Наклон спектральной кривой

Наклоны спектральных кривых имеют ясный физический смысл Ш) многих геофизических задачах. Наклон часто выражают через 1п Е (( ))/ (о или ё 1п Е где —энергия, со — частота, [c.205]

Кроме этого, спектры Р (й>) и (м) различаются и по другим пара, метрам. Например, различаются наклоны спектральных кривых-которые связаны между собой соотношением [c.219]

Методики, использующие длительные импульсы, аналогичны вышеизложенному возбуждению намагниченности растворителя с возвращением затем ее к оси +2 . В этом случае намагниченность растворителя прецессирует относительно эффективного мощного РЧ поля. Достигается это путем размещения резонанса вблизи границы спектральной ширины и уменьшения мощности передатчика. Таким образом, если сигнал растворителя располагается в центре интересующей нас области (например, протонный спектр ЯМР в водном растворе), то для получения полного спектра требуется два раздельных эксперимента. Уменьшение мощности передатчика приводит к значительному изменению фазы вдоль спектра, которое в соединении с широкими линиями (> 50 Гц) вызывает сильное искажение базовой линии спектра. Идея составного импульса заключается в том, что вместе с определенными амплитудами и фазами можно получить широкий нуль за счет установки наклона их кривой Фурье-преобразования, равных по значению, но противоположных по фазе в нуле. [c.15]

Большое значение имеет наклон градуировочной кривой, так как он позволяет оценить скорость изменения относительной интенсивности аналитической пары при изменении концентрации, т. е. концентрационную чувствительность и точность определений методов спектрального анализа [25, 35] (рис. 64). Максимальная [c.106]

Известно, что корреляция между интенсивностью света и почернением эмульсий, т. е. воспроизводимость измерения интенсивности фотографическим способом, существенно зависит от проявления фотоэмульсий. При количественном спектральном анализе следует строго соблюдать соответствующие инструкции, в частности по составу и температуре проявителя, а также равномерности и продолжительности процесса проявления. Желательно, чтобы наклон характеристической кривой для проявляемой фотоэмульсии был как можно больше. В этом случае даже малые различия в интенсивности приводят к легко измеряемым различиям в почернении. Достоинством эмульсии является также низкая вуаль. Необходимо принимать во внимание, что наклон характеристической кривой эмульсии меняется для разных длин волн света. Если в измеряемой области длин волн эти изменения слишком велики, то вместо обычно применяемого контрастного проявителя следует пользоваться мягко работающим проявителем. По поводу химического состава проявителя можно сказать следующее в настоящее время для проявления фотоэмульсий, применяемых в спектральном анализе, используют метолгидрохиноновые проявители или растворы, содержащие в качестве проявляющих реагентов н-метил-п-аминофенол и гидрохинон. В Европе применяются почти исключительно проявители первой группы. Это объясняется тем, что с метолом и гидрохиноном можно приготовить проявители, обладающие разными свойствами и полностью удовлетворяющие требованиям, предъявляемым спектральным анализом . Для этого достаточно подобрать соответствующее соотношение между двумя вышеупомянутыми веществами, бромистым калием и щелочностью раствора. В то же время в Америке в основном используются проявители с л-амино-фенолом и гидрохиноном [1] . [c.8]

Излишне приводить данные, касающиеся фотопластинки и ее обработки. Тип фотоэмульсии, пригодный для фотографирования необходимой спектральной области, следует выбирать таким, чтобы наклон характеристической кривой эмульсии в этой области был близок к 1,0—2,0. Пластинки должны иметь такую чувствительность, которая при использовании ступенчатого и дополнительного фильтров и при соответствующей экспозиции обеспечивает почернения аналитических линий, приходящиеся на наиболее благоприятный участок характеристической кривой. [c.169]

На следующем этапе разработки находят подходящую линию сравнения, которая должна быть расположена к выбранной аналитической линии как можно ближе. Близость линий аналитической пары особенно важна в той области длин волн, в которой наклон характеристической кривой сильно зависит от длины волны. Далее выгодно, когда энергии ионизации этих двух линий близки друг другу. Иногда целесообразно принимать во внимание также линии с разными параметрами. Вследствие сложного эффекта компенсации изменений интенсивности спектральных линий, природа которого еще неизвестна, результаты, полученные с такими линиями, иногда оказываются лучше результатов для пар линий с близкими параметрами [1]. Фотографические погрешности уменьшаются, если линии аналитической пары имеют одинаковую форму и являются резкими линиями без крыльев . Полезно также, чтобы концентрация, соответствующая равенству почернений линий аналитической пары, попадала в середину определяемого интервала концентраций. И наконец, желательно, чтобы почернения линий находились в интервале 0,5—1,5 единицы. Если этого нельзя добиться соответствующим выбором экспозиции, то следует использовать ступенчатый фильтр. Время нормальной экспозиции составляет 30—120 с, [c.178]

Сравнением положения спектральных кривых установлено, что при увеличении амплитуды деформации спектр заметно смещается в область малых времен. Это означает, что при наличии кварцевого наполнителя спектральные кривые должны были бы сместиться влево, причем величина смещения должна была бы возрастать по мере возрастания концентрации наполнителя. Из рис. 6.11, однако, видно, что такого смещения не происходит. Более того, с повышением концеитрации наполнителя спектры смещаются вправо, расширяется и изменяется наклон линейного участка спектральных кривых. Это дает основание предположить, что с увеличением доли наполнителя возрастает роль поверхности наполнителя, уменьшающей сегментальную подвижность связующего и, следовательно, сдвигающей спектры в сторону больших времен. Эти эффекты влияния поверхности не только компенсируют ожидаемые сдвиги кривых влево вследствие несжимаемости наполнителя, но и сдвигают спектральные кривые вправо. Особенно заметны смещения в области больших времен релаксации. Таким образом, эксперименты с кварцевым наполнителем показали, что смещение кривых спектральной функции Я в наполненных высокомодульным наполнителем полимерах является результатом воздействия, по крайней мере, двух причин, одна из которых —изменение условий деформирования в присутствии частиц наполнителя (спектр сдвигается влево), а другая —влияние поверхности наполнителя на свойства и структуру полимерной матрицы (смещение спектров вправо). [c.184]

В наиболее распространенных условиях выполнения спектрального анализа, когда наклон градуировочных кривых А5 = = / ( g ) примерно равен единице и воспроизводимость характеризуется коэффициентом вариации единичного определения (по одной спектрограмме) около 5% (отн.), в качестве наибольшего допустимого расхождения величин А5 в сериях параллельных определений часто принимается величина 0,050. При превышении этой величины отличающийся результат или вся серия определений (в зависимости от строгости требований к точности и от числа параллельных определений) бракуются. При необхо--димости подобные допустимые расхождения величин могут быть установлены исходя из допустимой случайной ошибки и допустимой частоты превышения установленных расхождений (см. п. 4 данной главы). [c.42]

Наклон градуировочных кривых имеет значение для количественной оценки скорости изменения относительной интенсивности аналитической пары при изменении концентрации примеси, т. е. для суждения о концентрационной чувствительности методов количественного спектрального анализа. Эта чувствительность определяется производной с1Я/йС. Согласно (4.5а), в случае Ь = 1 для кривых, построенных в координатах Я, С, концентрационная чувствительность [c.77]

Уровень (высота), наклон (тангенс угла наклона кривой в данной точке) и кривизна спектра (спектральной кривой) представляют соответственно его нулевую, первую и вторую производные. [c.204]

Светофильтры выбирают исходя из спектра поглощения определяемого вещества с таким расчетом, чтобы спектральная область максимального поглощения лучей раствором и область максимального пропускания лучей (///о) светофильтром были одними и теми же. Максимум поглощения раствора должен соответствовать максимуму пропускания светофильтра. На рис. 14.4 показаны спектральные характеристики исследуемого раствора (кривая /) и правильно подобранного к нему светофильтра (кривая 2). С применением спектрофотометра снимают полный спектр поглощения раствора исследуемого вещества определенной постоянной концентрации при разных длинах волн. Спектр поглощения всегда характеристичен и индивидуален для каждого вещества. На спектре выбирают аналитическую длину волны (см. рис. 14.3). Она должна обеспечивать возможно большую величину, м. п. п., а следовательно, и наклона градуировочного графика. Чем выше значение е, тем больше будет изменяться А при изменении концентрации и тем меньше влияние [c.246]

Каждая фотоэмульсия характеризуется спектральной чувствительностью, а также коэффициентом контрастности. В СССР за единицу ГОСТа чувствительности принята величина, равная обратной величине экспозиции, вызывающей почернение над фоном эмульсии, равное 0,2 единицы. Коэффициент контрастности, равный тангенсу угла наклона прямолинейного участка характеристической кривой фотоэмульсии, зависит от типа фотоэмульсии, [c.25]

Обычно для нахождения той доли оптической плотности образца, которая обусловлена присутствием в нем определяемых группировок, за/о берется не 100%-ная линия регистрирующего устройства спектрометра, а некоторая так называемая базовая линия, которая плавно соединяет области наибольшей прозрачности, находящиеся в непосредственной близости от измеряемой полосы поглощения. Поскольку эффекты рассеяния и особенно крылья соседних полос имеют явно спектральный характер, то очевидно, что базовые линии могут иметь вид наклонных кривых (см. рис. 70). Чтобы точнее определить форму изгиба базовой линии, нужно знать спектр в более широкой области, захватывающей интервалы полной прозрачности, учесть рассеяние и отражение света и его поглощение за счет перекрывающихся крыльев соседних полос поглощения. Проведение базовой линии требует указания ее спектрального хода в области поглощения и тем самым приводит к неконтролируемым субъективным отклонениям, что, очевидно, должно увеличить ошибку измерений. [c.179]

Увеличение концентрации кварцевого наполнителя (кривые 2 и 3 на рис. П1.32) помимо расширения спектра в области малых времен приводит также к расширению и сдвигу спектра в сторону больших времен релаксации. Кроме того, значения спектральной функции Я возрастают при увеличении концентрации наполнителя, и наклон линейной части спектра в наполненных образцах меньше, чем в ненаполненных. [c.140]

Аналитические кривые, которые строят при проведении количественного спектрального анализа для градуировки метода, охватывают обычно небольшой интервал концентраций. Поэтому они в логарифмических координатах, как правило, прямолинейны. Наклон прямой к оси абсцисс (коэффициент Ь) должен быть в общем случае равен единице, если используются такие концентрации в облаке источника света, при которых самопоглощение еще отсутствует коэффициент Ь может быть меньше 1, что указывает на наличие самопоглощения. [c.247]

Присутствие неона не мешает определению аргона. Поэтому обычным способом определяется концентрация аргона и далее при различных ее значениях строится набор градуировочных кривых для определения неона. Не всегда присутствие третьего компонента вызывает параллельный сдвиг градуировочных графиков, иногда при этом меняется еще и наклон. Подробное изложение конкретных методик спектрального анализа многокомпонентных смесей газов дано в гл. V. [c.153]

Эти простые соображения поясняют, таким образом, общий вид кривой роста . Следует отметить, что с точки зрения изложенных соображений следует ожидать влияния на наклон пологой ветви кривой роста ширины щели спектрального аппарата. Действительно, увеличивая ширину щели, мы, очевидно, привлекаем к участию в образовании центральных участков изображения линии более далёкие участки крыльев линии. Поскольку эти точки достигают насыщения при более высоких значениях Л/д, это приводит к более крутому ходу кривых роста в данном интервале концентрации. Это хорошо иллюстрируется экспериментальными кривыми рис. 20 [III, 8]. Следует, однако, иметь в виду, что уширение щели сопровождается и усилением фона непрерывного спектра, уменьшающего наклон кривых (стр. 181) поэтому этим приёмом можно пользоваться лишь в отсутствии заметного фона. [c.45]

Затем при тех же условиях фотографируют спектры испытываемых образцов и определяют соответствующие значения А5. Толщина покрытия определяется по градуировочному графику. Так как почернение спектральных линий, соответствующих покрытию, с увеличением толщины последнего возрастает, а почернение линии основы уменьшается, то кривые А5 — lg характеризуются крутым наклоном, что обусловливает довольно высокую степень точности определения толщины покрытия. Так, вероятная ошибка определения толщины хромового покрытия по латуни и стали соответственно составляет 5,2 и 6,3%, а для никелевого покрытия по латуни и стали — 4,7 и 5,9%. [c.277]

А — линии Ьу вольфрамовой мишени рентгеновской трубки, работавшей при 20,3 кв и 5,0 ма. Кажущееся изменение рентгеновского поглощения для растворителя при переходе через край поглощения брома является следствием значительного наклона кривой спектрального распределения непрерывного излучения в области 0,9 А [39] [c.155]

Наиболее практичен метод построения характеристической кривой по спектрам, сфотографированным через ступенчатый ослабитель. Здесь спектры как бы сфотографированы с определенными соотношениями интенсивностей и за строго одинаковые промежутки времени, при одинаковых условиях анализа. Это приводит только к смещению участков характеристической кривой, если их строить по близким, но различным спектральным линиям, без изменения формы и наклона. Практически это осуществляют в следующем порядке. Сфотографировав спектр железа, богатый по интенсивностям и числу линий, через девятиступенчатый ослабитель, убеждаются, что щель равномерно освещена — почернения крайних ступенек должны быть равными. Фотометрируют две-три линии различной интенсивности, расположенные вблизи анализируемой. Каждую из них фотометрируют во всех ступенях. На миллиметровой бумаге по оси абсцисс откладывают данные паспорта ослабителя (рис. 51 и с. 66) и находят точки для почернений линий в каждой из соответствующих ступенек спектра. Через полученные точки проводят отрезки кривых 1—3. Затем параллельным переносом совмещают кривые / и 5 с кривой 2. [c.125]

Кривые, описывающие поведение спектральной функции Я (МПа) при различных концентрациях наполнителя (рис. 6.11), показывают, что при малой концентрации наполнителя (ср = 0,04 от объема полимера) спектр времен релаксаций претерпевает заметные изменения лишь в области малых времен релаксации. Увеличение концентрации кварцевого наполнителя (см. кривые 2 и 3) помимо расширения спектра в области малых времен, приводит к расширению и сдвигу спектра в сторону больших времен. Кроме того, значения спектральной функции Я возрастают при увеличении концентрации наполнителя, и наклон линейной части спектра в наполненных образцах меньше, чем в ненаполненном. Учитывая, что спектр времен релаксации кварца не перекрывается спектром связующего, отмеченные изменения в спектрах, очевидно, следует связывать лишь с изменением свойств полимерной матрицы, обусловленным влиянием поверхности наполнителя, а также с изменением условий ее деформирования вследствие влияния объема высокомодульного наполнителя. [c.183]

Результаты соответствующих исследований позволили сделать ряд заключений о характере системы поверхностных центров рекомбинации и захвата, которые были еще дополнены данными исследований рекомбинации и захвата при различных кристаллографических ориентациях поверхности образцов, а также результатами исследования спектральной зависимости фотопроводимости, обусловленной возбуждением поверхностных уровней. Эти результаты прежде всего позволили доказать непригодность часто использовавшегося предположения о преобладании в рекомбинации центров одного типа, которые определяют величину скорости поверхностной рекомбинации в ее максимуме. Этому предположению явно противоречили экспериментальные данные о зависимости максимальных значений скорости поверхностной рекомбинации от уровня инъекции [8] и от температуры [9], о зависимости положения максимума рекомбинационной кривой от температуры [9] и, наконец, о соотношениях между изменениями максимальных значений скорости поверхностной рекомбинации и наклонами кривых захвата в опытах по изменению концентраций центров рекомбинации 10]. Последний эксперимент заслуживает несколько более подробного рассмотрения. [c.103]

После экспонирования в спектрографе образцы предыдущих эмульсий обрабатывались 0,25%-ным раствором СгОз и проявлялись внутренним проявителем спектральная светочувствительность осталась такой же, как после поверхностного проявления (очевидно, при таком сравнении следует учитывать сильное уменьшение наклона кривой для внутреннего скрытого изображения после продолжительного созревания). Этот результат не означает, что комплекс, ответственный за расширение спектральной зоны поглощения, образуется по всему объему микрокристалла. Действительно, если этот комплекс присутствует только в поверхностных и подповерхностных слоях, то освобожденные из пего фотоэлектроны могут захватываться поверхностными или внутренними центрами светочувствительности, так же как в случае оптической сенсибилизации красителем, которая способствует образованию поверхностного и внутреннего (и даже глубинного) скрытого изображения. [c.206]

При использовании наклона спектральной кривой в качестве параметра также возможны ложные эф([>екть , возникающие в процессе обработки данных. В раздела.ч 3.5.1 и 4.4.8 было показа Ю, что применение более длительных временных весовых функций приводит к повышению разретепиости спектра и, следовательно, к увеличению наклонов спектральной кривой. Таким образом, прп использовании наклона в качестве параметра спектра необходимо учитывать следующее. [c.205]

Общее свойство многих геофизических спектров мощности -отрицательный наклон спектральной кривой при увеличении частоты (примеры даны в табл. 51). Это означает, что энергию Е (w) южмо загшсать в виде [c.213]

Зависимость поглощения от частоты в коре и верхней мантищ до глубины 150 км в южной части Курильской островной дуги определена подобными способами по волнам Р и 5 в диапазоне частот 1—30 Гц с использованием более чем 700 наблюдений близких землетрясений с одной станцией [72]. Использовались амплитудные спектры, осредненные по группам близких землетрясений, имеющих одинаковую глубину эпицентра и энергию. Спектры, полученные с помощью многофильтрового анализатора, сопоставлялись с различными временами запаздывания волн 5 отно сительно воли Р. В интервале глубин 70—100 км обнаружено аномально высокое поглощение, особенно волн 8. Способ сравнения частот использует преимущественно наклоны спектральных кривых, но его можио изменить так, чтобы использовать прн вычислениях весь спектр. Тогда мож1Ю сравнивать формы спектров данной волны на дашгой станции. Полезно сравнивать наблюден- [c.322]

Спектры времен релаксации при разной амплитуде деформации приведены на рис. III. 33. Действительно, увеличение амплитуды деформации существенно сдвигает спектр в область малых времен. Поэтому наличие кварцевого наполнителя должно было бы сместить спектральные кривые влево, и величина смещения должна возрастать по мере увеличения концентрации наполнителя. Из рис. III. 32, однако, видно, что такого смещения не происходт-. Более того, по мере увеличения концентрации наполнителя спектры смещаются вправо, расширяются, и изменяется наклон линейного участка спектральных функций. Это дает основание предполагать, что с повышением концентрации наполнителя возрастает роль поверхности наполнителя, уменьшающей сегментальную подвижность связующего и, следовательно, сдвигающей спектры в сторону больших времен. Эти эффекты не только компенсируют ожидаемый вследствие несжимаемости наполнителя сдвиг кривых влево, но и сдвигают спектральные кривые вправо. Особенно за- [c.141]

Представлялось целесообразным провести дальнейшие исследования, исключив влияние одного из факторов. Удобным оказалось исключение изменений условий деформирования полимерной матрицы путем выбора наполнителя, близкого по механическим свойствам к связующему. В качестве такого наполнителя был использован порошок той же отвержденной эпоксидной смолы ЭД-20, которая применялась как связующее. На рис. III. 34 приведены спектры времен релаксации образцов с разным. содержанием ЭД-20. (в объемных долях). Для сравнения там же приведена спектральная кривая образца, из которого был изготовлен наполнитель (эпоксидная смола, отвержденная в отсутствие наполнителя). При анализе результатов этого эксперимента обращает на себя внимание существенный сдвиг спектральных-кривых в сторону больших времен релаксации по сравнению со спектром смолы, отвержденной без наполнителя. Введение наполнителя приводит также и к изменению наклона спектра. Характерно, что сдвиг и расширение спектров в этом случае заметны больше чем для образцов с кварцевым наполнителем. Связано это с исключением фактора недефор-мируемости наполнителя, в результате чего влияние поверхности наполнителя на изменение свойств граничных слоев связующего, отверждаемого на этой поверхности, проявляется более четко. [c.142]

Еще более сильные спектральные изменения представлены на рис. 7, который показывает, что 9- (2-гексил) флуорениллитий в 2,5-диметилтетрагидрофуране находится преимущественно в виде контактных ионных пар при —20°С и переходит практически к 100Моному содержанию сольватно разделенных ионных пар при —40°С. Из спектра подсчитано отношение концентраций обоих типов ионных пар, но при таких подсчетах необходимо принимать во внимание изменение спектров соответствующих ионных пар с изменением температуры [2]. Конечные результаты для некоторых растворителей представлены на рис. 8 как зависимость gKi (/Сг — отношение концентраций обоих типов ионных пар) от 1/7 . В табл. 6 указаны значения ЛЯ , которые были вычислены из наклона соответствующих кривых. [c.121]

Экспозиция я выражается в единицах люкс-с . Контрастность фотоэмульсии определяется наклоном характеристической кривой (см. рис. 71) в области нормальных почернений — прямолинейный участок кривой. Фактор контрастности фотопластинки у равен tg а. С повышением контрастности пластинки ее чувствительность Н обычно падает. Для более точных измерений рекомендуются фотопластинки с большими значениями 7. Фотоэмульсии имеют различную спектральную чувствительность, т. е. последняя зависит от длины волны падающего на нее излучения. В ультрафиолетовой области спектра используют фотопластинки спектральные , тип I или тип П. Для работы в области спектра 500,0—1000,0 нм эмульсию сенсибилизируют различными красителями. В желто-зеленой области видимого участка спектра применяются пластинки ортохром , для красной — панхром , для инфракрасной — инфрахром . [c.238]

Во многих случаях на спектральных кривых наблюдаются очень крутые участки, возможно отражающие какое-то подлинное свойство изучаемого явления. Например, в сейсмологии такой крутой наклон может отвечать вс1 уплению новой волны, причем возрастание крутизны отмечается на граничной частоте спектра новой волны. Значит, несколько последовательных крутых подъемов спектральной кривой могут соответствовать последовательности воли, каждая из которых характеризуется своей гранично частотой. [c.205]

Предложены характеристики невзаимозаместимости и фотографической широты [72]. Известна методика, определяющая свойства слоя по сенситометрической (характеристической) кривой. Она отвечает зависимости й — lgЯ, где й — толщина слоя, Н 1/3 — экспозиция, т. е. величина, обратная светочувствительности. Для негативных составов начальный момент возникновения фоторельефа — появление на подложке нерастворимой в проявляющем растворе пленки с минимальной толщиной 0,03 мкм — определяет пороговую чувствительность композиции (5пор). Часто оценивается также светочувствительность при рабочей толщине слоя, обычно 0,5 мкм [5о,5 см2/(Вт-с)]. Мерой интенсивности процесса служит коэффициент контрастности — тангенс угла наклона прямолинейного участка характеристической кривой (он может принимать значения от единиц до нескольких десятков единиц). Эта методика разработана для определения интегральной и спектральной чувствительности негативных и позитивных фоторезистов. На ее основе получают ряд параметров, характеризующих фототропизм слоя [73]. [c.47]

Переход от области, где лимитирующей является собственно химическая реакция, к диффузионной области, определяемой по изменению наклона кривой на графике Аррениуса, был отмечен во многих работах. Так, при окислении пиролитического графита на воздухе в статических условиях такой переход происходит при 840° [30]. Для системы спектрально чистый графит — кислород при тех же условиях обнаружена переходная область около 700° [31]. Однако при интенсивных потоках газа и малых размерах частиц эту область можно наблюдать при температурах 1400° и выше [19]. В реакции алмаз — кислород [29] наблюдается максимум на кривой Аррениуса при 1000—1050°, а при более высоких температурах происходит заметное уменьшение скорости. Наличие максимума объясняли уменьшением реакционной способности поверхности углерода при этих температурах и увеличением толщины диффузионного слоя, снижающим скорость реакции, Влайкели [32] сопоставил экспериментальные данные, полученные в широком интервале температур, и показал, что диффузия играет основную роль пои 1500° и почти не зависит от типа угля и газа-окислителя. Напротив, при температурах ниже 1100° истинная скорость химической реакции зависит от природы реагентов. [c.216]

Далее определяется интенсивность образования фоторельефа в полимере, что находит отражение на графике в координатах d — Ig Я, где d — толщина слоя полимера, а Я =1/5 — экспозиция, т. е. величина, обратная светочувствительности. Мерой интенсивности процесса является коэффициент контрастности, который оценивается по тангенсу угла наклона прямолинейного участка характеристической кривой. Эта методика впервые была предложена Ляликовым с сотр. [5] и нашла признание во всем мире. В настоящее время на основании ее получают ряд дополнительных параметров, характеризующих фототропизм в слоях. Показана зависимость светочувствительности слоя от квантового выхода формирования рельефа, спектральных свойств и концентрации фо-тоактивного хромофора и молекулярно-массового распределения полимера [6]. Установлено по параметрам светочувствительности отсутствие радикальных процессов в исследованных фоторезистах на основе поливинилциннаматов, диазидов, нафтохинондиазидов. [c.96]

Обычпо принято строить кривые поч( рпепия при постоянной экспозиции (. Наклон прямолинейного участка кривой должен быть найден опытным путем. Чтобы построить кривую почернения, делают ряд сннмков, ослабляя интенсивность линпи в определенное число раз, что достигается при помощи ступенчатого ослабителя . Эти ослабители представляют собой кварцевые пластинки, на которые нанесена распыленная в вакууме платина. Каждая пластинка имеет свою пропускную способность и ослабляет в определенное число раз интенсивность проходящего через нее света. На кривой почернения находят прямолинейный участок, в пределах которого и проводятся измерения спектральных линий. [c.270]

Из наклона кривой на рис. 2 вытекает, что лимитирующей скорость процесса химической реакцией в данном случае является не катализируемый ионами гидроксония переход дикетоформы 1а в епольную 16 [14]. С другой стороны, обратная пропорциональность высоты диффузионного тока квадратному корню вязкости водно-спиртового раствора и постоянство спектрального коэффициента погашения для максимума дикетоформы 2-фенилиндандиона-1,3 в кислой среде при различном содержании спирта в водно-спиртовых смесях исключает возможность гидратации или образования ацеталей [15] и, следовательно, кинетика дегидратации не должна отразиться на характере полярографических волн. Рассчитанные значения констант скорости рекомбинации енолят-анионов 1в по атому кислорода /с по порядку величины соответствуют тем константам скорости, которые найдены полярографическим путем для рекомбинации анионов карбоновых кислот [16, 17], а также иным путем [18] для рекомбинации анионов Р-дикетонов (димедона и т. д.). [c.121]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология