Дифракция рентгеновских луче телами

Какие из описанных ниже экспериментов самым непосредственным образом подтверждают гипотезу де Бройля о волновых свойствах материи а) дифракция рентгеновских лучей б) фотоэлектрический эффект в) рассеяние альфа-частиц при прохождении через металлическую фольгу г) излучение абсолютно черного тела д) дифракция электронов [c.380]

Такое характеристичное свойство молекулы, как расстояния между составляющими ее атомами, может дать ценную информацию при сравнении одних и тех же связей в различных молекулах. Основными методами определения длин связей и углов между ними являются дифракция рентгеновских лучей (пригодная только для твердых тел), дифракция электронов (пригодная только для газообразных соединений) и спектроскопические методы. Расстояние между атомами, соединенными химической связью, непостоянно, так как молекула все время колеблется, поэтому измеряемые расстояния представляют собой средние величины и разные методы дают неодинаковые результаты [41]. Однако это следует принимать во внимание только тогда, когда важны тонкие различия. [c.35]

Гипотеза о том, что в целом структура воды подобна структуре льда (эта гипотеза, конечно, допускает существование большего беспорядка в жидкости, чем в твердом теле), подтверждается исследованиями дифракции рентгеновских лучей. Из рентгенограмм воды при различных температурах (1.5- Ч-83°С) были получены кривые радиального распределения, откуда далее из площадей пиков можно оценить среднее число соседних молекул на различных расстояниях. Первый пик на кривой означает, что при 1,5°С у каждой молекулы воды в среднем имеется 4,4 соседние молекулы на среднем расстоянии 2,90 А прп 83°С соответствующие цифры равны 4,9 молекулы и 3,05 А. За первым пиком кривая постепенно выходит на плохо разрешенный максимум в области 4,5—4,9 А, который указывает на существование молекул, находящихся между ближайшим и следующим за ближайшим окружением в структуре льда (2,8 и 4,5 А). Вследствие того что кривая радиального распределения содержит лишь небольшое число сравнительно хорошо разрешенных пиков, она может быть интерпретирована многими способами. [c.389]

Поскольку определение параметров ячейки по картине дифракции рентгеновских лучей (или электронов) не всегда является однозначным даже в случае низкомолекулярных кристаллических тел, то такое определение в случае кристаллических полимеров, дающих значительно менее четкие картины рассеяния, приобретает сплошь и рядом чисто формальный характер. Этот формализм в истолковании рентгенограмм и электронограмм приводит пе только к ошибочным выводам о строении кристаллических полимеров, но и служит причиной долго существовавшего заблуждения о кристалличности целлюлозы 122], история возникновения которого весьма поучительна. [c.80]

Основные научные исследования посвящены теории дифракции рентгеновских лучей и рентгеноструктурному анализу. Независимо от русского кристаллофизика Ю. В. Вульфа установил (1913) соотношение между длиной волны рассеянных кристаллом рентгеновских лучей, величиной угла отклонения этих лучей после рассеяния и константами кристаллической решетки, лежащее в основе рентгеноспектрального анализа. Определил (1928) посредством рентгенографических методов строение силикатов. Совместно с Дж. Д. Берналом и Л. К- Полингом заложил (1946—1950) основы структурного анализа белка. Исследовал строение многих белковых тел. Был одним из инициаторов применения рентгеноструктурных методов для исследований в области молекулярной биологии. [c.83]

Разделенные изотопы также находят применение в спектроскопии и в физике твердого тела [1169]. Разницы в массах изотопов вызывают колебательные и вращательные изотопные эффекты в молекулярных спектрах. Разнообразные интересные спектроскопические эффекты вызваны разницей в значениях ядерного спина, магнитного момента и электрического квадрупольного момента для различных изотопов. Изучение этих эффектов очень трудно и иногда невозможно без наличия образцов, сильно обогащенных определенным изотопом. Исследование изотопных сдвигов в оптических спектрах атомов [670, 1170, 1847] дает возможность получить информацию о распределении заряда в ядрах различных изотопов и, следовательно, о размере, форме и структуре ядра. Многие из объемных свойств твердых тел зависят от масс атомов, и хотя эти эффекты малы и трудноопределимы, они изучались при рассмотрении электрической проводимости, температуры плавления, удельного объема, удельной теплоемкости и термоэлектродвижущей силы [1346]. Исследование в области сверхпроводимости показало, что критическая температура обратно пропорциональна атомной массе [ИЗО]. Методом дифракции рентгеновских лучей было рассмотрено различие кристаллических решеток LiF и LiF. Оказалось, что решетка LiF меньше на коэффициент 1,0002. Образцы разделенных изотопов нашли применение в качестве источников излучения. Они могут быть использованы для получения монохроматического излучения и, таким образом, пригодны в качестве эталонов длин волн и точного измерения длины. [c.462]

Как уже указывалось выше, из природного графита при прессовании можно получить довольно твердое тело [57]. Детально этот процесс описан в [58]. При давлении около 7000 атм получены прямоугольные брусочки, которые имели ту же удельную поверхность (по БЭТ), что и исходный порошок, а кажущаяся плотность их была 2,18 0,03 г/см . По плотности брусочков и графитовых частиц, определенной методом дифракции рентгеновских лучей, была рассчитана пористость, оказавшаяся равной 4 2%. Ртутный поромер показал, что поры имеют диаметр около 1000 А. [c.344]

Дифракция рентгеновских лучей при их прохождении через вещество позволяет получить представление о взаимном расположении атомов вещества. Эта задача решается строго и практически однозначно в отношений характеристик дальнего порядка как простого, так и сложного по составу, но упорядоченного кристаллического вещества. Несколько более сложным образом (и потому не всегда однозначно) анализ дифракции дает статистически усредненные характеристики ближайших окружений атомов в кристаллах сложного состава (ближний композиционный порядок). Анализ центрального или малоуглового рассеяния позволяет исследовать неоднородности в распределении электронной плотности как в случае агломерата высокодисперсных частиц с произвольной внутренней структурой, так и в случае пористого тела (кристаллического или аморфного), содержащего включения или, наоборот, пустоты. [c.314]

То, что говорилось выше об уравнении состояния, применимо также и к твердым телам, причем для получения параметров потенциала взаимодействия используют экспериментально определяемые величины, такие, как межатомные расстояния (из опытов по дифракции рентгеновских лучей) и упругие константы [29]. [c.222]

Сама природа жидкостей не позволяет дать такого детального описания их структуры, которое можно получить для газов и твердых тел. Это связано с тем, что число параметров, необходимых для того, чтобы охарактеризовать структуру газа или кристалла, ограничено в первом случае благодаря большим расстояниям между отдельными молекулами, а во втором — вследствие периодического характера кристаллической решетки. Что касается жидкостей, то дифракция рентгеновских лучей или нейтронов не дает достаточного количества данных для характеристики их структуры. Поэтому приходится пользоваться [c.301]

Оказалось, что при исследовании структуры низкомолекулярных веществ наиболее эффективным является метод рентгеноструктурного анализа. Данный метод дает не только сведения о значениях валентных углов и расстояний между атомами в пределах отдельных молекул, но и позволяет также получить точные данные относительно взаимного расположения молекул в твердом состоянии. Следовательно, этим методом можно исследовать расположение различных частей макромолекулы относительно друг друга. Поэтому в настоящей главе подробно рассмотрен метод рентгеноструктурного анализа. В разделе 3 будут даны основы теории, связывающей дифракцию рентгеновских лучей со структурными особенностями агрегатов молекул. В разделе 4 приведены некоторые примеры применения метода рентгеноструктурного анализа для исследования структуры макромолекулярных твердых тел. [c.27]

Сделанные выше утверждения вытекают из того факта, что для аморфных твердых тел и жидкостей характерно явление дифракции рентгеновских лучей. Картины, полученные при рассеянии пучка рентгеновских лучей неподвижным образцом аморфного твердого тела или жидкости (см., например, рис, 11,6), напоминают порошковые рентгенограммы, которые получаются при рассеянии рентгеновских лучей кристаллами, только в случае аморфных веществ линии на рентгенограммах широкие и диффузные. Как раз этого и следует ожидать для случайно ориентированных кристаллов очень малого размера. В случае аморфных тел, обычно удается измерить только один или очень малое число дифракционных максимумов, которые соответствуют расстояниям, близким к меж-молекулярным. Это говорит о том, что наблюдаемые структуры представляют собой плотно упакованные ассоциаты молекул. [c.52]

Раз уж нас интересует твердое тело, необходимо, прежде чем познакомиться с дифракцией рентгеновских лучей, усвоить целый ряд новых понятий, которые не были нужны, пока рассматривались изолированные молекулы в газовой фазе. Эти понятия и будут изложены в настоящей главе, а в следующих двух главах будет показано, как можно воспользоваться дифракцией рентгеновских лучей для определения, во-первых, молекулярной симметрии и, во-вторых, параметров молекул. [c.110]

Помимо исследования распределения атомов, дифракцию рентгеновских лучей, можно применять для изучения различных свойств твердых тел. Но эти вопросы выходят за рамки настоящей книги. Для определения структуры молекул, по-видимому, не существует реального предела в отнощении размеров исследуемых молекулярных систем. [c.194]

Дифракция нейтронов потенциально представляет собой чрезвычайно мощный метод определения структур молекул. Принципы, лежащие в его основе, во многом совпадают с принципами дифракции рентгеновских лучей, но между этими методами есть и существенные различия, рассмотренные в следующем разделе. Дифракция нейтронов, так же как дифракция рентгеновских лучей, может быть использована для исследования твердых тел в виде порошков или монокристаллов опять-таки, как и дифракция рентгеновских лучей, она наиболее эффективна при работе с монокристаллами. Поскольку источники нейтронов труднодоступны, метод дифракции нейтронов применяется в основном для исследования тех аспектов строения молекул, которые трудно изучать методом дифракции рентгеновских лучей. Таким образом, результаты обоих методов часто дополняют друг друга в этом и состоит особое значение данных, полученных с помощью дифракции нейтронов. [c.196]

Структура идеального кристалла характеризуется строгой трехмерной периодичностью. Кристалл как физическое тело обычно только в пределах очень малых областей полностью отвечает этой картине однако при обработке данных дифракции рентгеновских лучей, нейтронов и электронов такими отклонениями от идеального кристалла обычно пренебрегают (о структуре реальных кристаллов см. стр. 145), [c.15]

На протяжении последних пятнадцати лет получены важные результаты большого числа теоретических и экспериментальных работ, посвященных дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с весьма совершенной структурой. Хотя существенное содержание динамической теории рассеяния в подобных кристаллах было разработано еще в 1913—1917 гг. Дарвином и Эвальдом, новые данные, имеющие принципиальный характер, привели к возникновению особого раздела физики твердого тела. [c.3]

Тесно связан с рентгенографией способ изучения структуры вещества с помощью электронных лучей. Явление дифракции электронов, проходящих сквозь кристалл, подобно явлению дифракции рентгеновских лучей, но электронные лучи взаимодействуют с атомами кристаллической решетки гораздо более энергично. Благодаря последнему обстоятельству уже при самой незначительной толщине кристаллического препарата электронные волны создают отчетливые дифракционные картины. Электронографический способ имеет определенное преимущество перед рентгенографическим, когда речь идет об изучении чрезвычайно тонких кристаллических слоев. Однако метод дифракции электронов еще не дал надежных результатов при исследовании структуры аморфных тел, хотя Н. А. Шишаков [6], получивший электронограммы кварцевого стекла рассматривает их как подтверждение кристаллитной теории и считает, что плавленый кварц состоит из деформированных кристалликов кристобалита. [c.78]

Исследование структуры кристаллов. Правильная форма кристаллов обусловлена упорядоченным расположением составляющих их частиц - атомов, ионов или молекул. Как указано выше, это расположение может быть представлено в виде кристаллической решетки - пространственного каркаса, образованного пересекающимися друг с другом плоскостями. В точках пересечения трех плоскостей (узлах решетки) лежат центры частиц, образующих кристалл. Такие представления о строении кристаллических тел высказывались давно многими исследователями, в частности М. В. Ломоносов использовал их для объяснения свойств селитры. Однако экспериментально исследовать внутреннюю структуру кристаллов удалось только в XX столетии, после того как в 1912 г. Лауэ, Фридрих и Книппинг (Германия) открыли явление дифракции рентгеновских лучей, на котором основан метод рентгеноструктурного анализа. [c.151]

Физические свойства вещества зависят от атомного состава, структуры, характера движения и взаимодействия частиц. Для определения этих параметров используются разнообразные физические методы исследования. К ним относятся методы, основанные на явлении дифракции рентгеновского излучения, электронов п нейтронов. Явление дифракции рентгеновских лучей на монокристаллах было открыто М. Лауз в 1912 г. Оно явилось началом рентгеноструктурного анализа твердых тел, жидкостей и газов. Советские ученые А. Ф. Иоффе, С. Т. Конобеевский, Н. Е. Успенский, Н. Я. Селяков одними из первых применили рентгеноструктурный метод для определения геометрических размеров кристаллических решеток и их пространственной симметрии, нахождения координат атомов кристалла, обнаружения преимущественных ориентировок (текстур), возникающих при деформации твердых тел, исследования внутренних напряжений, построения диаграмм состояния. Их основополагающие работы в этой области получили дальнейшее развитие в трудах Г. В. Курдюмова, Г. С. Жданова, Н. В. Белова, В. И. Данилова, В. И. Ивероновой, А. И. Китайгородского, Б. К. Вайнштейна и др. [c.4]

К жидкостям неприменимы те же способы исследования, что и к газам или к твердым телам. Исследование дифракции рентгеновских лучей на жидкостях позволяет получить лишь самое общее представление о их строении. К жидкостям неприменимы законы газового состояния, поскольку объем жидкости лишь незначительно изменяется в зависимости от давления и температуры. Теоретическое описание жидкого состояния еще далеко от своего завершения, однако мы можем рассматривать жидкости как промежу- [c.187]

В настоящее время метод дифракции медленных электронов (ДМЭ) относится к наиболее и1ироко применяемым методам исследования физики поверхности. Этот метод аналогичен дифракции рентгеновских лучей, но глубина проникновения медленных электронов в изучаемое твердое тело гораздо меньше, чем рентгеновских лучей. При энергии электронов от 250 до 300 эВ (1 эВ —1,602-10 Дж) основной вклад в формирование дифракционной картины вносят только первые 2—3 слоя атомов твердого тела. Поэтому данный метод особенно пригоден для изучения чистых поверхностей и адсорбционных систем. [c.38]

Корреляция между спектрами и конфигурациями ближайших соседних атомов в теории Кронига, пожйлуй, аналогична корреляции между дифракцией рентгеновских лучей жидкостями и их дифракцией кристаллическими твердыми телами. Фотоэлектроны имеют такую низкую энергию, что когерентность длины волны может быть утрачена через несколько атомных расстояний. Это должно означать, что процесс поглощения, приводящий к возникновению медленных фотоэлектронов, включает конечные состояния, плотность которых не имеет флуктуаций относительно энергий. Однако для процесса поглощения вероятность изменений зависит от энергии из-за флуктуаций электрического ноля, окружающего атом для этих флуктуаций параметр расстояния равен по порядку величины длине волны, связанной с фотоэлектроном. Считается, что в данном случае ноле рассеивает с большей или меньшей эффективностью фотоэлектрон данной длины волны от центра исходного атома. [c.159]

Нейтронные спектры для воды и льда [33, 55, 56] (рис. 8 и 9) в основном напоминают обсуждавшиеся РФР, полученные методом дифракции рентгеновских лучей. Спектры льда и кристаллогидрата 502 (рис. 8) имеют интенсивные максимумы с почти одинаковыми частотой и формой, которые при дейтерир >вании сдвигаются так же, как и максимумы крутильных колебаний. Очевидное подобие последних максимумов в спектрах льда и кристаллогидрата прежде всего отражает почти полную идентичность ближнего порядка и О-О-расстояний между ближайшими соседями в этих двух твердых телах. Однако при переходе от льда к кристаллогидрату низкочастотные максимумы (приписываемые оптическим и акустическим ветвя л в спектрах гексагонального льда) изменяются, что обусловлено, различием дальнего порядка в этих телах [56]. Выше температуры плавления льда наблюдаются следующие изменения спектра [c.247]

В данной главе приведены сведения по технике измерения дифракции рентгеновских лучей и рассеяния нейтронов, а также обобщены типичные результаты применения этих методов для исследования структуры и динамики поведения воды и ионных растворов. Такие взаимодополняющие измерения дают прямую информацию на молекулярном уровне для проверки существующих теорий или развития и усовершенствования полуэмнирических моделей жидкостей. Имеются данные, указывающие на то, что структура воды оказывает значительное влияние на гидратацию ионов и структуру растворов. Однако все еще нет достаточно общих моделей, описывающих как структуру воды и водных растворов, так и соответствующие индивидуальные и групповые движения молекул. Тем не менее в настоящее время данные дифракции рентгеновских лучей и нейтронной спектроскопии вместе с данными, полученными другими методами, могут дать много необходимых (и, возможно, достаточных) ограничений, налагаемых на количественные модели. В периоды времени, малые по сравнению с временем релаксации, вода ведет себя как "горячее", или высоковозбужденное, "квазитвердое" тело с дефектами в водородных связях и квазитетраэдрическим ближним порядком. [c.298]

Дифракция рентгеновских лучей и электронов относится к числу наиболее широко используемых методов изучения структуры кристаллических твердых тел. Данные рентгеноструктурного аналиж порошков и монокристаллов приводятся во многих работах по цеолитам. В последнее время большее распространение получило изучение дифракции электронов. Структурные исследования цеолитов, выполи ненные в предыдушие десять лет, привели к пониманию того, что ИК-спектроскопия может давать информацию не только о ближнем порядке и характеристиках связи, но и о дальнем порядке в кристаллических твердых телах. Последнее связано со взаимодействиями в решетке и электростатическими и другими эффектами. Все это характеризует ИК-спектроскопию как очень быстрый и эффективный метод исследования структуры. [c.104]

В основе рентгено- и электронографического анализа твердых тел лежат, как известно, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов, развитые многими физиками (см. [32, 33]). Методы рентгенографического изучения веш,еств разрабатывались, начиная с 1915—1918 гг. Лауэ, затем Дебаем, Шереровд, Селяковым, Бриллем, Джонсом, Кохендорфером и другими (см. [32]). Методы электронографического изучения тел создавались несколько позднее в результате работ Томсона, Тартаковского, Линника, Б рэгга, Пинскера и Вайнштейна и других (см. [33]). Электронная микроскопия, в основе которой находятся начальные элементы теории электронной оптики Буша, стала создаваться только в 30—40-х годах и продолжает интенсивно совершенствоваться. Примерно в таком же порядке эти три метода (или точнее, три системы методов) начали использоваться и для исследования катализаторов первыми были привлечены рентгенографические методы, затем электронографические и, наконец, электронная микроскопия. [c.170]

Структурная кристаллография исследует закономерности внутреннего строения кристаллов. Рентгенография исследует структуру кристаллов, анализируя дифракцию рентгеновских лучей от кристалла. Кристаллическим называют вещество, чьи частицы закономерно периодически повторяются в пространстве. Согласно одному из распространенных определений, кристаллом называется однородное анизотропное тело, способное самоог-раняться. Однородность кристалла проявляется в постоянстве химического и фазового состава его, в неизменности его скалярных свойств. Анизотропия кристалла состоит в том, что векторные свойства его могут оказаться разными, будучи измеренными в различных направлениях. Наконец, способность самоограняться есть также следствие правильного внутреннего строения кристаллического тела, благодаря которому атомы кристалла располагаются на определенных прямых (потенциальных ребрах кристалла) и плоскостях (потенциальных гранях кристалла). Малые скорости зарождения и роста приводят к возникновению крупных одиночных правильно ограненных кристаллов. Высокие скорости зарождения и роста приводят к конкурирующему росту множества зародившихся в расплаве или растворе микроскопически мелких кристаллов до их случайного столкновения друг с другом с образованием поликристаллического конгломерата. Минералы принадлежат к веществам, способным образовывать крупные монокристаллы, металлам же и сплавам свойственны высокие скорости зарождения и роста, поэтому они чаще дают поликристаллические массы, не имеющие огранки. Плоские грани и прямые ребра можно, однако, увидеть и у металлических кристаллов со свободной по- [c.10]

Большое разнообразие процессов взаимодействия электронов с веществом (рис. 19.1) делает возможным использовать электроны для изучения разных характеристик вещества. Основной характеристикой электронов, которая определяет характер их взаимодействия с веществом и, следовательно, характер получаемой информации о веществе, является скорость электронов или, точнее, их кинетическая энергия. Когерентное (упругое) рассеяние электронов с энергией порядка сотен электрон-вольт (метод дифракции медленных электронов позволяет исследовать атомно-кристаллическую структуру по.верхностного слоя твердых тел). Дифракция упруго рассеянных электронов с энергией порядка десятков и сотен килоэлектрон-вольт (метод дифракции быстрых электронов) используется для анализа трехмерной атомно-кристаллической структуры. Метод дифракции быстрых электронов в этом отношении подобен методу дифракции рентгеновских лучей. Упругое рассеяние и дифракция быстрых электронов лежат в основе еще одного метода электронно-оптического анализа метода просвечивающей электронной микроскопии. В примене- [c.424]

До сих пор мы рассматривали изменения в составе и геометрии координационной сферы комплекса. Если мы не будем касаться тех областей, где в первую очередь необходимо решить вопрос когда связь между атомами не является собственно химической связью, а определяется лишь кулоновским взаимодействием , то в случае твердых кристаллических тел существование координационной оболочки и ее геометрия легко подтверждаются дифракцией рентгеновских лучей. В случае растворов такое подтверждение достаточно убедительно (хотя и не столь легко) дают многочисленные косвенные методы. Поэтому мы можем обсуждать реакции замещения и стереохимические изменения, не теряя контакта с реальностью. Понятие степень окисления значительно менее конкретно и очень сильно зависит от модели, которая используется для объяснения типа связи. Это обстоятельство, однако, ни в коем случае не должно умалять значения понятия степени окисления там, где оно используется в целях классификации химических соединений и где использование его будет оставаться чрезвычайно плодотворным еще многие годы. Если же мы хотим описать окислительно-восстановительную реакцию, основываясь на изменениях в степени окисления, то должны при этом всегда помнить о вышеупомянутых ограничениях. Можно найти многочисленные примеры реакций, в которых имеет место прямой перенос электронов, и только электронов, от восстановителя к окислителю. Классифицировать такие реакции несложно, особенно если прямой перенос электрона происходит между несвязывающими орбиталями. Значительно сложнее классифицировать реакции, включающие перенос атомов или групп атомов. Мы уже упоминали реакцию такого типа 503 -Ь СЮ [c.181]

Вторым важным обстоятельством, приведшим к. пересмотру понятия о твердом состоянии полимеров, было создание Хоземанном [10] теории, позволившей объяснить наблюдаемый характер дифракции рентгеновских лучей. Сущность этой теории составило представление о статистической разупорядоченности. Основой теории является модель паракристаллического состояния (рис. 11.7). Поэтому для объяснения характеристик полимеров уже не требуется вводить представл епие об аморфной фазе. Различные явления, например ползучесть, вторичная кристаллизация и прочностные свойства образцов, лучше объясняются перемещениями дислокаций, как обычно в физике твердого тела, а не моделью бахромчатых мицелл. , [c.32]

Многие твердые тела представляют собой структуры, промежуточные между истинными кристаллами и сильно разупорядочен-ными структурами. Они дают изображение дифракции рентгеновских лучей с несколькими максимумами, причем линии на этих рентгенограммах более резкие, чем в случае жидкостей. О структуре таких твердых тел уже получено довольно много сведений, изложенных в обзоре Рэндала . [c.52]

Исследования Уббелоде с сотрудниками [21, 101] и других показали, что увеличение объема при плавлении ионных кристаллов типа галогенидов щелочных металлов в некоторых случаях достигает более 25%. Однако из измерений сжимаемости расплавленных электролитов Бокрис и Ричардс [7] сделали вывод, что свободный объем на моль обычно составляет только около 2% молярного объема. Таким образом, значительное изменение объема при плавлении не может быть обусловлено исключительно ростом свободного объема. Из этого далее следует, что для объяснения большей части этого изменения необходимо предположить наличие дырок. Бокрис и Ричардс привели дальнейщее доказательство справедливости дырочной модели для расплавленных электролитов. Появление дырок в решетке твердого тела должно сопровождаться снижением среднего значения координационного числа — и это наблюдается экспериментально. Например, при плавлении Li l координационное число изменяется от 6 приблизительно до 5. Идеальная модель ячейки не допускает такого изменения. В модели ячейки такой рост объема при плавлении должен был бы ассоциироваться с увеличением межионного расстояния в решетке жидкости на 6—7%. Исследования методом дифракции рентгеновских лучей [8—10] показывают, что при плавлении происходит не увеличение, а небольшое уменьшение межионного расстояния. [c.216]

В результате подобных процессов места субмикроскопиче-ских деформаций представляют из себя области сильного нарушения решетки с появлением сильно возбужденных состояний (субмикроскопическая магма ). При этом в результате замораживания за время 10 с. продукты реакций и фазовых превращений, термодинамически неустойчивые при макроскопической-температуре опыта, могут стабилизоваться и сохраняться в твердом теле долгое время. Вот почему наблюденный переход от модификации p-AgJ к Y gJ, вызванный пластической деформацией, не может гарантировать переход в термодинамически-более устойчивую форму, характеризуемую меньшей свободной энергией при температуре опыта. Обращение, и притом неполное, в р-форму происходит при длительном нагревании при температуре около 140° С. Мейюдар и Рой [4] экспериментально изучали полиморфизм AgJ. Они синтезировали иодид серебра десятью различными способами и с помощью снятия спектров дифракции рентгеновских лучей исследовали структуру AgJ. Авторы пришли к выводу, что ни в одном случае не было получено той или иной чистой модификации. [c.114]

Изучение кристаллических структур методами рентгеноструктурного (основан на дифракции рентгеновских лучей кристаллической решеткой вещества) и электронографического анализа (основан на дифракции электронов или нейтронов) показало, что реальные кристаллы отличаются от идеальных. В реальных кристаллах строгая пространственная периодичность нарушается из-за наличия дефектов кристаллической структуры. Многие свойства кристаллических тел объясняются наличием таких дефектов. Последние могут быть собственными, если они образуются вследствие теплового движения в кристалле, или примесными, если в кристалле появляются посторонние примеси, введенные случайно или преднамеренно. Дефекту. могут затрагивать одну или несколько элементарных ячеек или весь кристалл в целом. В технологии пигментов большой интерес представляют, например, такие дефекты, как ультрамикротрещины, определяющие прочность кристалла, что в свою очередь играет важную роль в процессах измельчения и диспергирования пигментов. Если в момент кристаллизации возникают механические помехи росту кристалла, в нем может возникнуть дефект, называемый дислокацией. При деформациях кристалла дислокации и их скопления могут перерастать в ультрамикротрещины. Во многих случаях в узлах кристаллической решетки могут отсутствовать структурные единицы, т. е. атомы, ионы или молекулы. Такие дефекты носят название вакансий. В пространстве между узлами (в междоузлии ) могут присутствовать атомы, ионы или молекулы, причем как свои собственные (принадлежащие веществу кристалла), так и примесные (принадлежащие другому веществу). Вакансии и наличие атомов, ионов или молекул в междоузлиях оказывают существенное влияние на оптические свойства пигментов (цвет, показатель преломления), их электропроводность, а также на скорость роста кристаллов, особенно при реакциях в твердой фазе. [c.182]