Масс-спектрометрический метод анализа Источники ионов

Газопроницаемость полимерных материалов может быть определена масс-спектрометрическим методом анализа газа. Диффузионная ячейка состоит из двух камер, разделенных испытуемой пленкой, причем одна из камер соединяется с резервуаром, содержащим исследуемый газ, а вторая камера — с ионным источником масс-спектрометра. Перед началом эксперимента в ячейке создается высокий вакуум (остаточное давление порядка ЫО мм рт. ст.). Газ, диффундирующий через пленку, поступает в ионный источник масс-спектрометра. Скорость его поступления непрерывно регистрируется самописцем в виде зависимости силы ионного тока от времени. Стационарное состояние переноса газа через мембрану характеризуется постоянством величины ионного тока. [c.253]

Подводя итог проведённому рассмотрению масс-спектрометрических методов анализа изотопов, отметим, что развитие измерительной техники в этом направлении идёт быстрыми темпами и, соответственно, расширяется круг задач, которые можно решать с их использованием, а также упрощается для пользователя решение традиционных задач. Например, появление хромато-масс-спектрометрии в значительной мере решило проблему анализа смесей веществ. Постоянно повышаются разрешающая способность и диапазон возможных для измерения масс ионов разрабатываемых приборов, совершенствуются ионные источники и разрабатываются новые их типы. Все современные приборы снабжены микропроцессорами и имеют обширную программную и справочную базу данных. Всё вышеизложенное делает эти методы анализа одними из наиболее широко используемых и популярных. [c.96]

Относительный выход ионов химических элементов при всяком способе ионизации пробы в ионном источнике имеет главное значение при разработке количественного масс-спектрометрического метода анализа вещества. [c.181]

Заключительная глава книги (гл. 14) представляет в некотором смысле исключение, поскольку она полностью посвящена масс-спектрометрическим исследованиям при помощи источника ионов с лазером. Показано, что такие источники являются наиболее эффективным дополнением к другим масс-спектрометрическим методам анализа твердых тел. [c.12]

Приведенный здесь обзор не является исчерпывающим, в нем приведены лишь основные характеристики масс-спектрометрических методов анализа поверхностей и тонких пленок. Приборы с искровым, лазерным источниками ионов и источником с вторичной ионной эмиссией имеют большие возможности. Сфера применения каждого из этих методов будет расширяться по мере развития и дальнейшего усовершенствования техники, а также более глубокого понимания очень сложных процессов, происходящих во время анализа. В ближайшие несколько лет эти исследования должны бурно развиваться, поскольку предельная чувствительность и пространственное разрешение, достигаемые в масс-спектрометрии, значительно выше, чем в случае других инструментальных методов. [c.422]

Большинству основных требований удовлетворяет искровой-ионный источник, нашедший широкое распространение в масс-спектрометрическом методе анализа, на приборах с двойной фокусировкой. Принципиальная схема искрового источника, применяемая в современных масс-спектрометрах для анализа ве- [c.17]

Второй подход состоит в том, что реактор присоединяется к масс-спектрометру, и реагирующая смесь направляется непосредственно в ионный источник по ходу реакции. При этом масс-спектрометрический метод оказывается применимым не только к анализу стабильных веществ, но и открывает большие возможности при исследовании промежуточных продуктов реакции в газовой фазе, в частности свободных радикалов и атомов. [c.471]

Масс-спектрометрия отрицательных ионов в методическом отношении более стабильна, так как жесткие требования масс-спектрометрии не позволяют широко варьировать конструкцию ионного источника и условия проведения эксперимента. Однако анализ по массовым числам осколочных ионов и отсутствие фона потенциального рассеяния (замечаются только резонансные процессы) дают возможность изучать резонансы в сечениях рассеяния электронов сложными молекулами, которые для методов СЭУ пока недоступны. К настоящему времени основная информация по резонансным состояниям сложных (многоатомных) молекул получена масс-спектрометрическим изучением образования отрицательных ионов. Поскольку методические вопросы масс-спектрометрии подробно изложены в многочисленных обзорных статьях и монографиях, рассмотрим в следующих разделах только некоторые проблемы методики изучения отрицательных ионов, специфичные для этой области масс-спектрометрии. [c.19]

Исследуемую фракцию после модификации описанным выше способом помещают в испаритель и посредством штока вводят в ионный источник. Благодаря различной летучести модифицированных пептидов при плавном нагревании из смеси дробно возгоняются индивидуальные компоненты, и поэтому масс-спектры, которые записываются в определенные промежутки времени, обычно характеризуют те пептиды, содержание которых в газовой фазе является преимущественным. Сравнивая масс-спектры образца, получаемые при различных температу-рах, удается однозначно определять аминокислотную последовательность индивидуальных пептидов смеси. Такой подход дает хорошие результаты при анализе смесей, содержащих до пяти различных пептидов. Ниже будут обсуждены общие приемы установления первичной структуры белков, которые позволят наиболее эффективно использовать преимущества масс-спектрометрии при установлении аминокислотной последовательности коротких пептидов. При этом следует помнить, что для достижения максимального эффекта при установлении первичной структуры неизвестного белка всегда следует комбинировать классические и масс-спектрометрический методы. Такой подход может выглядеть следующим образом [c.521]

Метод МСВИ также часто применяется для анализа поверхности. В нем в качестве источника возбуждения используются первичные ионы, тогда как вторичные ионы являются продуктами эмиссии при взаимодействии с поверхностью. В качестве первичных служат ионы инертных газов (Аг" или Хе" ) с энергией порядка кэВ, что позволяет первичным ионам проникать в твердое тело на глубину в несколько атомных слоев. Энергетика этого процесса такова, что он сопровождается эмиссией нейтральных и заряженных частиц с поверхности затем эти частицы анализируются масс-спектрометрически. Метод позволяет определять любые элементы и соединения. Проблемы могут возникать из-за накопления заряда (так же, как и в сканирующей электронной микроскопии) и ионно-инициируемых реакций на поверхности. [c.206]

Еще более ценным источником необходимой дополнительной информации служат данные количественного (элементного) анализа, которые в сочетании с определением молекулярной массы позволяют установить брутто-формулу вещества. Классические (химические) методы установления брут-то-формулы теперь все чаще заменяются масс-спектрометрическими, основанными на точном измерении изотопных линий молекулярных ионов или очень точном измерении массовых чисел [c.21]

Метод масс-спектрометрического анализа с искровым источником ионов обладает тремя основными преимуществами чувствительность определения примесей существенно выше, чем для других широко используемых методов селективность регистрации незначительна почти для всех элементов, входящих в основу практически все стабильные элементы периодической системы могут быть определены одновременно. [c.9]

В четвертой главе представлены методы анализа твердых веществ на масс-спектрометре с искровым ионным источником. Рассмотрены особенности анализа полупроводников, металлов, изоляторов, геологических образцов и биологических объектов, отличающихся электрофизическими характеристиками, способами подготовки проб для анализа, структурой спектра масс и методами определения концентраций. Один из разделов этой главы посвящен масс-спектрометрическому определению газовых примесей и углерода в твердых телах. В этой же главе обсуждаются точность масс-спектрометрических результатов и [c.7]

Исследована возможность масс-спектрометрического анализа газовых смесей (в частности, для определения окиси углерода в азоте) путем избирательной ионизации отдельных компонентов монохроматическим светом [1180]. Для устранения влияния фона, обусловленного фотоэлектронами, образующимися в камере монохроматора, между выходной щелью монохроматора и ионным источником устанавливают отклоняющие пластинки. Источником света служит искровой разряд в аргоне при давлении 2 мм рт. ст., улучшающий группу интенсивных линий в области 879 А. С применением Ai-фильтра предел обнаружения примеси СО в Nj составляет 0,01 % по пику т/е 28. В случае металлического 1п-фильтра предел обнаружения равен 0,05%. Основным недостатком метода является сравнительно низкое отношение сигнала к фону. [c.256]

Состояние исследований в области масс-спектрометрии с искровым источником ионов было суммировано в монографии, выпущенной под редакцией Ахерна (1966). Хотя с тех пор опубликован ряд обзорных статей, мне представляется, что настало время для более широкого рассмотрения и обсуждения приемов анализа следов элементов с помощью этого метода. Настоящая книга в основном посвящена масс-спектрометрическим методам, использующим источники ионов с электрическим [c.9]

Широкое использование масс-спектрометрического метода анализа обусловлено высокой чувствительностью и информационной способностью. Для анализа металлов и полупроводников обычно применяют масс-спектрографы типа Маттау-ха — Герцога [1] с искровым источником ионов. [c.167]

Основные недостатки масс-спектрометрического метода анализа непроводящих материалов природного происхождения следующие затрата большого количества вещества (порядка 300—500 мг) для прессования двух анализируемых электродов использование в качестве проводящей добавки порошкообразного графита, усложняющей спектр масс образца, отчего число регистрируемых элементов уменьшается при перемещении электродов во время эксперимента точка разряда изменяет свое положение относительно входной диафрагмы ионного источника, что приводит к большим ошибкам при определении элементного состава, как было показано в работе [20] трудность учета коэффициентов относительной чувствительности ионизации является источником погрешностей при определачии многих элементов, содержащихся в образцах неоднородность состава анализируемых образцов затрудняет получение точных данных. [c.140]

Из данных, полученных при анализе смесей воды и спиртов [66, 70], следовало, что на ослабление памяти в наибольшей степени влияло уменьшение участка, расположенного между натекателем и ионным источником. Благоприятной для снижения эффектов сорбции оказалась промывка системы напуска исследуемым веществом в течение 2 лшн с последующей откачкой системы в течение I мин. Применение обогреваемой системы иапуска значительно расширило возможности масс-спектрометрического метода и в отношении диапазона молекулярных весов исследуемых соединений. Были исследованы [71] масс-спектры спиртов с 9 атомами углерода в молекуле при температуре системы напуска и камеры ионизации, равной 240° С, и проведен количественный анализ смесей спиртов с 6 и 7 атомами углерода в молекуле [72]. Относительная погрешность метода при температуре источника 250° С, проверенная на искусственных смесях, которые составлены из геп-танолов-2, -3 и -4, а также гексанола-1 и 2-этилбутанола-1, составляла около 5%, Максимальное отклонение от заданного значения составляло 19,3% а среднее — 8,27о- [c.45]

Голке и Лангер [37] предложили термин масс-спектрометрический термический анализ (МТА) для обозначения метода непрерывного анализа состава летучих продуктов, выделяющихся при нагревании гидратов и других соединений. Пробу нагревали в печи, расположенной внутри ионного источника времяпролет-ного масс-спектрометра, с помощью которого осуществлялся непрерывный анализ выделяющихся летучих продуктов. График зависимости относительной интенсивности ионов от температуры имеет сходный характер с термограммами, получаемыми в дифференциальном термическом анализе (см. гл. 4). Таким путем было изучено, например, обезвоживание солей [c.505]

Труднее всего обнаружить низкие концентрации при анализе так называемых газообразующих примесей водорода, углерода, азота и кислорода. Мешающими факторами здесь являются фон остаточных газов в источнике ионов и загрязнения поверхности образцов. Использование специальных приемов анализа (прогрев источника ионов, откачка высокопроизводительными вакуумными насосами и т. д.) позволяют снизить предел обнаружения этих элементов с помощью искрового зонда до (мол.), что иримерно соответствует возможностям других методов определения газообразующих примесей. Эти процедуры достаточно сложны, и их применение оправдано в основном полнотой анализа, так как одновременно с газообразующими примесями определяются и другие элементы. Но существуют и специальные масс-спектрометрические методы для анализа газообразующих примесей с помощью электронного либо лазерного зонда. В последнем случае применяют лазер, работающий в режиме свободной генерации. Он служит для испарения вещества (атомизации), а ионизацию проводят пучком электронов, как при анализе паров. [c.215]

Широкие фракции, отогнанные из колбы Вюрца в интервале 50—200°С, подвергались затем ректификации на колонке эффективностью 50 т. т. Полученные при этом погоны, объемом 15— 20 мл каждый, анализировались масс-спектрометрическим методом, разработанным во ВНИИНП. Анализ проводился на модифицированном масс-спектрометре МС-1 с записью на регистрирующем электронном потенциометре ЭПП-09. Модификация прибора заключалась в обогреве системы для введения жидких анализируемых проб, в создании системы для регулирования обогрева ионного источника и анализатора, блоков автоматической развертки и регистрации масс-спектров. Наилучшая воспроизводимость распределения интенсивностей в масс-спектре (1,5—2,5%) имела место в интервале 120—130°С. Съемки спектров проводились при следующем режиме ускоряющее напряжение 2,5 кв, энергия ионизирующих электронов 70 эв, ток эмиссии катода 1,5 ма. Описание метода опубликовано в печати [28—30]. [c.73]

Для разработки масс-снектрометрического метода анализа бензинов использова.лся модифицированный масс-спектрометр тппа МС-1, снабженный обогреваемой системой для впуска анализируемого образца в ионный источник и приспособлением для автоматической развертки и регистрации масс-спектра. Съемка спектров производилась при следующих условиях работы прибора тель пература системы напуска и масс-спектрометрической трубки 125° С ионизирующее напряжение 70 в, ток эмиссии катода — 1,5 ма, ускоряющее напряжение — 2,5 кв. Выбранный режим обеспечил удовлетворительную воспроизводимость измерений, составляющую 1,5—2,5%. [c.500]

Бойд и сотр. [84] разработали масс-спектрометрический метод определения технеция. Хроматографически чистый технеций электролитически осаждался на иридиевую проволоку и прокаливался при 400 ° в токе водорода. Эта проволока служила источником ионов технеция при масс-спектрометрическом анализе. В образце технеция, выделенном из облученной протонами с энергией 22 Мэв молибденовой мишени, были найдены изотопы Тс95 (0,5%), Тс97 (56,0%), Тс (17,3%), Тс э (26,7%). Этим методом можно обнаружить примерно [c.100]

Масс-спектрометрический метод определения радиоактивных элементов отличается рядом особенностей по сравнению с методом определения стабильных изотопов. Первая из них заключается в чрезвычайно малых количествах вещества, которым можно располагать для анализа. Второй является необходимость использовать такой механизм ионизации, который давал бы простейший спектр ионов и, наконец, третья особенность анализа радиоэлементов состоит в возможности использования радиоизлучения для целей их регистрации. Вследствие этого основной задачей всех исследований, проведенных в этой области, являлась разработка ионных источников с наиболее высокой эффективностью и лучшей светосилой. Из всех методов ионообразования наиболее удобным является процесс поверхностной ионизации на раскаленных вольфраме и платине. В работах [44, 152, 153] использовались двухнитные источники. Для нанесения образца на катод источника растворяют нитраты редкоземельных элементов в воде, с помощью микропипетки наносят определенный объем (с точностью до 0,001 мл) в центр катода, края которого предварительно покрывают гидрофобным лаком. Раствор высушивают под инфракрасной лампой. При радиометрическом методе регистрации производят собирание ионов на поверхность фольги или пластинки, которую затем измеряют на торцевом счетчике, снабженном устройством с узкой щелью. Чувствительность (Ммин) этого способа оценивается из уравнения [c.132]

Разложение проводилось в кварцевом реакторе при 660° С. Перед разложением реактор промывался особо чистыми реактивами по методике, описанной в работе [4]. Полученный германий анализировали спектра.льным, рентгенофлуоресцентным и масс-спектрометрическим методами. Результаты анализа приведены в таблице. Там же для сравнения приведен анализ герхМания, полученного путем восстановления водородом по методике, описанной в работе [5], с последующей кристаллизационной доочисткой в лабораторных условиях. Оба образца были проанализированы на масс-спектрометре типа МХ-3301 с искровым источником ионов. [c.136]

Программы, записанные для систем пакетной обработки, исторически предшествуют программам для устройства с разделением времени, и являются основным методом машинной обработки результатов в масс-спектрометрии с искровым источником ионов. В литературе более или менее подробно рассмотрен ряд систем и программ для систем пакетной обработки. В большинстве из них исходные данные считываются с фотопластины вручную при помощи микрофотометра и печатаются на перфокартах или бумажной ленте. Одной из первых попыток обработки масс-спектрометрических данных с помощью простой программы пакетной обработки, записанной на языке ФОРТРАН, посвящена работа Кепникота (1964). Программа была основана на способе калибровки фотопластин, разработанном Черчиллем (1944). В более поздней работе (Кенникот, 1966) предложена новая система накопления данных. Система записывает на магнитной ленте в аналоговой форме профиль каждой спектральной линии, выбранной аналитиком для расчета. После проведения сканирования всех необходимых линий эта магнитная лента направляется в ЭВМ и объединяется с отпечатанными на картах дополнительными данными, необходимыми для идентификации линий и для расчета, — образуется пакет данных, ЭВМ снабжена приспособлением для перевода аналоговой записи на ленте в цифровую форму. Вулстон (1965) описал систему, в которую данные вводятся пробитыми на перфокартах. Для калибровки фотопластин было использовано уравнение Халла (1962). В формулу Халла входят два коэффициента, которые необходимо определять отдельно как для основы, так и для каждой примеси. Но программа составлена таким образом, что эти величины рассчитываются автоматически достаточно ввести в ЭВМ исходные данные для трех элементов. В программу входят все используемые обычно поправочные коэффициенты (зависимость чувствительности фотопластины от массы иона, учет фона, распределения ионов по зарядностям, коэффициенты относительной чувствительности) производится расчет пределов обнаружения, ошибок эксперимента и выдача полных результатов анализа. Эта программа была записана на языке ассемблера, соответствующем группе ЭВМ КСА-601. Очень гибкая программа на языке АЛГОЛ предложена Франценом и Шуи [c.227]

Моррисон с сотр. (1970а, б) анализировал при помощи масс-спектрометрии с искровым источником ионов и нейтронно-активационного анализа образцы лунных пород, доставленных космическими кораблями Апполон-11 и Апполон-12. Лунное вещество измельчали, 500 мг его смешивали с равным количеством графитового порошка спектральной чистоты и прессовали в виде диска. Затем диск разделяли по диаметру на четыре части лезвием из нержавеющей стали, и два сектора помещали в зажимы из тантала, как показано на рис. 9.3. Для определения коэффициентов относительной чувствительности использовался стандарт Ш-1 Американской геологической службы. Хотя при помощи масс-спектрометрического метода можно было зарегистрировать [c.312]

В связн с определением состава тонких слоев наряду с из-вестпыми аналитическими характеристиками искровой масс-спектрометрии (диапазон регистрируемых примесей, чувствительность, правильность и точность результатов) большое значение приобретает пространственное разрешение. Минимально возможная толщина слоев, которые могут быть проанализированы с помощью искрового ионного источника, определяет возможность применения масс-спектрометрического метода вакуумной искры к послойному анализу тех или иных объектов. [c.158]

Масс-спе к тро метрический метод. При проведении масс-спектрометрического анализа магпия используют тонкоизмельченную окись магния, которую восстанавливают для получения пучков ионов магния с помощью угольного порошка в испарителе ионного источника [759]. [c.167]

Значительный раздел масс-спекгрометрии составляет элементный анализ твердых веществ. Прежде чем осушествить ионизацию, необходимо перевести эти вещества в атомное состояние. Для этого требуются достаточно высокие затраты энергии, и те источники, которые используют для этой цели, обеспечивают одновременно атомизацию и ионизацию твердых веществ. Среди наиболее распространенных источников ионизации можно выделить искровой электронный разряд, излучение лазера и поток ускоренных первичных ионов. Им соответствуют три вида масс-спектрометрического анализа твердых тел искровая, лазерная и ион-ионная, или масс-спектрометрия вторичных ионов. Наибольшее число определений проводится методом искровой масс-спектрометрии. [c.373]

Метод основан на бомбардировке исследуемой поверхности газообразными ионами и масс-спектрометрическом анализе выбиваемых поверхностных ионов. Достоинство метода — его высокая чувствительность, применимость ко всем элементам и значительное пространственное разрешение ( 1 мкм), дости- гаемое при использовании тонко сфокусированного пучка ионов. Полученные данные обобщены Соха [106] и Кейном и Ларраби [107]. Источник ионов представляет собой двойной плазмотрон [108, 109], в котором создается сжатый магнитным полем дуговой разряд газа при давлении около 2—3 Па 0,02. мм рт. ст.) образующиеся ионы выходят через узкую диафрагму в аноде. После ускорения и дополнительной фокусировки ионы падают на образец. Выбиваемые ионы имеют значительную кинетическую энергию, и для их анализа обычно применяют масс-спектрометр с двойной фокусировкой. [c.430]

Эти фракции были подвергнуты масс-спектрометрическому анализу обычным методом при высокой температуре. Хотя молекулярный вес их настолько велик, что полное испарение образца не достигалось, в каждой фракции содержалось некоторое количество испаряющегося материала. Молекулярный вес наиболее низкомолекулярных компонентов, содержащихся в образцах, был 400 для моноциклической ароматической фракции и 500 для фракции асфальтенов. Поскольку экспериментально найденные средние молекулярные веса этих фракций изменялись в пределах от 700 до более 1200, общий диапазон молекулярных весов всех фракций изменялся от 600 до 1500. Такой разброс молекулярных весов, несомненно, явился результатом недостаточной эффективности первоначальной перегонки, но вместе с тем он характерен для обычно достигаемой на пра1стике четкости разделения. Помимо обычного масс-спектрального анализа, битумную фракцию непосредственно испаряли в источнике ионов масс-спектрометра. Результаты этих опытов подробнее рассмотрены дальше. [c.23]

Создание отечественной масс-спектрометрической аппаратуры и методов молекулярного анализа органических соединений базировалось на работах В. Л. Тальрозе и его школы по изучению физических процессов в источниках ионов [1, 2], кинетики химических реакций, создании новых методов хроматомасс-спектрометрии для анализа молекулярного состава сложных смесей [3. Существенную роль в этом отношении сыграли также работы Н. Н. Туницкого [4], М. В. Тихомирова [5], Ф. И. Вилесова [6]. [c.3]

Была облучена металлическая медь. После прекращения ее радиоактивности образец растворили-в азотной кислоте. Затем добавили известные количества N10 и 2пО, обогащенных электромагнитным методом. После этого из раствора выделили никель и цинк и провели их масс-спектрометрический анализ. Такое прямое измерение количеств дочерних никеля-64 и цинка-64 дает для фактора разветвления величину 1,62 0,11. Главным достоинством метода является его чувствительность при обнаружении распада вследствие ЛГ-захвата однако метод не позволяет различить такой распад и распад с испусканием позитрона. При распаде европия-152 образуются гадолиний и самарий. В этом случае Хейден, Рейнольдс и Инграм [35] избежали необходимости химического разделения, использовав различие летучестей этих элементов. Когда образец нагревали в источнике с поверхностной ионизацией, то относительные интенсивности пиков положительных ионов этих трех элементов изменялись со временем были измерены величины всех пиков в различные моменты времени, которые затем были использованы для составления системы линейных уравнений, решение которой дает элементарный состав смеси. [c.118]

Сопоставление напускной системы, удовлетворяющей этим условиям, и системы, поставляемой комплектно с масс-спектрометрами типа МС-2М и МИ-1305 приводит к выводу, что последняя не может использоваться для проведения изотопных анализов методом раскомпенсации по существенным причинам невозможность быстрой смены образцов для попеременного напуска газов в ионный источник, заметная сорбция ЗОз и СОа латунными подводящими трубками (даже после прогрева остается значительный фон). Следовательно, необходимо использовать новую систему напуска для масс-спектрометрического измерения изотопного состава методом разбаланса. [c.71]

В работах [13—16] была предпринята попытка разработать метод прямого масс-спектрометрического анализа жидкостей без добавления в них проводящих веществ (графита или других материалов) с целью исключения источников фоновых масс, имея в виду максимальное упрощение спектра масс. Ионный источник масс-спектрометра с двойной фокусировкой типа АК 5-2 (Франция) реконструирован следующим образом (рис. 6.3). Внутрь камеры ионного источника был введен стеклянный стакан 4, который во время эксперимента заполнялся жидким азотом для охлаждения серебряного теплопровода 2. Этот стакан, кроме того, выполняет роль изолятора, так как к столику прикладывается ускоряющее напряжение до 30 кв. Закрепленный на столике тигель 1, изготовленный из высокочи-стого графита, служит для размещения жидкой пробы во время анализа. Тигель имеет срез под углом 45° по отношению к щели псиного источника, что способствует получению интенсивных ионных токов и уменьшает загрязнение экрана и стенок камеры. [c.193]

Еще более ценным источником необходимой дополнительной информации служат данные количественного (элементного) анализа, которые в сочетании с определением молекулярного веса позволяют установить брутто-формулу вещества. Классические (химические) методы установления брутто-формулы теперь все чаще заменяются масс-спектрометрическими, основанными на точном измерении интенсивности изотопных линий молекулярных ионов или очень точном измерении массовых чисел на спектрометрах высокого разрешения. Установленная тем или иным способом брутто-формула позволяет непосредственно рассчтап формальную непредельность вещества (ФН)—число пар водородных атомов, недостающих до предельного состава [c.23]