Приборы для регистрации масс-спектро

Прямая регистрация масс-спектров или ИК-спектров элюируемых из колонки компонентов разделяемых смесей при использовании комбинированных приборов газовый хроматограф — масс-спектрометр и газовый хроматограф — ИК-спектрометр с целью определения молекулярной структуры идентифицируемых соединений . [c.163]

Из уравнения (4) следует, что радиус кривизны траектории ионов (г) зависит от величины ускоряющего напряжения ( 0, а также напряженности магнитного поля В). Варьируя их значения, можно изменять радиус кривизны траектории ионов. Этот принцип используется в масс-анализаторе на стадии подачи ионов разной массы в детектор 6. Процесс непрерывного изменения параметров V и В, который применяют для регистрации масс-спектров, называется сканированием. Самый быстрый и простой способ сканирования заключается в изменении ускоряющего напряжение V при постоянной напряженности магнитного поля В. Однако на практике этим способом не пользуются, поскольку при таком режиме работы масс-анализатора происходит расфокусировка прибора и теряется чувствительность. Поэтому обычно применяют сканирование магнитного поля, чаще всего по экспоненциальному закону - с движением вниз от больших масс к меньшим при этом ускоряющее напряжение поддерживается постоянным. [c.49]

На рис. 4.2 приведены принципиальные схемы двухфокусных масс-спектрометров, в которых реализованы геометрические принципы Н[ира-Джонсона (а) и Маттауха-Герцога (б). В первом из них регистрация масс-спектров осуществляется путем сканирования напряженности магнитного поля. Регистрация масс-спектров в приборе Маттауха-Герцога проводится на фото- [c.50]

Масс-спектрометр — прибор, служащий для разделения ионов под действием электрического и (или) магнитного поля в соответствии с отношением массы ионов к заряду (т/е). На масс-спектрометре измеряют величину этого отношения и определяют содержание различных ионов. Масс-спектр в виде спектрограммы или таблиц содержит величины те/е разделенных ионов и соответствующие им интенсивности. Регистрация масс-спектров проводится обычно с помощью фотопластинок. Для определения концентрации примесей строят характерную кривую зависимости экспозиции Е (или lg Е) от плотности (или некоторой функции плотности) линии основного элемента или стандарта. [c.172]

Для быстрой регистрации масс-спектров целесообразно использовать многошлейфовые осциллографы. Это дает возможность осуществлять быструю развертку и производить одновременную регистрацию линий масс-спектра, интенсивность которых отличается в 10 —10 раз. Одновременная запись масс-спектра всеми шлейфами, имеющими разную чувствительность, позволяет обеспечивать запись каждой линии при наивыгоднейшей чувствительности. Применение шлейфового осциллографа на приборе МХ-1303 было описано в работе [30]. [c.25]

Измерительная часть прибора состоит из ряда блоков, служащих для питания электродов анализатора, усиления ионного тока, регистрации масс-спектра, измерения вакуума и блокировки электрических цепей, а также сигнализации при выходе прибора из нормального режима. В соответствии с назначением измерительная часть содержит электронные стабилизаторы напряжения, импульсные устройства, усилитель постоянного тока, вакуумметры и электронный самопишущий потенциометр. [c.28]

Принципиальная схема прибора с двойной фокусировкой приведена на рис. 10, а. При таком расположении электростатического и магнитного поля (геометрия Нира—Джонсона) осуществляется электрическая регистрация масс-спектра путем сканирования напряженности магнитного поля. Другая геометрия (тип Маттауха—Герцога) тех же полей (рис. 10, б) позволяет осуществлять фотографиче- [c.21]

Комбинированный прибор ГХ — МС представляет собой систему, в которой производится регистрация масс-спектров соединений по мере их выхода из газового хроматографа. Такая система, хотя она часто и является наиболее удобной и гибкой, не всегда необходима. [c.218]

Наличие молекулярных сепараторов и возможность быстрой развертки спектра во всем диапазоне массовых чисел, представляющих интерес в данном конкретном случае, являются основными особенностями хромато-масс-спектрометрических приборов, наиболее часто применяемых в настоящее время. Эти приборы работают именно на основе последнего из двух изложенных принципов [32]. Среди современных масс-спектрометров имеются модели, позволяющие за 1—3 сек. зарегистрировать масс-спектры в диапазоне значений т/е от 50 до 500 и выше при разрешении 500 и более [33—35]. Для регистрации масс-спектров с такой скоростью в настоящее время почти всегда используются малоинерционные регистраторы типа электронных или шлейфовых осциллографов. Последние часто имеют несколько шлейфов с разной чувствительностью. [c.181]

Преимущества масс-спектральных данных высокого разрешения и их интерпретация кратко обсуждались в разд. II, В. К сожалению, в масс-спектрометрии высокого разрешения как сами приборы, так и работа с ними требуют больших денежных затрат [12]. При стоимости самого прибора в 150 тыс. долл. его эксплуатация может обходиться до 5 тыс. долл. в год. Стоимость обработки данных (при непрерывной и эффективной эксплуатации прибора) может доходить до 30 тыс. долл. в год. (Эта оценка получена в предположении, что к элементной таблице сводят 15 полных спектров высокого разрешения в неделю, на спектр требуется около 5 мин машинного времени, а 1 ч машинного времени обходится в 500 долл.) Если для регистрации масс-спектров применяется фотографирование, то для измерения с высокой точностью положения линий на фотопластинке необходим микроденситометр. При точности 0,5 мкм только необходимое дополнительное оборудование стоит не менее 12—15 тыс.. долл., а полная стоимость системы доходит до 50 тыс. долл. Недавно в продаже появился денситометр с ручным управлением стоимостью около 3 тыс. долл., но эта относительная дешевизна сказалась на его точности. [c.211]

Время между образованием исходного иона и регистрацией масс-спектра— это время пребывания ионов в масс-спектрометре. Оно зависит как от типа прибора, так и от условий регистрации [c.23]

Прямая регистрация масс-спектров или ИК-спектров элюируемых из колонки компонентов разделяемых смесей при использовании комбинированных приборов, т.н. двойных гибридов хроматограф — масс-спектрометр и хроматограф — ИК(фурье)-спектрометр, а также тройного гибрида хроматограф — ИК(фурье)-спектрометр — масс-спектрометр, с целью определения молекулярной структуры идентифицируемых соединений. [c.232]

До 1950 г. основное внимание в работах по масс-спектро-метрии уделялось конструированию приборов, особенно ионных источников [4]. Для регистрации малых ионных токов были созданы соответствующие электронные лампы и усилители постоянного тока [5]. Применение электронных схем питания электромагнита и ускоряющего напряжения и конструирование удобных регистрирующих приборов привели к созданию масс-спектрометра с автоматизацией всех основных узлов [6]. Были также решены проблемы напуска газов и летучих соединений. К 1950 г. была в основном решена проблема создания хорошего и быстрого метода расчета результатом. [c.7]

Масс-фрагментография, которую называют также селективным ионным или многоионным детектированием, является методом, в котором масс-спектрометр служит не для записи полных масс-спектров, а для непрерывной регистрации одного или нескольких выбранных ионов при введении в прибор смеси анализируемых веществ. Этот метод предназначен для обнаружения и количественного определения конкретного соединения или группы родственных соединений в смесях. Существуют два варианта метода масс-фрагментографии. В одном из них, называемом масс-хроматографией и предназначенном для анализа летучих соединений, используют газохроматографический ввод исследуемых образцов. В другом, называемом масс-термографией, применяют систему прямого ввода. Этот вариант может быть адаптирован для исследования низколетучих соединений. [c.194]

