Дублеты, разделение

Электронная структура и физические свойства ряда стабильных алифатических нитроксильных радикалов исследованы главным образом американскими [34, 35], советскими [41] и французскими [36, 42, 44] исследователями. Как и все радикалы, нитроксильные радикалы можно изучать методом электронного парамагнитного резонанса [45]. Наибольший интерес представляет сверхтонкое расщепление на ядре (рис. 5). Это ядро имеет спин, равный 1, поэтому оно может взаимодействовать со спином электрона, расщепляя сигнал в ЭПР-спектре на три отдельные линии равной интенсивности соответственно трем значениям проекции ядерного спина на направление магнитного поля +1, 0,-1. Каждая линия этого триплета может далее расщепляться из-за слабого взаимодействия с ядром (спин /г) соседней метильной группы [36, 46], а в отдельных случаях даже может наблюдаться слабое расщепление на протонах [35, 42]. Кроме того, в спектре может наблюдаться слабый дублет, разделенный приблизительно на 21 Гс, возникающий из-за взаимодействия с ядром (спин Чг), природное содержание которого, равно 0,36% [42]. [c.18]

Разделение дублета для размытой линии может быть выполнено разными способами. Ниже дано описание графического метода, причем предполагается, что форма и ширина обеих линий одинаковы. [c.233]

Это уравнение можно использовать для графического разделения линии на компоненты дублета.При Х<д у Х) = ) Это позволяет рассчитать вклад кривой Уа. (х)= 2У 1 на следующем участке кривой (до 2 ) и вычислить значения y X)w i этом участке и т.д. В результате находят кривую уо(, и производят затем подбор аппроксимирующей функ ции. [c.234]

На рпс. 15 приведено не полное схематическое изображение спектра атома натрия. Хорошо известно, что каждая из линий спектра в действительности является дублетом. Знаменитый натриевый дублет 5896 и 5890 А вызван двумя очень близкими переходами, энергии которых равны соответственно 48 630 и 48 700 кал/г-атом. Таким образом, энергия двух возбужденных состояний отличается всего лишь на 70 кал/г-атом. На основании изложенного выше, казалось бы, можно было объяснить эту разницу с помощью теории относительности так, как предлагал Зоммерфельд. Однако объяснение оказалось совершенно другим. Под действием не слишком сильного магнитного поля натриевый дублет расщепляется довольно странным и сложным образом. Исходные линии исчезают, причем одна из них заменяется четырьмя линиями, расположенными симметрично относительно того места, где находилась первоначальная линия. Совершенно аналогично другая линия расщепляется на шесть компонент. Разделение в каждом случае оказывается меньше классического еН/ лтс, найденного для нормального эффекта Зеемана в слабых полях. Ланде [28] удалось подобрать [c.124]

Анализ на изотопную распространенность и элементный состав жидких проб — водных или органических растворов и суспензий с диспергированными твердыми нерас-творенными частицами — проводят на МС, в которьгх в качестве источников ионов используется ИСП. В плазме при воздействии высокой температуры (7000-8000 К) и высокочастотного электрического поля происходит атомизация вещества пробы и образование ионов [2, 7, 8, 21, 30]. Анализаторами ионов для таких источников являются секторные магниты, системы разделения с двойной фокусировкой, анализаторы на основе ионно-циклотронного резонанса, времяпролетные и квадрупольные системы. Выбор анализатора зависит от требуемого разрешения по массам (из-за наложения дублетов ионов в исследуемой области массовых чисел), пофешности измерения изотопного и элементного состава, количества анализов, а также экономических факторов. Наиболее часто встречающиеся в масс-спектрах дублеты приведены в табл. 7.9. [c.859]

Очень часто в спектрах полимеров большую роль играют системы двух взаимодействующих спинов, которые могут быть легко рассчитаны даже в случае сильной связи. При малой величине отношения /Av (<0,01) спектр такой системы состоит из двух хорошо разделенных дублетов с пиками равной интенсивности. С точностью до ошибки эксперимента / равно расщеплению дублетов, а Ау — расстоянию между их центрами, то есть система может быть обозначена как АХ. При увеличении //Av до 0,1 (рис. 1.16, а) внутренние пики становятся явно больше наружных, но еще можно допустить, что это спектр системы АХ и рассчитывать его по наблюдаемым параметрам. Когда отношение J Av превышает 0,1—0,2, распределение интенсивностей пиков еще более искажается, а центры дублетов уже не соответствуют химическим сдвигам в то же время расщепление пиков дублета в точности равно / независимо от его значения. Такая пара спинов обозначается как система АВ. По спектру системы АВ легко определить Дv [c.45]

Выбор определения ограничивается трудностью измерения достигаемой разрешающей силы. Для прямого измерения разрешающей силы используется область синглетных пиков, а не дублеты, степень разрешения которых неопределенна. Например, измеряется ширина синглетного пика на расстоянии 0,05 высоты от основания. Она является мерой разделения двух близких повели- [c.65]

Чувствительность усилителя масс-спектрометра устанавливается на соответствующем уровне при каждом изменении амплитуды. Улучшенное разделение дублетов (ОН — достигается при [c.244]

И напряжением, вычисленным для ионов с данной массой, выходящих из области ионизации без заметной кинетической энергии [813,2105]. Исходя из сказанного выше, ионы с различной кинетической энергией, образованные в приборе с простой фокусировкой, будут вызывать уширение пика [1350], и форма пика будет отражать распределение энергии. Если ионы образуются благодаря двум процессам, в одном из которых они обладают нулевой кинетической энергией, а в другом энергией, концентрирующейся в узких пределах, то пик с данным массовым числом превратится в дублет [925, 1421]. Разделение компонентов такого дублета зависит от импульса иона, возникающего вследствие кинетической энергии диссоциации, и будет наибольшим при низком ускоряющем напряжении. Для осуществления разделения используются значения в 100 эв. Применяя метод быстрой развертки, мож но обнаружить малые различия в форме между двумя пиками, которые вызваны наличием кинетической энергии. На экране каждого осциллографа при быстрой регистрации могут быть развернуты два пика наложение изображения позволяет заметить очень малые различия в форме [1187]. [c.292]

Возможность разделения мультиплетов с номинальной массой 200 не обсуждается детально. Это сделано исходя из тех соображений, что мы включили в рассмотрение не только молекулярные и осколочные ионы, но также ионы, содержащие тяжелые изотопы. Эти последние встречаются в дублетах (На — О) и (СН — С), для которых М/ДМ равно 129 ООО и 45 ООО соответственно. Естественно, что разделение их на любом аналитическом приборе маловероятно. [c.312]

Пик в масс-спектре чистого соединения не может быть отнесен к молекулярному иону, если он представляет собой дублет [исключение составляет наложение пиков (М— )" от изотопов]. Разрешающая сила приборов часто бывает недостаточна для разделения близких дублетов,и если форма пика указывает на его синглет-ность, то наличие ионов другого типа можно обнаружить измерением распространенностей изотопов, которые могут быть несколько необычными по сравнению с нормальным ионом, в гипотетическом примере, приведенном на стр. 311. Это будет указывать на присутствие ионов другого типа в пике, соответствующем массе изотопных ионов, а также на то, что ионы, обладающие более низкой массой, не могут быть молекулярными. Наиболее тяжелые ионы в спектре чистого соединения не могут быть молекулярными, если точное измерение масс двух наиболее тяжелых ионов в спектре дает формулу, содержащую большую разность в атомном составе, чем это следует из их разности по массам. [c.315]

Пользуясь (9.11), можно рассчитать толщину фильтра, необходимого для подавления одной из двух близких линий, разделенных интервалом АЯ. Например, такой фильтр для подавления одной из компонент резонансного дублета натрия (5889,95 5895,92 А), сделанный из кварцевой пластинки [ rig — щ)г) = 0,00911], имеет толщину 32 мм. Тот же фильтр из кальцита пе — п )в = 0,1719] имеет толщину примерно в 18,9 раза меньшую, т. е. 1,7 мм. [c.248]

В дополнение к взаимодействию между водородными атомами кольца в производных тиофена наблюдается взаимодействие между протонами кольца и боковой цепи [34, 99]. Так, спектры альдегидного водорода 2- и 3-тиофенальдегида являются дублетами с расщеплением порядка 1 гц. Это разделение не зависит от температуры,- показывая тем самым, что оно вызвано не ограниченным вращением альдегидной группы, связанным с сопряжением между альдегидной группой и кольцом и образованием двойной связи С—С. То, что расщепление сигнала альдегидной группы связано со спин-спиновым взаимодействием, было подтверждено спектрами дизамещенных соединений, в которых сигналы водородов кольца легко идентифицируются. Спектр З-бром-2-тиофен-альдегида (рис. 13) содержит дублет альдегидной группы, квартет протона 5-Н и дублет протона 4-Н, показывая, что взаимодействие происходит между альдегидным протоном и прогоном 5-Н. [c.424]

Инфракрасный спектр СО состоит из серии полос поглощения, каждая ии которых имеет два максимума, разделенных интервалом приблизительно в 30 сж Эти пары максимумов соответствуют Р- и Л-ветвям, рассмотренным в гл. X. Пары максимумов часто встречаются в виде дублетов, разделенных интервалом около 105 см , как это показано на рис. 4 [10]. В табл. 4 приведены положения полос поглощения, выраженные в микронах (первый столбец) и волновых числах (второй столбец). В третьем столбце указаны относительные интенсивности полос, а в следующем — средние значения волновых чисел для максимумов, лежащих близко друг к другу. В двух носледних столб цах приведены результаты интерпретации полос, согласно Шеферу [11] и Эйкену [12]. Шефер, приняв изогнутую модель молекулы, пришел к выводу, что максимумы поглощения наиболее интенсивных полос А, В ж С) с относительными интенсивностями соответственно 6, 10 и 10 непосредственно дают три основные частоты колебаний, которые в этом случае должны быть равны 3670, 2352 и 672 jn К подобным же выводам пришел и Деннисон [13]. Эйкен обратил внимание на несовместимость изогнутой модели молекулы двуокиси углерода с теплоемкостью газа. При низких температурах колебательная теплоемкость пренебрежимо мала, а опытные значения вращательной теплоемкости ясно указывают на вращение молекулы, подобное вращению жесткой гантели. Поэтому молекула должна быть линейной. Далее, в случае симметричной линейной трехатомной молекулы оптически активны только две из трех частот. Колебание, совершающееся с частотой (см. рис. 3), не изменяет дипольного момента молекулы (равного нулю) и поэтому не обнаруживается в спектре поглощения, за исключением комбинаций с двумя активными частотами. В связи с этим Эйкен принимает, что две из частот колебаний легко можно найти непосредственно иа положений интенсивных максимумов иогло1цения, а третья встречается только в комбинации. Для наиболее интенсивных полос в областях 15,05 — [c.412]

КонцентрацияНС и /т (сек- ) сверхувниз 2М, 3,1 0,06 М, 16,3 0,017 М. 21,7 0,010 М, 25,0 0,0011 М. 116. Короткие вертикальные линии — калибровочные отметки через каждые 2.5 гц. Верхний дублет разделен 5,1 гц. (ПШ), = 0,3 гц. Отметьте уширение дублета (сверху вниз) и переход его [c.225]

Для масс-спектров органических соединений характерны дублетные пики, образованные ионами, состоящими из распространенных изотопов ( H4—О АМ = 36,396 Ю З ат. ед. массы), и ионами, включающими в себя малораспространенные изотопы (С Н—С ДМ = 4,468 10 ат. ед. массы). Возможность разрешения этих дублетов определяется величиной М/АМ, где М — масса, для которой наблюдается дублет, а АМ — разность масс ионов, образующих дублетный иик. Чтобы разрешить все возмол<ные мультиплетные пики, требуется очень большая разрешающая сила так, например, для разделения N3—С2Н2О3 необходима разрешающая сила 100 000 [217]. Однако наиболее часто встречающиеся дублеты в масс-спектрах веществ, содержащих атомы Н, С, N, О и S, образуются попами, отличающимися по составу только простыми группами, для разрешения которых в области масс 400 требуется разрешающая сила порядка ЮООО. При этом предполагается, что полное разрешение дублетных пиков не обязательно для идентификации компонентов дублета. [c.125]

Теория кристаллического поля предсказывает, что когда в октаэдрическом поле лигандов на / -подуровне центрального атома одна орбиталь занята неспаренньш электроном или парой электронов, а вторая орбиталь свободна, то происходит снятие энергетического вырождения . -подуровня (разделение дважды вырожденного дублета на два невырожденных синглета) — эффект Яна—Теллера. В соответствии с табл. 11.1 это имеет место в слабом поле лигандов для центральных атомов с конфигурацией djd] и в сильном поле лигандов для центральных атомов с конфигурациями d dl и d d [c.190]

Алканы и циклоалканы обнаруживают валентные колебания С—Н связей с частотами ниже 3000 см . Вообш е валентные колебания Сцр —Н, как правило, наблюдаются ниже 3000 см" , в то время как валентные колебания С р —Н и С р—Н лежат выше 3000 см" . (Важным исключением является циклопропан, который поглош,ает примерно при 3050 см .) Валентные колебания групп —СНа— и СНд— проявляются в виде дублетов (т. е. двух принадлежаш,их одной группе поглощений с максимумами, разделенными интервалом частот) из-за наличия вкладов от симметричных и антисимметричных колебаний. К сожалению, многие дешевые ИК-спектрометры не могут разрешить (т. е. разделить) компоненты этих дублетов, и они [c.504]

Спектр ЯМР- Н неизвестного образца, который из активных в ЯМР ядер содерн пт только протоны, представляет собой два острых пика, разделенных интервалом в 10 Гц. Являются ли эти два пика компонентами дублета или же двумя синглетами, хими-ческпе сдвпгн которых случайно оказались близки Объясните ответ. [c.581]

Данные о расстояниях между протонами в ряде гидратов неорганических солей имеются в работе Мак-Грета и Сильвиди [ПО]. Авторы использовали предложенный Пейком [134] метод ориентации монокристалла в магнитном поле в этом случае в спектре имеется дублет. При изменении ориентации кристалла относительно магнитного поля изменяется расстояние между линиями дублета. Расстояние между протонами можно рассчитать из зависимости наблюдаемого разделения линий дублета от параметров ориентации кристалла. Исследованы 11 гидратов [c.481]

Для разделения этой смеси использовалась бумажная хроматография. В качестве подвижной фазы для элюирования использовались толуол, этиловый спирт и четыреххлористый углерод. Из окисляющегося углеводородного раствора фенола отбирались пробы и наносились в виде полоски вблизи нижнего края ленты фильтровальной бумаги. После высушивания лента опускалась нижним краем в растворитель, служащий подвижной фазой. Наилучшее разделение происходило при элюировании 96%-ным этиловым спиртом. В этом случае нанесенная полоска раствора окисленного фенола четко разделялась на два фронта нижний — оранжевый, с = О, и верхний — желтый, Rf 1. Типичная хроматограмма приведена на рис. 54. После высушивания хроматограмма разделялась на участки, каждый из которых помещался в резонатор спектрометра ЭПР, а затем записывались спектры ЭПР. Показано, что первый, желтый участок хроматограммы дает спектр ЭПР, в точности совпадающий со спектром ЭПР первичного радикала (рис. 9,а,стр. 57).Второй, оранжевый участок дает спектр, представляющий собой несколько асимметричный дублет с соотношением интенсивностей 1 1 и расщеплением 14,5 э (рис. 55,а). После смачивания этого участка бумаги растворителем (бензол, толуол, ССЦ) этот спектр превращался в другой, изображенный на рис. 55,6. Как мы видели ранее, такой спектр дают радикалы фенола, образующегося в качестве основного продукта при окислении 2,6-дитретбутил-4-метил-фенола в результате изомеризации его первичных радикалов. [c.164]

Пример разделения изобарных ионов С Н+гл-э, СяН2 -1з5+ и С Н+2 -2з приведен на рис. ПО. Многие ряды изобарных ионов разного элементного состава могут быть разделены с помощью масс-спектрометрии высокого разрешения. Для разделения дублетов СгНв—5, Н12—С в области массовых чисел около 300 требуется разрешающая способность около 3000—5000, дублетов СН4—О, ЫН2—О, О2—3, Ы20--С8— 10 000—15 000, дублетов СН2—N. СО—N2 — 20 000—30 ООО, а дублетов С3Н—Н45, СП— С— 100 000. Масс-спектрометры, используемые для химического анализа, не всегда могут обеспечить требуемую разрешающую способность для разрешения всех пиков в мультиплетах. В таких случаях разделение перекрывающихся групп ионов необходимо, как и в случае масс-спектрометрии низкого разрешения, осуществлять с помощью моделирования огибающих распределения интенсивностей пиков. [c.337]

Смещение изображения, вызываемое несимметричными аберрациями второго порядка, рассматривалось Робинсоном [1722J, который указал на возможные для такого случая ошибки в измерении дублетов масс. Исследовались также психологические факторы [1957], влияющие на определение положения несимметричных линий. Было показано, что наблюдатель стремится установить максимум линии ближе к более контрастному краю, и поэтому предпочтительнее использовать результаты, получаемые при микрофотометриро-вании, а не данные визуальных определений. Это особенно важно для измерения тех дублетов, компоненты которых недостаточно хорошо разделены даже если распределение интенсивностей в индивидуальных линиях симметрично, затемнение между ними будет больше, чем по наружным краям. Поэтому будет наблюдаться тенденция к тому, чтобы установить максимум ближе к наружному краю, и вследствие этого можно переоценить разделение компонентов дублета. Исследование линий, получаемых регистрацией на микрофотометре, показало, что они обеспечивают получение сведений о том, является ли каждый компонент дублета действительно синглетным и нет ли тонкой структуры. [c.49]

Относительная точность измерения масс будет несколько различаться для различных комбинаций атомов и будет возрастать с увеличением массового числа, при котором производится измерение. Разрешающая сила, необходимая для разделения дублетов, также увеличивается с повышением массового числа, при котором наблюдается дублет. На этом основании в приложение 7 включены величины МАМ для каждого дублета. Если М1АМ является мерой разрешения, необходимого для разделения компонентов дублета с массовым числом М, при котором наблюдается дублет, то МАМ характеризует разрешающую силу на единицу массы и может быть использована для относительной оценки трудности разделения того или иного дублета. Если необходимо, это отношение легко может быть превращено в соответствующую величину М АМ. Большинство приведенных дублетов содержит тяжелые изотопы одного из эле- [c.63]

Термины разделение и разрешающая сила весьма часто встречались выше. Принято считать, что дублет разрешается , когда его составляющие разделены , и что трудность разделения, или разрешающая сила, необходимая для разделения двух соседних пиков, определяется величиной М/АМ. В гл. 1 было показано, что Демпстер вывел геометрический предел разрешения в приборе с простой фокусировкой М/ДМ = Rl Si+ S . Он принял, что совершенное изображение входной щели шириной Si просматривается через выходную щель шириной и что идеальное разрешение пиков будет иметь место в том случае, когда они будут полностью разрешены так, что регистрируемая интенсивность между пиками мгновенно понижается до нуля. Несовершенная форма пика делает такое определение непригодным, поскольку различные аберрации приводят к увеличению ширины пика, рассеяние на молекулах газа вызывает образование хвостов с каждой стороны пика (интенсивность ионного пучка асимптотически приближается к нулю с каждой стороны массового пика). Вследствие этого необходимо видоизменить приведенное выше выражение, что может быть сделано различными способами. Один из предельных случаев формулируется следующим образом два равных пика высотой Н могут считаться разрешенными, когда высота фона ДЯ между пиками меньше 0,00Ш (см. рис. 19). В других случаях пики считаются разрешенными при ДЯ менее 0,01Я, 0,1Я или 0,5Я. Трудность выбора критерия обусловлена тем, что в масс-спектрометре нельзя определить разрешающую силу по аналогии с физической оптикой, где она основывается на разнице интенсивности света, ощущаемой человеческим глазом. Поэтому, говоря об оптических изображениях, можнЬ сказать, что они разрешены, когда они оба присутствуют раздельно. Соответствующие конструкции усилителей с фотоэлементами, присоединенных к регистрирующему устройству, позволяют обнаружить даже небольшую разницу в интенсивности в этом случае оптическая проблема становится аналогичной масс-спектрометрической. [c.64]

При низком разрешении, поскольку массовые пики становятся шире, их легче находить и можно применить очень высокую скорость развертки. Желательно также при использовании самописца с автоматическим переключателем пределов выбирать соответствующую чувствительность для регистрации пиков при высоком разрешении в процессе развертки масс-спектра при низком разрешении. Однако шунты должны быть заблокированы, прежде чем перейти к высокому разрешению возвращающее напряжение, связанное с работой переключателей пределов, становится настолько значительным, что возвращает самописец значительно дальше точки появления пика высокого разрешения. Когда это происходит, прибор необходимо предохранить от переключения на полную чувствительность. Поэтому обычные шунтирующие системы не являются идеальными для таких целей, особенно если необходимо регистрировать компоненты дублетов при различных чувствительностях. Для таких работ более пригодными оказываются многоканальные регистраторы типа шлейфового осциллографа . Разделение компонентов мультиплетного пика сравнивается с пиком, ширина которого используется для получения информации о составе разницы в массе. На этом основании не используются приспособления для ускорения развертки между сильно удаленными дублетами, несмотря на то, что это значительно сократило бы время регистрации. Продолжительность регистрации дублета достаточно велика, поскольку необходимо дополнительно записывать области, находящиеся на расстоянии примерно 0,05 а. е. м. с каждой стороны мультиплета, чтобы гарантировать дублет от возможных наложений. Рассмотрим дублет Аг" — (СзН " с номинальной массой 40. Эти пики различаются на 69-10 а. е. м., и если использовать скорость развертки, указанную выше, то каждый компонент зарегистрируется за одну секунду, общее время развертки двух пиков составит 17 сек, а на развертку спектра от масс на 0,05 а. е. м. ниже Аг до массы на 0,05 а. е. м. выше С3Н4) будет затрачено 42 сек. В этом случае также необходимо использовать возможно меньшую разрешающую силу для получения минимального времени развертки. Метод изменения разрешающей силы для каждого спектра описан ниже. [c.237]

Допустим, что масс-спектр органического соединения дает нам отчетливый пик, принадлежащий молекулярному иону, и лишь малые пики ионов, на одну или две массовые единицы меньшие молекулярного, образующиеся вследствие отрыва водорода от молекулярного иона. При этом наложение на молекулярные ионы осколочных, обедненных водородом, содержащих тяжелые изотопы, будет незначительным. Элементарный состав такого иона может бьггь получен путем измерения его массы с достаточной точностью. В приложении 1 собраны массы различных комбинаций атомов углерода, водорода, азота и кислорода. Каждому массовому числу, приведенному в таблице, соответствуют комбинации не только целых молекул, но и осколков, и ниже описан способ, позволяющий различить молекулярный и осколочные ионы. То, что состав ионов может быть получен на основании измерения масс, указывалось выше, но следует рассмотреть точность, необходимую в тех случаях, когда присутствуют только атомы углерода, водорода, азота и кислорода, поскольку эти элементы являются основными в органической химии. Точность, необходимая при измерении масс синглетных ионов, может быть установлена на основании изучения дублетов, поскольку разделение компонентов дублета характеризует требуемую точность измерений. Дублеты, перечисленные в приложении 3, показывают, что пики с одинаковыми массовыми числами, не содержащие тяжелых изотопов, могут отличаться по массам на одну из следующих разностей [c.308]

Предлагались различные методы анализа смесей, компоненты которых отличаются только по изотопному составу. Теоретически возможно, применяя высокое разрешение, разделить многие пики в масс-спектрах таких смесей. Разность масс Hg и О составляет только 1,55-10 а. е. м., и для разделения изобарных ионов требуется разрешающая сила 646 на каждое массовое число. Так, например, в масс-спектре метанов М/АМ между (СН4) и ( H3D) при массе 16 составляет 10365. Разность масс СН — С составляет 4,48-10- а. е. м., поэтому для разделения таким способом дублетов требуется разрешающая сила 223,4 на каждое массовое число. Несмотря на то, что потенциалы появления молекулярных ионов близки, потенциал появления иона (СН2О) из монодейтерометана почти на 1 эв больше, чем для метана [1944] это обеспечивает возможность определения молекулярных ионов при использовании низких энергий ионизирующих электронов без помех, обусловленных осколками других присутствующих соединений. [c.473]

Вращение электрона вокруг собственной оси в отличие от вращения вокруг атомного ядра обозначают как (нем.) или spin (англ.). Оно определяется квантовым числом, уже упомянутым на стр. 145 и называемым спиновым квантовым числом s. Вращение электрона вокруг собственной оси вносит свою долю в магнитный момент атома, так как вращение электрически заряженного шарика вокруг собственной оси оказывает такое же действие, как электрический круговой ток. Правда, влияние спинового квантового числа s на магнитный момент атома, так же как влияние магнитного квантового числа т, обусловленного орбитальным моментом, проявляется только тогда, когда на атом действует внешнее магнитное поле. Однако, с другой стороны, вращение электрона вокруг собственной оси оказывает также влияние на вращательный импульс атома. Вследствие этого общий вращательный импульс атома и таким образом его энергетическое состояние зависят не только от орбитального квантового числа I, но также и от спинового квантового числа s. Из обоих чисел образуется так называемое внутреннее квантовое число j. Последнее всегда имеет положительное значение, а именно для I = О оно имеет только одно значение (] = 1/2), а для каждого / > О два значения, например j = 1з ж ) = 1/2 ддя I = 1. С позиций волновой механики также можно обосновать спиновое квантовое число s и его комбинацию с I, дающую квантовое число /, хотя объяснение спинового квантового числа S здесь несколько иное. Так как у щелочных металлов все -уровни, за исключением тех, для которых I = 0, делятся на два энергетических уровня, все линии в спектрах щелочных металлов, которые образуются за счет перехода на основной уровень 1 = 0, должны давать дублеты. Это и наблюдается в действительности. Расстояние между линиями дублета сильно возрастает с увеличением атомного веса. У желтой натриевой линии оно так мало (разница в длине волн 5,97 A), что для разделения этих составляющих требуется хороший спектроскоп. У цезия расстояние, однако, так велико, что обе синие линии цезия различаются даже при довольно слабой дисперсии (разница в длине волн составляет здесь 37,94 A для лежащего в инфракрасной области дублета первого члена главной серии цезия она составляет даже 422,4А). При переходах на более высокие уровни, чем основной, в эмиссионном спектре могут появиться более чем две линии, так как в этом случае не только исходный, но и конечный уровень разделяется на два уровня. В таких случаях говорят о сложных дублетах . [c.197]

Предположим сначала, что отношение М1 М дает величину разрешающей силы, необходимой для разделения линий такого дублета. Для того чтобы на основании масс-спектра получить наибольшее количество данных о веществе, необходимо иметь возможность разделять компоненты этих дублетных линий и измерять относительную интенсивность каждого нз присутствующих компонентов. Для этих целей необходим прибор, имеющий разрешающую силу порядка многих тысяч для линий с низкими массовыми числами. По мере того как молекулярный вес исследуемых веществ будет возрастать, линии будут простираться до таких массовых чисел, при которых MIAM становится больше разрешающей силы большинства применяемых для аналиттеских целей промышленных приборов, дан е если АМ составляет 1 ат. e i . массы. При работе с углеводородами довольно часто приходится регистрировать массы, отличающиеся на единицу в интервале масс порядка 1000. Однако в этой работе мы не будем рассматривать вопросы, связанные с анализами подобного рода. Основное внимание будет сосредоточено на проблеме высокой разрешающей силы для масс, лежащих в интервале от 200 ат. ед. массы и ниже. [c.327]

HgJ2, РвЛг С(1, 5е И др.) наблюдается дискретная структура в спектре поглощения, состоящая из узких линий, расположенных около длинноволноЕого края собственного поглощения кристаллов. Наличие этой структуры поглощения указывает на существование системы энергетических уровней в области запретной зоны этих кристаллов. Рядом авторов эти уровни приписываются экситонным состояниям. Е. Ф. Гросс и его сотрудники считают, что по крайней мере часть наблюдаемых линий и полос в исследованных ими спектрах сернистого и селенистого кадмия с большой степенью достоверности может быть приписана экситону. Критикуя эту интерпретацию спектров, представители киевской группы физиков (В. Л. Броуде, В. В. Еременко, Э. И. Рашба) пришли к выводу, что структуру спектров люминесценции сернистого кадмия следует связывать не с экситонами, а с электронными переходами вблизи различных пространственно разделенных центров све-чения . Экспериментально установлено наличие эффекта Зеемана в спектре закиси меди [21 ], также приписываемого экситону. Первый член желтой серии экситона в кристалле закиси меди расщепляется в магнитном поле на триплет, состоящий, как обычно, из несмещенной линии в я-компоненте и дублета в а-компоненте. При глубоком охлаждении удается также установить влияние магнитного поля и на другие члены желтой серии закиси меди. [c.12]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология