Ориентация полимера по дифракции рентгеновских

Дифракция рентгеновских лучей в больших углах дает информацию, полезную при идентификации полимерных кристаллов, их размера и совершенства анализе ориентации кристаллитов, определении типа и степени ориентации кристаллитов, изучении степени кристалличности (%с) (разд. 28.11), конформации полимеров (особенно спиральной конформации), деформации и отжига полимеров, молекулярных движений в полимерных кристаллах, расплавов полимеров. [c.131]

Если вторичная вытяжка происходила под большим углом по отношению к направлению, первичной ориентации, то образовывались полосы изгиба. При этом методом дифракции рентгеновских лучей под большими углами было установлено, что полимер в этих полосах, как и в случае найлона, подвергается резкой переориентации. [c.280]

Рис. 0. Дифракция рентгеновских лучей под малыми углами для ориентированных полимеров (ось ориентации вертикальна, первичный пучок направлен перпендикулярно оси ориентации полимеров) а — аморфный полимер — полиметилметакрилат (вытяжка в 2,5 раза, малоугловые рефлексы отсутствуют) б — кристаллич. полимер — поли-8-капроамид (вытяжка в 7 раз, видны четкие малоугловые меридиональные рефлексы).

Рентгеноструктурный анализ позволяет получать обширную информацию о строении полимеров и его изменении в результате тепловых, механических и других воздействий, о фазовых превращениях и конформации макромолекул, о характере ориентации кристаллографических и молекулярных осей в кристаллографической ячейке и их изменении в результате внешних воздействий. Кроме того, рентгеноструктурный метод дает возможность определять средние размеры и распределение по размерам кристаллитов, степень дефектности кристаллической структуры и. многое другое. Дифракция рентгеновских лучей под малыми углами дает основание для суждения о величине большого периода и его изменении при различных термомеханических воздействиях, о состоянии (плотности) аморфных прослоек, а также позволяет регистрировать возникновение мельчайших (субмикроскопических — до 10—100 А) трещин в полимерах. Особая ценность методов [c.81]

Дифракция рентгеновских лучей в кристаллических полимерах. Характер дифракции рентгеновских лучей для неориентированных кристаллических полимеров сходен с наблюдаемым для порошкообразных образцов низкомолекулярных кристаллических соединений в обоих случаях дифрактограммы представляют собой набор кольцевых рефлексов, а не отдельных точек. В результате ориентации кольцевые рефлексы превращаются в дуги и точки. Степень ориентации кристаллических участков можно рассчитать по азимутальному распределению интенсивности рассеяния в этих дугах [16]. [c.320]

Ориентация. Ориентация последовательностей групп —(СНг) — в полиэтилене исследуется методами инфракрасной спектроскопии, рентгеновской дифракции и т. д. Выводы, получаемые на основании различных методов исследования, не всегда согласуются между собой Тем не менее представляется возможным сделать некоторые общие заключения. Исследование инфракрасного дихроизма (см. стр. 291) дублета при 721—730 см , относимого различными авторами к маятниковым колебаниям группы СНо, показывает, что в образцах, подвергнутых холодной вытяжке, оси цепей (кристаллографические оси с) ориентированы в основном параллельные направлению растяжения (а-поляризация компонент дублета). Однако после отжига при 100°С кристаллографическая ось а ориентируется преимущественно в направлении вытяжки (л-поляризация компоненты дублета при 730 см ). Штейн и Норрис по наблюдениям дихроизма этого же дублета пришл й к выводу о том, что ориентация полимера происходит более полно в аморфных, а не в кристаллических областях. [c.329]

Рентгеноструктурный анализ успешно применяется как для исследования структуры изотропных кристаллических тел, так и для изучения ориентации макромолекул и кристаллитов в ориентированных полимерах. Теория рентгеновской дифракции подробно изложена в работах [c.59]

Степень порядка микроструктуры лиотропных полипептидных жидких кристаллов может определяться с помощью дифракции рентгеновских лучей [26]. При этом сначала приготавливают макроскопически однородно ориентированный (нематический) жидкий кристалл, устраняя холестерическую сверхструктуру магнитным полем и используя анизотропию диамагнитной восприимчивости полипептидных молекул (см. разд. VI). Сходство между упорядоченными магнитным полем, одноосными полипептидными жидкими кристаллами и механически ориентированными полимерами позволяет интерпретировать данные по дифракции рентгеновских лучей с использованием общего подхода, обычно применяемого для описания ориентации полимерных кристаллитов в волокнах. Этот метод основан на анализе межмолекулярного рассеяния рентгеновских лучей [27]. [c.194]

