Рентгеновские сечение

II — трехмерный слой (фотография d рентгеновских лучах), песок (d = 254 мкм), = 57 мм б, я — двухмерный слой, стеклянные сферы (d= 280 мкм) сечение канала 31 X 6 мм, 1, а = (1,58 крестом показана точка подачи воздуха. [c.754]

Различными методами исследована гидродинамическая обстановка в реакторах с неподвижным слоем катализатора, а также внутренняя структура самого слоя. Предложен и применен новый метод изучения структуры зернистого слоя — рентгеновская томография, которая позволила выявить распределение частиц во внутренних сечениях. Псследования структуры слоя и распределения фильтрующегося потока показали, что возникновение локальных неоднородностей — горячих пятен однозначно определяется способом загрузки. Оценено влияние стенки реактора на температурный профиль и распределение скорости в слое. Ил. 6. Библиогр. 14. [c.173]

Фото- и киносъемка в видимом свете через прозрачные стенки колонки [5, 51, 83] или сверху не являются достаточно представительными, так как позволяют изучать структуру кипящего слоя лишь на его внешних границах. Поэтому много исследований, особенно по наблюдению за пузырями [33] выполнено в двухмерных кипящих слоях, т. е. в аппаратах прямоугольного сечения с достаточно малой толщиной, позволявшей просвечивать слой насквозь. Такой двухмерный слой является как бы мысленно вырезанным вдоль диаметра сечением реального круглого реактора (как показано на рис. П.6) или частью промышленного щелевого реактора той же толщины [84 ]. Использовались также плоские реакторы толщиной в одно зерно [53, 54, 85]. Например, в установке Шейниной (см. рис. П.8) можно было полностью просвечивать слой через вырезанный на черной бумаге круг радиуса R. Просвечиваемый представительный объем содержал 20—40 непрозрачных алюминиевых шайб. Скрещенные поляроиды убирали, и проходивший через представительный объем пучок параллельных лучей фокусировался на фотоэлемент, показания которого /ф были пропорциональны доле просветов между шайбами, т. е. локальной порозности кипящего слоя е. С помощью осциллографа можно было записать колебания е t). Вводя же показания фотоэлемента через операционный усилитель в аналоговую или цифровую ЭВМ, можно было использовать последнюю для непосредственной обработки экспериментальных данных. Фото- и киносъемки можно вести и в рентгеновских лучах [60]. [c.79]

Проникая в твердое вещество, излучение в зависимости от величины его энергии может затрагивать только валентные электроны, всю электронную оболочку атомов или же, при достаточно высокой энергии, и атомные ядра. В последнем случае оно производит не только возбуждение электронов, ионизацию, но и смещение атомов данного вещества из их нормальных положений. Зто относится как к электромагнитному излучению (видимому свету, ультрафиолетовым и рентгеновским лучам, 7-излучению), так и к потокам частиц (электронов, ионов, например, протонов или а-частиц и др.). При этом энергия излучения трансформируется частично в тепловую, вибрационную энергию твердого вещества, которая передается соприкасающимся с ним веществам, а частично в электромагнитное излучение сниженной частоты по сравнению с частотой поглощенной лучистой энергии. Местные изменения структуры твердого вещества, возникающие при его взаимодействии с излучением высоких энергий, принято называть радиационными дефектами. Радиационные дефекты, равномерно распределенные по всему сечению луча, проникающего в твердое вещество, создаются фотонами, электронами, а-частицами и т. д. [c.121]

Требование к исследуемому образцу. Для получения дифракционного эффекта требуется кристалл определенного размера. Последний зависит от коэффициента рассеяния и быстроты поглощения лучей в веществе поток электронов полностью поглощается при прохождении через слой в несколько микронов рентгеновские лучи дают достаточную интенсивность рассеяния при пересечении слоя в 1 мм для ощутимого рассеяния потока нейтронов нужны уже не миллиметры, а сантиметры. Поэтому для рентгеноструктурных исследований необходим монокристалл с размерами в пределах 0,1 —1,0 мм. В частности, можно использовать игольчатые (нитевидные) кристаллы очень небольшого поперечного сечения. Для нейтронографического исследования обычно требуется более массивный монокристалл — размером в 0,5—1 см (что, впрочем, существенно зависит от интенсивности первичного пучка нейтронов). Получение таких монокристаллов часто составляет самостоятельную техническую проблему. Наоборот, в электронографии можно пользоваться лишь кристаллическими пленками. Обычно они создаются путем кристаллизации вещества на аморфной, прозрач- [c.172]

Поперечное сечение захвата рентгеновских лучей, барн/атом. .. 20 [c.167]

Вычислительная томография основана на просвечивании любого слоя исследуемого предмета в любом положении сфокусированным рентгеновским пучком. Вычислительные томографы используются для технического диагностирования изделия любой конфигурации. Принципиальное отличие этого способа состоит в возможности получить изображение сечения объекта по всей глубине, независимо от чередования плотных и мягких областей, с чрезвычайно высокой дефектологической чувствительностью. Вычислительный томограф может, например, обнаружить внутри изделия из пластмассы проволочку толщиной 15 МК, и не только обнаружить, но и оценить свойства металла, из которого она сделана. [c.37]

Интенсивность характеристического рентгеновского излучения, а) Сечение ионизации внутренних оболочек. В литературе можно найти многочисленные определения сечения ионизации для внутренних оболочек обзор этих данных приведен в работе [55]. Основная форма сечения получена Бете 56] [c.77]

Отметим, что перенапряжение, используемое в практическом рентгеновском микроанализе, может принимать низкие значения вплоть до I7=l,5, что находится вне диапазона, для которого хорошо определено сечение ионизации. Далее, из рис. 3.39 мож- [c.77]

При обсуждении глубины генерации рентгеновского излучения нужно помнить, что плотность генерации рентгеновского излучения на единицу объема не является постоянной по всей области взаимодействия. Плотность генерации связана с числом и длиной электронных траекторий на единицу объема и средним перенапряжением. Генерация рентгеновского излучения в зависимости от координаты по глубине в образце известна как функция ц>(рЕ). На рис. 3.44 образец предполагался разделенным по глубине на слои равной толщины. По мере прохождения падающим пучком этих слоев длина траектории в каждом последующем слое возрастает вследствие того, что, во-первых, за счет упругого рассеяния электрон отклоняется от движения по нормали, что приводит к удлинению пути через слой, и, во-вторых, отражение приводит к тому, что электрон пересекает слой в противоположном направлении. Таким образом, генерация рентгеновского излучения проходит через максимум на некоторой глубине, а затем уменьшается, так как потеря энергии и отражение уменьшают число электронов с углублением внутрь объекта. Более того, из сечения, приведенного на рис. 3.39, видно, что электроны при перенапряжении 4 дают наиболее существенный вклад в генерацию рентгеновского излучения. Таким образом, видно, что плотность рентгеновского излучения существенно меняется с глубиной. Для целей анализа функции ф(р2) является более точным описанием распределения генерации рентгеновского излучения по глубине. [c.85]

Основным процессом поглощения рентгеновского излучения в диапазоне рабочих энергий, представляющих интерес для микроанализа (1—20 кэВ), является фотоэлектрический эффект. В этом случае энергия кванта рентгеновского излучения полностью передается связанному электрону внутренних оболочек атома, в результате чего происходит испускание электрона (называемого фотоэлектроном) и аннигиляция фотона. Может также происходить неупругое рассеяние рентгеновского излучения, в результате которого происходит изменение энергии за счет эффекта Комптона, при котором рентгеновское излучение взаимодействует со свободным электроном. Для диапазона энергий, представляющего для нас интерес, сечение или вероятность эффекта Комптона настолько мала по сравнению с процессом фотоэлектронной эмиссии, что им можно спокойно пренебречь. Тогда поглощение рентгеновского излучения может рассматриваться исключительно как фотоэлектрический процесс. Для отдельного кванта поглощение является процессом все или ничего , т. е, либо из мишени испускается квант с неизменной энергией, либо он полностью поглощается. Этот факт особенно важен для проводящего анализ исследователя, который регистрирует характеристическое рентгеновское излучение определенной энергии для идентификации поэлементного состава образца. [c.86]

Фактор относительной чувствительности клв обязательно содержит факторы, характеризующие образец, например сечение ионизации, тормозную способность и поглощение образца для элементов Л и В, а также факторы, характеризующие прибор, как, например, поглощение рентгеновского излучения окном и эффективность детектора. Хотя такие йлв-факторы можно рассчитать, неопределенности в параметрах окна спектрометра приводят к неприемлемым ошибкам в значениях клв для энергий рентгеновского излучения ниже 2 кэВ [170], и, таким образом, значения клв должны определяться на конкретных приборах, используемых для анализа. [c.58]

