Площадь и ширина спектра

Анализ колебательной и вращательной структуры электронных спектров с целью определения силовых постоянных, а также расстояний между атомами в состоянии электронного возбуждения и т. д. можно провести только для двухатомных молекул газов. При сравнении интенсивностей недостаточно знать поглощение в максимуме вследствие различной ширины и формы полос необходимо учитывать всю площадь полосы. Интенсивность полосы есть мера вероятности электронных переходов и пропорциональна квадрату момента перехода. Момент перехода характеризует изменение распределения зарядов, происходящее при электронном возбуждении. [c.424]

Рис. Г-7. Ошибка (в %) при определении площади под кривой поглощения, возникающая вследствие отбрасывания крыльев линии первой производной за пределами 5 от центра спектра (5 измеряется в единицах ширины линии

ПЛОЩАДЬ И ШИРИНА СПЕКТРА [c.206]

Площадь Е> ширина спектра вычисляются интегрированием спектральной кривой. На практике мы и. eeм дело только с положительными частотами, поэтому интегрирование по частоте выполняется, как правило, от пуля или наименьшей частоты до частоты Найквиста (см. раздел 4.3.2). Применяется также интегрирование по более ограниченным частотным и и те рвал а л . Площадь, [c.206]

Зная Но, из этого уравнения при зада шом V можно рассчитать величину й -фактора, который является характеристикой вещества. Если измерения ведутся при различных V, то резонанс будет наблюдаться при разных значениях напряженности поля Но. По величине -фактора парамагнитных ионов и появлению соответствую-ющей линии в спектре можно судить о наличии данных ионов в веществе. Площадь под кривой резонансного поглощения пропорциональна (при прочих равных условиях) количеству парамагнитных частиц. Детали структуры парамагнитной частицы определяются по ширине и форме линии. [c.161]

Интенсивность линий, имеющих значительную собственную ширину продолжает расти до тех пор, пока геометрическая ширина станет заметно больше, чем ширина линии. Освещенность сплошного спектра все время растет с увеличением ширины щели. Это объясняется тем, что световой поток, попадающий в прибор, увеличивается, а площадь, занятая сплошным спектром, остается постоянной.. [c.109]

При работе с микрообразцами исследователь должен так оптимизировать энергию пропускания, чтобы получить наилучший спектр. Что лучше сконцентрировать образец на небольшой площади и уменьшить диаметр луча или нанести образец на большую площадь, чтобы избежать виньетирования (частичного диафрагмирования) луча использовать растяжку по ординате для повышения интенсивности спектра Ответ на этот вопрос в некоторой степени зависит от типа используемого спектрометра и возможности представлять данные по поглощению в цифровом виде. Однако, вообще говоря, площадь сечения пучка в месте расположения образца должна быть как можно меньше, но в то же время соответствовать требованию заполнения щелей светом при их максимальной ширине. Некоторая потеря энергии допускается из-за виньетирования верхней и нижней частей щелей. Эта потеря существенно не зависит от длины волны [c.116]

Готовятся стандарты, содержащие 38, 39, 40, 41 и 42% А. Устанавливая анализируемый образец в канал образца и каждый из стандартов последовательно в канал сравнения, получаем серию спектральных кривых, показывающих только разницу поглощения исследуемого образца и стандартов. Используя растяжку по ординате, можно так увеличить эту разность, что маленькие различия в составе будут отражаться в виде больших различий в спектре (рис. 6.6, а). Если, например, используется 10-кратная растяжка и одновременно понижен нормальный уровень шума в 5 раз, то нужно увеличить геометрическую ширину щеЛи в уш ]/5 = 7 раз (и соответственно уменьшить усиление). Предельная точность фактически достигается тогда, когда ширина щели увеличена до такой величины, чго изображение выходной щели монохроматора полностью покрывает приемную площад- [c.247]

Из формулы (3.7) следует, что чувствительность анализа при фотографической регистрации зависит от высоты щели и не зависит от ее спектральной ширины. Этот несколько неожиданный результат объясняется следующим. Увеличение высоты щели позволяет увеличить фотометрируемую площадь и тем самым снизить флуктуационную ошибку. Увеличение АХ ведет к увеличению светового потока от линии, что должно повысить точность измерений. Но вместе с этим падает отношение потока от линии к потоку от фона, поскольку поток от линии возрастает пропорционально АХ, а поток от фона, создаваемого сплошным спектром, пропорционально (АА,) . В результате флуктуационная ошибка при изменении АЯ. не меняется. [c.28]

Перейдем к узким линиям поглощения. Разобьем площадь входной щели на узкие зоны. Каждая из них даст в фокальной плоскости монохроматора на фоне сплошного спектра узкую линию поглощения. Наложение этих изображений друг на друга создаст в фокальной плоскости прибора спектральное изображение входной щели в виде широкой темной полосы на фоне сплошного спектра, причем яркость фона будет равна яркости светового пучка в плоскости входной щели (поглощением в приборе и интерференцией отдельных зон для простоты рассуждений пренебрегаем), а провал яркости в месте изображения линии поглощения будет равен провалу яркости в изображении, создаваемом отдельной узкой зоной входной щели. Поскольку величина светового потока, создающего фон, на котором наблюдается изображение линии поглощения в фокальной плоскости прибора, пропорциональна квадрату ширины щели (с увеличением этой ширины увеличивается и спектральный интервал, пропускаемый щелью), а величина поглощенного светового потока растет пропорционально первой степени ширины щели, то относительная величина поглощенного потока уменьшается с увеличением ширины щели, хотя абсолютная его величина и возрастает. [c.225]

Существенно влияет на продолжительность, трудоемкость и результаты анализа высота окна в диафрагме Гартмана, через которую фотографируют спектры. Для снижения ошибки, связанной с зернистостью эмульсии, рекомендуется по возможности увеличить величину фотометрируемой площади. Этого можно достигнуть увеличением ширины щели спектрографа и высоты спектра. Использование первого способа ограничивается опасностью ухудшения разрешающей способности спектрографа и наложений мешающих линий. Высоту спектрограмм можно увеличить до очень значительной величины. Так, в работе [275] для снижения ошибки, связанной с зернистостью фотоэмульсии, фотографировали спектры высотой 16 мм. Однако и на этом пути имеются серьезные трудности. Рассмотрим конкретный пример. [c.121]

При фотографической регистрации измеряется освещенность. Как следует из формул (3.21) и (3.27), освещенность, создаваемая линейчатым спектром, не зависит от ширины щели, а освещенность, создаваемая сплошным спектром, растет с ее увеличением. Поэтому может создаться ошибочное мнение, что сужение щели приводит к увеличению чувствительности анализа. По на самом деле, оно уменьшает площадь изображения щели, а следовательно, и точность измерений. Поэтому можно рекомендовать работать с высокой щелью, а оптимальную ширину ее выбирать экспериментально. Д 1я повышения чувствительности анализа при фотографической регистрации выгодно работать на контрастных пластинках, так как это повышает точность измерений. [c.170]

В гл. 12 рассматривались методы интегрирования спектров ЭПР с целью определения количества спинов, моментов линий и др. Разбивая спектр на интервалы, равные четверти ширины линии, удавалось при помощи обычных арифмометров выполнять двойное интегрирование спектров с точностью 5% [193]. В [35] описан быстрый аналоговый метод определения площади спек-тральной линии по ее первой производной. Для этого использо- [c.544]

Местные ошибки. Этот вид ошибки характеризуется изменением постоянной решетки без определенной закономерности на отдельных сравнительно небольших участках заштрихованной поверхности. Таких дефектных участков в общем случае может быть много, причем они произвольно распределены по ширине решетки. Влияние этой ошибки на качество спектрального изображения зависит от величины ее и площади дефектных участков, но не поддается точному учету. Обычно она приводит к уширению спектральных линий и появлению вблизи них рассеянного света в направлении дисперсии в виде непрерывного фона или спутников. Относительная интенсивность рассеянного света возрастает с увеличением порядка спектра примерно по тому же закону, что и интенсивность духов Роуланда, т. е. пропорционально квадрату номера порядка спектра. [c.52]

Темный фон является непрерывным спектром, создаваемым раскаленными угольными электродами и раскаленными твердыми частицами в пламени столба дуги. Интенсивность темного фона повышается и тогда, когда сжигание пробы протекает при больших силах тока (20—30 а). Однако уменьшить время сжигания пробы или силу тока не всегда возможно, так как в таком случае проба не полностью сгорит и тем самым могут быть потеряны некоторые особенно труднолетучие элементы. Снижения интенсивности темного фона на негативе можно достигнуть уменьшением количества света, падающего на щель спектрографа, а также и сужением ширины самой щели. Обычно для полуколичественного спектрального анализа используется ширина щели в 0,005— 0,01 мм. Количество света, падающего на щель спектрографа от горящих углей, регулируется подбором вырезов револьверной диафрагмы в трехлинзовом осветителе. Ослабление темного фона достигается также увеличением дисперсии спектрографа. Это объясняется тем обстоятельством, что энергия непрерывного спектра распределяется по большей площади на спектрограмме. Поэтому при работе на спектрографе с большой дисперсией (например, ДФС-3) чувствительность повышается по сравнению со спектрографом ИСП-28. [c.80]

Но ААг — это ширина прямоугольного сигнала, производимого линией при развертке спектра, и, таким образом, если кривую континуума разделить на прямоугольники с шириной ААг (рис. 53), то отношение суммы площадей этих прямоугольников внутри интервала Х — Аг к площади прямоугольника, от линии равно относительному числу квантов, испускаемых континуумом в полосе между А1 и Аг и линией. Так, на рис. 53 доля монохроматического света длины волны А, испускаемого в интервале [c.155]

Спектр записывается с очень узкой входной щелью и широкой выходной щелью, соответствующей ширине полосы Л з. Линия спектра дает прямоугольный сигнал с площадью а, а фон дает гладкую кривую. Сравнивая площадь а с площадью под кривой между Я, и Яг, можно определить отношение испускания линии к испусканию фона в этом интервале длин волн. [c.156]

Примечание, а — химический /сдвиг относительно станната кальция (мм1сек) EQ — квадрупольное расщепление для олова-П мм1сек) т — ширина линии олова-1 У (мм1сек) 8 — отношение площадей под спектрами олова-11 и олова-1У. Данные в таблице приведены для температуры 295°К. [c.98]

Ароматические углеводороды. Для количественного анализа типов ароматических углеводородов или структурных групп колебательные спектры применялись лишь в ограниченном числе случаев. Метод определения общего содержания ароматических соединений был описан Хейглем н др. [21], использовавшими линию комбинационного рассеяния в области 1600 см— , относящуюся к колебаниям сопряженной С=С связи ароматического кольца. Метод измерений аналогичен методу, предложенному этими авторами для определения общей непредельности. Для снижения влияния изменения положения линии в спектре для различных индивидуальных ароматических соединений бралось произведение коэффициента рассеяния на ширину линии у основания. Эта величина линейно связана с площадью под регистрируемым пиком. Среднее отклонение этой величины для 22 алкилбензолов составляло приблизительно 10%. [c.333]

Приборы для определения ЭПР называют радиоспектрометрами. Они работают на частоте 9000 мегагерц, что соответствует магнитному полю 300 эрстед. Спектр ЭПР можно охарактеризовать по интенсивности, резонансному значению напряженности магнитного поля Я , ширине и форме линий, их тонкой и сверхтонкой структуре. Под интенсивностью спектра понимают площадь под кривой резонансного поглощения. Она пропорциональна числу парамагнитных частиц или их концентрации в исследуемом веществе. Метод ЭПР применяют в фотохимии, радиационной химии при исследовании ионных кристаллов, в реакциях со свободными радикалами, при одноэлектронных редокспроцессах, при каталитических реакциях. [c.453]

Метод ЭПР используют для получения информации о процессах окисления — восстановления, комп-лексообразова.чия, а также для определения электронного и геометрического строения соединений, когда наблюдаемые парамагнитные частицы являются непосредственно объектами исследования. Для получения информации могут быть использованы ширина, форма линии, число линий в спектре, значение -фактора, число компонент и константы СТС и ДСТС, интенсивность или площадь сигнала (см. рис. 31.3), [c.719]

При количественных исследованиях, интегрируя кривую поглощения, измеряют полную интенсивность поглощения излучения образцом. В случае представления результатов в виде первой производной интен-грирование желательно проводить при помощи электронного устройства. Если ширина линий остается постоянной, вместо площади достаточно измерять высоты пиков. Интенсивность линии поглощения пропорциональна числу электронов с неспаренным спином и почти не зависит от типа атома, в состав электронной оболочки которого входит неспаренный электрон. В связи с этим в качестве стандарта можно использовать вещество, отличное по составу от определяемого компонента, в то время как во всех других методах применяют растворы или смеси веществ, которые необходимо определять. В случае ЭПР стандарты необходимо готовить из стабильного вещества, ширина линий спектра ЭПР которого должна быть аналогичной ширине линий спектра ЭПР образца, а число электронов с неспаренным спином в молекуле стандарта и образца должно быть близким. [c.725]

Настройка шиммов но ССИ. Хотя амплитуда лока довольно хорошо отражает однородность поля и вполне достаточна для настройки прибора при измерении рутинных спектров, иногда она может вводи1ь оператора в заблуждение. Причина этого станет понятна, если задуматься, каким образом высота сигнала дейтерия связана с происходящими в магнитном поле изменениями. Сигнал лока это просто синглетная линия дейтериевого спектра, принадлежащая обычно растворителю. Однородность магнитного поля не оказывает влияния на площадь под этой линией, но влияет на ее фирму. Таким образом, при сужении линии, чтобы сохранить постоянной площадь, должна увеличива ься ее высота, которая как раз и отражает уровень лока. Теперь мы без труда можем вообразить такую ситуацию, когда линия становрггся выше, но при этом не приближается к идеальной лореицевой форме. Например, так может произойти при сужении верхией части линии с сохранением широкого основания. Можно сказать, что амплитуда лока отражает в основном изменения ширины линии (в том числе и упомянутого типа), а для более строгой оценки формы линии требуются иные критерии. [c.79]

Средний размер зерна в образце, мкм Под- спектр Относительная интегральная интенсивность (площадь) подспектра Эффективное магнитное поле, кЭ Изомерное сдвнг относительно эталонного о-Ре, мм/с Ширина внешних пиков спектра на 1/2 высоты, мм/с [c.85]

При количественном ГХ анализе оптимальной формой хро матографического пика является кривая Гаусса с шириной, при близительно равной половине его высоты Площадь такого пика может быть измерена с максимальной точностью В случае ГХ—МС анализа для достижения максимальной чувствитель ности требуются острые пики, а для получения наиболее досто верной спектральной информации необходимо иметь широкие пики, так как при этом удается получить несколько спектров в процессе элюирования пика, а концентрация образца в ионном источнике сравнительно медленно меняется во время сканиро вания масс спектра Минимально допустимая ширина хромато графического пика определяется скоростью сканирования масс спектра [c.127]

Мак-Дональд и Филлипс с сотр. [79, 81, 85] установили, что спектры ПМР нефракционированной дрожжевой тРНК проявляют такую же температурную зависимость, как спектры поли-А (см. рис. 15.12), что указывает на плавление структуры. В частности, сигнал С-1 -протонов рибозы появляется в спектрах при более высоких температурах, чем сигналы протонов оснований. Однако Смит и сотр. [101] установили, что площади этих сигналов вероятно, отражают агрегацию, вызванную высокой концентрацией Na l (1,0 М), а не плавление вторичной структуры. Информацию о вторичной структуре можно получить из ширины пиков, но не было обнаружено различий в изменении ширины сигналов в областях (/) и II) (см. рис. 15.14). Поэтому вероятно, что по крайней мере в тРНК фрагменты сахаров и оснований в одинаковой степени принимают участие в образовании внутренней структуры. [c.431]

В спектрографах с коллиматором Соллера, получивших за последнее время достаточно широкое распространение за рубежом, на пути широкого пучка рентгеновских лучей, исходящих от анода рентгеновской трубки в направлении кристалла, располагается диафрагма, имеющая в сечении сотообразное строение. Она расчленяет пучок лучей, падающих на плоский кристалл спектрографа, на большое число узких параллельных пучков, каждый из которых отражается в одном и том же направлении, в согласии с требованиями закона Брегга — Вульфа, от соответствующей области кристалла. Одновременное отражение рентгеновского излучения заданной длины волны от большой площади поверхности кристалла позволяет получить отраженный пучок лучей значительной интенсивности и обеспечивает большую светосилу прибора. В то же время разрешающая сила такого устройства может быть достаточно велика. Она, очевидно, зависит от соотношения длины коллиматора и диаметра каждой из его секций. Эта величина тем больше, чем длиннее диафрагма и чем меньше диаметр каждой из состав-ляющих ее трубочек. Отличительной особенностью спектрографов этого типа является малая расходимость используемых в нем пучков рентгеновских лучей и то обстоятельство, что их ширина определяется величиной поперечного размера диафрагмы Соллера. Параллельность хода пучка лучей в спектрографе в некоторых отношениях очень удобна, однако большая их ширина делает невозможным использование фотографического метода регистрации спектров. Поэтому во всех таких спектрографах в качестве приемников рентгеновской радиации применяются ионизационные камеры. [c.5]

XVIII — в рассматриваемой области спектра не удается получить разрешения спин-спинового взаимодействия. Протоны а и б химически сдвинуты один относительно другого, и, хотя их линии несколько отличаются по ширине, площади обеих полос одинаковы. [c.265]

Размер заштрихованной площади обычно не превышает 150 X 100 мм (100 мм — высота штриха). Для специальных целей делают решетки и больших размеров. Заготовки для вогнутых решеток имеют радиусы кривизны от 0,5 до 12 м, наиболее употребительны г — 1, 2, 3, 6 л. Общее число штри-хов решетки шириной 100 мм, имеющей 1200 штр/мм, равное ее разрешающей способности в первом порядке, составляет 120000. Чаще употребляются решетки с разрешающей способностью в первом порядке 50 000—80 ООО. Реальная разрешающая способность в первом порядке у хороших решеток близка к рэлеевской. В спектрах высоких порядков вследствие ошибок их изготовления разрешающая способность обычно ниже, чем следует из теории. Чем больше штрихов на миллиметр содержит решетка, тем больше относительные погрешности ее изготовления. Во всех старых машинах подачи резца или заготовки осуществлялись точным винтом и ошибки постоянной решетки обуславливались ошибками подающего механизма. Каждый винт [c.62]

В отличие от монохроматора, светосила спектрографа в случае линейчатого спектра не зависит от ширины и высоты щели. Действительно, во сколько раз возрастает площадь щели, а следовательно, посылаемый ею поток, во столько же раз увеличивается площадь ее изображения. Поэтому освещенность изображения щели сохраняется постоянной. Как видно из уравнения (3.61), светосила возрастает при уменьшении фокусного расстояния камерного объектива. При этом, однако, как правило, уменьшается практическая разрешающая способпость прибора, так как падает его линейная дисперсия (см. формулу (3.55)). Этого можно избежать, если ограничиться уменьшением только масштаба вертикального увеличения, что легко достигается с похмощью цилиндрической линзы, образующая которой параллельна дисперсии. Линза должна быть расположена между объективом коллиматора и фотослоем так, чтобы давать в фокальной плоскости уменьшенное в несколько раз изображение щели. К сожалению, в светосильных приборах такой прием использовать трудно вследствие кривизны спектральных линий и аберраций, вносимых цилиндрической линзой. [c.86]

Микрофотометрирование. Для получения правильных результатов фотометрирования необходим ряд нредосторожностей при измерении почернений. Показания микрофотометра, вообще говоря, всегда завышаются за счет рассеянного света освещающей лампы, проходящего через измерительную щель прибора. Для уменьшения количества рассеянного света нужно, по возможности, сужать предварительную щель микрофотометра. При этом ширина ее изображения на экране должна быть больше, чем ширина измерительной щели. Последняя должна составлять не более 30—50% от ширины изображения измеряемой линии на экране. Дпя усреднения результатов щель спектрографа при фотографировании линейчатого спектра желательно расширить, наеколько это позволяют условия съемки. Рабочая ширина щели спектрографа ограничена ростом почернения фона и наложением изображений мешающих линий на измеряемую. С другой стороны, выбор чересчур узкой щели спектрографа может привести к ошибкам, обусловленным кривизной линий — прямая измерительная щель может частично выйти за пределы изображения линии. Последнее обстоятельство также заставляет ограничивать высоту измеряемого участка спектральной линии. Обычно для фотометрирования выбирают ширину изображения спектральной линии (на фотографической пластинке) около 0,05 мм, высоту изображения 1 мм. При этом площадь фотометрируемого участка эмульсии составляет около 0,05 мм и зернистость эмульсии практически не сказывается на результатах измерений. Необходимость уменьшить фотометрируемую площадку в 5—20 раз изменяет условия так, что ошибка, обусловленная зернистостью, может стать определяющей. [c.310]

ИК-спектр полимера, как правило, состоит из большого числа полос поглощения, причем только нек-рые из них люжно легко отнести к колебаниям отдельных атомных группировок, содержащихся в макромолекуле. Типичный для полимеров ИК-спектр поглощения приведен на рис. 1. Каждая полоса в спектре м. б. охарактеризована положением, интенсивностью, шириной и типом поляризации. Положение полосы определяется длиной волны (Я,) в максимуме поглощения (измеряемой в мкм) либо волновым числом, или частотой (V),— величиной, к-рая обратна длине волны и измеряется в м илисм- (v=lД, где в л, V в г=10000/ , где в мкм, V в сж ). Интенсивность полосы характеризуется концентрацией химич. групп, поглощающих свет с длиной волны Я,, а также молекулярной структурой вещества. Различают интенсивность в максимуме поглощения и интегральную интенсивность (площадь под кривой поглощения). Лишь последняя тесно связана с молекулярными процессами, однако интенсивность в максимуме поглощения измерить легче и ее широко используют на практике. Полосы поглощения качественно делят на сильные, средние и слабые в зависимости от высоты полосы в максимуме поглощения или от величины площади под контуром полосы. Форма контура полосы поглощения связана с ее шириной. Ширину полосы можно измерять на уровне половины высоты ее в максимуме, при условии, что спектр изображен в шкале оптич. плотностей В. Такую величину наз. полушириной. Если образец имеет какую-либо ориентацию, то, используя поляризованный свет, для каждой полосы в спектре [c.529]

При обработке результатов требуется внести еще одну поправку, связанную с самим спектрометром. Обычно в спектрометрах с секторным анализатором найденная экспериментально форма линии определяется отклонениями в электронно-оптической системе и в электростатическом поле, а не шириной щели и, таким образом, основными опытными данными являются площади полос, т. е. числа фотоэлектронов, относящихся к данной колебательной компоненте спектра. В случае когда при записи спектра фиксируется изменение момента (отклонение в магнитном поле под углом 180°, меняется напряженность Я) или кинетической энергии (электростатическое поле с отклонением на 127°, меняется потенциал У) электронов при постоянной ширине щели, ширина спектральной области, проходящей через щель, возрастает с увеличением напряженности фокусирующего поля (т. е. Н или V). Для того чтобы определить величину, пропорциональную истинному потоку электронов в области пика, необходимо разделить величину измеряемого тока на значение Я или V в данной точке. Учет этой поправки изменяет результат в направлении, противоположном действию поправки на непостоянство з 1 (см. выше), так что в небольшом интервале энергии (например, 1 эв в области 10 эв) обе поправки практически компенсируют друг друга, в результате чего фюто-электронные спектры очень близки к графикам для факторов Франка — Кондона. [c.98]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология