Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Кривая нейтрализации сильной кислоты слабым основанием

    При нейтрализации двухосновной кислоты сильным основанием возможны два положения. Если первая ступень диссоциации двухосновной кислоты соответствует диссоциации сильной кислоты, а вторая ступень — диссоциации слабой кислоты, то титрование такой кислоты, например хромовой, протекает так же, как титрование смеси сильной и слабой кислот. Если же обе ступени диссоциации отвечают почти одинаковым по силе кислотам, то кривые титрования накладываются одна на другую, так как основание распределяется одновременно между обеими кислотами. В этом случае количественно определить содержание кислоты в растворе методом титрования невозможно, но определенная зависимость между количеством добавленного основания и значением pH раствора все-таки имеется и рассчитать эту зависимость можно. [c.508]


    Совсем иной характер имеет кривая водородных показателей, когда дело касается насыщения слабой кислоты сильным основанием или сильной кислоты слабым основанием. Ход кривой водородных показателей в этом случае представлен на рис. 127. Кривая I дана в качестве примера кривой насыщения слабой кислоты сильным основанием. Она соответствует ходу кривой нейтрализации при насыщении 0,1 н. уксусной кислоты 0,1 н. раствором едкого натра. Как видно из рисунка, область перехода метилового красного минуется в этом случае весьма медленно. Когда же переход окраски наконец происходит, раствор не содержит еще всего количества основания, эквивалентного кислоте. Это не имеет места даже и в точке нейтрализации [c.793]

    Титрование оснований. Возможности кондуктометрического определения оснований различной силы и характер изменения электропроводности растворов при их титровании в обш,ем аналогичны рассмотренным для кислот. Отличие заключается только в том, что при нейтрализации сильных оснований электропроводность понижается менее резко, чем при нейтрализации сильных кислот, так как подвижность ОН пиже подвижности Н+, и, наоборот, избыток титранта вызывает более резкое повышение электропроводности. Следует также заметить, что плавный ход кривых вблизи точек эквивалентности, наблюдаемый при титровании слабых оснований (гидролиз образующихся солей), более заметен по сравнению с наблюдаемым для кислот такой же силы. Это объясняется тем, что при титровании- кислот в результате гидролиза в растворе " образуются гидроксильные ионы, а при титровании оснований — более подвижные водородные ионы. [c.82]

    Аналогично можно изобразить кривую нейтрализации сильной кислоты слабым основанием. Приведем в качестве примера кривую нейтрализации аммиака соляной кислотой. Отложим по абсциссе число X грамм-эквивалентов кислоты, добавленной на 1 грамм-эквивалент аммиака (рис. 101). Заметим, что pH в точке эквивалентности соответствует pH гидролиза хлористого аммония (pH = 4,6 [c.259]

    При титровании в водном растворе сильной кислотой слабого основания или сильным основанием слабой кислоты pH мало изменяется вблизи точки эквивалентности кривые титрования имеют пологий характер скачок титрования у точки эквивалентности уменьшается с увеличением рК титруемого основания или кислоты, причем для очень слабых оснований реакция нейтрализации не идет до конца вследствие того, что ионы водорода кислоты реагируют с водой как с основанием. [c.44]


    Тогда к исследуемому раствору можно добавить соответствующий окрашенный индикатор. Достаточно выбрать индикатор, зона изменения окраски которого включала бы pH точки эквивалентности. Рассмотрение кривых нейтрализации (рис. 99—101) показывает, что в случае нейтрализации сильной кислоты сильным основанием можно, например, воспользоваться как метилоранжем, так и фенолфталеином. При определении концентрации слабой кислоты с помощью сильного основания только фенолфталеин может выявить точку эквивалентности. Наконец, при определении концентрации из кривой нейтрализации сильной кислоты слабым основанием применяют метилоранж. [c.260]

    Кривые кондуктометрического титрования кислот слабыми основаниями носят различный характер (см. рис. 26). При титровании сравнительно сильно диссоциирующих кислот (р/Са = 2 и 3) на кривых до точки эквивалентности наблюдается минимум, не имеющий аналитического значения. При титровании слабых кислот средней силы (р/Са = 4—6) электропроводность до точки эквивалентности повышается. Кривая титрования слабой кислоты с р/Со = 7 слабым основанием (р/Сь = 7) не имеет излома в точке эквивалентности, так как реакция нейтрализации обратима. Характерной особенностью кривых титрования кислот слабыми основаниями является то, что после точки эквивалентности электропроводность раствора остается постоянной. Только при нейтрализации кислоты сравнительно сильным основанием (р/Сь = 2) наблюдается небольшое увеличение электропроводности от избытка титранта. [c.83]

    Титрование смеси сильной и слабой кислот. При титровании смеси сильной (НС1) и слабой (НАс) кислот сильным основанием на кривой титрования наблюдаются два скачка потенциала (рис. 1 1.14). Сильная кислота полностью подавляет диссоциацию слабой кислоты, поэтому начальный участок кривой не отличается от кривой титрования сильной кислоты. После полной нейтрализации сильной кислоты титруется слабая кислота, поэтому последующий участок кривой практически не отличается от кривой титрования слабой кислоты. Форма кривой титрования смеси кислот зависит от силы слабой [c.193]

    При избытке слабого основания проводимость мало изменяется. Поэтому излом в точке эквивалентности по сравнению с изломом на кривых титрования сильными основаниями оказывается в некоторых случаях более резким. Определения кислот слабыми основаниями (0,1 н. растворы) возможны в случаях, когда сумма рКа титруемой кислоты и р/Сг, основания, используемого для нейтрализации, 12. [c.81]

Рис. 124. Кривые кондуктометрического титрования при методе нейтрализации а — сильная кислота — сильное основание б — слабая кислота — сильное основание в — слабая кислота — слабое основание. Рис. 124. <a href="/info/285060">Кривые кондуктометрического титрования</a> при <a href="/info/7916">методе нейтрализации</a> а — <a href="/info/18713">сильная кислота</a> — <a href="/info/18715">сильное основание</a> б — <a href="/info/5209">слабая кислота</a> — <a href="/info/18715">сильное основание</a> в — <a href="/info/5209">слабая кислота</a> — слабое основание.
    Если соль образована настолько слабым основанием, что подвергается в растворе полному гидролизу, кривая титрования имеет У-об-разную форму, так как происходит нейтрализация сильной кислоты, образующейся при гидролизе. Такого типа кривая наблюдается при титровании (рис. 8, а) гидроокисью натрия гидрохлорида мочевины (р/(ь = = 13,82). [c.85]

    Кондуктометрическое титрование может быть использовано и при анализе кислых солей сильных и слабых многоосновных кислот. Кислые соли сильных двухосновных кислот могут быть образованы катионами сильных и слабых оснований. Если основание, образующее соль, сильное, при титровании кислой соли щелочью происходит нейтрализация только ионов водорода, образующихся в растворе при диссоциации соли. При этом проводимость до точки эквивалентности линейно понижается аналогично тому, как это происходит при нейтрализации свободных сильных кислот. Когда сильная двухосновная кислота образует кислую соль со слабым основанием (рКь = 4 — 9), при ее титровании сильным основанием сначала нейтрализуются ионы водорода, затем взаимодействуют катионы слабого основания. Кондуктометрическая кривая имеет два излома (рис. 8,/с). [c.87]

    Помимо титрования чистых растворов (рис. 61), кондуктометрический метод может быть распространен также и на смеси сильных н слабых кислот (или оснований). В этом случае кривая титрования имеет две точки перегиба первая из них (В на рис. 62) соответствует эквивалентной точке сильной кислоты, вторая (С)— слабой. Когда искривление линии нейтрализации сильной кислоты (АВ на рис. 62) очень велико, рекоменду- [c.126]


    Помимо титрования чистых растворов, кондуктометрический метод может быть распространен также и на смеси сильных и слабых кислот (или оснований). В этом случае (рис. 19) кривая титрования имеет две точки перегиба первая из них В соответствует эквивалентной точке сильной кислоты, вторая С —слабой. В том случае, когда искривление линии нейтрализации сильной кислоты АВ очень велико, титрование ведут в присутствии компонента, подавляющего диссоциацию слабой кислоты (например,этилового спирта). [c.136]

    Нейтрализация слабой кислоты слабым основанием. Выше было показано, что при титровании слабой кислоты сильным основанием сужается интервал скачка на кривой в области кислотных значений pH. Наоборот, при титровании слабого основания интервал скачка уменьшается в щелочной области pH. [c.259]

    На рис. К. 3, б представлена кривая титрования слабой кислоты (или слабого основания). В качестве титрующего раствора применяется слабое основание(или слабая кислота). В других методах конечная точка такого титрования отчетливо не проявляется из-за гидролиза, но на точность кондуктометрического титрования этот эффект не оказывает влияния. Кислота средней силы (рК 2—4) не дает достаточно резко выраженной конечной точки при титровании сильным или слабым основанием в этом случае к раствору кислоты добавляют небольшое количество аммиака и затем титруют гидроокисью натрия до полной нейтрализации кислоты и замещения всех ионов аммония ионами натрия в результате электропроводность падает. Наконец, при дальнейшем добавлении ЫаОН электропроводность возрастает, и в конечной точке количество использованной ЫаОН эквивалентно исходному количеству кислоты (рис. К.4, а). [c.67]

    Одно из ценных свойств кондуктометрического метода анализа заключается в том, что он дает возможность производить анализ смеси сильной и слабой кислот в ходе одного титрования. На рис. 26 изображен вид кривой титрования, получающейся при титровании слабым основанием начальное понижение электропроводности обусловлено нейтрализацией сильной кислоты затем электропроводность начинает возрастать вследствие замещения слабой кислоты ее солью. После окончания нейтрализации электропроводность под влиянием избытка слабого основания меняется незначительно. Первая точка пересечения соответствует количеству сильной кислоты в смеси, а разность между первой и второй точками эквивалентна количеству слабой кислоты. [c.117]

    Сильные и слабые основания. При титровании основания кислотой получаются результаты, совершенно аналогичные тем, которые были описаны выше для обратного процесса. При нейтрализации сильного основания хорошо проводящий ион гидроксила замещается анионом с меньшей электропроводностью, поэтому по мере прибавления кислоты электропроводность раствора убывает. Если пользоваться для титрования сильной кислотой, то после достижения конечной точки электропроводность начинает возрастать точно так же, как в случае, изображенном на рис. 24 если же применять слабую или очень слабую кислоту, величина электропроводности почти перестает меняться. При титровании кислотой средней силы после эквивалентной точки происходит незначительное увеличение электропроводности. Во всех этих случаях кривые пересекаются под сравнительно большими углами если можно воспрепятствовать доступу углекислоты из воздуха, то лучший метод кондуктометрического титрования кислот любой силы состоит в том, чтобы добавлять раствор кислоты к титрованному раствору сильной щелочи. [c.118]

    Анализ смесей сильных и слабых кислот (или сильных и слабых оснований) основан на том, что в присутствии сильной кислоты (основания) диссоциация слабой кислоты (основания) практически не происходит. Поэтому в начале титрования рабочий раствор расходуется только на нейтрализацию сильной кислоты (основания) и лишь после того, как нейтрализация ее закончится, начинается нейтрализация слабой кислоты (основания). На кривой кондуктометрического титрования в этом случае имеются две точки перегиба. [c.368]

    При титровании слабой кислоты слабым основанием ход зависимости электропроводности от количества прибавленной щелочи до точки нейтрализации аналогичен ходу зависимости при титровании сильной щелочью, однако после точки нейтрализации дальнейшее прибавление основания почти не изменяет электропроводности, так как слабое основание весьма мало диссоциировано (рис. 11, кривая 2, 3 ). [c.52]

    Б) Кривые нейтрализации при титровании слабых кислот сильными основаниями [c.58]

    Третий тин кривых характерен для нейтрализации слабых кислот. Электропроводность раствора до точки эквивалентности линейно повышается, а затем остается постоянной (рис. 7, кривая 3). Процессы нейтрализации слабых кислот слабыми основаниями имеют следующую характерную особенность концентрации водородных и гидроксильных ионов в продолжение всего процесса титрования настолько малы, что не могут оказывать влияния на электропроводность раствора. Изменение электропроводности раствора вызывается только увеличением концентраций анионов кислоты и катионов основания. Поэтому, чем выше подвижности этих ионов, тем сильнее увеличивается электропроводность раствора до точки эквивалентности и тем меньше угол излома. [c.37]

    На рис. 8 приведены типичные кривые титрования оснований сильной кислотой 0,1 н. растворов сильного основания (кривая 1), основания средней силы (р/Сь = 2, кривая 2) и слабых оснований (р/Сь=6, кривая 3 и рКъ = = Ш, кривая 4). При сравнении этих кривых с кривыми титрования, приведенными на рис. 1—4 (см. 1), видно, что электропроводность раствора при нейтрализации сильной кислоты и кислоты средней силы (р/Са = ==2) понижается более резко, чем при нейтрализации оснований, так как выше начальная электропроводность раствора. Однако после точки эквивалентности электрО проводность раствора повышается более резко при ней трализации оснований. Это объясняется тем, что ионы водорода, вводимые в титруемый раствор при избытке кислоты, отличаются большей подвижностью. [c.38]

    В случае когда кислая соль образована сильным основанием и слабой двухосновной кислотой (рД а <10), при ее титровании сильным основанием нейтрализуются НАп -ноны. Электропроводность раствора при нейтрализации этих нонов повышается менее сильно, чем от избытка титранта. Кривая титрования кислой соли слабого основания (р/Сь = 4- -9) и слабой кислоты характеризуется двумя изломами, если (р/Са+рА"ь) 12. При титровании сначала нейтрализуются НАп--ионы, а затем вытесняется слабое основание. Электропроводность раствора до первой точки эквивалентности повышается, а затем практически не изменяется. Избыток сильного основания вызывает сильное увеличение электропроводности раствора. [c.51]

    Преимущества кондуктометрического метода сохраняются и ири анализе двухкомпонентных смесей оснований. Интервал значений р/Сь слабых оснований, которые могут дифференцированно титроваться в смесях с сильными основаниями, имеет те же значения, что и значения р/(а слабых кислот. Типичная кривая титрования смесей сильных и слабых оснований в общем аналогична кривой титрования смесей кислот, приведенной на рис. 15. Небольшое отличие заключается только в том, что понижение электропроводности раствора при нейтрализации сильного основания менее резкое, чем при титровании сильной кислоты, а повышение электропроводности от избытка титранта, наоборот, более сильное. [c.54]

    При нейтрализации сильной одноосновной кислоты слабым основанием уравнения электронейтральности раствора и кривой титрования по аналогии с титрованием слабых кислот сильными осно- [c.80]

    При титровании слабой кислоты сильным основанием или слабого основания сильной кислотой получают кривую титрования, приведенную на рис. 82 (кривая с). Вследствие меньшей диссоциации слабой кислоты или слабого основания электропроводность вначале минимальна, но по мере образования ионизированной соли она возрастает. Можно одновременно титровать смесь сильной и слабой кислот (или сильного и слабого оснований) сильным основанием (соответственно сильной кислотой) (рис. 82, кривая Ь). Участок АВ этой кривой соответствует нейтрализации сильной кислоты (соответственно сильного основания), участок ВС, имеющий меньший наклон, соответствует нейтрализации слабой кислоты (или слабого основания), участок D — избытку основания (или кислоты). [c.216]

    Изучение потенциометрических кривых (рис. 155) показывает, что, например, 0,1 н. соляная кислота, частично нейтрализованная, обладает значительной буферной емкостью при pH от 1 до 2, так как pH изменяется постепенно только в этих пределах. При нейтрализации слабых кислот и оснований сильными кислотами и основаниями происходит постепенное изменение pH раствора и заметного перегиба в точке эквивалентности нет, что указывает на значительную буферную емкость. [c.352]

    По теории Аррениуса могут быть рассчитаны кривые нейтрализации, характеризующие изменение pH раствора при нейтрализации кислоты или основания. Рассмотрим кривые нейтрализации для буферного раствора, состоящего из слабой кислоты НА и ее соли с сильным основанием. Буферность такого раствора обусловлена тем, что добавляемые ионы водорода связываются анионами соли, а добавляемые ионы гидроксила удаляются за счет нейтрализации недиссоциированных молекул кислоты ОН -ЬНА НгО-рА". В результате при некотором соотношении концентрации соли и кислоты pH системы при добавлении кислоты или щелочи изменяется незначительно. [c.13]

    Наконец, при нейтрализации сильной кислоты слабым основанием (НС1 и МН40Н) или слабой кислоты сильным основанием (НАс и КОН) кривая становится асимметричной. При этом в перво м случае pH в эквивалентной точке смещается в сторону меньших значений (кислая среда — точка 2), а во вт0р0(М — в сторону больших значений (щелочная среда— точка 3). [c.273]

    Для рассматриваемых случаев также имеются типичные формы кривых титрования. Рассмотрим процессы нейтрализации 0,1 н. растворов кислот слабым основанием (р/Сь== = 5). При этом гидролиз соли не оказывает влияния на изменение электропроводности раствора. На рис. 7 показана кривая титрования сильной кислоты слабым основанием (кривая 1). Если в качестве титранта используют более слабые основания, излом кривой вблизи точки эквивалентности закругляется вследствие обратимости реакции. Основания с р/Сь>10 не могут быть использованы при титровании 0,1 н. растворов сильных кислот, так как закругление кривой мешает точному устаповлепию точки эквивалептиости. При нейтрализации 0,01 и 0,001 п. растворов кислот границы рКъ оснований, которые позволяют проводить определение с достаточно высокой точностью, снижаются соответственно до 9 и 8. Условия определения точки эквивалентности по сравнению с кривыми титрования сильных кислот сильными основаниями менее благоприятны, так как угол излома кривой в точке эквивалентности становится тупым. [c.36]

    При титровании сильной кислоты слабым основанием, например гидроокисью аммония, первая часть кривой титрования, которая соответствует нейтрализации кислоты и ее замещению солью, будет очень похожа на яервую часть кривой, изображенной на рис. 24, так как обе соли являются сильными электролитами. Однако после достижения эквивалентной точки электропроводность почти не будет меняться, так как свободное основание является слабым электролитом, а следовательно, его электропроводность очень мала по сравнению с электропроводностью кислоты или соли. [c.115]

    Титрование смеси сильной и слабой кислот сильным и слабым основанием. При титровании смеси (например, H I —СНзСООН) сильным основанием NaOH на кривой титрования (рис. 10.13) имеют место две к. т. т. В исходном растворе кислоты электрическая проводимость определяется ионами Н+ и 1 , образующимися при диссоциации НС1. Диссоциация СНзСООН в присутствии НС1 полностью подавлена. При титровании до первой к. т. т. х уменьшается за счет изменения состава ионов (ионы водорода заменяются ионами натрия). После полной нейтрализации НС1 диссоциирует СНзСООН, поэтому в первой к. т. т. [c.158]

    Интегральная кривая титрования слабой кислоты сильным основанием представлена на рис. 11.12 в сравнении с кривой титрования сильной кислоты. Скачок потенциала при титровании слабой кислоты значительно меньше и составляет 0,160 В. Кривая титрования несимметрична относительно к. т. т. Буферная часть ее в интервале 10—90 % нейтрализации располагается выше кривой титрования сильной кислоты и поднимается круче. Значение pH в к. т. т. находится выше линии нейтральности и равно 9. До к. т. т. раствор слабощелочный (рН 7,2), после к. т. т.— сильнощелочный (рН 10). [c.192]

Рис. 16. Типы кривых при реакциях нейтрализации а — сильная кислота — сильное основание для концентрированных растворов (О и для разбавлелных растворов (2) б —слабая кислота — сильное основание для концентрированных растворов (/) и очень ела бая кислота — сильное основант (2) в — слабая кислота — слабое основание Рис. 16. <a href="/info/972787">Типы кривых</a> при <a href="/info/2688">реакциях нейтрализации</a> а — <a href="/info/18713">сильная кислота</a> — <a href="/info/18715">сильное основание</a> для <a href="/info/15000">концентрированных растворов</a> (О и для разбавлелных растворов (2) б —<a href="/info/5209">слабая кислота</a> — <a href="/info/18715">сильное основание</a> для <a href="/info/15000">концентрированных растворов</a> (/) и очень ела бая кислота — сильное основант (2) в — <a href="/info/5209">слабая кислота</a> — слабое основание
    Титрование оснований. Характер изменения электропроводпо-сти растворов при титровании оснований кислотами тот же, что и при титровании кислот основаниями. Различие заключается в том, что при нейтрализации сильных оснований электропроводность понижается менее резко, по сравнению с нейтрализацией сильных кислот, так как подвижность ионов ОН меньше подвижности ионов Н+, вследствие этого избыток титранта вызывает более резкое увеличение электропроводности. Плавный ход кривых вблизи точки эквивалентности, наблюдаемый при титровании слабых оснований. и объясняющийся гидролизом, более ярко выражен, чем при титровании кислот одинаковой силы. Это объясняется тем, что при титровании кислот в результате гидролиза в растворе образуются ионы ОН , а при титровании оснований образуются более подвижные ионы Н+. [c.158]

    Кривые титрования в реакциях нейтрализации показывают изменения pH раствора в зависимости от расхода реагента. Отдельные точки кривой титрования можно рассчитать по формулам для вычисления pH электролитов. Так, при вычислении pH растворЯ сильных кислот или оснований, пре небрегая ионной силой раствора, концентрации ионов Н+ или 0Н можно приравнять к общей концентрации кислоты или щелочи. Для вычисления pH слабых кислот и оснований, а также растворов их солей, подвергающихся гидролизу, учитывают соответствующие константы диссоциации. [c.113]

    Точность определения конечной точки титрования зависит от степени изгиба кривой в точке эквивалентности, т. е., как было показано ранее, от величины константы диссоциации кислоты и основания и от концентрации раствора. Если сильная кислота титруется сильным основанием, то даже в случае сравнительно разбавленных растворов изменение потенциала в эквивалентной точке велико (ср. рис, 99), и конечную точку можно определить точно. Если берется слабая кислота и сильное основание или наоборот, то можно удовлетворительно определить конечную точку титрования, если только растворы не слищком разбавлены или если кислота или основание не слишком слабы (ср. рис. 100, /). Если с — концентрация титруемого раствора, а ка я кь — константы диссоциации слабой кислоты или слабого основания, титруемых соответственно сильным основанием или сильной кислотой, то при значении ска или скь, большем 10 , на кривой нейтрализации получается заметный излом, соответствующий конечной точке. Можно проводить потенциометрическое титрование, даже если ска или скь меньше 10 , но при этом получаются менее точные результаты (ср. рис. 100, //). Потенциометрическое титрование очень слабых оснований можно производить в сильно протоногенной среде (ср. рис. 102). Если титровать слабую кислоту слабым основанием или наоборот, то изменение pH в конечной точке никогда [c.537]

    Кривые нейтрализации при титрованин слабых кислот сильными основаниями. Если слабую кислоту титруют сильным основанием, то точка эквивалентности лежит в щелочной области.. Если, наоборот, слабое основание титруют сильной кислотой, то точка эквивалентности лежит в кислой области. Если титруемая кислота или основание очень слабы, то кривая их нейтрализации несимметрична в отношении точки эквивалентности. [c.72]

    Специальные серии опытов проведены с целью изучения условий титрования смесей, характеризующихся (рКа + рКь) > 16. Подтверждено, что нижняя граница рКа кислот, образующих соли при титровании 0,075 н. растворов, может быть принята равной 6. Для исследования были взяты смеси натриевых солей различных слабых одноосновных кислот с анилином (р/Сь = 9,42). Кривые титрования смесей раствором НС1 показаны на рис. 78. В смеси с анилином определяются все соли, образованные кислотами с р/Са > 6 (кривые 5—14). Если соли образованы недостаточно слабыми кислотами — муравьиной, метакриловой,уксусной и у-Динитрофенолом, — кривые титрования смесей имеют один излом, указывающий окончание реакции нейтрализации и вытеснения (кривые 1—4). Характер изменения электропроводности раствора при взаимодействии солей зависит от степени их гидролиза. При значительном гидролизе соли кривая титрования подобна кривой, получающейся при нейтрализации смеси сильного и слабого оснований. Сильное основание в этом случае представляет продукт гидролиза. Примером служит кривая титрования смеси глицерата натрия с анилином (рис. 78, кривая 14). [c.162]


Смотреть страницы где упоминается термин Кривая нейтрализации сильной кислоты слабым основанием: [c.20]    [c.21]    [c.208]    [c.13]   
Смотреть главы в:

Основы физической химии -> Кривая нейтрализации сильной кислоты слабым основанием




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Кислота слабые

Кислоты и основания нейтрализация,

Кислоты сильными основаниям

Кислоты сильных сильными основаниям

Кислоты слабых сильными основаниям

Кислоты слабых слабыми основаниям

Кривая нейтрализации сильной кислоты сильным основанием

Кривые нейтрализации кислот и оснований

Нейтрализация

Нейтрализация сильной кислоты и сильного основания

Нейтрализация сильных

Нейтрализация слабой кислоты и сильного основания

Нейтрализация слабых

Основание сильные

Оснований нейтрализация,

Основания и кислоты

Основания слабые

Слабов



© 2024 chem21.info Реклама на сайте