Единственный эффект генерации рентгеновского излучения, который необходимо рассмотреть,— это вероятность ионизации атома данного элемента, описываемая сечением ионизации [c.77]

Для тонких образцов на очень тонкой подложке, при возможном исключении для некоторых легких элементов, поглощение рентгеновского излучения в образце обычно пренебрежимо мало, поскольку средний атомный номер и сечение поглощения рентгеновского излучения для мягких тканей низки. Было обнаружено [178, 183], что низкоэнергетическое непрерывное излучение поглощается в срезах подвергнутого лиофильной сушке [c.84]

Рис. 8.3-3. Сечение меди для фотоэлектронного взаимодействия как функция энергии взаимодействующих рентгеновских фотонов. К-край поглощения расположен при 8,98 кэВ.

Возможности рентгеновского микроанализа в АЭМ ограничены не только малой эффективностью сбора фотонов, но и низким выходом рентгеновской флуоресценции для элементов с низкими атомными номерами. Оба этих недостатка менее ощутимы в спектроскопии характеристических потерь энергии прошедших электронов. Эффективность сбора прошедших электронов очень высока. Поскольку аналитический сигнал определяется числом актов ионизации в аналитическом объеме, легкие элементы можно анализировать с достаточно хорошей чувствительностью. Существенным недостатком спектров характеристических потерь энергии является плохое соотношение сигнал/шум, поскольку прошедшие электроны также теряют энергию при многократном рассеянии, что приводит к появлению непрерывного электронного фона. Отношение сигнал/шум можно улучшить, анализируя очень тонкие (10-20 нм) образцы. Количественный анализ по спектрам характеристических потерь с использованием величин сечений ионизации проводят обычно с правильностью 10-20%. [c.339]

Атомы брома в анализируемой пробе возбуждают излучением рентгеновской трубки с различными антикатодами (Мо [361], W [498[ или Rh [776]) пли же портативными источниками радиоактивных изотопов d [390, 578, 698], [868], Fe [822] и Am [868] с активностью 1—20 мкюри. Чаще всего применяют из-за его невысокой стоимости, относительно большого периода полураспада (453 дпя) и значительной величины сечения захвата фотовозбуждения. Однако некоторые авторы [868] отдают предпочтение изотопу несмотря на его меньший период полураспада (60,2 дня), имея в виду хорошее разрешение возбуждающего (линия дочернего Те с энергией 27,3 кэв) и испускаемого (Вг Калинин 12 кэв) излучения, а также более высокую точность и экспрессность анализа. При прочих равных условиях наибольшая интенсивность возбуждения обеспечивается применением кольцеобразных источников излучения, один пз которых описан в работе [390]. [c.152]

В свою очередь волокнистость в пределах каждого сектора роста граней (111) неоднородна. Серия топограмм (рис. 145) сечения (001), расположенного на половине расстояния между центром роста и вершиной октаэдра, снятых при различных уг- ловых положениях кристалла, показывает присутствие в сечении восьми пучков волокон, различным образом отражающих рентгеновское излучение. Причиной этого является закономерная раз-ориентировка пучков между собой. Максимальная разориентировка наблюдается у пучков, лежащих в плоскости дифракции — пучки <100> и <100>. Знак разориентировки таков, как если бы вдоль оси стыковки секторов роста граней (Ш) располагались малоугловые границы с лишними полуплоскостями у дислокаций, обращенных к центру кристалла. [c.398]

Коэффициент поглощения рентгеновского излучения веществом убывает с увеличением его частоты. Монотонность этой зависимости скачкообразно нарушается (скачки поглощения) в областях частот, при которых энергия рентгеновских квантов становится достаточной для освобождения из атома электрона с А-, 1-, М-... оболочек. Направленный пучок рентгеновских лучей сечением 1 см , проходя через слой вещества, испытывает ослабление в результате взаимодействия с его атомами. Ослабление рентгеновских лучей обусловлено процессами когерентного и некогерентного рассеяния на атомах вещества (коэффициент рассеяния о) и истинным поглощением (коэффициент поглощения т). При порядковых номерах элементов 10—35 и длине рентгеновских лучей 0,1—1,0 им преобладающую роль в процессах ослабления играет истинное поглощение рентгеновских лучей. [c.215]

Сравнительно недавно [27] были получены спектры РФС газообразных веществ, ранее исследуемых методом УФС. Полученные интересные результаты основаны на относительных поперечных сечениях фотоионизащ1и валентных электронов в зависимости от энергии источника. Например, для рентгеновского излучения с больщей энергией электроны на молекулярной орбитали, составленной главным образом из атомных 5-орбиталей, имеют более высокое относительное поперечное сечение (и, следовательно, большую интенсивность спектральной линии), чем электроны на молекулярной орбитали, составленной в основном из атомных 2р-орбиталей. Сопоставление спектров РФС и УФС указывает на различные относительные интенсивности соответствующих пиков. Пик, обусловленный электронами на молекулярных орбиталях, составленных главным образом из атомных орбиталей 5-типа, имеет большую относительную интенсивность в спектре РФС, чем в спектре УФС. [c.340]

Рентгеновское излучение можно использовать также для наблюдения за движением твердых частиц, причем отдельные из нйх могут быть сделаны видимыми, если они отличаются от других по способности поглощения рентгеновских лучей. Практически, однако, невозможно увидеть частицу с длиной пробега, в 10 раз превышающей ее диаметр (нанример, частицу диаметром 500 мк в слое диаметром 10 см), если она типична, т. е. резко не выделяется среди остальных частиц по поглощению рентгеновских лучей. Следовательно, рентгеновский метод для изучения движения отдельных твердых частиц не всегда оказывается пригоднымОднако, пользуясь таким методом, легко наблюдать возмущения в слое (особенно в горизонтальном его сечении), содержащем некоторое количество частиц, менее прозрачных, чем остальные. [c.130]

Представляется вполне вероятным, что пальцы действительно имеют в сечении форму плоских лезвий, а не осесимметричных стержней, поскольку толщина последних была бы недостаточна для обнаружения рентгеновским методом. Видимыми на рентге-носнимках будут только пальцы , повернутые острием к наблюдателю, а расположенные под прямым углом должны быть невидимы. Отсюда следует, что образование пальцев , возможно, происходит вдвое или втрое чаще, чем можно обнаружить нри рентгеносъемке. [c.145]

Исследование структуры насыпного слоя катализатора выполнено неразрушптельным методом — рентгеновской томографией на томографе Neo-Diagnomax производства МесИсог [13]. Это позволило изучить распределение частиц катализатора в плоском сечении внутри слоя, не разрушая п не внося искажений и возмущений во внутреннюю структуру. Более того, после определения структуры слой помещали в стенд диаметром 0,6 м и в том же сечении измеряли распределение потока для слоя, работающего с химической реакцией. Схема томографа показана на [c.7]

Качественно характер структуры в плоской модели переносится на объемную. Такую возможность подтверждают измерения локальной плотности в объеме слоя наблюдения за поверхностью слоя в плоской и объемной моделях рентгеновские снимки слоя в объемной модели [15]. Теоретически показана количественная разница в потоках газа и твердых частпц прп наличии пузырей в плоской и объемной моделях [4], вытекающая из различия характера потоков в них объемный, трехмерный поток в объемной модели и плоский, двухмерный в плоской. Попутно необходимо заметить, что стенкам объемной модели в плоской соответствуют стенки, образующие большой размер сечения. [c.26]

Различие между блоками мозаики и идеальным кристаллом чисто количественное. В зависимости от способа получения размеры блоков мозаичного кристалла могут меняться от 10 см до мм, тогда как линейные размеры идеального кристалла могут достигать 5—10 см. В дифракционных экспериментах граница между кристаллическим блоком и идеальным кристаллом определяется экстинкционной длина, показывающей, при каких размерах блоков необходимо учитывать взаимодействие рассеянных волн с первичной волной в кристалле. Экстинкционная длина определяется сечением рассеяния, т. е. степенью взаимодействия излучения с веществом. Для рентгеновского излучения эта длина- 10 см, тогда как для электронов и нейтронов она сдвигается соответственно в область меньглих и больших размеров. [c.83]

Кристалл представляет собой систему, состоящую их двух взаимодействующих подсистем электронной и ядерной. В рассеянии излучений принимают участие обе подсистемы, однако, интенсивность рассеяния на каждой из них зависит от природы рассеиваемого излучения. Например, интенсивность потенциального рассеяния рентгеновских лучей на ядрах атомов (томпсоновское рассеяние) примерно в 10 раз меньше интенсивности, рассеянной электронными оболочками тех же самых атомов, поэтому в теории дифракции рентгеновских лучей рассеянием на ядрах пренебрегают. Известны некоторые изотопы, ядра которых как раз попадают в область длин волн, используемых в структурном анализе. Сечение взаимодействия таких ядер имеет резонансный характер и по величине может значительно превышать сечение взаимодействия излучения с электронными оболочками атома. [c.174]

Микроискажения кристаллической решетки II рода определяли в рентгеновской камере КРОС-1 в излучении железного анода при напряжении на трубке 2 кВ и токе 3 мА. Потенциалы иерейасснвации измеряли в 0,1 н. NaaSO в прижимной трехэлектродной ячейке (описание см. ниже) при комнатной температуре (скорость повышения потенциала 1,44 В/ч). Кривые зависимости потенциала в области перепассивации от степени деформации образцов получены сечением анодных поляризационных кривых, при плотности тока 1 мА/см . [c.87]

НИИхиммашем разработана комплексная магнитная, ультразвуковая и гамма-лучевая дефектоскопия сварных швов большого сечения. Для восстановления поврежденных оболочек уникальных аппаратов высокого давления применяют метод многослойной наплавки металла. Оболочки аппаратов представляют собой цель-нокованные сосуды, изготовленные, в зависимости от рабочего давления и температуры, из углеродистой, молибденовой или хромоникельмолибденовой сталей. Эти аппараты массой до 160 т, длиной до 18 м при толщине стенок до 250 мм рассчитаны на работу при давлении 325—700 даН/см и температуре до 480° С. Особые условия эксплуатации этих аппаратов потребовали тщательного контроля качества всех заваренных участков, так как возникала опасность появления в них трещин, пористости и других дефектов, снижающих прочность оболочки. Поэтому сварные швы контролировали магнитным методом для обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов, ультразвуковым — для выявления внутренних дефектов и, в некоторых случаях, гамма-лучевым или рентгеновским—для подтверждения и дополнения результатов ультразвукового контроля. [c.192]

Фотоионизация происходит с определенной вероятностью, когда фотон взаимод. с молекулой или атомом н энергия фотона равна или превышает потенциал ионизации молекулы или атома А + ку А +е. Зависимость сечения процесса от энергии , , в отличие от ионизации электронным ударом, имеет резкие максимумы при , = /,, где /, (г= 1, 2,. ..)-первый, второй и т.д. потенциалы ионизации атома или молекулы. При >/, возможны также диссоциативная фотоионизация с образованием двухзарядных ионов А -ь / у -> -1- 2е. Образование двухзарядных ионов обычно имеет место при выбивании первичного электрона из внутренней, напр., ЛГ-оболочки атома и переходе электрона из расположенной выше по энергии .-оболочки, что сопровождается испусканием рентгеновского кванта или вторичного электрона (Оже-электрона см. Рентгеновская спектроскопия). Фотоионизация возможна и при Е I, в зтом случае она носнт многоступенчатый (многофотонный) характер (см. Многофотонные процессы). [c.269]

СВИНЕЦ (Plumbum) Pb, хим. элемент IV гр. периодич. сГистемы, ат. н. 82, ат. м. 207,2. Природный С. состоит из пяти стабильных изотопов ° РЬ (следы), РЬ (1,5%), " РЬ (23,6 /i), РЬ (22,6%) и ° РЬ (52,3%). Последние три изотопа - конечные продукты радиоактивного распада соотв. и. Ас и ТЬ. В природе образуются и радиоактивные изотопы Pb, °РЬ, Pb, Pb, - РЬ. Поперечное сечение захвата тепловых нейтронов прир. смеси ок. 0 2-10 м хороший поглотитель рентгеновского и у-излучения. Конфигурация внеш. электронной оболочки атома 6s 6p степени окисления +2 (наиб, характерна) и +4 энергии ионизации РЬ -> РЬ РЬ равны соотв. 7,41678 и 15,0320 эВ работа выхода электрона 4,05 эВ электроот- [c.299]

Анализ образцов в виде тонкой фольги представляет собой простейшую аналитическую проблему. До некоторой степени микрорентгеноспектральный анализ образцов в виде тонкой фольги проще, чем анализ плоских массивных образцов. Когда образец очень тонкий, упругое рассеяние и потери энергии уменьшаются до такой степени, что эффекты атомного номера исключаются или в лучшем случае оказываются второстепенными. Поскольку сечения как упругого, так и неупругого рассеяния уменьшаются с увеличением энергии пучка, образцы в виде тонкой фольги лучше всего анализировать с помощью аналитического электронного микроскопа (АЭМ), который обычно представляет собой комбинацию просвечивающего и просвечивающего растрового электронных микроскопов, работающих при ускоряющем напряжении 100 кВ и снабженных рентгеновским спектрометром с дисперсией по энергии. В случае отсутствия АЭМ можно использовать РЭМ или рентгеновский микроанализатор, работающий при ускоряющем напряжении 40—60 кВ, хотя роль эффектов атомного номера в зависимости от состава фольги или ее толщины может стать значительной. Как поглощение, так и флуоресценция также становятся незначительными для тонкой фольги в зависимости только от толщины фольги и независимо от энергии пучка. Таким образом, при анализе образцов в виде тонкой фольги можно пренебречь всеми матричными эффектами — влиянием атомного номера, поглощением и флуоресценцией, па которые должна вводиться поправка при анализе массивных образцов. В результате анализ тонкой фольги можно провести ири помощи простого метода относительной чувствительности, [169, 170]. [c.57]

Рис. 8.3-3 демонстрирует зависимость фотоэлектронного сечения меди от энергии взаимодействующего фотона. При высоких энергиях, например бОкэВ, вероятность отрыва К-электрона крайне мала, а вероятность отрыва Ь-электрона еще меньше. По мере уменьшения энергии рентгеновских фотонов сечение растет, т. е. образуется больше вакансий. При 8,98 кэВ имеется резкое уменьшение сечения, поскольку рентгеновское излучение с меньшей энергией может взаимодействовать только с Ь- и М-электронами. Затем сечение вновь возрастает вплоть до скачков, соответствующих энергии связи Ьг- и Ьз-электронов. Эти скачки сечения фотоэлектронного поглощения называют краями поглощения. Отношение сечений сразу перед и сразу после края поглощения называется отношением скачка г. Так как флуоресценция есть результат селективного поглощения излучения с последующим спонтанным испускаии- [c.60]

Метод фундаментальных параметров [8.3-15] 0С1Юван на физической теории образова1шя рентгеновского излучения. Он требует точных знаний формы спектра возбуждения, эффективности детектора и фундаментальных параметров, таких, как сечение фотоэлектронного поглощения и выход флуоресценции. Метод связан с вычислительными трудностями, потому что уравне-1ше фундаментальных параметров связывает интенсивность одного элемента с концентрациями всех элементов, присутствующих в пробе, так что требуется численное решение системы (интегральных) уравнений. Метод фундаментальных параметров представляет особый интерес, потому что он позволяет проводить полуколичественный (относительное стандартное отклонение от 5 до 10%) анализ проб совершенно неизвестного состава. При надлежащей градуировке может быть достигнута погрешность порядка 1%. [c.88]

Большой Ш1терес представляет исследование поперечного сечения окисленных образцов. Здесь можно получить информацию об изменении структуры окалины по ее толщине, а также о структуре подокисной зоны. РЭМ дает возможность получить изображения с увеличением от 50 до 10000. Этот диапазон перекрывается в значительной степени с диапазоном увеличений светового микроскопа на нижней границе и просвечивающего электронного микроскопа на верхней границе. Эффективность применения растрового электронного микроскопа значительно возрастает в сочетании с использованием рентгеновского микроанализатора (РМА), который является составной частью современных РЭМ. [c.25]

Теория малоутловой дифракции исходит из представлений, близких к применяемым в теории рассеяния света растворами макромолекул (с. 82). Теория позволяет связать наблюдаемую под теми или иными углами интенсивность рассеяния, т. е. его индикатрису с расстояниями между рассеивающими частицами. Для определения формы макромолекулы приходится задаться некоторыми о ней предположениями — представить макромолекулу в виде шара, эллипсоида или вытянутого цилиндра. Для таких, а также для других простых тел вычисляется индикатриса рассеяния как функция геометрических параметров макромолекулы. Так, для шара определяется электронный радиус инерции (электронный, так как рентгеновские лучи рассеиваются электронами). Для миоглобина этот радиус оказался равным 1,6 нм, что хорошо согласуется с размерами, определенными методом рентгеноструктурного анализа кристаллического миоглобина. Если рассеивающая система вытянута, то определяется электронный радиус инерции ее поперечного сечения. По индикатрисам рассеяния определены размеры, форма и молекулярные массы ряда биополимеров. Так, лизоцим представляется эквивалентным эллипсоидом вращения с размерами 2,8 X 2,8 X 5,0 нм . Более детальная информация о форме однородных частиц получается из анализа кривых рассеяния под большими углами (от [c.136]

Векторы а, Ь, с характеризуют структуру кристаллической рещетки. Целые числа h, k, I миллеровские индексы) определяют все возможные кристаллические плоскости, от которых отражаются рентгеновские лучи. Соответствующие межплоскост-ные расстояния dhhi различны для разных индексов. На рис. 5.2 показаны сечения различных систем отражающих плоскостей в ортогональной кристаллической рещетке. [c.267]

Малость длины дебройлевской волны для электрона означает большой радиус сферы Эвальда (см. стр. 268), ее вырождение в плоскость. Это сильно упрощает истолкование электро-нограмм, так как они оказываются прямыми изображениями плоского сечения обратной решетки кристалла. Атомные факторы для рассеяния электронов также пропорциональны атомному номеру, но по своей абсолютной величине они во много раз больше, чем для рентгеновских лучей. Иными словами, электроны взаимодействуют с веществом значительно сильнее, чем рентгеновские кванты. Поэтому они сильно поглощаются веществом, и для исследования его структуры необходимо пользоваться очень тонкими пленками толщиной порядка 10 —10 см, тогда как размеры кристаллов, изучаемых в рентгенографии, порядка 10 см. Исследование необходимо проводить в высоком вакууме. Это делает невозможным применение электронографии для изучения глобулярных белков в их нативном состоянии — вакуум высушит белок. Тем не менее электронография позволяет получить ценные результаты при исследовании фибриллярных белковых структур, синтетических полимеров и других аморфных тел. Существенное преимущество электронографии состоит в том, что она позволяет локализовать атомы водорода (подробное изложение см. в монографиях [31, 32]). [c.275]

Нейтронно-активационный анализ (ЫАА). Активационное определение брома выполняют с применением тепловых, надтепло-вых и быстрых нейтронов. Учитывая большие плотности потока активирующих частиц в современных реакторах (10 —10 нейтрон/см -сек) и относительно большие сечения реакций с участием изотопов брома, для его определения в различных материалах в основном используют тепловые и надтепловые нейтроны. В зависимости от временного режима активации анализ ведут по изотопам 8ogj. 82gj, ядерные характеристики и реакции образования которых приведены в главе I. Изотоп в Вг определяют по пику рентгеновского излучения с энергией 0,01163 Мэв, изотоп Вг — по 7-пику с энергией 0,617 Мэв и Вг ( Вг) — по 7-пикам с энергиями 1,04 0,780, 0,618 и 0,544 Мэв (или одному из этих пиков). В соответствии со значениями периодов полураспада перечисленных изотопов время облучения нейтронами по наиболее короткоживущему Вг составляет 1—2 мин., время охлаждения — несколько минут [87, 942]. Определение брома по активности "Вг ведут после 3 мин. облучения в реакторе и 2 час. охлаждения [505, 831]. Продолжительность облучения в методах, основанных на измерении активности самого долгоживущего Вг, зависит от ряда параметров и варьирует в пределах от 30 мин. до 48 час., время охлаждения — от 14 до 170 час. [87, 303, 785, [c.154]

Предпочтительность применения рентгеновской топографии определяется слабым поглощением излучения углеродом, высоким разрешением метода, позволяющим фиксировать дефекты упаковки, блочность, единичные дислокации, вхождение примесей, границы двойников и др. Использовалось МоКа- и Си -излучение, выбранные отражения (404), (044), (404), (333), (440), (511) обеспечили получение картины сечений (100), (ПО) и (111) соответственное минимальными искажениями. [c.397]