Ориентация в полимерах обычно изучается методами двойного лучепреломления, инфракрасного дихроизма, рентгеновской дифракции под большими и малыми углами, ядерного магнитного резонанса и др. Необходимость применения одновременно многих методов диктуется их различной чувствительностью к ориентации цепей в целом и дискретных элементов структуры и, соответственно, различным характером усреднения при численном выражении параметров ориентации. [c.185]

О строении ориентированных полимеров на м о-л е к у л я р н о Л1 уровне (т. е. о конформации и ориентации макромолекул) дают сведения следующие прямые методы поляризационная ИК-спектроскопия, двойное лучепреломление, ЯМР, рентгеновская и электронная дифракция в больших углах. Наиболее информативным является первый метод, к-рый по дихроизму различных полос поглощения в ИК-спектре позволяет определять степень ориентации участков макромолекул отдельно в аморфных и кристаллич. областях полимера, ориентацию различных боковых групп, распределение и ориентацию участков макромолекул с различными последовательностями звеньев (цис-, гош,- и тракс-формы). Подобной детальной информации с помощью др. методов получить не удается, однако применение каждого из них в каких-то случаях оказывается весьма полезным. Напр., метод двойного лучепреломления отличается простотой и доступностью, метод рентгеновской дифракции очень чувствителен к ориентации кристаллитов. [c.260]

Если изотропный полимерный материал подвергается действию направленного внешнего напряжения, то в образце осуществляется перестройка структурных элементов, называемая ориентацией, В аморфных полимерах ориентация заключается в простой перегруппировке статистически свернутых в клубки цепных молекул (молекулярная ориентация). В кристаллических полимерах явление ориентации оказывается более сложным кристаллиты могут переориентироваться или перегруппироваться, кроме того, под влиянием приложенного напряжения может возникнуть направленная кристаллизация. Подобные эффекты в кристаллических материалах можно наблюдать с помощью методов рентгеновской дифракции. [c.319]

Ориентация в полимерах обычно изучается методами двойного лучепреломления (оптическая анизотропия), инфракрасного дихроизма, рентгеновской дифракции под большими н малыми углами, ядерного магнитного резонанса и др. Значения характеристик ориентации, полученных разными методами для одного и того же Образца, оказываются различными вследствие различной чувствительности методов к спектру структурной упорядоченности в полимере. Вследствие того, что применяемые методы различаются по чувствительности к ориентации цепей в целом и ориентации дискретных элементов структуры, они дают и различный характер усреднения при численном выражении параметров ориентации на- [c.10]

Если деформация захватывает различные уровни структурной организации кристаллического полимера, то, кроме поворотов и смещений упорядоченных структурных образований, происходит ориентация молекулярных цепей, не входящих в кристаллические области. Ее можно исследовать методами двойного лучепреломления в видимом или ИК-диапазоне или по широкоугловой дифракции рентгеновских лучей. Оба метода дают эквивалентную информацию. [c.367]

Электронные микрофотографии показывают, что в полимере, закристаллизованном при сдвиге, происходит фибриллизация в направлении течения. Поверхность пленки показана на рис. 17. На снимке видны ла.мели, развивающиеся перпендикулярно направлению сдвиговых деформаций и уложенные вдоль нанравления сдвига. Как указывалось выше, можно принять, что текстура такого типа образовалась вследствие кристаллизации в условиях, когда имеет место молекулярная ориентация, степень коюрой различна для разных элементов структуры. На некоторых типичных образцах были проведены измерения рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами. Во всех исследованных образцах наблюдались меридиональные рефлексы, хотя и довольно диффузные. Угловое расстояние между ними соответствует величине большого периода порядка 140— 160 А. Рассмотрение картины дифракции рентгеновских лучей под большими углами указывает, что при повышении скорости сдвига в процессе кристаллизации происходит некоторое изменение ориентации макромолекул по отношению к оси фибриллы, а именно при высоких скоростях с осью фибриллы совпадает ось с кристалла, а при низких скоростях сдвига происходит некоторый сдвиг в сторону оси а. Другими словами, каждый дуговой рефлекс (200), который для образцов, полученных при высоких скоростях сдвига, расположен на экваторе, расщепляется на два, несколько отстоящих от экватора, для образцов, сформованных при более низких [c.109]

