Источник ионов с ионной бомбардировкой

Примерно в то же самое время, когда Астон построил свой первый масс-спектрограф, Демпстер [455] также сконструировал прибор для разделения пучков положительных ионов. Этот прибор имел более простую конструкцию, но не позволял проводить такие точные измерения, как прибор Астона, однако он был более пригоден для измерения относительной интенсивности ионов благодаря применению электрической схемы усиления и регистрации ионных токов. Применение ионного источника с электронной бомбардировкой позволило исследовать продукты диссоциативной ионизации, образующиеся в газах и парах под воздействием электронного удара. [c.15]

Другой метод состоит в измерении двух напряжений, из которых каждое соответствует примерно 50% интенсивности ионного тока данного пика искомое напряжение получается суммированием двух величин. Даже в том случае, когда выходная щель равна по ширине входной, установить точное положение максимума затруднительно, поскольку наклон в этой области мал. Было показано [184], что распределение интенсивности ионов по входной щели (имеющей ширину около 0,25 мм) неоднородно в масс-спектрометрах с простой фокусировкой и при использовании источников с электронной бомбардировкой возникает уменьшенное изображение области ионизации вблизи входной щели. Это вызывает резкий пик (выброс) в распределении интенсивности по ширине входной щели и приводит к эффекту более узкой виртуальной щели. Дополнительное уменьшение выходной щели обеспечивает получение резко очерченного пика, облегчает установление положения максимума и позволяет увеличить разрешающую способность секторного прибора с радиусом 150 мм примерно в 1000 раз. Более удовлетворительный метод установления положения максимума состоит в графическом изображении производной пика этот метод широко применяется в нашей лаборатории. Так как скорость изменения кривизны больше в максимуме (если выходная щель не шире входной), то положение последнего легче определить, особенно когда величина произвол- [c.55]

Источники с электронной бомбардировкой, используемые обычно на секторных масс-спектрометрах, снабжены, как правило, вспомогательным магнитом источника , магнитное поле которого, ориентированное по направлению электронного пучка, составляет несколько сот эрстед. Был сконструирован ряд источников без этого магнитного поля [216, 360, 361], однако до сих пор источники с вспомогательным магнитом имеются почти во всех аналитических, приборах, так как наличие магнита обеспечивает образование в источнике ионов на эквипотенциальной поверхности и улучшает разрешение и чувствительность. Общепринято мнение, что работа с подобным магнитным полем вводит нежелательную дискриминацию по массам, однако до сих пор не была проверена возможность включения влияния этого поля при вычислении дискриминации, возникающей в источнике. Инграм [1012] установил, что дискриминация масс, вызванная указанным выше фактором, не изменяется, если отношение этого поля к полю основного магнита поддерживается постоянным,. В этих условиях сравнительные измерения могут быть проведены с удовлетворительной точностью. Однако изменение траектории электронов, связанное с изменением поля источника, вызывает изменение траектории положительных ионов, что приводит к меняющейся дискриминации. Поэтому единственным путем устранения одной из причин дискриминации по массам может быть лишь исключение этого поля. Изменение электростатического ускоряющего или магнитного полей приводит к изменению поля внутри ионизационной камеры, однако эти колебания могут быть сведены к минимуму при тщательном расчете прибора. Было показано [1068], что колебания магнитного или электростатического полей в ионизационной камере приводят, благодаря смещению электронного пучка, к незначительным систематическим ошибкам при измерении относительного содержания различных ионов. Из-за смещения электронного пучка и изменения условий образования объемного заряда [108] в источнике ионы образуются в различных точках, что обусловливает дискриминацию,. [c.76]

Многие элементы не могут быть проанализированы в источнике с электронной бомбардировкой ввиду отсутствия соединений, обладающих достаточной летучестью. Другие типы ионных источников рассмотрены в гл. 4 там же перечислены элементы, исследуемые на этих источниках. Метод, используемый для изучения любого данного элемента, может быть установлен на основании литературы, приведенной в приложении 3. Некоторые из специальных методов используются даже тогда, когда имеется достаточно летучее соединение. Так, например, при исследовании небольшого количества вещества эффективен источник с поверхностной ионизацией. [c.95]

Применение двойного коллектора имеет преимущество даже при работе с ионными источниками с электронной бомбардировкой [167], которые намного стабильнее искровых источников. Обычно при системе с двойным коллектором непрерывно регистрируется отношение двух пиков. Это фактически исключает ошибки, связанные с флуктуациями полной интенсивности ионного пучка, Используя такой метод, Нир, Ней и Инграм смогли сравнивать относительные распространенности изотопов в двух образцах с очень близким изотопным составом. Величины отношения распространенностей были порядка 100. Оказалось, что возможно сравнение этих отношений с точностью приблизительно 0,05%. [c.97]

Важным преимуществом источников рассматриваемого типа является то, что ионизация сложных молекул может осуществляться с диссоциацией или без нее кроме того, количество и типы осколочных ионов могут изменяться в зависимости от энергии ионизирующих электронов, и с помощью масс-спектров могут быть получены сведения относительно структурной формулы ионизируемых молекул. Ионы, образующиеся в источнике с электронной бомбардировкой, характеризуются одинаковой энергией в пределах 0,05 эв. Вследствие большой разницы в массах электрона и бомбардируемой молекулы последняя будет получать при электронном ударе незначительную кинетическую энергию. Так как пучок ионизирующих электронов узкий, ионизационная камера представляет собой область, практически свободную от полей, и ионы образуются на более или менее эквипотенциальной поверхности, то они будут получать одинаковую энергию от ускоряющих полей. Благодаря тому что образующиеся ионы имеют небольшие различия в энергиях, источники с электронной бомбардировкой особенно пригодны для масс-спектрометров с простой фокусировкой, без фокусировки по скоростям. [c.116]

Ионные источники с электронной бомбардировкой 117 [c.117]

Нормальный масс-спектр отражает зависимость содержания положительно заряженных частиц, образующихся при электронной бомбардировке молекул исследуемого соединения, от их массы. Само соединение должно присутствовать в парообразном состоянии при довольно низком давлении, приблизительно от 10 до 10 мм рт. ст. в ионном источнике. Положительные ионы (молекулы и их осколки), образующиеся в результате потери молекулой электрона при электронном ударе, который в ряде случаев сопровождается образованием осколков (см. стр. ЗЮ), ускоряются электрическим полем и отклоняются в магнитном поле. Непрерывное изменение одного из этих полей фокусирует одну массу за другой на щели коллектора, и сигнал после соответствующего усиления регистрируется. Полярность электрического поля такова, что по направлению к магнитному полю ускоряются только положительно заряженные частицы все отрицательные частицы перемещаются в обратном направлении и теряются. Неионизированные молекулы и незаряженные осколки непрерывно откачиваются вакуумными насосами. [c.302]

Источник ионов. Источник ионов служит для образования ионов из молекул анализируемого вещества и создания направленного пучка ионов. Ионы могут быть получены различными путями [15], однако чаще всего для исследования органических соединений используются ионные источники с электронной бомбардировкой. При этом предполагается, что объект исследования находится в газовой фазе при давлении около 10 мм рт. ст. Для большинства органических веществ это требование вполне выполнимо. Для изучения соединений с более низкой летучестью источник с электронной бомбардировкой используется в сочетании с вакуумной печью. [c.19]

Этот тип ионного источника является одним из наиболее широко распространенных. Все отечественные статически , масс-спектрометры имеют в своем комплекте источник с электронной бомбардировкой. [c.106]

Особенности устройства источника зависят от давления анализируемого материала при различных температурах. При испарении возникают дискриминации по массам, и для получения правильного результата необходимо ввести поправку. Наибольшие неприятности могут быть связаны с эффектом памяти . Схема типичного ионного источника с электронной бомбардировкой представлена на рис. 1. [c.106]

Рис. 1. Схема ионного источника с электронной бомбардировкой, входящего в комплект масс-спектрометров единой серии

Для изучения возможностей ионного источника с электронной бомбардировкой была проделана большая работа Шеффером [68]. Автор пытался повысить эффективность использования образца за счет изменения конструкции ионизационной коробочки, а также применения усиленного магнитного поля в области источника. В созданной конструкции район ионизации почти полностью замкнут, что сокращает вклад ионов-продуктов разложения на катоде—и уменьшает, таким образом, фон. Усиленное магнитное поле в источнике лучше коллимирует электронный пучок, разрешает использовать более высокие потенциалы ионизации, что увеличивает выход ионов. [c.108]

Одноленточный источник сходен с источником с электронной бомбардировкой тем, что в нем сохраняется система ионной пушки три остальных системы источника с электронной бомбардировкой отсутствуют. [c.114]

При использовании низких энергий ионизирующих электронов, близких к потенциалам ионизации (в источниках с электронной бомбардировкой), очень важно добиться постоянства энергии электронов. Даже малые изменения этих энергий, вызываемые колебанием величины работы выхода катода или значений контактных потенциалов, могут оказать сильное влияние на результаты исследований. Непостоянная эмиссия электронов, обусловленная образованием нитратов на катоде при реакции вольфрама с углеводородами и азотсодержащими веществами, сильно сказывается, когда потенциалы появления ионов различных соединений отличаются незначительно. Энергия электронов определяет и вероятность образования различных изотопных разновидностей, в связи с чем выбираются наиболее удобные ионы для регистрации (молекулярные или осколочные). Широкий диапазон потенциалов появления различных ионов соединения при ионизации двухатомных молекул позволяет без труда останавливаться на любой ионной разновидности при определении изотопной распространенности. В качестве примера можно привести разновидности ионов, образовавшиеся в результате электронной бомбардировки молекул СО [80]. Окись углерода применяется как [c.138]

Масс-спектры азометинов, азосоединений, азоксисоединений и сложных эфиров, полученные при использовании источника с электронной бомбардировкой, характеризуются высокой специфичностью, определяемой, в основном, строением мостиковой группы. Индивидуальное соединение может быть идентифицировано по 3—4 характеристическим пикам ионов. Получае.мая информация включает данные о типе соединений, молекулярных. массах, размерах и строении заместителей. [c.88]

Электронный спектрометр должен включать 1) источник излучения для бомбардировки образца 2) энергетический анализатор 3) детектор электронов 4) систему обеспечения глубокого вакуума. Весь прибор необходимо экранировать от магнитного поля Земли. Некоторые приборы оснащают дополнительными устройствами, например источником ионов (ионной пушкой). [c.264]

Принципиально масс-спектрометр состоит из четырех блоков системы напуска, ионного источника, системы магнитной фокусировки и детектора (рис. 1). В системе напуска образец анализируемого вещества испаряют в вакууме. Образовавшиеся пары поступают в ионный источник, где подвергаются бомбардировке пучком ускоренных электронов (энергия обычно порядка десятков элек-тронвольт). Энергия облучения расходуется на выбивание электронов из молекул анализируемого вещества — последние превращаются в положительно заряженные ион-радикалы. Такие частицы высоко реакционноспособны и нестойки. Тут же в ионизационной камере они претерпевают распад на заряженные и незаряженные осколки (отсюда название метода осколочная масс-спектрометрия ). Вся ионизационная камера находится под высоким по- [c.66]

Твердые, прочные, плохо растворимые вещества — такие, как алмаз, кварц, карбиды, нитриды, кремний и различные минералы анализируют, используя лазерные и искровые источники ионов или источники ионов с бомбардировкой пробы быстрыми атомами и осколками деления ядер, а также источник ионов с тлеющим разрядом [ 2, 22, 23, 32, 49, 70]. Ионы, полученные методом искрового разряда, обычно анализируют на приборах с двойной фокусировкой, поскольку такой источник дает ионы с большйм разбросом по энергии, достигающим нескольких кэВ. Остальные перечисленные источники ионов могут работать с любыми анализаторами в зависимости от решаемой задачи. [c.863]

При анализе труднолетучих неорганических веществ наиболее часто лрименяют искровые источники ионов. На рис. 13.2 приведена схема искрового источника ионов. Два электрода — анализируемый образец ) и дисковый электрод 2 —соединены с вторичной обмоткой источника переменного напряжения 5 радиочастотного диапазона ( - 1 МГц). Вакуумную искру получают при приложении напряжения между электродами и 2. Если напряжение достаточно для получения электрической искры (20—40 кВ), то на электроде 1 вследствие нагрева твердое вещество испаряется и поступает в пространство между электродами. В этом пространстве при бомбардировке электронами, появляющимися при разряде, образуются ионы. Ионы с помощью фокусирующего электрода 4 направляются на входную щель 5 масс-анализатора, где они в соответствии с отношением массы к заряду т/е разделяются. В приборах с двойной фокусировкой разделение ионов по массам достигается комбинированным воздействием электрического и магнитного полей. [c.222]

Ионная бомбардировка представляет собой,, несомненно, наиболее сильный и эффективный метод электризации твердых частиц, однако селективность этого метода практически равна нулю. Если объединить этот процесс с электризацией методом индукции, то селективность такого комбинированного метода будет очень хорошей. Электризация с помощью подвижных ионов в действительности не является электростатическим процессом, хотя обычно этот термин применяют для описания любого процесса обогащения с использованием электрического поля высокого напряжения. В последние годы термин высокое напряжение стал благодаря постоянному употреблению общепринятым названием таких процессов, включая и ионную бомбардировку. В процессе высокого напряжения подвижные ионы образуются у светящегося электрода, который является причиной коронного разряда и, служа источником подвижных ионов, одновременно сообщает им и направление. Если диэлектрическую и проводящую ча-, стицы поместить на пути подвижных ионов, то часть поверхности каждой частицы получит сильный электрический заряд. На проводнике этот заряд перераспределится почти мгновенно, тогда как на непроводнике перераспределение такого же заряда будет чрезвычайно медленным. Если на заземленную поверхность на пути заряженных ионов поместить группу заряженных частиц, то будет обнаружено, что при преграждении движения подвижных ионов частицы проводника свободно покинут заземленную поверхность, заряд их уйдет в землю. С другой стороны, диэлектрики, или частицы непроводника, которые неспособны быстро терять свой заряд, удержатся иа поверхности своей собственной силой отражения. Теория электростатического отражения дает только метод рещения уравнений Лапласа и Пуассона путем рассмотрения условий симметрии. Другими словами, процесс будет описываться этими уравнениями, если принять, что частица равного и противоположного заряда становится в положение зеркального изображения по отношению к заземленной поверхности и данной частице. Сила этого отражения Р= = QQj/4яeo(2s)2, где Q=Q —полный поверхностный заряд на минерале 5 — расстояние от заряда до заземленной поверхности ео —сила ионного поля. [c.367]

К нулю, М/АМ = 1/р и не зависит от радиуса магнитного поля секторной формы. Несмотря на то, что приведенное выше уравнение не исключает все трудности, оно позволяет определить точку, в которой можно достигнуть наилучшего разрешения для данного прибора, независимо от размера щелей. Эффективная ширина щелей источника и коллектора должна быть меньше их действительных размеров [178, 414]. В обычных конструкциях источников с электронной бомбардировкой интенсивность ионного пучка поперек щели источника неравномерна щели ведут себя, как система линз, и вызывают уменьшение возможного объекта по сравнению с размером щели источника. Если В конструкцию коллекторной щели включена задерживающая щель, то она играет роль линз, зеркала и потенциального барьера. При изменении потенциала задерживаюш,ей щели свойства линзы могут быть использованы для регулировки эффективной ширины коллекторной щели в широком диапазоне. При эффективном ограничении щелей коллектора и источника указанным выше способом может быть достигнуто лучшее разделение пары налагающихся пиков, чем это казалось возможным при рассмотрении действительной ширины используемых щелей. [c.65]

Ни один из стабильных изотопов кислорода, азота, углерода или водорода не был открыт масс-спектроскопически, хотя первые точные определения распространенности были сделаны именно этим методом. В ранних работах кислород был признан элементом, состоящим из одного изотопа, и масса была выбрана в качестве эталона масс. Открытие в атмосферном кислороде и в результате изучения полос поглощения кислорода было осуществлено в 1929 г. [738, 739]. За этим быстро последовало открытие и С, проведенное также оптическими методами. Дейтерий не был идентифицирован до 1932 г. Первые определения относительной распространенности изотопов кислорода [81], азота [2076], углерода [82] и водорода [224] масс-спектрометрическим методом были осуществлены несколько лет спустя после открытия изотопов. В отличие от ранних работ, где ошибки возникали при обнаружении и интерпретации массовых линий, поздние измерения проводились с применением масс-спектрометра и ионного источника с электронной бомбардировкой. Возросшая точность идентификации ионов, относимых к каждому массовому пику, привела к открытию многих новых изотопов. Примером прогресса, вызванного более широкими возможностями используемых источников, может служить открытие Ниром [1492] изотопов кальция с массами 46 и 48. Более ранняя работа [83] свидетельствовала о наличии изотопов с массами 40, 42, 43 и 44. Для получения ионного пучка Нир испарял металлический кальций в пучок электронов и получил ионный ток больше 10 а для наименее распространенного изотопа кальция ( Са), присутствующего в количестве лишь 0,003% от изотопа <>Са. При изменении температуры печи в пределах, соответствующих 10-кратному изменению давления, пики с массами 46 и 48 оставались в постоянном соотношении к пикам с массой 40. Это доказывало, что указанные выше пики относятся к малораспространенным изотопам кальция, а не вызваны наличием примесей. Дальнейшее подтверждение существования малораспространенных изотопов было получено изменением энергии ионизирующих электронов и установлением зависимости между изменением интенсивности пучка ионов для каждой массы и изменением энергии электронов. В пределах ошибки эксперимента все ионы обладали одним и тем же потенциалом появления и одной и той же формой кривой эффективности ионизации. Сходные измерения были проведены с использованием двухзарядных атомных ионов. На пики с массами 24 и 23 налагались пики, обусловленные примесью магния и натрия. Эти ионы примесей могли быть обнаружены по их гораздо более низкому потенциалу появления по сравнению с потенциалами двухзарядных ионов кальция. Оказалось возможным провести измерение ионов ( Са) , вводя поправку на присутствующие ионы однако более значительные количества < Ыа) помешали определению ионов кальция при этом отношении массы к заряду. [c.71]

Величины распространенности изотопов всех элементов, Б стречающихся в природе, приведены в приложении 3. Не все элементы могут быть превращены в газ для анализа на ионном источнике с электронной бомбардировкой. Поэтому для определения распространенностей изотопов применяются различные типы ионных источников. [c.94]

В приборах, имеющих 180-градусный магнитный сектор, ионный источник расположен в области магнитного поля, но в 90-градусных приборах поле должно создаваться вспомогательным магнитом. Наличие такого поля [1681, 2034] вызывает дискриминацию изотопных ионов (гл. 3) особенно в тех случаях, когда вспомогательное магнитное поле не изменяется в соответствии с главным магнитным полем [386]. Ионизационная камера изготавливается из немагнитных материалов, чтобы исключить искажение магнитного поля в области ионизации. Несмотря на то, что были описаны приборы с секторным магнитным полем, в которых источник находится вне магнитного поля, их использованию для анализов препятствует недостаточная чувствительность, вызванная отсутствием такого поля [216, 360, 361]. Чувствительность ионного источника с электронной бомбардировкой (например, в масс-спектрометрах типа MS-8 фирмы Metropolitan-Vi kers как функция выталкивающего напряжения, измеряемого относительно стенок ионизационной камеры) изображена на рис. 33. Для небольших количеств образца на графике наблюдаются два максимума, соответствующие выталкивающему напряжению — 2 б и +3- —1-5 в в зависимости от метода настройки. [c.117]

В некоторых случаях желательно отбирать одновременно два или более ионных пучка. Впервые это сделал Штраус [1960] при определении изотопного состава никеля. Он использовал искровой источник, в котором интенсивность ионного пучка сильно изменяется во времени. Благодаря одновременному отбору и измерению двух пучков, соответствующих различным изотопам, Штраусу удалось преодолеть эффект флуктуаций. Позднее двухколлекторные системы были испольвованы Ниром [1503] в сочетании с источниками с электронной бомбардировкой для определения распространенностей изотопов. Это применение описано в гл. 3. Схема коллекторной системы Нира приведена на рис. 95. Основное отличие ее от одноколлекторной системы состоит в том, что щель коллектора изолирована от земли, в результате чего она может выполнять функцию второго коллектора ионов перед комбинированной щелевой коллекторной пластиной помещают две широкие щели, которые подавляют электроны и определяют конфигурацию пучка. На схеме также показаны три заземленных защитных кольца, которые служат для того, чтобы помешать токам утечки достигать коллекторов. [c.209]

Прежде чем перейти к рассмотрению путей образования осколочных ионов, следует кратко остановиться на условиях, при которых получается масс-спектр в источниках с электронной бомбардировкой. Образец под давлением менее 10" мм рт. ст. проходит через узкий пучок ионизирующих электронов в ионизационную камеру. Среднее значение длины свободного пробега молекул составляет около 1000 см для предотвращения нежелательных столкновений между молекулами или ионами систему непрерывно откачивают. Энергия бомбардирующих электронов (обычно 50—100 эв) значительно выше первога ионизационного потенциала молекулы ( 10 эв). Электроны, обладающие энергией 50 эв, движутся со скоростью 4,2 х 10 см сек и сталкиваются с молекулой диаметром 10 А через 2,4-10"сек. Эта величина представляет собой только около V40 периода наиболее быстрых молекулярных колебаний в органических молекулах (валентных колебаний СН). Таким образом, 1 нфигура-ция атомных ядер в молекуле будет очень мало изменяться при прЪхождении ионизирующих электронов значительно будет изменяться только положение и энергия электронов в молекуле. Вследствие большого различия в массах ядер "иионизирующих электронов энергия, переданная ионизирующим электроном ядру, будет значительно меньше той, которую получит валентный электрон. При прохождении ионизирующего электрона на расстоянии примерно Уг А от одного из валентных электронов последний отрывается от молекулы и образуется молекулярный ион. Такой процесс образования иона носит название вертикального или франк-кондоновского обычно ион образуется не в основном состоянии. Любые последующие электронные перегруппировки в ионе будут осуществляться быстрее, чем произойдет заметное изменение положения ядер. [c.249]

В органической химии подавляющая часть работ выполняется на приборах с ионизацией газовой фазы исследуемого вещества электронами с энергией 10—70 эв. Парциальное давление исследуемого вещества обычно лежит в пределах 10 —10 мм рт. ст. Нижний предел определяется чувствительностью системы, регистрирующей образующиеся ионы, и фоном (остаточным газом) источника, а верхний предел — образованием объемного заряда и ионномолекулярными реакциями. Для изучения соединений с более низкой летучестью источник с электронной бомбардировкой используется в сочетании с вакуумной печью или с прямым (непосредственным) вводом вещества в область ионизации [31, 32]. [c.21]

Почти все масс-спектрометристы, имеющие дело с газовыми образцами, применяют ионный источник с электронной бомбардировкой, схема которого изображена на рис. 9. При измерении изотопного состава элементов методом раскомпенсации следует обратить особое внимание на некоторые факторы, определяющие оптимальную работу ионного источника. [c.61]

Важнейший результат упомянутых работ — открытие нового источника положительных ионов, выдерживающего сравнение по постоянству и удобству работы с ним с известными источниками электронов. Это побудило к постановке ряда физических и химических исследований по активированию реакций толчками ионов, аналогичных описанным ранее опытам с электронами. В результате был проделан целый ряд работ по активированию азото-водород-ных смесей при синтезе аммиака по определению работы выхода по бомбардировке металлических поверхностей по рассеиванию заряженных частиц поверхностями по возбуждению и ионизации газов и паров по поведению газов при прохождении через них ионов по определению величины электрического заряда положительных ионов по бомбардировке и возбуждению солей, как например хлористого лития положительными ионами, полученными из катализатора. Ряд различных и общих свойств электронов и ионов был исследован при одинаковых экспериментальных усл овиях. [c.71]

Ионный источник с электронной бомбардировкой входит в комплект масс-спектрометров единой серии, выпускающихся СКВ АП АН СССР Ленинграда. Источник с электронной бомбардировкой имеет во многих случаях одинаковую чувствительность по компонентам смеси, допускает значительное число анализов газообразных веществ без разборки, дает возможность снятия масс-спектра в большом диапазоне масс. Несмотря на эти преимущества, источник с электронной бомбардировкой считается малоперспективным для анализа малых количеств. Палмер [1] называет количество 500 мкг вещества, необходимого для газового анализа на обычном масс-спектрометре, в то время как на масс-спектрометре для твердой фазы достаточно 1 мкг. Использование источника с электронной бомбардировкой для анализа смесей и особенно микропримесей затруднено из-за наличия фонового масс-спектра, обусловленного газовыделением со стенок вакуумной системы и горячего катода источника, десорбцией с вакуумных поверхностей веществ, которые перед этим анализировались в приборе, обратной диффузией газов из ловушек и насосов. [c.107]

Использование для анализа веществ источника с электронной бомбардировкой требует поддержания высокой чистоты всей вакуумной системы прибора, так как газы, десорбирующиеся с вакуумных поверхностей, могут пройти в ионный источник. Из-за наличия горячего катода область ионизации имеет температуру более высокую чтобы уменьшить десорбцию со стенок ионизационной камеры, вакуумная система должна быть очень чистой. [c.108]

Ингрэм [46] обсуждал перспективы развития источника с ионной бомбардировкой применительно к определению микрокомпонентов. Если использовать ультравакуумную технику, то метод мог бы позволить определить следы некоторых элементов в концентрациях 1.10" % и ниже. [c.126]

Главные недостатки источника с ионной бомбардировкой следующие 1. Эффективность ионизации для различных элементов меняется в широких пределах. Это делает обязательной калибровку. 2. Поверхность образца должна быть очище- [c.126]

На основании этих работ механизм вторичного почернения можно представить следующим образом. Плотность почернения зависит главным образом от первичного заряда ионов, плотности ионного тока и сопротивления пластины. При бомбардировке ионно-чувствительного слоя первичными ионами образуются отраженные первичные и различные вторичные частицы электроны, положительные и отрицательные ионы и нейтральные частицы, причем две последние категории характерны в основном для желатинного покрытия и зерен AgBr. В случае высокой плотности первичного тока на поверхности образуется положительный потенциал в несколько тысяч вольт, который затем служит источником вторичных ионов. Поле магнитного анализатора вынуждает ионы двигаться по полукруговой траектории (рис. 4.8) и образует спектр вторичных ионов, сдвинутый в направлении больших масс относительно первичных линий. Расшифровав вторичную линию по соседству с такой линией основы, как Н+, можно установить поверхностный потенциал первичной линии и рассчитать массы других вторичных ионов. Для получения подробного вторичного спектра желатины, который включает 9 [c.131]