Определение кристаллических структур с помощью рентгеновских лучей

Прежде чем подробнее останавливаться на этом законе, необходимо-кратко ознакомиться с результатами определений кристаллических структур при помощи рентгеновских лучей структурный анализ), поскольку эти определения относятся к ранее уже рассмотренным веществам. [c.236]

Внутренняя структура кристаллов характеризуется тем, что молекулы или атомы данного соединения расположены в определенных точках пространства и образуют так называемую кристаллическую решетку. Строение кристаллической решетки изучают ири помощи рентгеновских лучей. [c.126]

Хотя в основном рентгеноструктурный анализ применяется для определения кристаллической структуры, он также широко используется при качественном и количественном анализах для идентификации веществ и определения состава смесей. С его помощью можно оценить содержание минералов в глинах, например каолинита и монтмориллонита. В то время как другие аналитические методы, описываемые в этой книге, применяются для определения общей концентрации элементов в глине, с помощью дифракции рентгеновских лучей могут быть идентифицированы различные минералы и примеси, входящие в нее, нередко с указанием их концентрации. [c.237]

В некоторых случаях можно достигнуть дополнительной ориентаций путем холодной вытяжки тонких пленок или прокаткой или прессованием образцов волокна в этом случае не только макромолекулы стремятся расположиться в направлении действия растягивающего усилия, ной отдельные плоскости кристалла стремятся расположиться в плоскости пленки. Степень такой ориентации зависит от структуры кристалла этот эффект наиболее заметен в полиамидах молекулы, связанные водородными связями, образуют плоскости, которые стремятся расположиться параллельно поверхности. Образцы, в которых имеется как плоскостная ориентация, так и ориентация макромолекул, ведут себя в отношении диффракции как несовершенные кристаллические двойники диффракционная картина наблюдается в этом случае только при расположении образцов под определенными углами к пучку рентгеновских лучей еще лучше производить съемку на движущуюся пленку при помощи гониометра Вайсенберга. Рассмотрение полученных рентгенограмм позволяет установить ориентацию плоскостей кристалла по отношению к плоскости образца и таким образом проверить предполагаемые размеры элементарной ячейки и найти индексы плоскостей кристалла. [c.266]

В случае тетранитрометана (N02)l отсутствие дипольного момента позволяет сделать единственно возможный вывод, что все четыре группы, связанные с углеродным атомом, одинаковы. Этот вывод, к которому приводят и другие новые исследования молекулы тетранитрометана , нельзя было раньше с уверенностью сделать ни на основании изучения химических свойств тетранитрометана , ни исходя из молекулярной рефракции , ни путем определения кристаллической структуры при помощи рентгеновских лучей [165]. Большая реакционная способность одной из четырех групп N62 заставляла предполагать наличие несимметричной структуры с тремя нитрогруппами и одним кислотным остатком азотистой кислоты . [c.74]

Наряду с оптическими методами для исследования дисперсных систем используются и рентгеновские методы, отличие которых от оптических заключается в малой длине волны рентгеновского излучения по сравнению с размером частиц дисперсной фазы. В основном рентгеновские методы используются для изучения внутренней структуры частиц дисперсной фазы (кристалличности, упаковки молекул). Возможно и определение размеров частиц, основанное на анализе формы дифракционных линий на рентгенограмме при дифракции рентгеновских лучей на малых кристаллах образуются размытые дифракционные максимумы, по ширине которых можно оценить размер частиц (точнее говоря, областей совершенной кристаллической решетки). Аморфные частицы, как известно, не дают дифракционных максимумов оценка размеров таких частиц может быть проведена с помощью анализа диффузного рассеяния рентгеновских лучей возле первичного пучка (так называемое малоугловое рассеяние). Теория этого метода определения размера аморфных частиц имеет общие черты с теорией рассеяния света большими частицами. [c.172]

Представления о симметрии очень важны как в связи с теоретическим, так и экспериментальным изучением строения атомов и молекул. Основные принципы симметрии применяются в квантовой механике, спектроскопии и для определения структуры при помощи дифракции нейтронов, электронов и рентгеновских лучей. Природа дает множество примеров симметрии, и это особенно очевидно, когда молекулы исследуются в равновесных конфигурациях. Для равновесной конфигурации атомы считаются фиксированными в их средних положениях. Когда существует симметрия, некоторые расчеты упрощаются, если ее принимать во внимание. Симметрией определяется также, может ли молекула быть оптически активной или иметь дипольный момент. Отдельные молекулы в отличие от кристаллических твердых тел (гл. 19) не ограничены симметрией, которой они могут обладать. [c.407]

Рентгеноструктурный анализ множества кристаллических структур позволил подробно изучить геометрию различных групп атомов, включая хорошо определенные значения длин и углов между связями. Стереохимические законы оказали большую помощь при определении новых кристаллических структур, в частности природных макромолекул, которые состоят из малых основных единиц. В современном кристаллографическом анализе используются данные дифрактометров и быстродействующие электронно-вычислительные машины, что позволило определить строение белков. Данные дифракции рентгеновских лучей были использованы при установлении структуры дезоксирибонуклеиновой кислоты и при изучении водородной связи, которой обусловлена устойчивость этой структуры. [c.583]

Для определенной симметрии молекул колебания,которые происходят в направлении, параллельном оси ориентации, можно отличить от колебаний, перпендикулярных этому направлению. Интерпретация спектров, полученных с помощью поляризованного излучения, также дает информацию о кристаллических структурах. Действительно, эти спектры оказались полезными для определения связей, которые было трудно найти методом дифракции рентгеновских лучей. Однако при этом возникают технические трудности, связанные с получением и правильной ориентацией кристаллического образца. [c.24]

При анализе структуры малых молекул первичную карту электронной плотности получают при помощи прямых методов определения структуры или, например, методом Паттерсона, устанавливая положение нескольких наиболее тяжелых атомов в молекуле. Такая первичная карта Фурье обычно недостаточно ясна и может указывать максимумы электронной плотности только для некоторых атомов в молекуле. Положение этих атомов определяется при интерпретации первичной карты и используется для расчета набора фаз. Этот набор затем применяется для расчета карты электронной плотности с помощью наблюдаемых структурных амплитуд, в результате чего уточняются положения других атомов. Вклад этих атомов может быть затем использован для расчета улучшенного набора фаз, что приводит к более совершенной карте электронной плотности. Подобная процедура последовательно повторяется до тех пор, пока не будут определены все атомные параметры. Для уточнения фаз и расчета карт электронной плотности могут быть использованы альтернативные циклы. Поскольку в случае малых молекул число экспериментально наблюдаемых параметров (структурных амплитуд) велико по сравнению с числом переменных параметров, структура малых молекул определяется с высокой точностью. Белковые молекулы, однако, содержат, значительно большее число атомов. Поскольку каждый атом должен быть охарактеризован тремя параметрами, указывающими местоположение, и, как правило, шестью параметрами, определяющими его тепловые колебания, число независимо наблюдаемых рефлексов рентгеновских лучей обычно ненамного превосходит число переменных параметров. Кроме того, для уточнения кристаллографических параметров и согласования их с опытными данными методом наименьших квадратов необходимо гораздо большее число наблюдаемых структурных амплитуд. Более существенным оказывается, однако, то, что синтезы Паттерсона в случае нативных кристаллических белков не поддаются интерпретации, поскольку в элементарной ячейке содержится большое число атомов и прямые методы определения структуры для больших молекул недостаточно развиты. Следовательно, эти методы не могут быть использованы при определении фаз в случае кристаллических белков. [c.19]