Фокусировка по направлению, которая должна была быть получена согласно оптической аналогии с системой линз, отсутствует действие полей аналогично действию ахроматической системы призм. Здесь в пучке, однородном по массе, но неоднородном по энергии, дисперсия, обусловленная электростатическим полем, приводит к спектру по скоростям. Эта дисперсия компенсируется магнитным полем. Линии фокуса ионов с различным отношением массы к заряду лежат в одной плоскости. Таким образом, для регистрации всего масс-спектра может быть использована фотопластинка. Позднее на основе прибора Астона были сконструированы масс-спектроскопы [1473, 1990] и другие устройства с фокусировкой по скорости [1760]. [c.18]

Когда развертка масс-спектра осуществляется при постоянном электростатическом напряжении путем изменения напряженности магнитного поля, то массовые числа для всех пиков в спектре часто определяются непосредственно при регистрации на ленте диаграммы при этом допускается, что расстояние между соседними пиками сохраняется постоянным. Отсчет начинают от пика с известной массой. Это легко может быть сделано в том случае, когда спектр состоит из больших групп пиков, компоненты которых отличаются на одну массовую единицу. Однако в других случаях не представляется возможным определить массовое число для каждого пика вследствие эффекта насыщения магнита, изменения расстояния между пиками при работе на чувствительных диапазонах приемной схемы и появления многозарядных и метастабильных ионов, которые делают спектр более расплывчатым пробелы в 20—30 массовых единиц между реперными пиками также затрудняют определения. Для уменьшения этих пробелов , наряду с неизвестным соединением, в прибор вводят вещество, масс-спектр которого известен. Применение весьма удобной системы двойного напуска позволяет сделать это быстро и, в случае надобности, так же быстро удалить введенное вещество, если оно дает наложение на спектр исследуемого соединения. Такая система описана в гл. 3, а соответствующие вещества, используемые для этой цели,— в гл. 9. [c.57]

Положительные ионы, бомбардирующие поверхность, могут также выбить отрицательные ионы веществ, адсорбированных на металлической поверхности [67, 1867]. Шарки и Фридель [1819] использовали 180-градусный прибор с простой фокусировкой для исследования образования отрицательных пиков в масс-спектрах азота, кислорода, окиси и двуокиси углерода. В таких приборах коллектор находится в магнитном поле. Они наблюдали отрицательные пики частиц, масса которых на 2 единицы меньше массы соответствующего положительного иона интенсивность пика отрицательного иона являлась линейной функцией давления. Например, в случае окиси углерода при настройке прибора на регистрацию массы 26 отрицательный ион СО, образующийся в соответствии с постулированным выше механизмом, мог достигнуть коллектора вследствие своего небольшого радиуса кривизны в магнитном поле, как это показано на рис. 93. Соотношение высот отрицательного и положительного пиков, как и следовало ожидать, составляло 10 . [c.207]

Методом ХМС с регистрацией масс спектров в максимуме хроматографических пиков были идентифицированы во фракции выделенной из нефти Анастасьевско Троицкого месторождения, два сесквитерпановых бициклических углеводорода С15Н28 (суммарная концентрация этих углеводородов в нефти достигает 0,9%) [380] В сочетании с данными ЯМР С была установлена структура этих соединений — транс-2,3,3,7,7 пентаметил транс бицикло [4 4 0] декан и 3,2 2,7,7 пентаметил транс-бицикло [4 4 0] декан Анализ проводили на приборе LKB2091 с капиллярной колонкой (неподвижная фаза Апиезон L) Масс спектры получали при энергии электронов 70 эВ и температуре ионного источника 250 °С [c.159]

Регистрация масс-спектров. Выше отмечалось, что во времяпролет-ных масс-спектрометрах и приборах типа Маттауха—Герцога спектр регистрируется на фотографическую пленку или пластину. Затем, если это необходимо, фотопластину можно пропустить через регистрирующий микрофотометр и получить запись на ленте самописца. [c.206]

Масс-спектры получены на хромато-масс-спектрометре ЬК В-2091. Энергия ионизирующих электронов 70 и 12 эВ. Чувствительность прибора —Ю г, что в нашем случае делало достаточной пробу 0,1 —О,.Я мг. Это явилось решаюшим при выборе методики и прибора, так как доступные количества УВ с одной станции обычно не превышают нескольких миллиграмм. Образец вводился через систему прямого ввода. Для подбора режима испарения образца были проведены опыты на нефтяных фракциях аналогичной молекулярной массы, которые показали, что наилучшим является интервал 95—115° С, обеспечивающий полное испарение за 10—15 мин. При этом максимум полного ионного тока достигается за время 3,5—4,5 мин. Полнота испарения определялась взвешиванием ампулы с образцом до и после регистрации масс-спектров. В процессе испарения образца регистрировались изменение полного ионного тока и через каждые 2 мин. масс-спектры. [c.212]

Широкие фракции, отогнанные из колбы Вюрца в интервале 50—200°С, подвергались затем ректификации на колонке эффективностью 50 т. т. Полученные при этом погоны, объемом 15— 20 мл каждый, анализировались масс-спектрометрическим методом, разработанным во ВНИИНП. Анализ проводился на модифицированном масс-спектрометре МС-1 с записью на регистрирующем электронном потенциометре ЭПП-09. Модификация прибора заключалась в обогреве системы для введения жидких анализируемых проб, в создании системы для регулирования обогрева ионного источника и анализатора, блоков автоматической развертки и регистрации масс-спектров. Наилучшая воспроизводимость распределения интенсивностей в масс-спектре (1,5—2,5%) имела место в интервале 120—130°С. Съемки спектров проводились при следующем режиме ускоряющее напряжение 2,5 кв, энергия ионизирующих электронов 70 эв, ток эмиссии катода 1,5 ма. Описание метода опубликовано в печати [28—30]. [c.73]

Рассмотренные выше методы несомненно являются основными при установлении структуры и качественном анализе сложных смесей органических соединений. Применение масс-спектрометрии высокого разрешения ограничивается значительной стоимостью и сложностью приборов, а также большой затратой времеци на интерпретацию полного масс-спектра, записанного в режиме высокого разрешения. Последняя проблема может быть решена путем использования полуавтоматических и автоматических методов регистрации масс-спектров [722]. [c.293]

Масс-спектрометр для твердой фазы, прибор Metropolitan-Vi kers MS-7, был разработан специально для анализа твердых тел. Ионы в этом приборе образуются в искровом ионном источнике, причем вероятности образования ионов приблизительно одинаковы для широкого ряда веществ. Регистрация масс-спектров на фотопластинке позволяет перекрыть диапазон масс от 5 до 250 и в одном эксперименте получить общие сведения о содержании npnMe eii, отличающихся по копцентрации в 10 раз. На таком масс-спектрометре проводили анализы ряда металлов и полупроводников. [c.159]

Для регистрации масс-спектров и определения потенциалов появления применяли прибор с радиусом 144обладающий фокусировкой первого порядка. Детали установки и методика изучения положительных и отрицательнх ионов и ионов избыточно кинетичес ой энергии были уже описаны ранее [2]. Здесь следует только еще раз отметить, что ионный источ ик и коллектор находились под потенциалом, близким к потенциалу [c.436]

Меняя Н или и, можно выводить на приемную щель ионы с разныдш значениями т е. Если эти изменения проводить плавно и автоматически и одновременно записывать ионный ток с помощью какого-либо регистрирующего прибора 6, получится то, что принято называть автоматической регистрацией масс-спектра. [c.457]

Для разработки масс-снектрометрического метода анализа бензинов использова.лся модифицированный масс-спектрометр тппа МС-1, снабженный обогреваемой системой для впуска анализируемого образца в ионный источник и приспособлением для автоматической развертки и регистрации масс-спектра. Съемка спектров производилась при следующих условиях работы прибора тель пература системы напуска и масс-спектрометрической трубки 125° С ионизирующее напряжение 70 в, ток эмиссии катода — 1,5 ма, ускоряющее напряжение — 2,5 кв. Выбранный режим обеспечил удовлетворительную воспроизводимость измерений, составляющую 1,5—2,5%. [c.500]

Основным отличием изготовленного нами времяпролет-ного масс-спектрометра с лазерным источником ионов от аналогичной установки, известной из литературных источников [2, 3], является использование без значительных переделок серийного масс-спектрометра МХ-1303, а также устранение влияния ионов основного компонента анализируемого образца на процессы регистрации масс-спектра. Лазерный источник ионов с времяпролетным анализатором позволяет расширить область применения серийных масс-спектрометров для химического анализа на твердые нелетучие вещества. Такой масс-спектрометр значительно проще используемого в настоящее время для анализа твердых веществ прибора с искровым источником ионов и отличается экспрессностью анализа, а также отсутствием в масс-спектре примесей, не содержащихся в анализируемом образце. [c.167]

Работу прибора проверяли при анализе спектральных эталонов стали. Методика качественного обнаружения примесей состояла в следующем пробы гюмещали в сильфонный манипулятор, который через фланец вакуумно плотно соединяется с источником ионов. Установку откачивали с прогревом вакуумной системы до давления б-Ю" мм рт. ст. Регистрацию масс-спектров проводили после удаления газов и загрязнений с поверхности образца (обычно для этого требуется 2—3 импульса лазера). После этого на длинных (160 или 400 мксек) развертках запоминающего осциллографа С1-29 просматривали масс-спектр образца. Участки, на которых имелись пики примесных элементов, фотографировали с экрана хронотрона при различных значениях коэффициента усиления на развертке 60 мксек, которая позволяет получ1 ть хорошее разрешение пиков масс на участке масс-спектра. [c.170]

Для проведения анализа металлов и полупроводников был изготовлен времяпролетный масс-спектрометр с лазерным ионным источником. В качестве масс-спектрометра был использован серийный прибор типа МХ-1303. Испарение и ионизация атомов анализируемого вещества осуществлялось ОКГ, работающим в режиме с модуляцией добротности резонатора. Регистрация масс-спектра осуществлялась вторичным электронным умножителем, осциллографом С1-29. Работа прибора проверялась при анализе спектральных эталонов стали, и было установлено, что чувствительность прибора к данной примеси постоянна. Аналитические характеристики установки оказались следующими нижний предел обнаружения примесей около 5.10 %, воспроизводимость определения не превышагт 10%, разрешающая способность на уровне 10% составляет 180, информационная способность 10 бит. Рис. 6, библ. 4 назв. [c.236]

Современные хромато-масс-спектрометры позволяют переходить от регистрации масс-спектров электронного удара к химической ионизации в течение 2—3 с, т. е. записать два различных спектра даже для одного хроматографического пика. В некоторых приборах (LKB-2091, Varian МАТ 44S ) предусмотрена возможность детектировать отрицательные ионы М " в режиме химической ионизации. Такие ионы получаются при захвате молекулами органических соединений тепловых электронов, возникающих вследствие торможения первоначального электронного пучка в источнике ионов молекулами газа-реактанта. Полученные в настоящее время данные еще не позволяют судить о закономерностях поведения различных соединений в условиях подобной ионизации, однако сообщалось, что некоторые азотсодержащие вещества при этом могут детектироваться в количествах до 10 г [18]. По-видимому, этот метод найдет широкое применение при анализе следовых количеств органических соединений. [c.82]

Из обсуждения этого вопроса следует, что разумно уменьшить число прохождений для каждого инкремента ij до абсолютного минимума. Есть два обстоятельства, когда это становится невозможным. На некоторых спектрометрах попытки использовать процедуру Y LOPS при циклировании фазы могут вызывать появление дополнительных артефактов на это следует обрапггь внимание инженера по обслуживанию приборов. Важно, что реальная чувствительность эксперимента может оказаться слинпсом низкой и потребуется дополнительное накопление. На первый взгляд может показаться, что для сильных сигналов будет достаточно ограничиться только четырьмя прохождениями на инкремент, но в действительности это не так. Мы ие должны забывать, что все сигналы ССИ по имеют вклады в окончательный преобразованный спектр. Первый нз описанных выше экспериментов содержит в общей сложности 2600 прохождений. Это не совсем эквивалентно регистрации одномерного спектра с таким же числом прохождений нз-за того, что, как упоминалось выше, для более поздних шагов по ty сигнал будет меньше, а также из-за того, что весь сигнал распределен в двумерном спектре по большему числу пнков, но тем пе менее чувствительность довольно высока. Для протонного эксперимента на современном спектрометре с большой рабочей частотой обычно достаточно нескольких миллиграммов вещества средней молекулярной массы для того, чтобы пользоваться минимальным числом прохождений. Если вы будете улучшать разрешение или попытаетесь регистрировать малые коистанты, то чувствительность быстро упадет, поскольку нужно будет накопить много спектров, да еще к тому же для больших значений ty. Это пример [c.303]

Прибор для И. м.-ионный микроанализатор-состоит из источника первичных ионов, вакуумной камеры, статич. и динамич. масс-анализаторов (см. Масс-спектро wiiipuH) и системы регистрации вторичных ионов. Из источников первичных ионов наиб, распространен д эплазмотрон с горя- [c.260]

Детекторы (приемники) ионов помещают на выходе прибора. Для детектирования используют электрометрии, усилители, позволяющие измерять ионные токи до 10 А, электронные умножители и сцинтилляц. детекторы с фотоумножителем, к-рые обеспечивают счет отдельных ионов (ток 10 А) и имеют малую постоянную времени, а также фотопластинки, преимущество к-рых в возможности регистрации всех ионов масс-спектра и накопление сигнала. [c.661]

Масс-спектры сняты на приборе МС-3. Регистрация ионов производилась при помощи счетчика ионов СИ-01 и светолучевого осциллографа Н-105. Гакая регистрирующая систехма позволяла спи мать масс-спектры в диапазоне массовых чисел от 300 до 30 в течение 3 мин. [c.125]

Мак Мюрреи п др [ШЬ] при анализе метилпальмитата на приборе с геометрией Пира—Джонсона (разрешающая способность 10 000 скорость сканирования масс спектра 8 с/декада, электрическая регистрация) измерили массы ионов с точ ностью 3 10 а е м, или 1 10 % Кимбл [72] изучил возможность точного измерения масс при электрической регистрации в реальном масштабе времени Первоначальные исследования осуществлялись на масс спектрометре СЕС 21 110 с разрешением 20 000 [107] При анализе октадекана для шести измерений 16 разных ионов с массами от 43 до 254 получено среднеквадратичное отклонение в пределах <2,5—6,5) 10- 7о Для малоинтенсивных пиков ошибки бы ли гораздо больше При анализе перхлорбутадиена (разреше ние 25 ООО, скорость сканирования 35 с/декада, 9 повторных измерений масс спектра) для 70 % пиков из общего числа 266 с относительной интенсивностью от 2 до 100 % массы ионов в интервале 100—266 были измерены с относительной ошибкой не более 2 10- % [108] [c.60]

Метод фокусировки по направлению использован в большом числе сконструированных приборов, включая и промышленные образцы для аналитического применения. Поэтому имеет смысл рассмотреть прибор Демпстера несколько более детально. Уравнение (2), записанное в форме Я = mvlHe, показывает, что все ионы, входящие в магнитное поле и обладающие одним и тем же зарядом и импульсом, будут двигаться по кривой с одинаковым радиусом независимо от массы, в то время как ионы с различными импульсами двигаются по кривым с разными радиусами. Отсюда ясно, что данная форма анализатора приводит к образованию спектра импульсов ионов, который также является масс-спектром, если все ионы, входящие в поле, обладают одинаковой энергией, так что каждой массе соответствует определенная скорость. Данный факт был установлен Астоном [80], который по этой причине возражал против использования Демистером термина шасс-спектрограф . Действительно, подобные приборы называют иногда спектрометры импульсов . Ввиду того что в них применена электрическая регистрация и они могут быть поэтому использованы для измерения относительной распространенности, их также иногда называют спектрометры распространенности . Если все изучаемые заряженные частицы обладают одной и той же массой, спектрометр с 180-градусным магнитным сектором может быть использован для изучения пределов энергий частиц, и установка становится спектрометром энергии [1412]. [c.20]

Определение малых отклонений в относительной распространенности изотопов для разных образцов облегчается использованием стандартного образца. Измерение распространенности изотопов в эталонном образце до и после анализа исследуемого образца позволяет оценить случайные ошибки последовательных измерений и величину медленного дрейфа в показаниях прибора. Еще одним методом повышения чувствительности прибора пррс измерении малых изменений относительной распространенности изотопов служит применение двухколлекторной системы, в которой изучаемые изотопные ионы одновременно собираются на отдельных электродах. Этот метод был впервые предложен Астоном [78] и применен Штраусом [1960] для измерения относительных распространенностей изотопов никеля. Измерение распространенности производилось непосредственно нуль-методом. Один из коллекторов ионов находился в фиксированном положении, а другой мог перемещаться при помощи сильфонного микрометрического винта. Такая система может быть использована в широком диапазоне отношений масс изотопов. Разделение при измерении никеля устанавливается в диапазоне двух массовых чисел (измерение изотопов с четным массовым числом) либо трех массовых чисел (измерение отнопкния N1 Применение двойного коллектора позволило Штраусу использовать искровой источник быстрые колебания в интенсивности не оказывали влияния на регистрацию отношения ионных токов. Горман, Джонс и Хиппл [776] распространили этот метод на получение полного масс-спектра в их масс-спектрометре измерялось отношение интенсивности пиков данных ионов к полному ионному току. Суммарная интенсивность ионных токов регистрировалась при помощи электрода, помещенного у входа в магнитный анализатор. Аналогичную [c.96]

Фотографический метод пригоден для использования в сочетании с такими источниками, как искровой и другие, выход которых изменяется случайным образом в процессе измерения, от метод также широко используется в приборах с геометрией Маттауха — Герцога [873, 1326], где двойная фокусировка достигается по всей шкале масс, и часто полный масс-спектр, включающий до 200 а.е.м., получается при одной экспозиции. Длительная экспозиция может быть использована для обнаружения очень слабых ионных пучков. Применяя для регистрации спектра различную продолжительность экспозиции, можно сравнивать интенсивности ионных пучков, отличающиеся на величину 10 по относительной интенсивности. Для ионов с массой 200 и энергией 10 ООО эв минимальный обнаруживаемый сигнал соответствует менее 10" кулонЫм , т. е. ионному току 5-10" а в сечении 1 мм при выдержке 30 мин. Чувствительность такого порядка была получена еще на первых приборах, что обеспечивало высокое разрешение и точность измерения масс, достигаемые при использовании узких щелей. [c.204]

При низком разрешении, поскольку массовые пики становятся шире, их легче находить и можно применить очень высокую скорость развертки. Желательно также при использовании самописца с автоматическим переключателем пределов выбирать соответствующую чувствительность для регистрации пиков при высоком разрешении в процессе развертки масс-спектра при низком разрешении. Однако шунты должны быть заблокированы, прежде чем перейти к высокому разрешению возвращающее напряжение, связанное с работой переключателей пределов, становится настолько значительным, что возвращает самописец значительно дальше точки появления пика высокого разрешения. Когда это происходит, прибор необходимо предохранить от переключения на полную чувствительность. Поэтому обычные шунтирующие системы не являются идеальными для таких целей, особенно если необходимо регистрировать компоненты дублетов при различных чувствительностях. Для таких работ более пригодными оказываются многоканальные регистраторы типа шлейфового осциллографа . Разделение компонентов мультиплетного пика сравнивается с пиком, ширина которого используется для получения информации о составе разницы в массе. На этом основании не используются приспособления для ускорения развертки между сильно удаленными дублетами, несмотря на то, что это значительно сократило бы время регистрации. Продолжительность регистрации дублета достаточно велика, поскольку необходимо дополнительно записывать области, находящиеся на расстоянии примерно 0,05 а. е. м. с каждой стороны мультиплета, чтобы гарантировать дублет от возможных наложений. Рассмотрим дублет Аг" — (СзН " с номинальной массой 40. Эти пики различаются на 69-10 а. е. м., и если использовать скорость развертки, указанную выше, то каждый компонент зарегистрируется за одну секунду, общее время развертки двух пиков составит 17 сек, а на развертку спектра от масс на 0,05 а. е. м. ниже Аг до массы на 0,05 а. е. м. выше С3Н4) будет затрачено 42 сек. В этом случае также необходимо использовать возможно меньшую разрешающую силу для получения минимального времени развертки. Метод изменения разрешающей силы для каждого спектра описан ниже. [c.237]

Другой метод обнаружения метастабильных ионов, позволяющий получить сведения об их происхождении, включает измерение кинетической энергии ионов. Обычно ион попадает на коллектор с энергией еУ, где V — ускоряющее напряжение. Если электрод коллектора имеет такой потенциал, что он будет отталкивать приходящие ионы, то кинетическая энергия в момент регистрации будет уменьшаться если потенциал коллектора только на несколько вольт будет более отрицательным по сравнению с камерой, то ионы, по каким-либо причинам потерявшие кинетическую энергию, при прохождении через прибор не будут регистрироваться. Когда ион с массой /пь пересекающий ускоряющее поле, разлагается с образованием иона /пг, кинетическая энергия распределяется между осколками в соответствии с массами. Положительный ион с массой гпг получит только долю т-2,1 исходной кинетической энергии и, следовательно, будет остановлен выталкивающим потенциалом тгУ т . Ионы, которые распадаются до пересечения ими ускоряющего поля, не будут терять так много энергии. Задерживающий потенциал может быть использован либо для подавления всех метастабильных ионов, либо для определения кинетической энергии, получаемой ионами и, следовательно, для определения отношения т 1тг. Если это отношение обозначить через К, то /П1= К т и тг= = Кт. Таким образом, оказывается возможным определить т1 и тг в тех случаях, когда их нельзя заимствовать из приложения 2 вследствие того, что т известно недостаточно точно. Такое измерение может быть проведено, например, для решения вопроса о происхождении метастабильного иона в масс-спектре пропилена примерно с массой 38. В работе [45] приписывают его реакции (СзН4) ->(СзНз) -Ь Н, тогда как Блум и сотрудники [239] указывают на [c.262]

Время пролета иона представляет собой промежуток времени между образованием иона и его регистрацией. В приборе с секторным магнитным полем, использующем магнитную развертку, все ионы получают одинаковую энергию ускорения, и время, необходимое тяжелым ионам для достижения коллектора, больше, чем для легких, но в обоих случаях оно зависит от величины ускоряющего напряжения, используемого для регистрации данного спектра. При развертке спектра по напряжению разница во времени пролета тяжелых и легких ионов будет еще больше. Значительная часть времени пролета ионов приходится на ионизационную камеру, где ионы под действием слабых полей движутся относительно медленно. Контроль времени пролета ионов можно осуществить при помощи выталкивающего электрода, расположенного в ионизационной камере для этой цели на электрод подается небольшой отрицательный (по отношению к стенкам камеры) потенциал поле выталкивающего потенциала подавляет действие рассеянных полей, проникающих в ионизационную камеру от главного ускоряющего поля. Легко видеть, что любые изменения, приводящие к увеличению времени пролета различных ионов, будут вызывать изменение интенсивностей пиков осколочных ионов, поскольку большинство ионов в масс-спектрах органических молекул образуется при многоступенчатых реакциях, и спектры их зависят от времени. Так же как и в приведенных выше примерах, по изменению времени пролета ионов можно видеть, что такие факторы, как образование изолирующих пленок на электродах ионизациогЛюй каме-, ры, вызывающие изменение положения электронного пучка и, следовательно,) области образования ионов, могут также воздействовать на время пролета.) [c.445]