Рентгеновские лучи рассеяния закон

Число и характер пространственного распределения разрещенных направлений рассеяния (дифрагирование) рентгеновских лучей определяются законом Ю. Вульфа и У. Брегга (1913), который выражается соотношением [c.116]

Рассеяние фотонов на атомных электронах известно как эффект Комптона. Комптон облучал углерод и другие легкие элементы рентгеновскими лучами с энергией 20 кэВ. Он нашел, что рентгеновские лучи, рассеянные электронами атома под определенным углом, обладают вполне определенной частотой — меньшей, чем частота падающих лучей. Наблюдаемые длины волн точно согласуются с уравнением, выведенным при предположении, что происходит столкновение двух частиц, фотона и электрона. Законы сохранения энергии и импульса приводят к выражению, которое правильно описывает экспериментальные результаты, причем импульс фотона определяется как р = МХ, а его энергия равна Е=Н. [c.372]

Рассеяние от кристалла обычно рассматривается на основе простой теории Брэгга, включающей доказанное выше предположение о том, что кристалл отражает рентгеновские лучи по законам зеркального отражения. Изложенная выше теория является более общей. Она подчеркивает, что основная причина дифракций рентгеновских лучей заключается в явлении рассеяния. Критерии (Д-22) и (Д-23) в точности эквивалентны простому известному уравнению Брэгга [c.454]

Закон Фриделя при условии Х<Хк (Ал— длина волны собственных переходов) дифракционная картина имеет центр симметрии (нормальное рассеяние) /(Н)=/(Н), где / — интенсивность рассеянных рентгеновских лучей от монокристалла Н — радиус-вектор узла обратной решетки Н = —Н. [c.279]

Для получения спектра рентгеновских лучей в рентгеноспектральном анализе используют их дифракцию на кристаллах (или на штриховых дифракционных решетках) при таких малых углах 0 (1 —12°), что рентгеновские лучи испытывают отражения, как бы скользя по поверхности отражающего кристалла. Угол 0, образованный падающим или отраженным лучом и поверхностью кристалла (или дифракционной решетки), назван углом скольжения. Отраженные лучи, как и рассеянные, дифрагируют на структуре отражающей поверхности, и получившаяся дифракционная картина подчиняется закону Вульфа — Брегга (см. уравнение (4.3)]. [c.124]

Выделим в трехмерной решетке одинаковых атомов какую-либо одну плоскую сетку атомов и рассмотрим рассеяние рентгеновских лучей отдельно этой сеткой (рис. 27, а). В соответствии с обычными законами опти- [c.58]

Как уже отмечалось, закон Фриделя нарушается, если рентгеновские лучи попадают в область аномального рассеяния атомами одного из (или ряда) элементов, входящих в состав кристалла. Эта область определяется близостью длины волны рентгеновских лучей к краю К- или -полосы их поглощения элементом если X края элемента несколько больше, чем X лучей, то рассеяние лучей атома.ми этого элемента сопровождается небольшим изменением их начальной фазы. Этот дополнительный сдвиг по фазе отражается, естественно, и на результирующей амплитуде дифракционного луча. [c.80]

Выделим в трехмерной решетке одинаковых атомов какую-либо одну плоскую сетку атомов и рассмотрим рассеяние рентгеновских лучей отдельно этой сеткой (рис. 28, а). В соответствии с обычными законами оптики результатом совместного действия рассеянных лучей должно быть их отражение от плоскости под угло.м ft, равным углу падения. Представим теперь всю трехмерную атомную решетку как совокупность параллельных сеток. Лучи, отраженные последовательными сетками, не совпадают по фазе из-за различия в расстояниях от источника М до точки наблюдения N (рис. 28, б). [c.58]

Периодический закон развивался вместе с химией и физикой и продолжает развиваться. Прежде всего следует отметить появление теории строения атома, которая позволила определить заряд ядра атома, ставший порядковым номером элемента в периодической таблице. Заряд ядра приближенно уже определил Э. Резерфорд по данным о рассеянии а-частиц веществом (например, металлической фольгой). Систематические определения заряда ядра (2) были осуществлены путем изучения частот рентгеновских волн, излучаемых веществом в результате воздействия на него потока электронов. В результате такой бомбардировки происходит удаление одного из электронов из внутренних оболочек атома. При переходах других электронов на эту освободившуюся оболочку возникают рентгеновские лучи. [c.313]

Средняя длина волны де Бройля (разд. 12.8) тепловых нейтронов равна 1,4 А при комнатной температуре. Монохроматический пучок может быть получен путем дифракции при применении кристаллического монохроматора, который выбирает узкую полосу длин волн из падающего излучения ядерного реактора. Дифракцию нейтронов можно также использовать для изучения строения порошков или монокристаллов. Хотя законы дифракции нейтронов подобны законам дифракции рентгеновских лучей, некоторые основные различия между ними приводят к тому, что оба метода дополняют друг друга. В то время как рентгеновские лучи рассеиваются электронами, нейтроны рассеиваются сначала ядрами. Следовательно, факторы атомного рассеяния нейтронов не изменяются прямо пропорционально с атомным номером, как при рассеянии рентгеновских лучей, [c.583]

Эти степенные законы впервые были выведены Эдвардсом [18]. Они были подтверждены прямым опытом по рассеянию рентгеновских лучей на разбавленном растворе цепей [19]. Они также были проверены в экспериментах по рассеянию нейтронов на полу разбавленных системах (см. разд. 3.2.5). [c.43]

Оба уравнения эквивалентны и отвечают закону Ламберта, который справедлив для любого монохроматического электромагнитного излучения. Этот закон не является точным для немонохроматического излучения, так как величина м- зависит от длины волны. В случае коротких рентгеновских лучей и 7-излу-чения фотоны поглощаются не путем единичного акта они могут рассеиваться и поглощаться лишь после нескольких столкновений. Однако рассеянные фотоны обычно не претерпевают дальнейшего рассеяния при прохождении через поглотитель. В связи с те и, что происходит лишь один акт поглощения, процесс полностью подчиняется закону Ламберта. [c.23]

В 1927—1930 гг., рассматривая рассеяние рентгеновских лучей ограниченным объемом жидкости или аморфного тела, Дебай показал , что способность рассеивать эти лучи под очень малыми углами характерна не только для газов, но существует и у всех других тел с ограниченным рассеивающим объемом. В газах рассеяние под малыми углами играет доминирующую роль, захватывая широкий интервал углов для макроскопических же объемов жидкостей и твердых тел оно столь ничтожно, что практически недоступно наблюдению. Для таких тел рентгенограмма имеет типичные максимумы и минимумы, тем более четкие и резкие, чем выше степень упорядоченности структуры этих тел. Только в высокодисперсных системах помимо обычных интерференционных максимумов, обусловленных внутренней структурой частиц, при специальных условиях опыта можно обнаружить весьма значительную интенсивность лучей, рассеянных под очень малыми углами. Существование этих лучей совершенно непонятно с точки зрения закона Брэгга [1, 1]. [c.43]

Рис. 9. Положение дифракционного максимума при рассеяния рентгеновских лучей кристаллами. Максимум получается только в том случае, когда плоскость кристалла определенным образом ориентирована по отношению к падающему пучку лучей, причем требуемая величина 0 дается законом Брэгга.

Поскольку данная ось кристалла всегда остается перпендикулярной падающему пучку лучей, в этом случае должно выполняться условие Лауэ [уравнение (3-3)1 для рассеяния излучения правильной последовательностью рассеивающих элементов, перпендикулярной падающему пучку лучей. Отсюда следует, что все рассеянное излучение должно распространяться вдоль слоевых линий (см. рис. 7). То, что это действительно имеет место, можно видеть на рис. 12,6 и в. (Пятна на дифракционной картине единичного кристалла можно представить в виде точек пересечения конусов порошковой рентгенограммы с соответствующими слоевыми линиями.) Кроме того, пятна данной слоевой линии всегда имеют один общий индекс Миллера. Так, например, все плоскости, параллельные оси вращения образца, всегда перпендикулярны плоскости, в которой распространяется пучок падающих рентгеновских лучей. В результате этого пучок рассеянных лучей (подчиняющийся законам зеркального отражения) тоже перпендикулярен оси вращения. Таким образом, все дифракционные пятна, лежащие в плоскости падающего рентгеновского луча, получаются от плоскостей кристалла, параллельных оси вращения. Если, скажем, осью вращения является ось с. то это значит, что рефлексы, лежащие в плоскости падающего рентгеновского луча, имеют 1=0, т. е. это отражения от плоскостей (hkO). Аналогично, рефлексы, лежащие на первой слоевой линии выше (или ниже) плоскости падающего пучка лучей, получаются от плоскостей (hkl), рефлексы лежащие на второй слоевой линии,— от плоскостей (hk2) и т. д. [c.42]

Чтобы волны, рассеянные двумя соседними плоскими сетками (а значит, и всем семейством параллельных плоских сеток), дали максимум интенсивности, необходимо выполнение основного закона дифракции рентгеновских лучей в кристаллах [c.15]

В классической теории теплоемкость определяется законом Дюлонга и Пти, а в квантовомеханической — выражается суммой (П. П2). Для расчета теплоемкости по уравнению (П. 112) необходимо знать спектр нормальных колебаний. Теоретически рассчитать такой спектр можно при помощи так называемого секулярного уравнения (П. 106), а экспериментально его можно определить по данным неупругого рассеяния холодных нейтронов и рассеяния рентгеновских лучей. [c.60]

Прежде всего стал вопрос об определении числа электронов в том или ином атоме. Впервые это число для легких атомов было определено Томсоном путем изучения интенсивности рассеянных рентгеновских лучей тем или иным веществом. Опираясь на законы классической электродинамики, а также электромагнитную теорию светового излучения, Томсон вывел формулу, связывающую интенсивность рассеянны веществом рентгеновских лучей I с интенсивностью /о падающего на вещество пуч а этих лучей 1—Мо коэффициент пропорциональности к оказался величиной, зависящей не только от значений универсальных постоянных, но и еще от числа атомов в 1 см , а также от числа электронов в самом атоме. Применимость этого метода определения числа электронов только для легких атомов обусловлена тем, что при выводе формулы Томсону пришлось сделать допущение о слабой связи электронов в атоме и о том, что эти электроны выполняют гармонические колебания с той же частотой, что в падающее на них рентгеновское излучение, а потому обусловливают его рассеяние. Это допущение нельзя сделать в случае рассеяния рентгеновских лучей тяжелыми атомами. [c.14]

Пользуясь уравнениями Максвелла, можно показать, что если электромагнитное излучение содержит волновые пакеты с энергией h, то эти пакеты обладают импульсом h l . В 1923 г. Комптон подтвердил это экспериментально, изучая рассеяние рентгеновских лучей электронами в графите, в результате которого возникают свободные электроны. Анализируя изменение частоты рентгеновских лучей в зависимости от угла рассеяния, он показал, что столкновение фотона и электрона подчиняется законам сохранения энергии и импульса классической механики и что импульс рентгеновских лучей действительно равен/iv/ или hl%. Это было новым подтверждением корпускулярной природы света. [c.20]

Рентгеноструктурный анализ (рентгенография) используется для изучения структуры кристаллической решетки целлюлозы - определения параметров ее элементарной ячейки, размеров кристаллитов, а также степени кристашгичности. Вскоре после разработки Лауэ основ рентгенографического анализа Нишикава и Оно в 1913 г. получили первую рентгенограмму целлюлозы рами. В настоящее время используют современный метод регистрации рентгеновских лучей, рассеянных кристаллической решеткой, - дифрактометрический с получением дифрактограммы. Дифрактограмма представляет собой кривую зависимости интенсивности рассеянных лучей I от угла рассеяния 20, где 0 - брегговский угол в законе Вульфа - Брегга (см.5.4). [c.241]

На самом же деле дифракция рентгеновских лучей происходит на атомах. Рентгеновские лучи, пепадая на атом, приводят в колебания электроны атома. А так как всякое колебательное движение заряженной частицы сопровождается излучением электромагнитных волн во всех направлениях, с частотой, равной частоте колебания этой частицы, то происходит как бы рассеяние падающего на электрон излучения во все стороны, и интенсивность этих вторичных рентгеновских лучей, рассеянных электронами в силу законов интерференции в разных направлениях, оказывается разной. Дифракция рентгеновских лучей в кристалле является результатом когерентного, без изменения длины волны, рассеяния лучей электронами атомов кристаллической решетки. [c.68]

Если исследуемый кристалл, помещенный на пути монохроматического (Я= onst) рентгеновского луча, поворачивать вокруг перпендикулярной к лучу оси и, таким образом, ставить поочередно систему плоскостей кристалла в отражающее положение, то наблюдается полная картина рассеяния. Дифракционную картину можно получить и без вращения образца, используя источник с непрерывным спектром рентгеновского излучения. В этом случае для всех систем плоскостей кристалла в непрерывном спектре обязательно найдется длина волны Я, удовлетворяющая закону Вульфа — Брегга. [c.116]

В данном уравнении К представляет собой масштабный коэффициент, необходимый для того, чтобы привести экспериментальные данные (полученные в произвольном масштабе, зависящем от размера кристалла и интенсивности пучка рентгеновского излучения) к абсолютному масштабу рассеяния (величины /), используемому при определении расчетных структурных амплитуд (Fhfei) (или F ) из известных координат атомов Xj, yj, zj с использованием уравнения 11.2-7. Фактор А представляет собой коэффициент коррекции на поглощение рентгеновского излучения в соответствии с законом Бугера—Ламберта—Бера, который также должен учитьшать размер и характер (распределение сходных по симметрии граней) кристалла. Фактор Лоренца L компенсирует разницу в эффективных временах измерения для брэгговских отражений и зависит от брэгговского угла в и схемы экспериментальной установки. Р — поляризационный фактор, который позволяет учесть тот факт, что эффективность дифракции рентгеновских лучей зависит от поляризации падающего луча. [c.400]

В качестве простейшего и наиболее ясного примера использования этих явлений можно указать случай, иозволяюш пй вывести закон отран<ения рентгеновских лучей от поверхности кристалла — закон Брэгга—Вульфа. В самом деле, каждый атом или ион в кристалле действует в качестве центра, от которого излучение рассеивается во всех направлениях, совместимых с законами оптики. Однако излучение, рассеянное в направлении связи между двумя атомами, многократно усиливается рассеянием излучения в том же направлении другими атомами. Суммарная дифракция в избранном направлении составляет одно из брэгговских отражений. Другое применение, некоторые обоснования которого были даны в гл. VII, принадлежит Дебаю, Менке и Принсу опо позволяет установить распределение атомов в жидкости. Наконец, метод смешанных порошков, развитый независимо Гуллом, а также Дебаем и Шерером, позволил сэкономить большое количество труда. В этом методе рентгеновские лучи рассеиваются во всех направлениях маленькими частицами смеси кристаллов, причем структура одного из них (обычно каменной солп) долл<на быть известна. В этом случае измерение межъядерных расстояний производится относительным методом, который сводится к измерению диаметров дифракционных колец, принадлежащих изученному и неизученному рассеивающим веществам. [c.463]

Логически мы могли бы ожидать, что эта формула даст правильное значение отношения рассеяния электронов центральным электрическим зарядом —Ze. Однако фактически, как уже говорилось, электроны не действуют подобным образом, ибо они распределены вокруг ядра концентрическими слоями. Борр) показал, что заменой 2 на (2—/) вводится вполне достаточная поправка на распределение электронов. Здесь /—атомный коэффициент рассеяния для данного атома по отношению к рентгеновским лучам. Если же имеются два типа атомов, то вводится произведение (Z —/ )(2 —/ ). Для определения среднего отношения рассеяния для атома из данных опытов, проведенных с очен1. большим числом атомов в молекулах, неупорядоченно распределенных в газовой фазе, используется метод усреднения Вирля. Как п в предыдущем разделе, он ведет к следующей форме закона рассеяния электронов молекулами газа [c.464]

По методу малоуглового рассеяния рентгеновских лучей можно определять как диаметры частиц, так и средние расстояния между частицами, произвольным образом находящимися в исследуемом пространстве. Используя частицы размерами 10—50 000 нм, Драгсдоре [160] показал, что к меньшим по размеру частицам применима теория дифракции, тогда как к большим целесообразнее применять теорию преломления и отражения, основанную на законах геометрической оптики. [c.474]

Большим преимуш,еством термодинамической обработки термохимических и тензиметрических данных является также возможность на основании измерений сравнительно небольшого числа энергетических характеристик раствора (интегральные теплоты растворения и разведения, теплоемкости, давления паров) вычислять более двадцати энергетических величин, отражающих различные стороны природы раствора и его компонентов. Сопоставление этих опирающихся на строгие законы термодинамики данных с результатами других физических и физико-химических методов изучения растворов и чистых жидкостей (спектроскопия, рассеяние света и рентгеновских лучей, ультразвук, ЯМР и т. д.) позволяет наиболее объективно оценивать структурные состояния исследуемых объектов, а также механизм процессов, сопровождающих изменен1гя концентраций и температуры. [c.33]

До сих пор, говоря об определении размеров кристаллических частиц в порошках рентгеновскими методами, мы представляли себе порошок в виде некоторой монодисперсной системы. Разумеется, что это представление — лишь первое приблгокение к действительности, так как всякий реальный порошок представляет собой совокупность огромного числа частичек, размеры которых могут варьировать в значительных пределах, т. е. является полидисперсной системой. В настоящее время запросы практики требуют умения получать более совершенные характеристики высокодисперсных систем по рентгеновским и электронографическим данным. В настоящем параграфе речь идет о разработке в теоретическом и экспериментальном отношениях методов определения закона распределения частиц высокодиснерсных систем по размерам на основании рентгенографических данных. Такими данными являются кривые распределения интенсивности рентгеновских лучей по углам рассеяния в окрестности того или иного интерференционного максимума [c.40]

Электроны как причина рассеяпяя рентгеновских лучей ионные решетки. Установленная Брэггом зависимость (см. стр. 236) интенсивности рентгеновских лучей, отраженных от плоскостей сетки, занятой одинаковыми атомами, выражающаяся в пропорциональности квадрату их атомного веса, имеет силу только для небольших углов отблеска, да и то лишь приближенно. Эта зависимость находится также в противоречии с установленной ранее Баркла закономерностью, в соответствии с которой интенсивность испускаемого каким-нибудь веществом рентгеновского излучения прямо пропорциональна атомному весу. Это противоречие было устранено Дебаем (1918), показавшим, что дифракция рентгеновских лучей при прохождении их через кристаллы или при отражении от плоскостей решетки кристаллов основана — совершенно так же, как и преломление или отражение обычного света,— на том, что свет, как видимый, так и рентгеновский, попадая на очень мелкую частичку, испытывает рассеяние. При этом такая частичка, на которую падает свет, ведет себя как точка, обладающая собственным свечением, от которой исходит сферическая световая волна. Поэтому ясно, что отражение рентгеновских лучей от-какой-нибудь заполненной определенным количеством материальных точек плоскости решетки будет тем сильнее, чем значительнее рассеивающая способность отдельных частичек. Дебай, опираясь на принципы классической электродинамики, установил, что интенсивность рассеяния, а вместе с тем, следовательно, и отражения рентгеновских лучей должна быть пропорциональна количеству рассеивающих электронов. Именно электроны и обусловливают в действительности рассеяние рентгеновских лучей. Поэтому распределение интенсивностей рассеянного излучения и дает нам непосредственную меру количества и расположения электронов. Но так как в нейтральных атомах число электронов равно порядковому номеру и так как ему же приблизительно пропорционален и атомный вес , то отсюда и следует в общем случае приблизительная пропорциональность между интенсивностью рассеянного излучения и атомным весом, т. е., другими словами, справедливость закона Баркла. Однако, как прказал Дебай, для малых углов отблеска, согласно теории, получается пропорциональность интенсивности квадрату количества электронов, что подтверждает и приближенный закон Брэгга. [c.241]

При достаточно совершенной кристаллической структуре объекта на электронограмме будут присутствовать не только точки (результат упругого рассеяния и дифракции электронов от точечного источника), но и дополнительная сложная картина светлых и темных поле (результат дифракции электронов пучка, претерпевших неупругое рассеяние в объеме объекта при малых потерях энергии. Интенсивность рассеяния электронов максимальна в направлении падающего пучка и с увеличением угла рассеяния а резко уменьшается. Пусть где-то внутри кристалла находится источник диффузно рассеянных электронов. В направлении ti и 2 рассеянные электроны встречают плоскости HKL кристалла, от которых отражаются в соответствии с законом Вульфа— Брегга. В связи с тем, что интенсивность диффузно рассеянных электронов, в направлении ai меньше, чем в направлении 2 (поскольку а <Са2), интенсивность отраженных лучей А/г>A/i. Следовательно, добавление к интенсивности фона [-fA/2 в направлении ai больше, чем убыль интенсивности —А/ь и, наоборот, убыль интенсивности —Д/2 в направлении 2 больше, чем добавление +A/i- В итоге в определенных направлениях должна возникать избыточная интенсивность фона, а в других недостаток интенсивности (рис. 20.31). Эти направления соответствуют образующим конусов, осью которых является нормаль к отражающим плоскостям HKL и HKL, и угол при вершине равен (180°—2 ). Геометрия дифракции электронов, источник которых располагается внутри самого кристалла, та же, что и геометрия псевдо-Косселя для дифракции рентгеновских лучей (см. гл. 9). В связи с малостью углов О пересечения конусов с плоскостью экрана или фотопластинки в случае дифракции быстрых электронов картина имеет вид прямых линий (вместо гипербол при рентгеновской дифракции). Картины линий Кикучи очень чувствительны к изменению ориентировки кристалла. Как видно на рис. 20.31,6, след отражающей плоскости точно проектируется посередине расстояния между соответствующими темной и светлой линиями Кикучи и представляет собой гномоническую [c.474]

В 1927 г. Дэвиссон и Гермер [25] исследовали поверхность никелевого кристалла с помощью бомбардировки электронными пучками и обнаружили, что пучки рассеиваются подобно рассеянию на кристаллической решетке рентгеновских лучей. Зная параметр решетки, можно с помощью закона Брэгга (2.5) рассчитать длину волны Де Бройля. Найденные величины соответствовали уравнению (2.6). Дифракция электронов, как и рентгеновская, может применяться для определения строения кристаллов. Данные, полученные из опытов по рассеянию рентгеновских лучей и дифракции электронов будут приведены в главе 3. [c.43]

Закон Фриделя не является абсолютным. Он перестает быть справедливым в области аномального рассеяния атомов, т. е. в тех случаях, когда длина волны рентгеновских лучей несколько меньше края полосы поглощения одного из элементов исследуемого кристалла. Нарушение закона центросимметричности происходит вследствие фазового скачка б при рассеянии рентгеновских лучей атомами этого элемента. О существовании этого скачка уже упоминалось при обсуждении процесса рассеяния рентгеновских лучей электронами (стр. 150 и 152). [c.252]

Рассуждения эти кажутся беспредметными какой смысл размышлять о картинах, которые можно было бы увидеть, если бы рентгеновские лучи сфокусировались. Все равно фокусировать их мы не умеем. Уметь-то не умеем, но законы их рассеивания знаем. И если линза, собирающая икс-лучи, еще не создана, то существуют уравнения, позволяющие описать результат ее действия. А описать — значит предсказать. Следовательно, если монокристалл осветить икс-лучами с определенной длиной волны и сфотографировать все пятна рассеянного света вокруг него, а затем, выяснив закономерность расположения пятен, рассчитать другую закономерность — распределение электронной плотности по объему ячейки кристалла, то удастся математическим путем воспроизвести то самое, что сделала бы несуществующая пока линза установить координаты каждого атома внутри кристаллической ячейки. Рентген при этом не может отличить атомы, входящие в состав одной молекулы, от атомов, принадлежащих ее соседке. Это уж дело исследователя, трактующего рентгенограммы внутри молекулы расстояния между атомами короче. [c.251]

Хотя для примепения метода Цимма нужно располагать большим числом данных, чем для применения метода, основанного на асимметрии рассеяния, преимущество метода Цимма состоит в том, что он позволяет определять молекулярный вес молекул любой формы, а также обнаруживать присутствие крупных агрегированных частиц по интенсивному рассеянию на малых углах. При исследовании таких крупных асимметричных молекул, как ДНК, имеющих большой радиус инерции, для того чтобы экстраполяция к нулевому углу была надежной, необходимо, хотя это и трудно, проводить измерения при малых углах (6—10°). Другому экстремальному случаю — малым молекулам сферической формы (см. фиг. 27) — соответствуют малые величины Р(6), измерение которых также затруднительно. Точность измерений можно повысить за счет уменьшения длины волны, для чего нужно перейти к использованию рентгеновских лучей. Законы рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами во многом аналогичны законам светорассеяния. С помощью рентгеновских лучей удается оценивать размеры порядка десятков и сотен ангстрем, тогда как светорассеяние позволяет определять лишь размеры порядка тысяч ангстрем. [c.161]

В более ранних работах по исследованию катализаторов с использо1ванием рентгенографического метода рентгеновская диффракционная картина определялась для углов от 5° и более, так что анализ в основном заключался в определении межпло-окостных расстояний изучаемых образцов согласно закону Брэгга. Рассеяние под малыми углами, т. е. под углами, меньшими чем 2°, начало изучаться вслед за появлением работы Гинье [2], который экспериментально подтвердил предположение Дебая [3] о существовании в этой области непрерывного рассеяния для материалов определенного типа. Непрерывное рассеяние под малыми углами как по своему характеру, так и по теоретической интерпретации отлично от брэгговского рассеяния. Для возникновения рассеяния этого типа нет необходимости в том, чтобы образец обладал периодической структурой или представлял собой кристаллическое вещество. Необходимо только наличие резко выраженной неоднородности, существование субмикроскопических областей, между которыми имеют место изменения электронной плотности (или показателя преломления рентгеновских лучей). Такие области обычно возникают в результате неоднородности плотности. Если они существуют, то наблюдается непрерывное рассеяние в области малых углов. Интенсивность рассеяния зависит от градиента показателя преломления между этими областями (а также и от других факторов), скорость же изменения с величиной угла рассеяния зависит от размера и формы указанных областей. [c.358]

При рассеянии монохроматического пучка рентгеновских лучей было обнаружено, что в рассеянных лучах присутствуют компоненты с длиной волны, большей, чем у падающего излучения. Комптон [10] объяснил это явление тем, что излучение ведет себя как частица или квант с энергией к и импульсом ку с при столкновении с электроном в рассеивающем веществе он теряет энергию и, отразившись, имеет уже меньшую частоту (бблыггую длину волны). Из законов сохранения энергии и импульса Комптон получил соотношение [c.17]