Грани кристаллического многогранника соответствуют определенным сеткам структуры, поэтому углы между гранями отвечают углам между плоскими сетками в структуре кристалла. Теперь эти углы измеряют с помощью рентгенограмм, для чего не обязательно иметь большой кристалл с правильной внешней огранкой, а достаточно крупинки кристаллического вещества. Поскольку длины волн рентгеновских лучей соизмеримы по величине с межатомными расстояниями в кристаллических структурах, кристаллы являются природными дифракционными решетками для этих лучей. Именно с помощью дифракции рентгеновских лучей было доказано решетчатое строение кристаллов (М. Лауэ, 1912). Схема, поясняющая дифракцию, дана на рис. 16 Sg — пучок монохроматических рентгеновских лучей, падающих под углом О на семейство параллельных атомных плоскостей, S — пучок дифрагированных лучей.. Дифрагированные лучи усиливают друг друга, если согласно условию интерференции разность хода А между ними равна целому числу длин волн, т. е. [c.14]

Иначе говоря, если луч с длиной волны л падает на совокупность параллельных атомных плоскостей, отстоящих друг от друга на расстоянии d, то он порождает дифрагированный луч, идущий так, как шел бы луч, отраженный под углом 0. Таким образом, при определенных углах падения плоские сетки в структуре кристалла могут отражать рентгеновские лучи. Эти отражения (точнее, максимумы интенсивности дифрагированных лучей) можно зарегистрировать на фотографической пластинке или с помощью ионизационного спектрометра. Симметричный, закономерный узор на рентгенограмме, например рис. 5, отображает симметрию и закономерность структуры кристаллического вещества и дает возможность измерять расстояния между атомными плоскостями и углы между ними, которые на многогранных формах кристаллов являются углами между гранями. По рентгенограммам на основании условия (1.1) можно расшифровывать структуры кристаллов, находить межплоскостные расстояния (1, диагностировать кристаллические вещества (подробнее см. в гл. II). [c.15]

Кристаллическая структура характеризуется периодичностью, близкой по величине к межатомным расстояниям, которые можно оценить, например, по длине одинарной связи С—С, равной 1,54 А. Поэтому для рентгеновских лучей, имеющих длину волны, сравнимую с межатомными расстояниями, кристалл можно рассматривать как дифракционную решетку. Определение структуры кристалла представляет собой переход от рентгеновской дифракционной картины к изображению молекулярной структуры, дающей дифракцию переход осуществляется с помощью соответствующего математического аппарата. Образно говоря, молекулы в кристалле можно рассматривать с помощью математической линзы. [c.9]

Тесно связан с рентгенографией способ изучения структуры вещества с помощью электронных лучей. Явление дифракции электронов, проходящих сквозь кристалл, подобно явлению дифракции рентгеновских лучей, но электронные лучи взаимодействуют с атомами кристаллической решетки гораздо более энергично. Благодаря последнему обстоятельству уже при самой незначительной толщине кристаллического препарата электронные волны создают отчетливые дифракционные картины. Электронографический способ имеет определенное преимущество перед рентгенографическим, когда речь идет об изучении чрезвычайно тонких кристаллических слоев. Однако метод дифракции электронов еще не дал надежных результатов при исследовании структуры аморфных тел, хотя Н. А. Шишаков [6], получивший электронограммы кварцевого стекла рассматривает их как подтверждение кристаллитной теории и считает, что плавленый кварц состоит из деформированных кристалликов кристобалита. [c.78]

Большой опыт пионеров кристаллографии позволял им определить из наблюдений за формой и морфологией кристаллов свойства их симметрии, а значит и тип, даже если грани кристалла совершенно не напоминали его элементарную ячейку. Сегодня для определения типа кристаллической структуры служат эффективные методы дифракции рентгеновских, электронных и нейтронных лучей, непосредственно дающие сведения о микроскопическом строении твердого тела и применимые даже в случае очень тонких кристаллитов. Эти современные методы исследования основаны на дифракции волн в трехмерной периодической решетке кристалла. В 1912 г. физики Лауэ и Фридрих впервые доказали, что при прохождении рентгеновских лучей через кристалл возникают характерные картины дифракции. Позднее аналогичные явления наблюдались при использовании электронных и нейтронных лучей. Согласно закономерностям квантовой теории дифракция основана на волновых свойствах частиц По положению максимума дифракции и его интенсивности можно определить не только тип кристаллической структуры, но и точное расстояние между частицами в решетке, а также другие важные характеристики кристалла. Использование современных высокоавтоматизированных приборов для изучения структуры и точная обработка экспериментальных данных с помощью ЭВМ позволяют с большой точностью измерять атомное строение материала. Данные, полученные таким образом, являются основной предпосылкой для глубокого проникновения в свойства материалов на атомно-теоретическом уровне и способствуют разработке новых способов получения высокочистых материалов. [c.63]

Некоторые методы исследования при определении размеров структур не всегда приводят к достоверным результатам. Этот вопрос будет рассмотрен более подробно в следующей главе. Здесь же в качестве примера рассмотрим обычный рентгенографический метод (рассеяние рентгеновских лучей под большими углами). Уширение дифракционных колец может дать сведения о размерах кристаллических образований. Вполне возможно, что при исследовании целлюлозы этим методом можно получить размеры истинных кристаллических областей, которые отделены друг от друга аморфными прослойками. Это подтверждается при сравнении размеров кристаллитов, выделенных при помощи кислотного гидролиза и исследованных затем в электронном микроскопе, с данными рентгенографического анализа. Однако при изучении таким методом монокристаллов эти гораздо более крупные структуры могут давать рентгенограммы того же типа. Но уширение дифракционных колец в этом случае обусловлено присутствием дефектов в кристаллической матрице. [c.50]

Рентгеноструктурный анализ-метод, используемый для исследования кристаллов,- основан на взаимодействии между параллельным пучком рентгеновских лучей и ионами минерала, определенным образом расположенными в кристаллической решетке. Рентгеновские лучи рассеиваются образцом под углами, характерными для положения каждого иона в решетке. Рассеянные лучи регистрируют с помощью рентгеновской фотопленки, на которой после проявления бывает видна серия концентрических дуг. Расстояние каждой дуги от центра определяется структурой и составом кристаллов в образце. По этим данным вычисляют расстояния ( -интервалы) между соседними ионами в ячейке кристаллической решетки. [c.204]

Рентгеновские лучи рассеиваются на электронах атомов аналогично тому, как рассеиваются световые волны, падающие на дифракционную решетку. Для монохроматического пучка рентгеновских лучей регулярная решетка кристалла играет роль трехмерной дифракционной решетки, дающей рефлексы в тех местах, где происходит усиление рассеянных лучей в результате интерференции. Структуру кристалла, или, точнее говоря, распределение электронной плотности, можно определить по рентгенограмме с помощью преобразования Фурье. Для этого необходимо знать интенсивность и направление дифрагированных лучей (что легко определить на фотопленке либо по распределению рефлексов, либо с помощью дифрактометра), а также их фазы. Определение фазы каждого рефлекса (главное условие при использовании преобразования Фурье) — наиболее трудная задача. Способ ее решения, разработанный для случая простых кристаллов, непригоден при установлении структуры белков. Проблема фаз была преградой на пути развития кристаллографии белков до тех пор, пока в 1954 г. Перутц и др. [2] не разработали метод изоморфного замещения, основанный на включении в определенные участки молекул белка тяжелых атомов без нарушения кристаллической структуры белка и его упаковки. Атомы металлов рассеивают рентгеновские лучи сильнее [c.15]

Если длина волны близка по порядку величины размерам молекул и расстояниям между ними, то наблюдается известная интерференционная картина, изучение которой позволяет получить ценные сведения о структуре вещества. Рентгеновские лучи и электроны рассеиваются на электронных оболочках атомов, причем в первом случае (рентгеновские лучи) главную роль играют максимумы электронной плотности, а во втором случае (пучки электронов) — неоднородность электрического поля вблизи атомных ядер. Рентгеновский метод наиболее ценен при определении структуры кристаллических соединений (его основы рассматриваются в разд. 6.4.1). Здесь обсуждают только наиболее существенные аспекты определения строения отдельных молекул с помощью дифракционных методов. Строение молекулы можно установить вполне однозначно, если получить дифракционную картину вещества в газовой фазе (пар). Однако из-за низкой плотности рассеивающей среды для получения дифракционной картины в рентгеновских лучах необходима экспозиция в течение многих часов, а для получения элект-ронограммы — в течение нескольких секунд. Поэтому для исследования молекул в газовой фазе применяется преимущественно метод электронографии. [c.74]

Уравнение (2) указывает на возможность определения межплоскост-ных расстояний в кристаллах, если известны длины волн рентгеновских лучей X, порядок отражения п и углы скольжения 0. Для первого отражения d=V2sin0i. После открытия Лауэ и вывода основной формулы рентгеновского анализа Бреггами и Вульфом последовало чрезвычайно быстрое развитие структурного анализа. С помощью рентгеновских лучей В. Г. и В. Л. Бреггам удалось определить межатомные расстояния в кристаллах и взаимное расположение атомов для целого ряда веществ, т. е. определить их кристаллическую структуру. Одной из первых была определена структура меди. [c.107]

Тонкое строение кристаллических силикатов установлено только в последнее время, главным образом путем рентгеновских исследований. Определение структуры нри помощи рентгеновских лучей показало, что кристаллические силйкаты образуют координационные решетки, которые в первом приближении можно рассматривать как ионные. Принцип [c.541]

Цепные молекулы. Первые значительные успехи в изучении структуры твердых тел были достигнуты Лауэ и Бреггом при помощи рентгенографических исследований простейших кристаллических веществ. При помощи рентгеновских лучей им удалось определить размеры молекулы и сделать заключение о расположении атомов в молекулах. Этот метод исследования, распространенный Спонслером и позднее Астбери на волокна, позволил установить, что шерсть, хлопок и другие волокнистые материалы состоят из очень тонких и длинных нитевидных молекул. Как для получения хорошей пряжи необходимо достаточно длинное хлопковое волокно (хлопковое волокно, имеющее длину менее 6 мм, практически не может быть переработано в пряжу), так и для образования хорошего волокна необходимы очень длинные молекулы. Длинные, тонкие и вытянутые молекулы натурального волокна являются как бы моделью самого волокна. Целлюлозные волокна состоят из длинных цепных молекул, построенных из остатков глюкозы, связанных определенным образом [c.30]

Тонкое строение кристаллических силикатов установлено только в последнее время, главным образом путем рентгеновских исследований. Определение структуры при помощи рентгеновских лучей показало, что кристаллические силикаты образуют координационные решетки, которые в первом приближении можно рассматривать как ионные . Принцип строения всех исследованных до сих пор кристаллических силикатов один и тот же, и он основан на образовании кислородных тетраэдров вокруг каждого иона , причем расстояние Si О равно около 1,60 А. Если на каждый ион Si + стехиометрически приходится меньше четырех ионов 0 -, то этот принцип построения сохраняется благодаря тому, что ионы 0 могут быть общими для соседних тетраэдров. Между отрицательными комплексными ионами, состоящими из отдельных тетраэдров SIO4 или из тетраэдров, соединенных между собой общими ионами 0 , располон<ены положительные ионы, участ- [c.485]

Как будет объяснено в дальнейщем, исследования, проведенные при помощи рентгеновских лучей, заставляют предполагать, что все образцы целлюлозы состоят из кристаллических и аморфных зон. В кристаллических зонах макромолекулы занимают совершенно определенные геометрические положения, как этого требует род решетчатой структуры, тогда как в аморфных зонах они скручены и расположены беспорядочно, подобно положению полиизопреновых цепей в нерастянутой резине. Следует ожидать, что такие некристаллизованные и плохо организованные цепи проявят упругость того типа, который недавно исследовался у сильно упругих длинноцепных полимеров. Измерения и вычисления, проделанные Эйри нгом, [c.120]

С помощью электронографического анализа можно в принципе решать те же задачи, что и рентгенографическим анализом исследование кристаллической структуры, проведение фазового анализа, определение межплоскостных расстояний и периодов решетки, определение текстуры и ориентировки кристаллов и т. д. Однако особенности волновых свойств пучка электронов обусловливают и определенную специфику их использования, а также преимущества и недостатки по сравнению с рентгенографическим методом исследования кристаллов. Преимущество электронограмм заключается прежде всего в том, что в связи с малой длиной волны и сильным взаимодействием электронов с веществом этим методом можно получить резкие и интенсивные рефлексы при меньших размерах кристаллов и-меньшем количестве вещества, чем при рентгенографическом анализе, В рентгенографии, например, расширение линий начинается при р.эзмере частиц 500—900 А, а в электронографии оно становится заметным лишь при размерах 20—30 А. Интенсивность электронного луча гораздо больше, а необходимая экспозиция гораздо меньше, чем рентгеновских лучей, что дает существенные методические преимущества. Интенсивность отражений при дифракции электронов обычно настолько велика, что позволяет визуально на флюоресцирующем экране наблюдать дифракционную картину. Указанные особенности электронографии делают ее особенно ценной, например, при исследовании зародышей новых фаз. Электронография может использоваться также при изучении положений легких атомов в кристаллической решетке, хотя для этого более пригодна нейтронография, [c.105]

В настоящее время созданы рентгеновские установки, автоматически расшифровывающие рентгенограммы и даже воспроизводящие стереоскопический чертеж структуры исследуемого вещества. Для этого с помощью фотоэлемента регистрируются рентгеновские лучи, претерпевшие дифракцию на кристаллической решетке исследуемого вещества. Импульсы фотоэлемента автоматически кодируются и вводятся в электронно-вычислительную машину. На основании этой информации машина создает модель одной из возможных структур и затем делает обратный расчет, т.е. по структуре рассчитывает рентгенрграмму. В случае несовпадения рассчитанной и экспериментальной рентгенограмм в модель автоматически вносятся определенные изменения и обратный расчет повторяется. И так до тех пор, пока не достигается максимально возможное соответствие между рентгенограммой и моделью. Последнюю затем можно видеть на экране электронно-лучевой трубки Рис. 102. Стереоскопический чертеж или же ЭВМ вычерчивает молекулы витамина В12, вычерченный стереоскопический чертеяс. (рис. 102). [c.170]

При падении рентгеновского луча на поликристаллический образец многие из мелких кристалликов оказываются под правильным углом к нему и служат источниками отражения, в результате чего формируются отраженные лучи, образующие набор конусов, несущих информацию о наборе межплоскостных расстояний (рис. 36.8). Рентгенограмма полшсристаллического порошка дает информацию о кристаллической структуре и степени кристалличности вещества и может быть использована для качественного и количественного анализа его фазового состава. Для определения качественного состава образца экспериментальные значения межплоскостных расстояний й и относительных интенсивностей отраженных лучей сравнивают со стандартами, что может быть сделано с помощью компьютера. Отметим, что рентгеновский фазовый Ешализ позволяет, например, отличить смесь хлорида натрия и бромида калия от [c.457]

Целлюлозные волокна характеризуются индексом (степенью) кристалличности Этот показатель отражает плотность упаковки целлюлозы и соотношение аморфных и кристаллических участков в ее структуре Индекс кристалличности (ИК) определяют рентгенографически (метод основан на измерении дифракции рентгеновских лучей), по дифракции электронов, с помощью ИК-спектроскопии, ЯМР, по различию плотности целлюлозы в аморфных и кристаллических участках, путем адсорбции воды и йода, по скорости обмена D2O, а также по скорости протекания различных реакций таких, как кислотный гидролиз, перйодатное окисление, формилирование и т д [см, например, 5, 7] Данные, установленные разными методами, могут отличаться друг от друга Поэтому на практике нельзя определить абсолютное значение кристалличности или аморфности, однако, имеющиеся методы позволяют достоверно судить об относительных изменениях в структуре гомологических рядов целлюлозных материалов Наиболее воспроизводимым, точным и простым в интерпретации является метод дифракции рентгеновских лучей В настоящее время большинство исследователей применяют именно этот метод [6, 7] Для количественного определения ИК используют формулу, предложенную Сегалом [c.12]

С помощью тщательных измерений порошкограмм, 1СНЯТЫХ при монохроматическом рентгеновском излучении, Бюссем и Чейшвили показали, что фаза, образовавшаяся при дегидратации глинистых минералов, имеет не полностью нарушенную структуру в ней сохраняются определенные участки первичной структуры, главным образом базальные плоскости, которые еще сохраняют положение, которое они имели в решетке. Такое промежуточное состояние можно трактовать как двумерную дефектную кристаллическую фазу, которая все еще вызывает характерную дифракцию рентгеновских лучей. Очевидно, имеются двумерные решетки из тетраэдров типа [5104], показанной на фиг. 779. [c.734]

Первым из указанных методов определения полной структуры молекулы является рентгеноструктурный анализ [1, 2]. В принципе с помощью дифракции рентгеновских лучей можно определить структуру любого вещества, существующего в кристаллической форме. Этот метод применялся для определения всех конформационных деталей структуры таких сложнейших молекул, как селебиксантон [3] и витамин В13 [4] (рис. 3-1). [c.166]

При благоприятных обстоятельствах с помощью рентгенографических методов можно определить расположение отдельных атомов в молекуле кристаллического вещества. В случае органических кристаллических веществ этим методом можно определить не только строение, но и относительное расположение заместителей при отдельных асимметрических атомах, а также детали общей конформации. В настоящее время, когда имеются мощные вычислительные машины, становится реальным определение структуры даже очень сложных молекул, таких, как витамин В12 или протеины (например, гемоглобин). Для того чтобы определить абсолютную конфигурацию, используют аномальный фазовый сдвиг при дифракции рентгеновских лучей по методу, разработанному Бьево I]. Этим способом была надежно определена абсолютная конфигурация смешанной патрий-рубидиевой соли винной кислоты. Этот эксперимент подтвердил, что О-(-[-)-глицериновый альдегид, выбранный несколько десятилетий назад в качестве стандарта для корреляционной серии, действительно имеет абсолютную конфигурацию, предложенную Фишером. Таким обрязом, появи.лясь возможность точной интерпретации оптической активности органических соединений. [c.72]

Еще перед началом данных исследований уже стали известны размеры элементарной ячейки и пространственная группа кристаллического тетрафторида ксенона [1]. Вскоре после начала исследований на основании визуальной оценки интенсивностей дифрагированных рентгеновских лучей было сообщено о приблизительной структуре кристалла [2]. В этом сообщении подтверждалась )4/г-симметрия молекулы, но наличие больших погрешностей в определении параметров указывало на необходимость более точных определений. Впоследствии такие определения были выполнены методом дифракции рентгеновских лучей, причем интенсивность дифрагированного излучения определялась с помощью счетчика [3]. При этом было показано, что молекула Хер4 является плоской и имеет форму квадрата. Изучение структуры Хе 4 методом дифракции нейтронов проводилось одновременно с исследованиями другими методами. Это изучение привело к построению структуры, которая не отличается от структур, полученных другими методами (см, стр. 246), но определение параметров и структуры в этом случае выполнено с большей точностью. [c.272]

Фиг. 44. Структура кристаллической решетки НаС1, определенная с помощью дифракции рентгеновских лучей.

При мезомерии имеется особенно сильное взаимное влияние связей между соседними или связанными в циклическую систему атомами. Это влияние проявляется как в химическом гюведении, так и в структуре соединений, в межатомных расстояниях и валентных углах. Определение структуры при помощи рентгеновских интерференций, диффракции электронов и рентгеновских лучей дает в настоящее время возможность определять доволыю точно межатомные расстояния и валентные углы как в кристаллических решетках, так и в изолированных молекулах, находящихся в газовой фазе, а частично таки<е и в жидкостях. В общем неточности в определении межатомных расстояний находятся в пределах 1—2 , в определении валентных УГЛОВ 2—4°. В последнее время, в частности в Америке, выполнены многочисленные определения подобного юда. Эти данные являются ценным дополнением для классической стереохимии, модели которой при этом оказались подтвержденными во всех своих существенных чертах. Их размеры установлены при помощи определения межатомных расстояний, о чем классическая стереохимия не могла дать никаких сведений. [c.391]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология