Рентгеновское излучение систем МКС и СГС

В результате захвата электрона заряд ядра атома уменьшается на единицу и в соответствии с законом смещения получается изотоп, который смещен в периодической системе относительно исходного на одно место с меньшим номером. Одновременно происходи" выделение кванта лучистой энергии в виде характеристического рентгеновского излучения, которое связано с переходом электрона с более удаленных уровней на уровень К. Так, ядерное уравнение перехода в путем К-захвата имеет следующий вид [c.68]

Если анализируемой системе сообщать достаточную энергию, то электроны атомов переходят в возбужденное состояние и примерно через 10 с спонтанно возвращаются на нижележащие энергетические орбитали с эмиссией избыточной энергии в виде дискретных и характеристических для каждого вида атомов электромагнитных колебаний в видимой, ультрафиолетовой или рентгеновской областях спектра. При этом спектры носят линейчатый характер. При возбуждении валентных (оптических) электронов свободных атомов излучаемые линии расположены в видимой и ультрафиолетовой областях спектра. При возбуждении электронов внутренних орбиталей атома излучаются кванты с более жесткой энергией (рентгеновское излучение). Линейчатые рентгеновские спектры могут быть получены при облучении анализируемого вещества электронами (рентгеноспектральный метод анализа или более жесткими, чем излучаемые, рентгеновскими квантами (рентгенофлуоресцентный метод анализа). [c.8]

МОЗЛИ ЗАКОН связывает частоту спектральных линий рентгеновского излучения с порядковым номером химического элемента. Согласно М. з. квадратный корень из частоты соответствующей характеристической линии представляет собой линейную функцию от порядкового номера. Закон установлен английским ученым Г. Мозли в 1913 г. На основе М. з. можно экспериментальным путем определять атомный номер элемента, что было использовано для подтверждения правильности расположения элементов в периодической системе элементов Д. И. Менделеева. [c.163]

Рис. 3.4. Зависимость длин волн рентгеновского излучения от номера элемента в периодической системе

С конца XIX в. начинается современный физико-химический этап развития атомно-молекулярного учения. Открытие электрона, рентгеновского излучения, явления радиоактивности и других разрушили представления об атоме как неизменной и неделимой частице и позволили построить теорию атома как сложной системы, состоящей из положительных и отрицательных частиц. [c.11]

Если пучок характеристического рентгеновского излучения направить на сплав двух соседних в периодической системе элементов, например излучение, получающееся при захвате электрона /у-оболочки 0а, на сплав меди и никеля, то поглощение излучения будет зависеть от состава сплава. Это связано с тем, что никель поглощает характеристическое рентгеновское излучение сильнее меди, так как энергия перехода Са- 2п -Ь /IV, равная 8,7 кзв, недостаточна, чтобы вызвать /(-пере.ход у меди (энергия перехода 9,0 кэв), и достаточна для /(-перехода у никеля (8,4 аэв). Это дает возможность анализировать сплавы меди с никелем по поглощению излучения Оа. [c.365]

Анализ нейтронных кривых распределения показывает, что ион Ы + окружен четырьмя, а ион СГ — шестью молекулами ВгО. Оба метода взаимно дополняют друг друга. Удачно выбранные системы могут быть изучены методами рассеяния рентгеновского излучения и нейтронов. [c.283]

Рабочие камеры электронных печей, как правило, имеют вид горизонтальных цилиндров. Диаметр рабочей камеры определяется в основном диаметром патрубка высоковакуумного насоса (или системы насосов) большой производительности, присоединяемого к одному из торцов (или середине) цилиндра, а длина ее — условиями размещения кристаллизатора и механизма подачи переплавляемых штанг или слитков металла под электронным лучом. Электронные пушки устанавливаются на патрубках, расположенных в верхней части рабочей камеры. Толщина металла стен камеры должна быть не менее 15 мм, чтобы полностью поглощать рентгеновское излучение, возникающее при бомбардировке электронами переплавляемого металла. [c.250]

Если один из двух уровней, скажем 2 принадлежит непрерывной области энергии, соответствующей диссоциации или ионизации, то все уровни из системы Е , расположенные вблизи уровня Ей могут его возмущать. При этом некоторые уровни будут сдвигать его вверх, другие — вниз. В результате вместо уровня Ei будет слегка диффузный уровень, как это показано на рис. 102, б. Смешивание волновых функций этих двух состояний означает, что если система переводится в состояние 1, то она очень скоро приобретает свойства состояния Яг, т. е. произойдет диссоциация или ионизация. Приблизительно ситуацию можно передать словами, что происходит безызлучательный переход из дискретного состояния в непрерывное (с той же энергией), что приводит к распаду молекулы. Такие процессы носят название процессов Оже по имени исследователя, впервые открывшего это явление в рентгеновской области. Он обнаружил, что один квант рентгеновского излучения может вызвать испускание двух фотоэлектронов. При этом один из них испускается в результате обычного фотоэффекта например, с /С-оболочки), а другой — сразу же за первым вследствие такого безызлучательного перехода (поскольку Х-уровень, на который атом переходит после первой стадии, перекрывается непрерывной областью энергии, соответствующей удалению электрона с -оболочки образовавшегося иона). [c.179]

Рис. 4.2. График зависимости меж,ду значениями корней квадратных из обратных величин длин волн рентгеновского излучения элементов (для Ка- и Кр-линий) и положением элементов в периодической системе. Этот график, называемый диаграммой Мозли, был использован им для определения атомных номеров элементов.

Электронный пучок, определяемый параметрами й, з и а, входит в камеру объекта и попадает на определенное место образца. Внутри области взаимодействия происходит как упругое, так и неупругое рассеяние, как описывалось в гл. 3, в результате чего в детекторах возникают сигналы за счет упругих, вторичных и поглош енных электронов, характеристического и непрерывного рентгеновского излучения, катодолюминесцентного излучения. Измеряя величину этих сигналов с помощью соответствующих детекторов, можно определить в месте падения электронного пучка некоторые свойства объектов, например локальную топографию, состав и т. д. Чтобы исследовать объект не только в одной точке, пучок нужно перемещать от одной точки к другой с помощью системы сканирования, как показано на рис. 4.1. Сканирование обычно осуществляется с помощью электромагнитных отклоняющих катушек, объединенных в две пары, каждая из которых служит для отклонения соответствен- [c.99]

Детектор чувствителен лишь к высокоэнергетическим отраженным электронам, а не к вторичным электронам. На детектор также воздействует рентгеновское излучение, но его вклад относительно мал по сравнению с вкладом отраженных электронов. Твердотельный детектор может также детектировать и вторичные электроны при условии, что они будут сначала ускорены до достаточной энергии соответствующими приложенными потенциалами, как в детекторной системе со сцинтиллятором [88]. [c.130]

Отсутствие наложения импульсов следует проверять в зависимости от энергии рентгеновского излучения и скорости счета. Схема должна хорощо работать для изучения с энергией, равной энергии и выще. При энергиях ниже схема часто работает менее удовлетворительно. Спектры на рис. 5.32, а и б, иллюстрирующие оптимальную регулировку системы (максимальное разрещение и максимально возможная скорость счета), демонстрируют удовлетворительное устранение наложения импульсов для кремния и почти полное несрабатывание для магния. В спектре магния наблюдается непрерывный спектр за счет наложения ниже пика удвоенной и даже утроенной энергии. В спектре кремния наблюдается только пик с удвоенной энергией, соответствующий совпадению в пределах временного разрешения схемы устранения наложения импульсов. Оценкой качества работы служит область вблизи лика удвоенной энергии кремния, который должен быть меньше 1/200 основного пика при допустимых скоростях счета в системе. [c.268]

Для проведения точного количественного анализа следует прове,рить работу цепи коррекции мертвого времени. Образование рентгеновского излучения в образце при любой энергии пучка пропорционально току пучка, бомбардирующего образец. Этот факт дает контролируемый способ изменения скорости счета на входе спектрометрической системы. Плоская мишень, состоящая из чистого элемента, наприме р железа, сканируется пучком с эне,ргией 15—20 кэВ. Ток вначале выбирается таким, чтобы скорость счета всего спектра составляла примерно 500 имп./с. Ток пучка измеряется цилиндром Фарадея. Затем строится зависимость интегрального количества импульсов в пике (пик плюс фон) от тока пучка для фиксированного рабочего времени (наприме,р, 100 с). График зависимости количества импульсов от тока будет иметь линейный характер в пределах тех скоростей счета, где механизм коррекции мертвого времени работает надлежащим образом. [c.268]

При получении изображения в рентгеновском излучении с помощью системы с дисперсией по энергии длительность съемки свыше 15 мин не является необычной. [c.300]

Пример информации, получаемой в рентгеновском излучении с помощью системы с дисперсией по энергии, приведен на рис. 6.16. Образец представлял собой композиционный материал, состоящий из вольфрамовой проволоки, погруженной в расплав алюминия при температуре 1100°С в вакууме 10 торр. Изображения в рентгеновском излучении при сканировании по площади демонстрируют отсутствие А1 в или Ш в А1. Микроснимки были получены с помощью РЭМ при ускоряющем напряжении 20 кВ и величине тока образца 10 ° А время экспозиции каждого снимка составляло 12 мпн. Изображение, приведенное на рис. 6.16, можно было бы успещно сравнивать с подобными результатами, полученными с помощью системы с дисперсией по длинам волн, однако время и усилия, затрачиваемые на получение микроснимков (рис. 6.16), в случае системы с дисперсией по длинам волн были бы значительно меньше. [c.300]

Из-за требования, согласно которому в системе с дисперсией по длинам волн источник рентгеновского излучения должен находиться точно на круге фокусировки Роуланда, сканирование по большой площади может приводить к падению интенсивности излучения на краях области сканирования. Это явление проявляется заметнее с повышением разрешения кристалл-дифракционного спектрометра. Одним из способов контроля, насколько серьезно падение интенсивности рентгеновского излучения, является получение изображений в рентгеновских лучах образца из чистого элемента для различных размеров растра. Это может быть выполнено в каждом спектрометре для каждого кристалла. К счастью, такие связанные с фокусировкой трудности отсутствуют в системе с дисперсией по энергии, которая позволяет рассматривать большую площадь образца даже при коллимации (рис. 5.41, гл. 5). [c.300]

В табл. 7.1 и 7.2 приведены исходные данные для расчета поглощения, а также перечень различных параметров %, а, Н, которые вычислялись при расчете. Для системы N1 — Ре рассматривался сплав, содержащий 10 вес. % N1 (табл. 7.1). Расчеты проводились при двух ускоряющих напряжениях 30 и 15 кВ и двух углах выхода 15,5 и 52,5°. Наименьшая поправка и самые близкие значения /(х) и f %) получается при Еа = = 15 кэВ и ч1з = 52,5°. Поглощение минимально из-за того, что рентгеновское излучение генерируется близко к поверхности и длииа пути, на котором происходит поглощение, меньше при большом угле выхода. В этом случае фактор Лы1 равен 1,05, т. е. требуется коррекция лишь на 5%. С другой стороны, при Ец = = 30 кэВ и т1з=15,5° величина поправки на поглощение составляет 1,60, что требует коррекции на 60% Фактор /(х) при таких условиях меньше 0,7 (минимального значения, установленного в [126]). Как указывалось в [126], Аг будет иметь минимальное значение при низких значениях перенапряжения и больших значениях угла выхода. [c.15]

Методы рентгеновской съемки кристаллов. Существуют различные экснеримеитальные методы получения и регистрации дифракционной картины. В любом случае имеется источник рентгеновского излучения, система для выделения узкого пучка рентгеновских лучей, устройство для закрепления и ориентирования образца в пучке и приемник рассеянного образцом излучения. Приемником служит фотопленка, либо ионизационные или сцинтилляционные счетчики рентгеновских квантов. Метод регистрации с помощью счетчиков (дифрактометрический) обеспечивает значительно более высокую точность определения интенсивности регистрируемого излучения. Из условия Вульфа—Брэгга (см. Дифракция рентгеновских лучей) непосредственно следует, что при регистрации дифракционной картины один из двух входящих в него параметров — X (длина волны) или О (угол падения), должен быть переменным. Основными методами рентгеновской съемки кристаллов являются метод Лауэ, [c.328]

С помощью рентгеновской кристаллографии можно в общем случае определить точный состав и расположение атомов почти в любой молекуле. Однако на сделанное выше заявление накладываются некоторые ограничения. Во-первых, молекула должна находиться в кристаллическом твердом состоянии, что приводит к геометрическим искажениям, возникающим при упаковке ее с соседними молекулами. Во-вторых, система не должна подвергаться фотохимическому разложению при облучении ее рентгеновским излучением в течение дня [1]. В-третьих, интересующая нас система должна образовывать подходящие для кристаллографического исследования кристаллы, исключающие две проблемы, наиболее распространенные при решении структурных задач двойнико-вание и разупорядочивание [2]. В-четвертых, число атомов, положения которых следует определить, не должно быть слишком большим. [c.360]

Имеется еще одно важное дополнительное условие. Псевдоожиженный слой является динамической системой, причем скорость движения твердых частиц и газовых пузырей равна нескольким десяткам сантиметров в 1с. Для получения требуемого сигнала за промежуток времени, достаточно малый по сравнению с необходимым для измевення положения пузыря, нужна высокая плотность рентгеновского излучения. Фотоны не только должны иметь энергию, необходимую для проникновения через слой заданной толщины, но достаточное их число должно достигать экрана или фотопластинки, дабы можно было получить изображение, например, за 0,01 с. Это означает, что сила анодного тока должна составлять несколько сот миллиампер, что близко к пределу для медицинского оборудования и на порядок выше, чем в аппаратах для исследования сварных швов. [c.129]

Единицей эквивалентной дозы в системе СИ является зи-верт (Зв). Зиверт — это эквивалентная доза любого вида излучения, которая создает такой же биологический эффект, как и поглощенная доза в один Гр образцового рентгеновского или гамма-излучения. В качестве образцового обыч1[о принимают рентгеновское излучение с энергией 200 кэВ. [c.54]

Наблюдения двухфазных течений, а следовательно, и их классификация довольно субъективны. Методы наблюдения и описания режимов течения обсуждаются, например, в [1 . Используемые методы включают высокоскоростную фотографию, исследования с помощью рентгеновского излучения и статистический анализ изменения величин, таких, как локальное давление в системе, напряжение трения на стеаке, поглощение рентгеновского излучения. Любую информацию о режимах течения следовало бы рассматривать строго в рамках метода, которым она была получена. Обычно, лучше всего стараться использовать комбинацию методов, но даже и в этом случае имеется сильный элемент субъективности. [c.183]

Важное значение для химика-неорганика имеют радиусы ионов ионные радиусы). Если кристалл состоит из ионов, например Ка С1, (Га Р5, то межионное (межъядерное) расстояние можно рассматривать как сумму ионных радиусов л. Предложены различные способы разделения межионных расстояний на слагаемые, отвечающие отдельным ионам. Соответственно известен ряд шкал ионных радиусов (Гольдшмидта, Полинга и др). Наиболее распространена в настоящее время шкала так называемых физических радиусов ионов, предложенная физиками Шенноном и Прюиттом в 1969 г. В этой системе радиусов границей между ионами считается точка минимума электронной плотности иа линии, соединяющей центры ионов. Такую систему радиусов удалось разработать благодаря появлению метода точного определения электронной плотности в кристаллах по рассеянию кристаллами рентгеновского излучения. Ионные радиусы по шкале Шеннона и Прюитта представлены в табл. 1.5 (указаны значения радиуса иона в кристаллической решетке при окружении его шестью ближайшими соседями). [c.51]

Ионы хлора образуют решетку, идентичную решетке, образуемой ионами цезия. Поэтому отражения от плоскостей, содержащих ионы хлора, возможны точно под теми же углами, что и от плоскостей, содержащих ионы цезия. В рассматриваемом случае плоскости ионов хлора располагаются точно посередине между плоскостями ионов цезия, и расстояние между этими плоскостями составляет //2. Поэтому волны, отраженные от плоскости ионов хлора, будут смещены по сравнению с волнами, отраженными от соседней плоскости ионов цезия, на величину 51п0. При нечетных п эти волны смещены на половину волны и гасят друг друга. Однако в силу различий в амплитуде колебаний рассеяния (она существенно меньше для менее интенсивно рассеивающих ионов хлора) гашение будет неполное, т. е. рефлексы наблюдаются. При четных п волны, рассеянные от обеих плоскостей, совпадают по фазе, и рассеяние от ионов хлора будет несколько усиливать рассеяние от ионов цезия. Следовательно, рассеяние от системы плоскостей, содержащих грани элементарной ячейки, более интенсивно под углами 22 и 48,52°, чем под тремя остальными углами. Рассеивание от системы плоскостей, содержащих диагонали граней элементарной ячейки, под углом 31,95° существенно сильнее, чем под углами 15,34 и 52,54°. Следовательно, распределение интенсивности между рефлексами содержит информацию о распределении атомов в пределах элементарной ячейки, т. е. о структуре частиц, составляющих ячейку. Именно этим обстоятельством определяется возможность применения дифракции рентгеновского излучения для определения структуры молекул в кристаллах. Кристаллы, построенные из сложных молекул, дают очень сложную картину распределения интенсивностей отдельных рефлексов. Однако по ней можно полностью восстановить расположение отдельных атомов в элементарной ячейке и тем самым установить полную пространственную структуру молекул, из которых построен кристалл. Используя некоторые дополнительные приемы и применяя для расчетов быстродействующие электронно-вычислительные машины, удается получить пространственную структуру даже таких сложных молекул, как белки и нуклеиновые кислоты. [c.185]

Электронный захват ведет к переходу ядра атома изотопа материнского элемента в ядро атома изотопа дочернего элемента в одиом из его энергетических состояний, стоящего в периодической системе на одну клетку влево от материнского элемента. Электронный захват сопровождается характеристическим рентгеновским излучением дочернего элемента, а в ряде случаев — у злучением. [c.319]

При съемке кристаллов белков, нуклеиновых кислот и других объектов с очень большими параметрами решетки, когда общее число отражений достигает нескольких десятков или сотен тысяч, а также при съемке кристаллов, нестабильных во времени или разлагающихся под действием рентгеновского излучения, возникает необходимость ускорения рентгеновского эксперимента. Один из естественных методов ускорения — повышение мощности рентгеновских трубок, в частности использование трубки с вращающимся анодом или переход к другим источникам мощного у-излучения. Второй метод — замена последовательного измерения отражений в обычных дифрактометрах одновременным измерением многих дифракционных пучков с помощью специальных устройств. В настоящее время разработаны так называемые многоканальные дифрактометры, оснащенные системой из нескольких (трех или пяти) параллельно перемещаемых счетчиков, которые регистрируют дифракционные лучи, возникающие одновременно (или почти одновременно) на разных слоевых линиях в процессе вращения кристалла. Эти приборы предназначены специально для кристаллов с большими периодами. В стадии технического совершенствования находятся в принципе более перспективные координатные детекторы, как олтномерные, так и двумерные. Одномерный координатный детектор позволяет измерять интенсивность всех дифракционных лучей одной слоевой линии (в том числе возникающие одновременно) с регистрацией угловой координаты (а следовательно, и индексов) каждого луча. Аналогичным образом двумерный координатный детектор позволяет регистрировать дифракционные лучи всех слоевых линий. [c.64]

Как и при позитронном распаде, электронный захват не сопровождается изменением массового числа, а у дочернего элемента заряд ядра понижается на единицу. Вновь образующийся элемент расположен в Периодической системе на одну клетку левее по сравнению с исходным. Наиболее распространен захват электрона из ближайшей к ядру /С-оболочки, реже встречается захват из Ь- и более дальних оболочек. Соответственно обозначению электронной оболочки захват называют /С-захватом, --захватом и п. Оставшееся свободное место на соответствующих оболочках ганимает другой электрон, перескакивающий с более высокого энергетического уровня. Перескок сопровождается испусканием кванта рентгеновского излучения. При переходах на /С-слой возникают рентгеновские излучения /С-серии и т. д. Этот процесс часто бывает единственным наблюдаемым эффектом происшедшего захвата электрона. [c.399]

Рентгеноспектральный микроанализ основан на возбуждении электронным зондом характеристич. рентгеновского излучения исследуемого образца (см. Рентгеновская спектроскопия). Рентгеновские микроанализаторы создают на основе просвечивающих и растровых электронных микроскопов. Они состоят из электронной пушки с системой линз для формирования электронного зонда, рентгеновского спектрометра, к-рый разлагает излучение в спектр и преобразует его в электрич. сигналы, и регистрирующей системы. В приборе поддерживается высокий вакуум. По спектру характеристич. рентгеновского излучения определяют атомные номера элементов, а по интенсивности спектральных линий — их концентрации. Метод примен. для качеств. и количеств, определения всех хим. элементов, начиная с В абсолютные и относит, пределы обнаружения соотв. 10" —10 г и 10 —10 %. Относит, стандартное отклонение при количеств, анализе 0,02—0,05. Объем образца, к-рый можно анализировать данным методом, зависит гл. оор. от энергии первичных электронов [1—50 кэВ, или (0,16—8)-10 Дж], плотности образца, степени поглощения излучения и составляет 0,1—10 мкм . Рентгеноспектральный анализ примеп. для определения состава микровключений, распределения элементов в тонких слоях и фазового анализа твердых в-в, [c.701]

Смысл различия между реальным и живым временами иллюстрирует рис. 5.28. Расположенные через равномерные интервалы тактовые импульсы в точке 9 (рис. 5.29) соответствуют фактически истекшему времени (реальное время). По величине оно, однако, может отличаться от живого действующего времени, которое фактически представляет собой период, в течение которого система не занята обработкой имлульсов. На рис. 5.29 видно, что в показанном временном интервале укладывается 14 импульсов реального времени (точка 9). В течение этого периода импульс задержки цепи контроля мертвого времени (точка //), вырабатываемый комбинацией сигналов от работающих усилителя (точка 6) и многоканального анализатора, ограничивает число импульсов живого времени (точка 10) для того же интервала реального времени только до трех. Влияние такой потери импульсов иллюстрируется на рис. 5.33, где показано, что только при низких скоростях счета (меньше 2000 имп./с) скорости счета на входе многоканального анализатора и главном усилителе равны. По причине, описанной выше, по мере увеличения скорости счета на входе усилителя влияние наложения И мпульсов становится все более ощутимым, особенно при больших постоянных времени усилителя. Поэтому при качественном анализе для достижения желаемого уровня точности, основанного на статистике счета, может возникнуть необходимость производить счет в течение большего периода, чем предполагаемый на основе реального времени. При количественном анализе во всех случаях должно использоваться живое время, поскольку отношения интенсивностей рентгеновского излучения с образцов и эталонов при одинаковых условиях измерения служат исходными данными для всех моделей количественных поправок. Рис. 5.33 демонстрирует также, что увеличение скорости счета на входе усилителя при изменении тока зонда или при перемещении детектора ближе к образцу будет приводить сначала к линейному увеличению скорости счета на входе многоканального анализатора, за которым следует нелинейная область, в которой скорость счета на входе многоканального анализатора растет медленнее, чем на входе главного усилителя. В конечном счете достигается ситуация, когда увеличение скорости счета на входе главного усилителя в действительности приводит к уменьшению скорости счета многоканального анализатора. Дальнейшее увеличение скорости счета приводит по существу к 100%-ному мертво му времени и, следовательно, к общей блокировке системы. Рис. 5.33 иллюстрирует также, что начало различных отмеченных областей определяется выбором рабочих кривых на основе критерия приемлемого разрешения. [c.229]

Общая квантовая эффективность есть выраженная в процентах часть всего входящего б спектрометр. рентгеновского излучения, которая подсчитывается. При низ ких тока.х пучка системы, содержащие спектрометры с дисперсией ио энергии, имеют обычно больщую скО рость счета на единицу тока, что обусловлено частично более высокой геометрической эффективностьк> сбора и частично более высокой собственной квантовой эффективностью детектора. Графики рис. 5.51, рассч итанные в [54],. демонстрируют, что детектор толщиной 3 мм в соединении с 8-микронным окном из Ве будет регистрировать почти 100% падающего на детектор рентгеновского излучения с энергией в. [c.257]

Метод получения изображения рентгеновском излучении при сканировании по площади представляет по существу растровый рентгеновский микроскоп. Усиленный сигнал от детекторной системы—спектрометра с дисперсией по энергии или кристалл-дифракционного спектрометра — используется для модуляции яркости электронно-лучевой трубки (ЭЛТ), которая сканируется синхронно с электронным пучком. Таким образом, изображение на экране ЭЛТ получают за счет изменения интенсивности рентгеновского излучения с поверхности образца. Здесь используется такая же система развертки с регулировкой увеличения и такой же усилитель, что и в растровом электронном микроскопе (гл. 4). Электронный пучок может сканировать по линии в направлениях X или У и давать распределение рентгеновского излучения по линии. Пример типичного сканирования по линии для Со и Сг по поверхности окисленного высокотемпературного сплава приведен на рис. 5.14 (гл. 5). Электронный пучок можно, конечно, развертывать и по площади н получать изображение в рентгеновских лучах. Изображение в рент-геповски.х лучах при сканировании по площади может содержать тона от черного до белого в зависимости от условий эксперимента. Места с высокой концентрацией исследуемого элемента в пределах области сканирования будут на изображении почти белыми, серыми, когда концентрация элемента ниже, и черными всюду, где элемент отсутствует. Пример, иллюстрирующий результаты исследования руды, приведен на рис. 6.15. [c.296]

Когда для получения изображения в рентгеновском излучении используется система с диоперсией по энергии, следует принять меры предосторожности для исключения влияния пиков других элементов на сигнал исследуемого элемента. Если же происходит перекрытие пиков, то для удовлетворительного их [c.296]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология