Масс-спектры приборы для регистрации

Рис. 5.15. Коллектор для электрической регистрации, снижающий непрерывный фон в масс-спектре прибора с искровым источником ионов.

До 1950 г. основное внимание в работах по масс-спектро-метрии уделялось конструированию приборов, особенно ионных источников [4]. Для регистрации малых ионных токов были созданы соответствующие электронные лампы и усилители постоянного тока [5]. Применение электронных схем питания электромагнита и ускоряющего напряжения и конструирование удобных регистрирующих приборов привели к созданию масс-спектрометра с автоматизацией всех основных узлов [6]. Были также решены проблемы напуска газов и летучих соединений. К 1950 г. была в основном решена проблема создания хорошего и быстрого метода расчета результатом. [c.7]

Прямая регистрация масс-спектров или ИК-спектров элюируемых из колонки компонентов разделяемых смесей при использовании комбинированных приборов газовый хроматограф — масс-спектрометр и газовый хроматограф — ИК-спектрометр с целью определения молекулярной структуры идентифицируемых соединений . [c.163]

Из уравнения (4) следует, что радиус кривизны траектории ионов (г) зависит от величины ускоряющего напряжения ( 0, а также напряженности магнитного поля В). Варьируя их значения, можно изменять радиус кривизны траектории ионов. Этот принцип используется в масс-анализаторе на стадии подачи ионов разной массы в детектор 6. Процесс непрерывного изменения параметров V и В, который применяют для регистрации масс-спектров, называется сканированием. Самый быстрый и простой способ сканирования заключается в изменении ускоряющего напряжение V при постоянной напряженности магнитного поля В. Однако на практике этим способом не пользуются, поскольку при таком режиме работы масс-анализатора происходит расфокусировка прибора и теряется чувствительность. Поэтому обычно применяют сканирование магнитного поля, чаще всего по экспоненциальному закону - с движением вниз от больших масс к меньшим при этом ускоряющее напряжение поддерживается постоянным. [c.49]

На рис. 4.2 приведены принципиальные схемы двухфокусных масс-спектрометров, в которых реализованы геометрические принципы Н[ира-Джонсона (а) и Маттауха-Герцога (б). В первом из них регистрация масс-спектров осуществляется путем сканирования напряженности магнитного поля. Регистрация масс-спектров в приборе Маттауха-Герцога проводится на фото- [c.50]

Масс-фрагментография, которую называют также селективным ионным или многоионным детектированием, является методом, в котором масс-спектрометр служит не для записи полных масс-спектров, а для непрерывной регистрации одного или нескольких выбранных ионов при введении в прибор смеси анализируемых веществ. Этот метод предназначен для обнаружения и количественного определения конкретного соединения или группы родственных соединений в смесях. Существуют два варианта метода масс-фрагментографии. В одном из них, называемом масс-хроматографией и предназначенном для анализа летучих соединений, используют газохроматографический ввод исследуемых образцов. В другом, называемом масс-термографией, применяют систему прямого ввода. Этот вариант может быть адаптирован для исследования низколетучих соединений. [c.194]

Масс-спектрометр — прибор, служащий для разделения ионов под действием электрического и (или) магнитного поля в соответствии с отношением массы ионов к заряду (т/е). На масс-спектрометре измеряют величину этого отношения и определяют содержание различных ионов. Масс-спектр в виде спектрограммы или таблиц содержит величины те/е разделенных ионов и соответствующие им интенсивности. Регистрация масс-спектров проводится обычно с помощью фотопластинок. Для определения концентрации примесей строят характерную кривую зависимости экспозиции Е (или lg Е) от плотности (или некоторой функции плотности) линии основного элемента или стандарта. [c.172]

Фокусировка по направлению, которая должна была быть получена согласно оптической аналогии с системой линз, отсутствует действие полей аналогично действию ахроматической системы призм. Здесь в пучке, однородном по массе, но неоднородном по энергии, дисперсия, обусловленная электростатическим полем, приводит к спектру по скоростям. Эта дисперсия компенсируется магнитным полем. Линии фокуса ионов с различным отношением массы к заряду лежат в одной плоскости. Таким образом, для регистрации всего масс-спектра может быть использована фотопластинка. Позднее на основе прибора Астона были сконструированы масс-спектроскопы [1473, 1990] и другие устройства с фокусировкой по скорости [1760]. [c.18]

Когда развертка масс-спектра осуществляется при постоянном электростатическом напряжении путем изменения напряженности магнитного поля, то массовые числа для всех пиков в спектре часто определяются непосредственно при регистрации на ленте диаграммы при этом допускается, что расстояние между соседними пиками сохраняется постоянным. Отсчет начинают от пика с известной массой. Это легко может быть сделано в том случае, когда спектр состоит из больших групп пиков, компоненты которых отличаются на одну массовую единицу. Однако в других случаях не представляется возможным определить массовое число для каждого пика вследствие эффекта насыщения магнита, изменения расстояния между пиками при работе на чувствительных диапазонах приемной схемы и появления многозарядных и метастабильных ионов, которые делают спектр более расплывчатым пробелы в 20—30 массовых единиц между реперными пиками также затрудняют определения. Для уменьшения этих пробелов , наряду с неизвестным соединением, в прибор вводят вещество, масс-спектр которого известен. Применение весьма удобной системы двойного напуска позволяет сделать это быстро и, в случае надобности, так же быстро удалить введенное вещество, если оно дает наложение на спектр исследуемого соединения. Такая система описана в гл. 3, а соответствующие вещества, используемые для этой цели,— в гл. 9. [c.57]

Положительные ионы, бомбардирующие поверхность, могут также выбить отрицательные ионы веществ, адсорбированных на металлической поверхности [67, 1867]. Шарки и Фридель [1819] использовали 180-градусный прибор с простой фокусировкой для исследования образования отрицательных пиков в масс-спектрах азота, кислорода, окиси и двуокиси углерода. В таких приборах коллектор находится в магнитном поле. Они наблюдали отрицательные пики частиц, масса которых на 2 единицы меньше массы соответствующего положительного иона интенсивность пика отрицательного иона являлась линейной функцией давления. Например, в случае окиси углерода при настройке прибора на регистрацию массы 26 отрицательный ион СО, образующийся в соответствии с постулированным выше механизмом, мог достигнуть коллектора вследствие своего небольшого радиуса кривизны в магнитном поле, как это показано на рис. 93. Соотношение высот отрицательного и положительного пиков, как и следовало ожидать, составляло 10 . [c.207]

При тщательном соблюдении условий работы, принятых в различных лабораториях, удается воспроизвести, масс-спектры, снятые на разных приборах, особенно если их регистрацию проводили на однотипных промышленных образцах масс-спектрометров. Это позволяет проводить анализ смесей таких соединений, для которых отсутствуют эталоны, используя каталог масс-спектров Американского нефтяного института [45]. [c.445]

Спектрометр, применяемый для определения структуры природных соединений, должен быть пригоден для регистрации полного масс-спектра каждого исследуемого соединения. Выпускаемые крупные приборы дают возможность регистрировать пики с массой до 700, а при наличии дополнительных приспособлений [c.307]

На рис. 4.23 приведен подлинный масс-спектр соединения А. Для простоты и ясности даны только две его записи верхняя получена при чувствительности прибора, большей в 100 раз. Верхняя запись используется для просчета спектра и регистрации пиков метастабильных ионов, а нижняя —для расшифровки структуры. Пики [c.157]

Для быстрой регистрации масс-спектров целесообразно использовать многошлейфовые осциллографы. Это дает возможность осуществлять быструю развертку и производить одновременную регистрацию линий масс-спектра, интенсивность которых отличается в 10 —10 раз. Одновременная запись масс-спектра всеми шлейфами, имеющими разную чувствительность, позволяет обеспечивать запись каждой линии при наивыгоднейшей чувствительности. Применение шлейфового осциллографа на приборе МХ-1303 было описано в работе [30]. [c.25]

Развитие нового метода начиналось с идентификации по масс-спектру веществ, выделенных на препаративном хроматографе [82]. Этот прием достаточно распространен и в настоящее время, но значительно уступает использованию единых комплексов приборов, создание которых шло по двум основным направлениям. Первое из них имеет место в зарубежной практике и связано с разработкой быстродействующих приборов, способных записать масс-спектр за время прохождения хроматографического пика [83]. Число приборов, в которых достигнуты желаемые параметры, невелико. Кроме того, их аппаратурное оформление сложно и громоздко, а чувствительность недостаточна. В некоторых приборах такого типа идентификация неизвестного вещества производится по серии масс-хроматограмм , полученных путем регистрации пиков с определенными массовыми числами [84]. [c.71]

При молекулярном анализе возникает необходимость в наблюдении спектра с многими десятками линий. Это нельзя сделать с достаточной точностью и быстротой без автоматической регистрации спектра. Развертка спектра производится в случае магнитного разделения ионов главным автоматическим изменением ускоряющего ионы напряжения или >ке магнитного поля. Одним из популярных приборов для записи масс-спектров является быстродействующий автопотенциометр. [c.66]

Измерительная часть прибора состоит из ряда блоков, служащих для питания электродов анализатора, усиления ионного тока, регистрации масс-спектра, измерения вакуума и блокировки электрических цепей, а также сигнализации при выходе прибора из нормального режима. В соответствии с назначением измерительная часть содержит электронные стабилизаторы напряжения, импульсные устройства, усилитель постоянного тока, вакуумметры и электронный самопишущий потенциометр. [c.28]

Прибор для И. м.-ионный микроанализатор-состоит из источника первичных ионов, вакуумной камеры, статич. и динамич. масс-анализаторов (см. Масс-спектро wiiipuH) и системы регистрации вторичных ионов. Из источников первичных ионов наиб, распространен д эплазмотрон с горя- [c.260]

Детекторы (приемники) ионов помещают на выходе прибора. Для детектирования используют электрометрии, усилители, позволяющие измерять ионные токи до 10 А, электронные умножители и сцинтилляц. детекторы с фотоумножителем, к-рые обеспечивают счет отдельных ионов (ток 10 А) и имеют малую постоянную времени, а также фотопластинки, преимущество к-рых в возможности регистрации всех ионов масс-спектра и накопление сигнала. [c.661]

Масс-спектры сняты на приборе МС-3. Регистрация ионов производилась при помощи счетчика ионов СИ-01 и светолучевого осциллографа Н-105. Гакая регистрирующая систехма позволяла спи мать масс-спектры в диапазоне массовых чисел от 300 до 30 в течение 3 мин. [c.125]

Мак Мюрреи п др [ШЬ] при анализе метилпальмитата на приборе с геометрией Пира—Джонсона (разрешающая способность 10 000 скорость сканирования масс спектра 8 с/декада, электрическая регистрация) измерили массы ионов с точ ностью 3 10 а е м, или 1 10 % Кимбл [72] изучил возможность точного измерения масс при электрической регистрации в реальном масштабе времени Первоначальные исследования осуществлялись на масс спектрометре СЕС 21 110 с разрешением 20 000 [107] При анализе октадекана для шести измерений 16 разных ионов с массами от 43 до 254 получено среднеквадратичное отклонение в пределах <2,5—6,5) 10- 7о Для малоинтенсивных пиков ошибки бы ли гораздо больше При анализе перхлорбутадиена (разреше ние 25 ООО, скорость сканирования 35 с/декада, 9 повторных измерений масс спектра) для 70 % пиков из общего числа 266 с относительной интенсивностью от 2 до 100 % массы ионов в интервале 100—266 были измерены с относительной ошибкой не более 2 10- % [108] [c.60]

Методом ХМС с регистрацией масс спектров в максимуме хроматографических пиков были идентифицированы во фракции выделенной из нефти Анастасьевско Троицкого месторождения, два сесквитерпановых бициклических углеводорода С15Н28 (суммарная концентрация этих углеводородов в нефти достигает 0,9%) [380] В сочетании с данными ЯМР С была установлена структура этих соединений — транс-2,3,3,7,7 пентаметил транс бицикло [4 4 0] декан и 3,2 2,7,7 пентаметил транс-бицикло [4 4 0] декан Анализ проводили на приборе LKB2091 с капиллярной колонкой (неподвижная фаза Апиезон L) Масс спектры получали при энергии электронов 70 эВ и температуре ионного источника 250 °С [c.159]

Регистрация масс-спектров. Выше отмечалось, что во времяпролет-ных масс-спектрометрах и приборах типа Маттауха—Герцога спектр регистрируется на фотографическую пленку или пластину. Затем, если это необходимо, фотопластину можно пропустить через регистрирующий микрофотометр и получить запись на ленте самописца. [c.206]

Масс-спектры получены на хромато-масс-спектрометре ЬК В-2091. Энергия ионизирующих электронов 70 и 12 эВ. Чувствительность прибора —Ю г, что в нашем случае делало достаточной пробу 0,1 —О,.Я мг. Это явилось решаюшим при выборе методики и прибора, так как доступные количества УВ с одной станции обычно не превышают нескольких миллиграмм. Образец вводился через систему прямого ввода. Для подбора режима испарения образца были проведены опыты на нефтяных фракциях аналогичной молекулярной массы, которые показали, что наилучшим является интервал 95—115° С, обеспечивающий полное испарение за 10—15 мин. При этом максимум полного ионного тока достигается за время 3,5—4,5 мин. Полнота испарения определялась взвешиванием ампулы с образцом до и после регистрации масс-спектров. В процессе испарения образца регистрировались изменение полного ионного тока и через каждые 2 мин. масс-спектры. [c.212]

Широкие фракции, отогнанные из колбы Вюрца в интервале 50—200°С, подвергались затем ректификации на колонке эффективностью 50 т. т. Полученные при этом погоны, объемом 15— 20 мл каждый, анализировались масс-спектрометрическим методом, разработанным во ВНИИНП. Анализ проводился на модифицированном масс-спектрометре МС-1 с записью на регистрирующем электронном потенциометре ЭПП-09. Модификация прибора заключалась в обогреве системы для введения жидких анализируемых проб, в создании системы для регулирования обогрева ионного источника и анализатора, блоков автоматической развертки и регистрации масс-спектров. Наилучшая воспроизводимость распределения интенсивностей в масс-спектре (1,5—2,5%) имела место в интервале 120—130°С. Съемки спектров проводились при следующем режиме ускоряющее напряжение 2,5 кв, энергия ионизирующих электронов 70 эв, ток эмиссии катода 1,5 ма. Описание метода опубликовано в печати [28—30]. [c.73]

Метод фокусировки по направлению использован в большом числе сконструированных приборов, включая и промышленные образцы для аналитического применения. Поэтому имеет смысл рассмотреть прибор Демпстера несколько более детально. Уравнение (2), записанное в форме Я = mvlHe, показывает, что все ионы, входящие в магнитное поле и обладающие одним и тем же зарядом и импульсом, будут двигаться по кривой с одинаковым радиусом независимо от массы, в то время как ионы с различными импульсами двигаются по кривым с разными радиусами. Отсюда ясно, что данная форма анализатора приводит к образованию спектра импульсов ионов, который также является масс-спектром, если все ионы, входящие в поле, обладают одинаковой энергией, так что каждой массе соответствует определенная скорость. Данный факт был установлен Астоном [80], который по этой причине возражал против использования Демистером термина шасс-спектрограф . Действительно, подобные приборы называют иногда спектрометры импульсов . Ввиду того что в них применена электрическая регистрация и они могут быть поэтому использованы для измерения относительной распространенности, их также иногда называют спектрометры распространенности . Если все изучаемые заряженные частицы обладают одной и той же массой, спектрометр с 180-градусным магнитным сектором может быть использован для изучения пределов энергий частиц, и установка становится спектрометром энергии [1412]. [c.20]

Определение малых отклонений в относительной распространенности изотопов для разных образцов облегчается использованием стандартного образца. Измерение распространенности изотопов в эталонном образце до и после анализа исследуемого образца позволяет оценить случайные ошибки последовательных измерений и величину медленного дрейфа в показаниях прибора. Еще одним методом повышения чувствительности прибора пррс измерении малых изменений относительной распространенности изотопов служит применение двухколлекторной системы, в которой изучаемые изотопные ионы одновременно собираются на отдельных электродах. Этот метод был впервые предложен Астоном [78] и применен Штраусом [1960] для измерения относительных распространенностей изотопов никеля. Измерение распространенности производилось непосредственно нуль-методом. Один из коллекторов ионов находился в фиксированном положении, а другой мог перемещаться при помощи сильфонного микрометрического винта. Такая система может быть использована в широком диапазоне отношений масс изотопов. Разделение при измерении никеля устанавливается в диапазоне двух массовых чисел (измерение изотопов с четным массовым числом) либо трех массовых чисел (измерение отнопкния N1 Применение двойного коллектора позволило Штраусу использовать искровой источник быстрые колебания в интенсивности не оказывали влияния на регистрацию отношения ионных токов. Горман, Джонс и Хиппл [776] распространили этот метод на получение полного масс-спектра в их масс-спектрометре измерялось отношение интенсивности пиков данных ионов к полному ионному току. Суммарная интенсивность ионных токов регистрировалась при помощи электрода, помещенного у входа в магнитный анализатор. Аналогичную [c.96]

Фотографический метод пригоден для использования в сочетании с такими источниками, как искровой и другие, выход которых изменяется случайным образом в процессе измерения, от метод также широко используется в приборах с геометрией Маттауха — Герцога [873, 1326], где двойная фокусировка достигается по всей шкале масс, и часто полный масс-спектр, включающий до 200 а.е.м., получается при одной экспозиции. Длительная экспозиция может быть использована для обнаружения очень слабых ионных пучков. Применяя для регистрации спектра различную продолжительность экспозиции, можно сравнивать интенсивности ионных пучков, отличающиеся на величину 10 по относительной интенсивности. Для ионов с массой 200 и энергией 10 ООО эв минимальный обнаруживаемый сигнал соответствует менее 10" кулонЫм , т. е. ионному току 5-10" а в сечении 1 мм при выдержке 30 мин. Чувствительность такого порядка была получена еще на первых приборах, что обеспечивало высокое разрешение и точность измерения масс, достигаемые при использовании узких щелей. [c.204]

При низком разрешении, поскольку массовые пики становятся шире, их легче находить и можно применить очень высокую скорость развертки. Желательно также при использовании самописца с автоматическим переключателем пределов выбирать соответствующую чувствительность для регистрации пиков при высоком разрешении в процессе развертки масс-спектра при низком разрешении. Однако шунты должны быть заблокированы, прежде чем перейти к высокому разрешению возвращающее напряжение, связанное с работой переключателей пределов, становится настолько значительным, что возвращает самописец значительно дальше точки появления пика высокого разрешения. Когда это происходит, прибор необходимо предохранить от переключения на полную чувствительность. Поэтому обычные шунтирующие системы не являются идеальными для таких целей, особенно если необходимо регистрировать компоненты дублетов при различных чувствительностях. Для таких работ более пригодными оказываются многоканальные регистраторы типа шлейфового осциллографа . Разделение компонентов мультиплетного пика сравнивается с пиком, ширина которого используется для получения информации о составе разницы в массе. На этом основании не используются приспособления для ускорения развертки между сильно удаленными дублетами, несмотря на то, что это значительно сократило бы время регистрации. Продолжительность регистрации дублета достаточно велика, поскольку необходимо дополнительно записывать области, находящиеся на расстоянии примерно 0,05 а. е. м. с каждой стороны мультиплета, чтобы гарантировать дублет от возможных наложений. Рассмотрим дублет Аг" — (СзН " с номинальной массой 40. Эти пики различаются на 69-10 а. е. м., и если использовать скорость развертки, указанную выше, то каждый компонент зарегистрируется за одну секунду, общее время развертки двух пиков составит 17 сек, а на развертку спектра от масс на 0,05 а. е. м. ниже Аг до массы на 0,05 а. е. м. выше С3Н4) будет затрачено 42 сек. В этом случае также необходимо использовать возможно меньшую разрешающую силу для получения минимального времени развертки. Метод изменения разрешающей силы для каждого спектра описан ниже. [c.237]

Другой метод обнаружения метастабильных ионов, позволяющий получить сведения об их происхождении, включает измерение кинетической энергии ионов. Обычно ион попадает на коллектор с энергией еУ, где V — ускоряющее напряжение. Если электрод коллектора имеет такой потенциал, что он будет отталкивать приходящие ионы, то кинетическая энергия в момент регистрации будет уменьшаться если потенциал коллектора только на несколько вольт будет более отрицательным по сравнению с камерой, то ионы, по каким-либо причинам потерявшие кинетическую энергию, при прохождении через прибор не будут регистрироваться. Когда ион с массой /пь пересекающий ускоряющее поле, разлагается с образованием иона /пг, кинетическая энергия распределяется между осколками в соответствии с массами. Положительный ион с массой гпг получит только долю т-2,1 исходной кинетической энергии и, следовательно, будет остановлен выталкивающим потенциалом тгУ т . Ионы, которые распадаются до пересечения ими ускоряющего поля, не будут терять так много энергии. Задерживающий потенциал может быть использован либо для подавления всех метастабильных ионов, либо для определения кинетической энергии, получаемой ионами и, следовательно, для определения отношения т 1тг. Если это отношение обозначить через К, то /П1= К т и тг= = Кт. Таким образом, оказывается возможным определить т1 и тг в тех случаях, когда их нельзя заимствовать из приложения 2 вследствие того, что т известно недостаточно точно. Такое измерение может быть проведено, например, для решения вопроса о происхождении метастабильного иона в масс-спектре пропилена примерно с массой 38. В работе [45] приписывают его реакции (СзН4) ->(СзНз) -Ь Н, тогда как Блум и сотрудники [239] указывают на [c.262]

Время пролета иона представляет собой промежуток времени между образованием иона и его регистрацией. В приборе с секторным магнитным полем, использующем магнитную развертку, все ионы получают одинаковую энергию ускорения, и время, необходимое тяжелым ионам для достижения коллектора, больше, чем для легких, но в обоих случаях оно зависит от величины ускоряющего напряжения, используемого для регистрации данного спектра. При развертке спектра по напряжению разница во времени пролета тяжелых и легких ионов будет еще больше. Значительная часть времени пролета ионов приходится на ионизационную камеру, где ионы под действием слабых полей движутся относительно медленно. Контроль времени пролета ионов можно осуществить при помощи выталкивающего электрода, расположенного в ионизационной камере для этой цели на электрод подается небольшой отрицательный (по отношению к стенкам камеры) потенциал поле выталкивающего потенциала подавляет действие рассеянных полей, проникающих в ионизационную камеру от главного ускоряющего поля. Легко видеть, что любые изменения, приводящие к увеличению времени пролета различных ионов, будут вызывать изменение интенсивностей пиков осколочных ионов, поскольку большинство ионов в масс-спектрах органических молекул образуется при многоступенчатых реакциях, и спектры их зависят от времени. Так же как и в приведенных выше примерах, по изменению времени пролета ионов можно видеть, что такие факторы, как образование изолирующих пленок на электродах ионизациогЛюй каме-, ры, вызывающие изменение положения электронного пучка и, следовательно,) области образования ионов, могут также воздействовать на время пролета.) [c.445]

Рассмотренные выше методы несомненно являются основными при установлении структуры и качественном анализе сложных смесей органических соединений. Применение масс-спектрометрии высокого разрешения ограничивается значительной стоимостью и сложностью приборов, а также большой затратой времеци на интерпретацию полного масс-спектра, записанного в режиме высокого разрешения. Последняя проблема может быть решена путем использования полуавтоматических и автоматических методов регистрации масс-спектров [722]. [c.293]

Масс-спектрометр для твердой фазы, прибор Metropolitan-Vi kers MS-7, был разработан специально для анализа твердых тел. Ионы в этом приборе образуются в искровом ионном источнике, причем вероятности образования ионов приблизительно одинаковы для широкого ряда веществ. Регистрация масс-спектров на фотопластинке позволяет перекрыть диапазон масс от 5 до 250 и в одном эксперименте получить общие сведения о содержании npnMe eii, отличающихся по копцентрации в 10 раз. На таком масс-спектрометре проводили анализы ряда металлов и полупроводников. [c.159]

Описан масс-спектрометр с быстрой разверткой масс-спектра и системой, позволяющей использовать молекулярный пучок напуска образца. Чувствительность и аналитические характеристики прибора определяются особенностями анализатора ионов. Высокая чувствительность при анализе образцов с быстро меняющейся концентрацией обеспечивается следующими мерами 1) работа при большом электронном токе, нри котором еще выполняется линейная зависимость от давления 2) применение па выходе электронного умножителя 3) возмолшость непрерывной регистрации ионов, образующихся из веществ, присутствующих в очень малой концентрации, Для образцов, анализ которых пе требует напуска н молекулярном пучке, но концентрация которых изменяется с частотой 50 гц или более, возможно дополнительное увеличение чувствительности, достигаемое исиользовапием дифференциальной откачки. [c.270]

В литературе [6] детально обсуждены причины нарушения фокусировки ионного пучка, следствием чего является уменьшение разрешающей силы масс-спектрометра. Здесь целесообразно только обсудить вопрос о том, каким образом можно получить необходимую для работы разрешающую силу у используемох о прибора. Следует обсудить также вопрос о пригодности различных количественных определений разрешающей силы. Наилучшее разрешение двух линий достигается тогда, когда щели коллектора и источника имеют минимальную ширину. Наилучшее возможное разрешение, соответствующее бесконечно малой ширине обеих этих щелей, наиболее полно характеризует потенциальные возможности данного прибора. Управлять шириной щелей можно либо механически, либо электрически [7]. Интересно рассмотреть влияние ширины щелей на форму линии. Линия масс-спектра дает распределение интенсивности в изображении щели источника. Щель коллектора обычно достаточно широка, чтобы можно было регистрировать интеграл этого распределения. По мере уменьшения ширины щели коллектора форма линии приближается к кривой распределения интенсивности в изображении, т. е. сужение этой щели эквивалентно дифференцированию линии масс-сиектра. Если с малой амплитудой модулировать ускоряющее напряжение и регистрировать сигнал на частоте модуляции, то можно записывать непосредственно производную кривой контура линии. При этом изменение амплитуды модуляции эквивалентно изменению ширины щели коллектора. Получаемый таким образом сигнал был математически исследован [8], и можно показать, что сужение щели источника эквивалентно второму дифференцированию кривой контура линии. Было показано, что можно регистрировать дублетные линии, образованные молекулярными ионами, для которых М/АМ составляет 2300, используя прибор секторного типа с радиусом 152 мм. Такую регистрацию проводили при помощи двойного дифференцирования линии обычного масс-спектра. Это наглядно иллюстрирует возможности прибора такого типа. [c.334]

Для регистрации масс-спектров и определения потенциалов появления применяли прибор с радиусом 144обладающий фокусировкой первого порядка. Детали установки и методика изучения положительных и отрицательнх ионов и ионов избыточно кинетичес ой энергии были уже описаны ранее [2]. Здесь следует только еще раз отметить, что ионный источ ик и коллектор находились под потенциалом, близким к потенциалу [c.436]

В некоторых случаях целесообразно применять электронно-лучевой осциллограф, причем развертка осциллографа синхронизируется с разверткой масс-спектра ускоряющим или магнитным полем [Л. 5-18]. Количество регистрируемых пиков регулируется крайними значениями развертывающего фактора. При наличии экрана с послесвечением может быть применена очень низкая частота развертки (ниже 0,03 гц), в связи с чем сохраняются преимущества непосредственного наблюдения. С помощью такой системы регистрации (Л. 5-6] удалось достигнуть чувствительности 5-10- а на 1 сл1 экрана при фоне порядка 1 мм. Каждый массовый пик развертывался в течение 0,3 сек. В приборах типа фарвитрон масс-спектр развертывался с частотой 50 гц. Электронно-лучевая трубка применяется в случае необходимости большой скорости фиксации спектров, например при неустойчивых образованиях. Например, можно зарегистрировать спектр из 40 массовых чисел за 5 мсек [Л. 5-19]. [c.119]

Меняя Н или и, можно выводить на приемную щель ионы с разныдш значениями т е. Если эти изменения проводить плавно и автоматически и одновременно записывать ионный ток с помощью какого-либо регистрирующего прибора 6, получится то, что принято называть автоматической регистрацией масс-спектра. [c.457]

Опыт последнего времени показывает, что лучшие результаты получаются, если в качестве меры содержания данного вещества в смеси брать суммарный вклад его в интенсивность всех линий спектра смеси — так называемую полную ионизацию [6]. В этом случае коэффициентами чувствительности являются отношения интенсивности отдельных линий или суммы ряда линий к полной ионизации для каждого индивидуального вещества. Эти коэффициенты не зависят от изменений абсолютной чувствительности прибора и могут быть связаны только с изменением распределения интенсивностег линий в масс-снектрах отдельных веществ, как и в обычно.л относительном методе. Градуировка прибора в методе полной ионизации сводится только к регистрации Д1асс-снектров отдельных веществ и не требуется градуировка по смесям известного состава. Более того, нри анализе методом полной ионизации можно пользоваться коэффициентами чувствительности, оиределенными но спектрам индивидуальных веществ на любом масс-спектрометре, при условии, что распределения интенсивностей линии в масс-спектрах отдельных веществ сохраняются. [c.463]

Для разработки масс-снектрометрического метода анализа бензинов использова.лся модифицированный масс-спектрометр тппа МС-1, снабженный обогреваемой системой для впуска анализируемого образца в ионный источник и приспособлением для автоматической развертки и регистрации масс-спектра. Съемка спектров производилась при следующих условиях работы прибора тель пература системы напуска и масс-спектрометрической трубки 125° С ионизирующее напряжение 70 в, ток эмиссии катода — 1,5 ма, ускоряющее напряжение — 2,5 кв. Выбранный режим обеспечил удовлетворительную воспроизводимость измерений, составляющую 1,5—2,5%. [c.500]