектрах твердой фазы,,выделяемой из геля, наблюдалось по мере образования NaX появление структурно-чувствительных полос при 360, 555, 665, 745.и 1060 см . За процессом следили, проводя рентгеноструктурное исследование порошков твердой фазы. Интенсивность полосы при 850 см , приписываемой деформационным колебаниям в группах Si—ОН, уменьшалась по ходу кристаллизации NaX. Наличие в спектре широкой полосы около 575 см позволяет предположить, что в исходном геле присутствуют такие вторичные структурные единицы, как сдвоенные шестичленные кольца. Однако вследствие сильного поглощения излучения водой в этой спектральной области такое отнесение слеДует рассматривать как предположительное, В этой же работе на различных стадиях кристаллизации цеолитов NaA, NaX, NaY, KL и 2 были сняты спектры гелей и. спектры выделявшейся твердой, и жидкой фаз, ИК-спектры дают полезную информацию о соотношении Si/Al в структуре геля. [c.139]

Распределение ионов по энергиям в источниках такого типа достигает 1000 в. Поэтому применение их ограничивается масс-спектрометрами с двойной фокусировкой. Вследствие нестабильности интенсивности ис кры необходимо применять детектор, регистрирующий все массы одновременно и интегрирующий интенсивности ионных пучков за определенный период времени. В спектроскопе, построенном Маттаухом и Герцогом, для этой цели использовалась фотопластинка, на которой за одну экспозицию регистрировались ионы в диапазоне от 1 до 40 массовых единиц. Имелось также соответствующее устройство, измеряющее мгновенный ионный ток, поступающий на контрольный электрод для установления максимальной чувствительности. [c.128]

Единицы ИГР АС. Недавно комиссия по молекулярной спектроскопии Международного союза чистой и прикладной химии (ШРАС) рекомендовала новые единицы для характеристики интенсивности поглощения в инфракрасной области спектра и выразила надежду, что в дальнейшем все работающие будут использовать эту систему единиц. Предложены три новые единицы. [c.164]

Расстояние между сигналами (обычно выражается в единицах частоты герцах, Гц) зависит от рабочей частоты прибора Уо. Поэтому в спектроскопии ПМР пользуются не абсолютными значениями частоты поглощения, а относительными величинами, т. е. характеристиками положения любого сигнала в спектре по отношению к сигналу какого-либо протона, принятого за начало координат (стандарт, эталон). Расстояние между сигналами эталона и исследуемым называют химическим сдвигом. В качестве стандарта в спектроскопии ПМР обычно используют сигнал протонов тетраметилсилана (ТМС) или других более доступных (циклогексан, бензол, хлороформ, гексаметилдисилоксан) веществ, значения химических сдвигов которых по отношению к тетраметилсилану известны. [c.248]

Нижний край карты используется для кодирования положения 8—10 главных полос поглощения. Около отверстий отмечены длины волн в микронах и частоты в обратных сантиметрах. Верхний и левый края карты используются для кодирования информации, связанной со строением молекулы, которая рассматривается как состоящая из определенного количества структурных единиц, представляющих интерес с точки зрения химии и спектроскопии. На карте кодируется число атомов углерода, строение основного скелета молекулы (число ненасыщенных углеродных связей, число колец—конденсированных и неконденсированных, наличие посторонних атомов в кольце), типы групп заместителей и их положение. Если структура соединения неизвестна, то кодируется по алфавиту название соединения. Подробное описание кода дается в специальном руководстве, приложенном к перфокартам. Некоторое представление о системе кодирования можно получить по приведенным фотографиям перфокарты. [c.349]

Химические сдвиги соответствуют очень малым изменениям напряженности магнитного поля или радиочастоты, и измерение их абсолютных значений пока еще неосуществимо, поэтому в анализах используют сравнение с эталонными веществами. В спектроскопии протонного резонанса таким веществом является обычно тетраметилсилан (ТМС). Это соединение высокосимметрично и содержит протоны только в одном типе окружения, обусловливающие единственную отчетливую резонансную линию. Кроме того, это соединение инертно, т. е. не вызывает дополнительных межмолекулярных эффектов. Высокая летучесть ТМС позволяет легко выделять его из раствора образца. При использовании эталонного соединения химические сдвиги вычисляют как разности между резонансными частотами ядер исследуемого и эталонного соединений и выражают их либо в единицах частоты, либо в безразмерных единицах. При этом для удобства используют одни и те же единицы независимо от того, получен спектр путем изменения [c.294]

Длина волны % есть расстояние между соседними максимумами. Она равна отношению скорости к частоте. Единицами длины волны служат микрометр (1 мкм = 10 м прежнее название— микрон, ц) и нанометр (1 нм=10 м прежнее название— миллимикрон, М д,). В спектроскопии широко используется ангстрем (1 А=10 м), хотя эта единица не рекоменду- [c.15]

Методики, основанные на поглощении функциональных групп. Из приведенных выше примеров следует, что ИК-спектроскопия может плодотворно использоваться, когда анализ основан на определении данной структурной группы в интересующем нас компоненте смеси. В общем можно ожидать, что любая структурная единица в молекуле, слабо подверженная влиянию смежных структурных групп, будет иметь характеристическую полосу поглощения в ИК-спектре, которая может быть использована для количественного анализа. Некоторые другие примеры методик, основанные на наличии характеристических полос поглощения в ИК-спектре, даны в табл. 1. [c.204]

Кристалличность, вычисляемая по данным инфракрасной спектроскопии, определяет число мономерных единиц, входящих в регулярно построенную спираль изотактического полимера. Эта величина не равна ки истинной степени кристалличности, ни относительному содержанию изотактического полимера, поскольку интенсивность полос, по которым судят о кристалличности, не изменяется при нарушениях кристаллической решетки, а изотактические макромолекулы, не образующие спирали, не дают вклада в интересующие исследователя полосы. Миллер показал, что в некоторых случаях для закаленных образцов инфракрасный спектр указывает на полную кристалличность полимера, в то время как по дифракции рентгеновских лучей можно видеть, что упорядоченность кристаллической решетки весьма низкая. Эта форма полипропилена, промежуточная между кристаллической и аморфной, была названа Миллером некристаллической . Кристалличность, измеряемая методом инфракрасной спектрометрии, оценивается по интенсивности какой-либо полосы, относимой к кристаллическому состоянию, для пленок одной и той же толщины. Обычно за меру толщины принимается интенсивность линии спектра, сохраняющейся в аморфном полимере. Независимые измерения толщины пленки могут быть выполнены методом поглощения р-частиц Во многих работах кристалличность оценивали по интенсивности полос при 840 или 997 см а в спектре аморфного полимера фиксировали полосы при 975 или 1160 смг (работы 5 . Однако использовать полосы при 1160 см как стандарт толщины пленки менее желательно, поскольку эта полоса образуется вследствие наложения различных колебаний. [c.353]

Точнее отражает истинное содержание порфиринов их мольная концентрация, так как средний молекулярный вес порфиринов значительно меняется от нефти к нефти. Однако в связи с тем, что до сих пор различные исследователи пользуются разными единицами измерения, для сопоставления отдельных результатов и переведения одних единиц в другие mohiho использовать средний молекулярный вес нефтяных порфиринов, равный 550. В ряде случаев, когда содержание порфиринов в нефти очень мало, метод электронной спектроскопии не дает возможности фиксировать их наличие. [c.144]

Следует иметь в виду, что термостолбики калибруются мо излучению, значительная часть которого расположена в инфракрасной области, тогда как при фотохимической работе они используются в основном для измерения видимого или ультрафиолетового излучения. Следовательно, необходимо проверить, чтобы показания термостолбика зависели только от энергии, падающей на единицу поверхности в секунду, и совершенно не зависели от длины волны. Провести полную такую проверку нелегко, однако во многих случаях при соответствующей осторожности это можно сделать, варьируя ток, протекаюпии через эталонную лампу, как это указано в инструкции Бюро стандартов, и проверяя, существует ли действительно линейная зависимость между показаниями системы термостолбик—гальванометр и интенсивностью излучения. Поскольку распределение длин волн изменяется с температурой лампы накаливания (при высоких температурах более короткие волны составляют большую часть суммарного излучения), то наличие линейной зависимости показаний термостолбика от интенсивности излучения обычно является достаточной гарантией, что система может быть применена для всех длин волн, используемых при фотохимических исследованиях. Вопрос о применении термостолбиков для измерения энергии излучения подробно рассмотрен в гл. XXIV Спектроскопия и спектрофотометрия 122]. [c.238]

В качестне единицы длины волны в ИК-спектроскопии обычно используют так называемое волновое число V, имеющее размерность см и равное числу волн, укладывающихся в I см. Для краткости волновое число называют обычно просто частотой. В УФ и видимой областях спетра в качестве единицы длины волны наиболее часто используют нанометр (нм), равный Ю " метра. [c.192]

В молекулярно-спектроскопических исследованиях микроструктуры используются короткодействующие силы взаимодействия структурных единиц в цепи сополимеров и дальнодействующие силы в полимерах регулярного строения. Для анализа регулярных сополимеров особенно хорошие возможности представляет ЯМР-спектроскопия высокого разрешения. На резонансную частоту протонов звена А оказывают влияние непосредственно-соединенные с этим звеном группы В или А (см. стр. 419). Таким образом, возникает возможность определения химической природы соседних групп, а также их конфигурации в виде триад ВАВ, ВАА, ААА, пентад или даже гептад. [c.418]

Более тонкие слои можно анализировать, используя ИК-спектроскопию при скользящем падении. Чувствительность этого метода составляет единицы монослоя. Для детального ознакомления с этим методом, уже реализуемым в промышленных образцах ИК-микроскопов, рекомендуем специальную литературу, например, монографию Н. Харрика (см. с. 199). [c.185]

Сочетание сигналов вторичных электронов, дающих изображение топограг фии поверхности, и сигналов отраженных электронов, дающих картину распределения среднего атомного номера, с качественным и количественным рентгеновским анализом делают ЭЗМА важнейшим методом анализа твердых тел. Он стал рутинным для решения любых типов задач и анализа любых типов материалов (идентификация частиц в металлах, фаз в геологических объектах, пылевых токсичных частиц, асбестовых волокон). Главным ограничением метода является размер аналитического объема—обычно 1-3 мкм диметром и глубиной, что мешает проводить количественный рентгеновский анализ нанофаз, хотя их можно увидеть, используя сигналы вторичных или отраженных электронов. Можно детектировать поверхностные слои толщиной не менее нескольких нанометров, но провести селективный анализ в этом случае не представляется возможным, и очевидно, что необходимо использовать другие методы — аналитическую электронную микроскопию и электронную оже-спектроскопию для микроанализа с высоким разрешением по глубине (единицы нанометров). [c.335]

Для выраншния абсолютных интенсивностей полос поглощения Международной комиссией по спектроскопии при ШРАС принята размерность см" молекула ек . Наряду с этой системой единиц часто используются и другие. Так, в физических лабораториях обычно употребляется атомно-молекулярная система единиц, в которой дипольный момент выражается в дебаях D, а расстояние [c.31]

С использованием спектров С-ЯМР количественно определяют соотношение между гваяцильными и сирингильными единицами, проводят функциональный анализ лигнинов, в том числе с дифференциацией фенольных и алифатических первичных и вторичных гидроксилов, определяют типы связей между структурными единицами, вьшолняют стереохимические исследования. Получение фосфор- и фторсодержащих производных лигнина позволяет использовать Р- и р-ЯМР-спектроскопию, что расширяет возможности спектроскопических исследований лигнина. [c.419]

В системе СИ энергию измеряют в джоулях (1 Дж = = 1 кг-м с ). В спектроскопии для измерения энергии фотонов обычно используют внесистемную единицу — электрон-вольт (1 эВ = 1,6022-10Дж). [c.331]

В системе СИ энергию измеряют в джоулях (1 Дж = 1 кгм-с ). В спектроскопии дня измерения энфгии элекгромапшпшх квантов обычно используют внесистемщто единицу— электрон-вольт (1 эВ=1,6022-10 Дж). [c.199]

Это значит, что если спектр сканируют при вращении решетки монохроматора с постоянной скоростью, то спектр автоматически регистрируется на диаграмме в линейной шкале длин волн. Если барабан призменного монохроматора вращается с постоянной скоростью, то спектр не получается линейньпи ни в длинах волн, ни в волновых числах. Однако в волновых числах спектр для некоторых целей более удобен. В ИК-спектроско-пии электромагнитное излучение практически вообще не представляют в единицах длин волн. Вероятно это связано с тем, что данная спектральная область соответствует колебательным процессам, и ее логичнее представлять в единицах, обратно пропорциональных длине, т. е. в обратных сантиметрах — волновых числах. В ИК-спектроскопии их часто называют частотами, имеющими размерность обратные сантиметры. Отметим, что в аналитической молекулярной спектроскопии — спектрофотометрии и люминесценции практически всегда используют нанометры. [c.203]

Первая группа методов позволяет изучать непосредственно агрегацию частиц в дисперсиях. К ней, в первую очередь, относятся оптические методы светорассеяние, измерение числа частиц в единице объема с помощью поточного ультрамикроскопа (для лиозолей и тонких дисперсий) или счетчика Коултера (для разбавленных грубых дисперсий). В последнее время развиваются новые методы измерения размеров и числа частиц — метод, основанный на изучении интенсивности рассеяния света под малыми углами (до 1°), и лазерная допплеровская спектроскопия. Последний метод позволяет также определить коэффициенты диффузии частиц и их электрофоретическую подвижность. Измерения оптической плотности, светорассеяния и поточная ультрамикроскопия использовались для изучения флокуляции (в том числе и ее кинетики) модельных дисперсий (золей, монодисперсных латексов и др.) неионными полимерами и полиэлектролитами (см. ниже). [c.131]

В настоящей работе предлагается методика структурно-группового анализа нефтяных компонентов комплексным методом спектроскопии ЯМР Н и С. Определяемые параметры х ж у (табл. 6) позволяют получать более детальную информацию о бензильных заместителях, алкильных цепях и нафтеновых циклах. Иногда, особенно для нефтяных ВМС, полезно, наряду с предлагаемой, использовать методику [1], позволяющую одновременно с параметрами средней молекулы находить число и характер составляющих ее структурных единиц. Структурногрупповые характеристики, полученные но предлагаемой методике (см. табл. 6) и методике [1], хорошо согласуются и дают [c.58]

В спектроскопии для измерений мощности, энергии и других характеристик излучения обычно пользуются не фотометрическими единицами, а энергетическими. Фотометрические величины связаны с энергетическими через функцию видности, которая отлична от нуля только в видимой части спектра. Поэтому в области длин волн короче 3600 и длиннее 7000 Л такие понятия как люмен, люкс, стильб, теряют смысл. Тем не менее понятия яркость, световой поток, освещенность сохраняются в спектроскопии и для ультрафиолетовой и для инфракрасной областей, несмотря на утрату их первоначального значения, связанного с визуальным восприятием. Однако в качестве единиц при спектроскопических измерениях используются либо единицы системы СИ или СГС, либо принятые в атомной физике электрон-вольты при измерении энергии термов, число квантов в секунду при измерении величины светового потока и др. Ниже приводятся основные величины, с которыми нам придется иметь дело, и их обозначения. [c.11]

При размерности элементов матрицы Р элементы матрицы С являются безразмерными величинами. Численные значения силовых постоянных определены в масштабе, единицами которого являются 1 А и единица атомных масс (в С-шкале), в отличие от нередко встречающеЕося в спектроскопии органических молекул масштаба, использующего в качестве единичной длины длину связи С—Н, а в качестве единичной массы — спектроскопическую массу Н. Это следует учитывать при сопоставлении силовых постоянных. [c.38]

Раздел, посвященный экспериментальным результатам, охватывает данные для линейных полимеров, которые были опубликованы до июня 1968 г. Систематический просмотр литературы осуществлялся по hemi al Abstra ts. Кроме того, использовались перекрестные ссылки, предыдущие обзоры, картотеки информационного центра университета в Акроне и персональные просьбы к исследователям, занятым в этой области. Авторы надеятся, что число упущенных экспериментальных работ невелико. Все результаты были подвергнуты критическому просмотру. В частности, была сделана попытка получить данные о структуре полимеров в твердом состоянии. Во всех случаях, когда имеющейся информации оказывалось достаточно, составлялась таблица результатов. Обсуждению результатов измерения теплоемкости предшествует краткий обзор основных определений и единиц, методов измерений, специфических для полимеров, а также тепловых и структурных свойств полимерных кристаллов, расплавов и стекол. Кроме гомополимеров, рассмотрено поведение нескольких сополимерных систем. Во всех возможных случаях для дополнительной информации о частотах колебаний использовались данные инфракрасной (ИК) спектроскопии, спектров комбинационного рассеяния (КР) и результаты по рассеянию нейтронов. Данных о колебаниях решетки в кристаллах линейных полимеров, полученных на основе рассеяния рентгеновских лучей, в литературе найти не удалось. В будущем информация о подвижности главной цепи полимеров может быть получена на основе измерений в микроволновой области. [c.8]