Рентгенографич. оценки ориентации основаны на том, что нри ориентации полимера меняется картина рентгеновской дифракции, происходит переход от дебае-граммы, характерной для неориентпрованпых образцов, к текстуррентгенограмме, получаемой с ориентированных п()лим( ров. При этом кольца стягиваются в рефлексы, расположенные на различных слоевых линиях. Практически при неидеально ориентации каждый рефлекс представляет собой дугу, расположопную на месте кольца дебаеграммы, на какой-либо слоевой линии. Чем длинное дуга, тем меньше степень ориептации образца. [c.169]

Фигуры погасания, показанные на рис. 19, могут быть объяснены с точки зрения кооперированной ориентации посредством скручивания следующим образом. На рис. 19, а и 19, б показаны соответственно оптически одноосные и двуосные фибриллы, скручивающиеся вдоль нормали к оптической оси в первом случае и вдоль линии, перпендикулярной плоскости двух оптических осей,— во втором. В обоих случаях принимается, что фибриллы полностью лежат в плоскостях сферолитов и равномерное скручивание дает правовращающий винт с одинаковой фазой у всех фибрилл. Нулевое погасание двойного лучепреломления будет наблюдаться в каждом случае, когда оптическая ось направлена перпендикулярно предметному столику микроскопа, вызывая расположенные на одинаковом расстоянии друг от друга простые или двойные кольца погасания. Кресты, как и в случае, рассмотренном ранее, соответствуют нулевой амплитуде погасания, когда фибриллы лежат параллельно направлениям поляризатора и анализатора. Расстояния между чередующимися кольцами в радиальном направлении обычно составляют величину порядка 10 мк и меняются при переходе от одного полимера к другому. У каждого данного полимера это расстояние зависит от температуры кристаллизации, увеличиваясь при ее повышении [50]. Иногда расстояние между кольцами превышает, однако, 100 лк, и тогда прямое подтверждение ориентационного скручивания методом дифракции рентгеновских лучей становится исключительно трудным. Тем не менее Фудзиваре [29] удалось этим методом показать постепенное скручивание в направлении радиусов у сферолитов полиэтилена. Наличие кооперированной ориентации скручивания у других полимеров было подтверждено методом микроскопии путем изучения систематических изменений фигур погасания при рассмотрении сферолитов на универсальном столике Федорова под различными углами наклона [48, 49, 59, 109, ПО]. Фигуры, показанные на рис. 19, в и 19, г, также объясняются ориентацией скручивания. Например, зигзагообразные кресты были найдены как у одноосных, так и у двуосных полимеров, у которых скрученные фибриллы имеют кристаллографические ориентации, не допускающие расположения оптических осей в тангенциальных направлениях. Более сложная фигура, изображенная на рис. 19, г, особенно интересна, так как она иллюстрирует на примере такого одноосного полимера, как полиэтилен, обычное различие поперечных сечений глобулярных и двумерных сферолитов, выросших в тонких пленках. В первом случае фибриллы лежат в плоскости сечений, образуя фигуры погасания такого типа, как показано на рис. 19, а. Однако во втором случае температурные градиенты, возникающие вдоль пленки полимера во время кристаллизации [49], могут вызвать наклон фибрилл к плоскости сферолитов на несколько градусов. Такие наклоны неизменно приводят к образованию круглыми сферолитами зигзагообразных крестов, и при интерпретации картин, даваемых образцами, закристаллизованными в виде тонких пленок, всегда следует иметь в виду возможность этой необычной ориентации фибрилл в таких случаях. У сферолитов наблюдается как правое, так и левое скручивание, по-видимому, с равной вероятностью, и каждый сферолит вообще поделен на ряд секторов то с правым, то с левым ориентационным скручиванием [49, 52]. На практике ориентационное скручивание не так хорошо координировано, как это показывают идеализированные фигуры на рис. 19, хотя может быть, как видно из рис. 20 (сравните с рис. 19, г), при благоприятных условиях довольно правильным. [c.453]

При помощи поляризационного и электронного микроскопов было прослежено образование трещин при охлаждении пленок полимеров. В случае полигексаметиленадипинамида, полуненно-го из расплава, трещина пересекает сферолиты, а в случае полигексаметиленадипинамида, полученного из раствора, трещина проходит преимущественно по границе между сферолитами. Причиной такого различия, по мнению авторов, является то, что пленка, полученная из расплава, однородна по толщине, а пленка, полученная из раствора, имеет утолщения у центров сферолитов и утоншения на границе сферолитов Ориентацию в сферолитах полигексаметиленадипинамида и полигексаметиленсебацинамида, выращенных из расплава, исследовали при помощи дифракции рентгеновских лучей [c.414]

Если деформация захватывает различные уровни структурной организации кристаллического полимера, то кроме поворотов и смещений упорядоченных структурных образований происходит ориентация молекулярных цепей, не входящих в кристаллические области. Этот эффект можно исследовать методами измерения дихроизма в видимом или инфракрасном свете или по широкоугловой дифракции рентгеновских лучей Оба метода дают в сущности эквивалентную информацию. Необходимо отметить, что в растянутых монофиламент-ных нитях полиэтилена степень ориентации оси с в кристаллах существенно превосходит степень ориентации цепей в аморфных областях так как даже при очень совершенной ориентации кристаллов в аморфных областях сохраняется известное разупорядочение. По-видимому, этот факт имеет принципиальное значение для анализа прочностных свойств высокоориентированных полимеров [c.178]

Однако поскольку нам известно, что ориентация одноосная, то мы можем уничтожить влияние ориентации на рассеяние рентгеновских лучей вращением нашего образца вокруг оси. совпадающей с направлением пучка. В этом случае ось ориентации будет непрерывно изменять свое направление и в среднем по времени картина дифракции должна быть тождественной с картиной дифракции неориентированного полимера. Действительно, врашение образца размазывает точечнообразные пятна на рентгенограмме в кольца, полностью совпадаю щие с кольцами 1а рентгенограмме изотропного полимера. [c.130]

Твердые образцы полиэтилена кристаллизуются не полностью. Относительное содержание кристаллического вещества в полимере может быть определено по измерению плотности, теплоты плавления, методами дифракции рентгеновских лучей или инфракрасной спектроскопии. Обычно для этой цели используется сопоставление интенсивности дуплета при 720— 731 см- который отсутствует в полностью аморфном полимере. Можно установить корреляцию между отношением интенсивностей компонент в дуплете и степенью кристалличности полимера, определенной другими методами 22. Однако этот метод не вполне надежен, что связано с трудностями разделения двух перекрывающихся полос поглощения. Кроме того, интенсивности компонент до некоторой степени зависят от ориентации образца. Необходимо также иметь в виду, что подобные измерения могут выполняться только на очень тонких пленках. Более удобно для определения степени кристалличности использовать измерения поглощения при 1303 сл1 , связанные с крутильными колебаниями группы СНг. Полоса при этой частоте изолирована от других полос спектра, и ее интенсивность не слиш-ко.м велика. Такой способ оценки кристалличности использовался в работах Никитина и Покровского ° , Миллера и Уиллеса Тобина и Каррано . [c.322]

Были поставлены следующие опыты. На одних и тех же образцах ориентированных полимеров полиэтилена, полипропилена, капрона, подвергнутых нагружению вдоль оси их ориентации, методом малоугловой рентгеновской дифракции были оценены размеры н концентрация субмикротрещин УУтр, а методом ИК-спектроскопии — концентрация новых концевых групп и, следовательно, число разрывов молекул [355, 85, 382]. Эти данные представлены в табл. 31. [c.307]

В работе [2090] для идентификации кристаллической промежуточной и аморфной фаз в полиэтилентерефталате использовали метод дифракции рентгеновских лучей. При исследованиях морфологии кристаллизации полиэтилентерефталата из раствора применялось широкоугловое и малоугловое рассеяние рентгеновских лучей [2091]. С помощью экспериментов по рассеянию под малыми углами была установлена корреляция между периодом складывания цепи п температурой кристаллизации полиэтилентерефталата [2092], а также его количественная морфологическая характеристика [2093]. На основании данных исследования пленок полиэтилентерефталата методом ЯМР, дифракции рентгеновских лучей и оптическим методом дано 2094] описание молекулярной ориентации в этих пленках. Ллотность кристаллической фазы полукристаллических полимеров типа полиэтилентерефталата была вычислена из размеров элементарной кристаллической ячейки, полученных методом дифракции рентгеновских лучей [2095]. [c.425]

В работе [604] рассматриваются также результаты измерения рассеяния концентрированными растворами этого полимера. Интересно отметить, что кривая рассеяния для 10 /о-ного раствора полимера (кривая Б на рис. 181, в) характеризуется большой шириной и имеет максимум, соответствующий 4,2 А. Такая форма свидетельствует о слабоупорядоченной гексагональной упаковке между соседними молекулярными цепями, которая может существовать даже в концентрированном растворе. Различные кристаллические формы найлона 6 были исследованы методами дифракции рентгеновских лучей и ИК-спектроскопии, причем изучалось влияние адсорбции воды и температуры [607]. Дифракционный метод позволил количественно охарактеризовать две формы найлона 6 [608] и определить размеры кристаллитов этих форм по методу Уоллнера [609]. В работе [610] изучалась кристаллическая структура пленок найлона 6, а также влияние скручивания депей на ориентацию. Структурные параметры кристаллического найлона 6 определяли методом рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами. [c.547]

Лучшим способом оценки степени ориентации полимера является применение методов инфракрасной спектроскопии совместно с дифракцией рентгеновских лучей па одном и том же образце. Для этих целей наиболее пригодны экваториальные рефлексы, при фотометриро-вании которых можно установить, какому углу к экватору соответствует снижение пиковой интенсивности до 50 % от первоначальной величины. Этот угол можно приравнять к среднему углу дезориентации 6 в уравнении (4.13). [c.109]

Винилстеарат. Вннилстеарат полимеризован в жидкой и твердой фазах у-излуче1П1ем Со [227] и потоком электронов (1 Мэе) [265]. Изучено влияние температуры на скорость полимеризации и молеку лярный вес полимера. Рассмотрены кристаллографические характеристики мономера в твердофазной полимеризации [266]. Радиационный иоливинилстеарат, полученный в твердой фазе, является более изотактическим, чем полимер, полученный из жидкого мономера. Дифракцией рентгеновских лучей изучена ориентация боковых цепей мономерных звеньев в кристалле при образовании макромолекулярной цепи [267]. [c.141]

В настоящее время можно считать твердо установленным микрогетерогенное строение ориентированных аморфно-кристаллических полимеров. С помощью рентгенографии под малыми углами установлено закономерное чередование вдоль оси ориентации участков с различной плотностью (так называемые большие периоды). Рентгенография под большими углами показывает, что в более плотных участках макромолекулы уложены в кристаллическую решетку, а в менее плотных такой упорядоченности в расположении макромолекул нет. Большие периоды были впервые обнаружены Гессом и Киссигом по наблюдению рентгеновских Неридиональных слоевых рефлексов в области малоугловой дифракции. Согласно их представлениям, в ориентированном полимере чередуются кристаллические области, разделенные аморф-, ными участками. При этом, период чередования оказывается равным экспериментально наблюдаемому большому периоду. Одна и та же макромолекула поочередно проходит через несколько кристаллических и аморфных участков. [c.198]

При растяжении таких аморфных полимеров,-как полиметилметакрилат, полистирол и закаленный полиэтилентерефталат, молекулы располагаются преимущественно вдоль направления растяжения. В полиметилметакрилате и полистироле такая молекулярная ориентация обнаруживается оптйческими методами, но картина рентгеновской дифракции не показывает каких-либо признаков трехмерной упорядоченности. Поэтому данную структуру следует рассматривать как слегка вытянутый перепутанный войлок (рис. 1.8, б) и называть ориентированной аморфной, но [c.18]

Большим периодом обычно называют величину d == XllQ, где Х — длина во.лны, а 20 — угол дифракции, соответствующий максимуму в распределении интенсивности малоуглового рассеяния рентгеновских лучей. Изучение больших периодов, в частности при различных температурах [1], представляет большой интерес, поскольку опо позволяет судить о различиях в степени порядка в структуре полимеров. Мы исследовали изменение большого периода в ориентированных волокнах полиэтилена низкого давления в области темие])атур от комн атной до 116°. Съемки рентгенограмм в больших углах показали, что степень ориентации кристаллитов в волокнах была весь-лш высокой и практически пе менялась после проведения температурных съемок, поскольку волокна в образце находились в натянутом состоянии. Максимальное отклонение осей цепей от оси волокна (рассеяние текстуры) не превышало 10—15°. Ориентированный образец волокон помещался в печку, установленную на малоугловой камере. Температура контролировалась с точностью до 2°. При данной температуре снималась вся кривая малоуглового рассеяния. Остальные условия эксперимента были такими же, как в работах [2, 3]. Съемки кривых рассеяния проводились в течение нескольких пос.тедовательных циклов нагревания и охлаждения одного и того же образца. Измерения повторялись многократно, и результаты хорошо воспроизводились. Кривые распределения интенсивности меридионального малоуглового рефлекса, получен ныо в цикле 1 при повышении температуры до 113°, приведены ira рис. 1, а нри понижении температуры до 20° — на рис. 2. При [c.176]

Рентгеновская дифракция в малых углах и. светорассеяние позволяют обнаруживать неоднородности размером от 1 до 10 —10 нм (от 10 до 10 —10 А), определять нх размеры, форму, ориентацию и концентрацию. В кристаллич. ориентированных полимерах при нагружении появляются в объеме субмикротрещины дис]Соподобной формы, расположенные перпендикулярно оси нагружения. Их размеры составляют единицы нм (т есятки А) в продольном и десятки нм (сотни А) в поперечном направлениях, а концентрация в поперечном ( ечении об- [c.116]

II. Предложен общий метод описания крпсталлитной ориентации в одноосно-ориептированных полимерах, на основе сопоставления данных, полученных из изме-д)ений ИК-дихроизма, рентгеновской дифракции и двойного лучепреломления. [c.493]

Тип текстуры и дисперсия ориентаций кристаллитов м. б. определены методом рентгенографии. Труднее оцепить ориентацию макромолекул в аморфных областях кристаллического ориентированного полимера. Для этой цели чаще всего применяют различные оптич. методы. С помощью метода малоугловой рентгеновской дифракции во многих ориентированных полимерах обнаружены большие периоды [порядка десятков нм (сотен А) вдоль оси текстуры, характеризующие чередование более плотных кристаллитов с менее плотными аморфными областями. Размер большого периода представляет сумму длин кристаллита и аморфной области. Большие периоды могут отсутствовать при слишком низкой (менее 20—30%) или, наоборот, очень высокой степени кристалличности, а также в том случае, когда разница плотностей кристаллических и аморфных областей слишком мала, тобы [c.593]

При определенных условиях растянутые и кристаллизующиеся ориентированные образцы полимеров дают электронограммы, состоящие из дискретных пятен и аналогичные электронограммам монокристаллов. На рис. 150 в связи с рассмотрением методов расчета текстур диаграмм была показана электронограмма растянутого полимера. Дифракционные картины растянутых полимеров весьма близки к волокнистым диаграммам блочных полимеров, получаемых при рассеянии рентгеновских лучей, и, вообще говоря, не дают никаких новых сведений об их структуре. Однако, как и во многих других случаях, преимущества методов электронной дифракции определяются возможностью комбинирования чисто дифракционных исследований с электронно-микроскопическими наблюдениями исследуемого объекта. На рис. 156а показан электронно-микроскопический снимок растянутой тонкой пленки полиэтилена толщиной всего лишь 100 Л (нерастянутая пленка полиэтилена состоит из сферолитов). Микродифракционная картина, полученная с этой области (рис. 1566), свидетельствует о том, что полимерные цепи ориентированы преимущественно параллельно осям фибрилл [37 ]. Однако следует отметить, что такая ориентация макромолекул осуществляется не во всех фибриллярных структурах, встречающихся в кристаллических полимерах (см. раздел Г-3). [c.249]

После многолетних попыток удалось закристаллизовать молекулы G-актина, причем только вместе с молекулами ДНКазы I в соотношении 1 1. Поэтому трехмерная структура мономерного актина на атомном уровне стала известна из данных рентгеновской кристаллографии комплекса G-актин-ДНКаза I [453]. Одновременно была пол чена диаграмма рентгеновского рассеяния F-актинового волокна с разрешением 6 А и найдена ориентация G-актинового мономера в двойной спирали полимера путем сравнения рассчитанных картин рентгеновской дифракции с наблюдаемой [452]. Оставшиеся неустра-ненными различия отражают тот факт, что полимеризация актина сопровождается незначительными конформационными изменениями. Но лишь отчасти, поскольку использование уточненной структурной модели G-актина в построении модели F-актиновой нити привело недавно к лучшему совпадению результатов расчета с экспериментальными данными [454]. Дальнейшее уточнение модели затруднено отоутствием для F-актина диаграммы рентгеновской дифракции более высокого, чем 6 А, разрешения. Выход может быть найден при обращении к теоретическому подходу и использованию методов конформационного анализа и молекулярной динамики [455,456]. Атомная модель Р-актина, построенная путем согласования данных рентгеноструктурного анализа кристаллов G-актина и тонких филаментов F-актина, совпала с атомной моделью, реконструированной по снимкам криоэлектронной микроскопии актиновой нити [457,458]. [c.123]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология