Структурный анализ методами рассеяния

СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ МЕТОДАМИ РАССЕЯНИЯ [c.19]

Более того, в случае исследования молекулярных структур разрешающая способность используемых устройств недостаточно высока. Б таких случаях необходимо применять косвенные методы структурного анализа — методы рассеяния. Интенсивность и распределение интенсивности излучения, рассеянного веществом, определяются его структурой. Таким образом, по характеру рассеяния можно судить о структуре образца. [c.20]

Интенсивное изучение пространственного строения синтетических полипептидов продолжалось в течение 1950-х и первой половины 1960-х годов. Были привлечены практически все известные физические и физикохимические методы, позволяющие получать информацию о строении молекул в твердом состоянии и в растворах. Наибольшее количество данных было получено с помощью рентгеноструктурного анализа, методов рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами, дисперсии оптического вращения, кругового дихроизма и дейтерообмена, с помощью обычных и поляризованных инфракрасных спектров. Из полученного при исследовании синтетических полипептидов огромного экспериментального материала, однако, не удалось сделать обобщающих заключений о причинах стабильности регулярных структур и сказать что-либо определенное на этой основе о принципах структурной организации белков. И тем не менее, результаты исследования повсеместно были восприняты как подтверждающие ставшее общепринятым представление о том, что пространственное строение белковой глобулы представляет собой ансамбль унифицированных регулярных блоков вторичных структур, прямую информацию о геометрии которых дают высокомолекулярные синтетические пептиды. а-Спиральная концепция Полинга не только не была поставлена под сомнение, но еще более утвердилась. В 1967 г. Г. Фасман писал "Общепризнано, что лишь несколько конформаций, благодаря своей внутренней термодинамической стабильности, будут встречаться наиболее часто и, по-видимому, именно они составляют общую основу белковой структуры" [5. С. 255]. Между тем, в то время уже были известны факты, настораживающие от безусловного принятия а-спиральной концепции Полинга. Но они выпадали из множества других фактов, согласующихся с традиционным представлением, казавшимся логичным и правдоподобным, к тому же не имевшим альтернативы. Поэтому на данные, противоречащие концепции Полинга, долгое время не обращали внимания. [c.72]

Строение молекулы (ее симметрия) проявляет себя отчетливо в колебательном спектре, отражаясь в его характерных особенностях — числе полос, значениях частот, поляризации линий комбинационного рассеяния, интенсивности спектральных линий и их контуре и т. п. Вся совокупность данных, а не одна из особенностей позволяет установить строение многих малых молекул. В табл. 16 отражены формы колебаний и активность в ИК- и КР-спектрах газов ряда конфигураций малых молекул. Обычно для исследуемой молекулы возможно предположить исходя из соображений симметрии или химической интуиции несколько равновесных конфигураций, для каждой из которых характерно определенное число полос, соотношение между их интенсивностями и т. д. Сопоставляя имеющиеся спектральные данные с предполагаемой моделью, определяют наиболее вероятную конфигурацию (структурный анализ). Например, для молекул ВОз можно предположить две структуры — плоскую (0 ) и пирамидальную (Сзг,). Для последней в ИК- и в КР-спектрах активны все четыре колебания М1, М2, УЗ, Для плоской конфигурации в ИК-спектре активны три частоты кроме ух), а в КР-спектре — тоже три (кроме Уа). Для молекулы B я в КР-спектре найдены всего три фундаментальные частоты 471, 956 и 243 см 1. Из них наиболее интенсивна первая. В ИК-спектре обнаружены полосы при 460, 956 и 243 м . Таким образом, пирамидальная конфигурация отпадает, молекула должна быть плоской (см. табл. 16). Линия 471 см 1 в КР-спектре должна принадлежать полносимметричному колебанию у1 как наиболее яркая в КР-и отсутствующая в ИК-спектре. Вывод о плоском строении молекулы ВСЬ подтверждается методом изотопного замещения. Из табл. 16 (см. молекулы ХУз симметрии Оз ) видно, что только в полносимметричном колебании У1 (ВСЬ) = 471 см ядро атома бора не смещается от положения равновесия. Следовательно, только частота [c.175]

Описанные основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, одинаково применимы как в рентгеноструктурном (РСА), так и в электронографическом (ЭСА) и нейтронографическом (НСА) структурном анализе. Все три метода основаны на одном общем эффекте — дифракции волн, пропускаемых через кристалл,— и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов (ядра атомов в этом рассеянии практически не участвуют). Поток электронов рассеивается в электромагнитном поле атомов, т. е. на электростатическом потенциале, создаваемом ядрами и электронами атомов. Поток нейтронов рассеивается только ядрами атомов. [c.125]

Структурный анализ в современной газовой электронографии основан на применении метода наименьших квадратов и преобразования Фурье к приведенной молекулярной составляющей интенсивности рассеяния. Осуществляется это следующим образом. [c.135]

Количеств, информацию о строении молекул дают дифракционные методы (рентгеновский структурный анализ, электронография и нейтронография), а также микроволновая спектроскопия. Качеств, сведения о строении молекул можно получить по колебательным спектрам, масс-спектрам, спектрам ЯМР и ЭПР (см. Инфракрасная спектроскопия, Комбинационного рассеяния спектроскопия, Ядерный магнитный резонанс, Масс-спектрометрия, Электронный парамагнитный резонанс). [c.445]

ИК-спектроскопия и КР- (комбинационного рассеяния, или рамановская) спектроскопия принадлежат к группе молекулярных колебательных методов, которые вместе с ЯМР-спектроскопией (спектроскопией ядерного магнитного резонанса), масс-спектрометрией, и хроматографией составляют основу современного органического анализа, включающего структурный анализ, микроанализ и анализ поверхности. [c.164]

Рентгеноструктурный анализ дает ценную информацию о структуре и превращениях веществ в экстремальных условиях при высоких давлениях (до 2-10 Па), высоких и низких температурах, после механохимической активации. Имеются некоторые достижения в области рентгеноструктурного анализа жидкостей. Считают, что исследование структуры жидкостей дифракционными методами, в том числе методом рассеяния рентгеновских лучей — одна из важнейших задач современной химии, так как от параметров строения жидкостей, как и других изотопных систем, зависят их физико-химические свойства. Разработаны методы структурного анализа жидкостей и рентгеновские дифрактометры для решения этой задачи, накапливаются данные изучения растворов. Так, изучение водных растворов нитрата кадмия показало, что по мере увеличения концентрации соли формируется собственная структура раствора, отличная от структуры воды. [c.202]

С точки зрения рентгенографических методов исследования пористые адсорбенты могут быть разделены на два класса. К первому относятся системы, в которых практически отсутствует поверхность раздела, и где стенки полостей или каналов образованы отдельными атомами или группами атомов, расположенными по определенному закону. Такие системы характерны для ряда микропористых кристаллических адсорбентов, у которых линейные размеры пор (каналов) соизмеримы с мен атомными расстояниями. Типичным, широко распространенным примером подобных адсорбентов служат цеолиты. Рентгенографические исследования таких систем основаны на методах структурного анализа дифракционной картины при больших углах рассеяния, позволяюш,их весьма точно локализовать расположение отдельных атомов. Зная соответствующие межатомные или межмолекулярные расстояния, можно определить параметры микропористой структуры. [c.199]

Дальний координационный порядок, характерный для кристаллических образцов, можно изучать различными методами, например методом рассеяния электронов, упругих нейтронов или рентгеновских лучей. Основным условием применимости методов рассеяния для структурного анализа является использование излучения такой длины волны, которая не превышает размеров исследуемой структуры. Форма и интенсивность дифракционной картины дают информацию о кристаллической решетке и распределении молекул внутри элементарной ячейки. Интенсивность /(s), рассеиваемая периодической структурой, может быть представлена уравнением [c.20]

Другое направление теоретических работ — это углубленное исследование состава нефтей. Схема исследования предусматривает широкое использование методов хроматографии (вытеснительной, распределительной, газожидкостной с капиллярными и набивными колонками), а также методов ультрафиолетовой, инфракрасной и химической масс-спектроскопии для структурного анализа парафиново-нафтеновых и ароматических УВ. Возможно применение квазилинейчатых спектров поглощения, комбинационного рассеяния света, ядерного и парамагнитного резонанса. Весьма перспективна пиролитическая хроматография ОВ и нефтей для их корреляции и установления нефтематеринского потенциала. [c.15]

Основные научные исследования посвящены теории дифракции рентгеновских лучей и рентгеноструктурному анализу. Независимо от русского кристаллофизика Ю. В. Вульфа установил (1913) соотношение между длиной волны рассеянных кристаллом рентгеновских лучей, величиной угла отклонения этих лучей после рассеяния и константами кристаллической решетки, лежащее в основе рентгеноспектрального анализа. Определил (1928) посредством рентгенографических методов строение силикатов. Совместно с Дж. Д. Берналом и Л. К- Полингом заложил (1946—1950) основы структурного анализа белка. Исследовал строение многих белковых тел. Был одним из инициаторов применения рентгеноструктурных методов для исследований в области молекулярной биологии. [c.83]

Разделение (разгонка) по температуре кипения на узкие фракции, что в грубом приближении соответствует разделению по молекулярной массе (М). Такой метод успешно применяется для анализа низкомолекулярной части нефтей, ибо этим путем удается получить фракции ограниченного индивидуального и структурно-группового состава (СГС), которые вполне поддаются анализу, либо индивидуального состава, как в случае бензинов, либо смешанного (индивидуального и СГС) — для средних фракций. Перенесение этого метода на ВМ-УВ не дает заметного эффекта из-за того, что с ростом М резко возрастает число компонентов одинаковой брутто-формулы (изомеров, гибридных структур) и падают различия в их физико-химических свойствах, так что в любой коль угодно малый из достижимых на практике интервал отбора (Ат. кин.) попадают многие тысячи соединений. Это делает невозможной задачу определения индивидуального состава. Для определения СГС такое разделение также не дает выигрыша из-за того, что любая фракция вне зависимости от температуры отбора будет содержать практически одинаковый набор СГ-фрагментов, сохраняя их относительное распределение. Кроме того, этот метод требует значительных количеств вещества ( 1 г). В силу этого он становится неприменимым при анализе углеводородов рассеянного органического вещества осадочного чехла (РОВ) из-за их малых количеств (< 1 г). [c.199]

Применяя рентгеновский структурный анализ, изучают молекулярно-атомное строение вещества — структуру кристаллов, жидкостей, газов, строение электронной оболочки атома и т. п. Этот анализ является дифракционным методом. При падении рентгеновских лучей на какое-либо тело электроны атомов этого тела рассеивают их во всех направлениях. Рассеянные лучи интерферируют друг с другом, и в некоторых направлениях, зависящих от характера и расположения атомов облучаемого вещества, получается усиление рассеянной волны, в других, наоборот, полное ее поглощение. Методы рентгеновского структурного анализа сводятся к изучению расположения и интенсивности интерференционных пучков лучей и выяснению на этом основании картины строения вещества. [c.17]

Количественную обработку рентгенограмм обычно проводят методом проб и ошибок , задаваясь гипотетической структурой вещества, вычисляя для нее ожидаемую картину дифракции и сравнивая ее с экспериментально наблюдаемой рентгенограммой. Затем, если это необходимо, выбирают новую гипотетическую модель и повторяют вычисления до достижения удовлетворительного совпадения расчетной и наблюдаемой картин рассеяния. Этот метод оказывается особенно успешным благодаря внедрению в лабораторную практику для структурного анализа быстродействующих электронно-вычислительных машин. [c.81]

Во всех конкретных случаях метод использования аномального рассеяния для структурного анализа в известной степени диктуется особенностями объекта, и зачастую его требуется видоизменять. Если это возможно, то полезно, например, иметь в структуре не один, а несколько типов аномально рассеивающих атомов. Это вызовет необходимость увеличения числа различных длин волн при наборе данных по интенсивностям. [c.222]

Диаграммы Арганда можно использовать для определения фаз структурных факторов, обусловленных рассеянием от легких атомов (/ ), если известны положение и рассеивающие способности тяжелых атомов в изоморфных производных. (Описанный ниже метод является основным методом, используемым при анализе структуры белков. — Прим. ред.) Структурный фактор тяжелых атомов рассчитывают, а модули 1 , и Рц+ь I определяют экспериментально. [c.225]

I Ф (Н) I, несовершенства кристаллов как дифракционных решеток). Поэтому наряду с прямыми методами разработаны и успешно используются различные экспериментальные приемы решения фазовой проблемы (методы тяжелого атома, изоморфных замещений, аномального рассеяния [6, гл. V—VII]). Новые перспективы решения фазовой проблемы открывает мёссбауэрогра-фия — резонансный структурный анализ [7]. [c.14]

На явлении рассеяния основаны экспериментальные методы получения спектров плотности в структурном анализе. Эти методы применимы к определению функций распределения плотности независимо от агрегатного состояния вещества. В газе нет корреляции в расположении частиц, поэтому складываются интенсивности волн, рассеянных отдельными частицами. Из картины рассеяния, в случае одноатомного газа, путем фурье-преобразова-ния находят распределение электронной плотности в атомах. Для многоатомного газа с помощью модельных расчетов определяют строение газовых молекул, в растворах изучают форму и размеры макромолекул, частиц вирусов и т. д. В жидкостях и аморфных телах существует корреляция в расположении ближайших соседей. Анализ картин рассеяния в этом случае позволяет определить ближний порядок. В кристаллах, как следствие периодичности структуры, имеется как ближний, так и дальний порядок. Дифракционная картина, получаемая от кристалла, является по содержащейся в ней информации наиболее богатой. Из этой картины, даже для таких сложных объектов, как биополимеры, можно определить координаты всех атомов кристалла [8]. [c.14]

Рассеяние и поглощение резонансных гамма-квантов широко используется в весьма популярном методе мёссбауэровской спектроскопии. Дифракция резонансных гамма-квантов используется в новом резонансном методе структурного анализа — мёссбауэро-графии, сочетающем возможности рентгено- и нейтронографии и открывающем новые перспективы в исследовании атомной и магнитной Структуры твердых тел и в изучении внутрикристаллических магнитных и электрических полей. [c.16]

И. Рентгенография Метод рентгенографии, или точнее рентгено-структурного анализа, основан на изучении дифракционного рассеяния рентгеновских лучей отдельными атомами, входящими в структурно-упорядоченные образования (молекулу, кристалл). Рентгенография применяется для исс/гедования строения веществ в любом агрегатном состоянии, однако наиболее полную информацию получают при исследовании кристаллов. [c.60]

Рамановская спектроскопия основана на исследовании спектров рассеяния света. При столкновении фотона с молекулой может иметь место упругое соударение, при котором фотон не теряет энергию, но изменяет направление своего движения. Такое рассеяние известно под названием рэлеевского и лежит в основе метода определения молекулярных весов соединений. Соударения могут быть также иеупругими они характеризуются тем, что энергия молекулы и фотона изменяется. Поскольку эти изменения носят квантовый характер и определяются колебательными и вращательными уровнями молекулы, анализ спектра рассеянного света (спектра Рамана) дает почти ту же информацию, что и обычный инфракрасный спектр. Необходимо, однако, помнить один момент правила отбора в этих двух случаях различаются. В инфракрасной спектроскопии разрешены одни переходы, в раман-спектро-скопии — другие. Таким образом, имеет смысл снять и тот и другой спектр исследуемого образца. До недавнего времени раман-спектроско-пия находила весьма ограниченное применение из-за малой интенсивности рассеянного света. Однако использование для возбуждения лазеров существенно повысило ценность указанного метода [16—20]. В качестве примера на рис. 13-4,5 приведен раман-спектр 1-метилурацила. Заметим, что интенсивность полосы амид II (относительно полосы амид I) в раман-спектре значительно меньше, чем в инфракрасном спектре поглощения. Особый интерес представляет резонансная раман-спектроскопия [19—21], где используется лазерный пучок с длиной волны, соответствующей длине волны электронного перехода. Рассеяние света при этом часто существенно усиливается на частотах, которые отличаются от частоты лазера на частоту рамановского рассеяния, происходящего на группах хромофора или на группах молекулы, соседствующей с хромофором. Несмотря на определенные экспериментальные трудности, указанный метод позволяет изучать структурные особенности какого-либо конкретного участка макромолекулы. [c.13]

Строение М. изучают разл. эксперим. методами. Электронография, нейтронография и рентгеновский стру1 урный анализ позволяют получать непосредств. информацию о структуре М. Электронографич. метод, исследующий рассеяние электронов на пучке М. в газовой фазе, позволяет рассчитать параметры геом. конфигурации для изолированных сравнительно простых М. Нейтронография и рентгеновский структурный анализ ограничены анализом структуры М. либо отдельных упорядоченных фрагментов в конденсир. фазе. Рентгенографич. исследования кроме указанных сведений дают возможность получить количеств. [c.108]

С.х. базируется на данных таких эксперим. методов, как рентгеновский структурный анализ, нейтронография, электронография, микроволновая спектроскопия и спектроскопия комбинац. рассеяния, ИК спектроскопия, УФ и фотоэлектронная спедстроскопия, резонансные методы (ЯМР, ЭПР, мёссбауэровская спектроскопия, ядерный квадрупольный резонанс), а также типичных физ.-хим. методов-термохимии, адсорбции, катализа и т.п. [c.445]

Третья причина — область применения методов анализа поверхности твердого тела. Прежде всего это методы исследования. Подавляющее больпшнство методов составляют спектроскопические, дифракщюнные методы, методы, основанные на рассеянии электромагнитного излучения, электронов и ионов. Совместное использование 3—4 методов анализа поверхности позволяет провести комплексное всестороннее изучение объекта элементный, фазовый, структурный анализ, определение электронной структуры, магнитных свойств поверхности и т. д. Поэтому эти методы характеризуются высокой наукоемкостью и соответственно стоимостью анализа. [c.267]

По указанным причинам в последние годы были проведены разнообразные исследования полимеров, которые могут образовывать упорядоченные расплавы или растворы. Были изучены полимеры, в которых упорядоченная структура создавалась боковыми группами. В этом случае структура основной цепи играет лишь второстепенную роль. В настоящей главе сделан обзор структур низкомолекулярных жидкокристалличеоких систем, а также методов, используемых для их анализа, и результатов структурного анализа полимеров, образующих частично упорядоченные расплавы. Значительная часть главы посвящена описанию и исследованиям молекулярной структуры этих фаз. Автор полагает, что такой общий обзор представляет интерес как вследствие последних достижений в области структурного анализа полимерных и жидкокристаллических систем (например, малоугловое нейтронное рассеяние частично дейтерированных образцов), так и потому, что. число проведенных детальных структурных исследований полимеров, образующих частично упорядоченные расплавы, еще недостаточно велико. [c.15]

Существующие методы рассеяния, основанные на рассеянии рентгеновских лучей, электронов, света или нейтронов, чувствительны к изменению различных структурных параметров, характеризующих вещество. Как правило, для структурного анализа недостаточно одного метода. В каждом случае необходимо определить, какие структурные параметры нужны для описания природы специфической молекулярной или надмолекулярной организации, а затем выбрать надлежащий метод рассеяния. В последующих разделах описываются полимерные жидкокристаллические фазы, характеризующие их структурные параметры, а также экспериментальные методы получения этих параметров. Структурными параметрами жидкокристаллических систем являются, как упоминалось выше, ближние и дальние координационные и ори-ентацонные порядки на молекулярном и надмолекулярном уровнях. Для полимерных систем следует определять также конформацию цепи. [c.20]

Метод радиального распределения атомов (РРА), как правило, применяемый для изучения жидкостей и стекол /С,2/, основанный на интегральном анализе интенсивноеги рассеяния рентгенсвскнх лучей, может быть пршленен для изучения структурных характеристик носителей и катализаторов, а таете для оценки дисперсности (области когерентного рассеяния) фаз, в частности, активного компонента в нанесенных катализаторах. [c.236]

В этом отношении перспективными являются работы Б. Я. Пинеса [12], который разработал ряд конструкций острофокусных рентгеновских трубок. Этим достигается повышение точности структурного анализа, так как становится возможным получать на рентгенограмме особенно тонкие линии и отсчитывать углы с большой точностью. Увеличивается также чувствительность метода, что позволяет при помощи мо-нохроматизованного излучения изучать интенсивности не только слабых максимумов, но и диффузного рассеяния как под очень малыми, так и под большими углами. Это дает возможность более точного определения величины и формы частиц, получения сведений об отклонениях атомов от правильного положения, о характере блочной структуры и т. д. [c.6]

Основные научные нсслсдовання относятся к физической органической химии. Разработал (1946 -1950) пути изуче1и1я интенсивности линий комбинационного рассеяния света (КР), послужившие основой создания новых методов качественного и количественного анализа органических продуктов и молекулярного структурного анализа. Открыл явление резонансного КР (1946—1952) и излучение промежуточного характера, сочетающее признаки рассеяния и флуоресценции (1963). Разработал теорию преобразования света молекулами, которая установила связи между фундаментальными молекулярнооптическими явлениями — поглощением света, рассеянием и флуоресценцией и предсказала возможности наблюдения вторичного излучения промежуточного характера. [c.617]

СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ - анализ структуры материала и его дефектов. Для исследования атомно-кристаллической структуры исполт,зуют дифракцию и рассеяние рентгеновских лучей (см. Рентгеноструктурный анализ), электронов (см. Электронографический анализ) и нейтронов (см. Нейтронографический анализ). Получили распространение методы анализа с использованием ориентационных эффектов при рассеянии тяжелых заряженных частиц (см. Ме-тодом ориентационных аффектов анализ), а также автоионный микроскопический анализ, в к-ром используют ионизацию атомов (или моле-ку.т) газа в неоднородном электр. поле у поверхности образца. При рассеянии потоков излучений атомами, находящимися в узлах идеальной кристаллической решетки, возникают резкие максимумы и диффузный фон вследствие комптоновского рассеяния. По положению и интенсивности максимумов определяют тип кристаллической решетки, размеры элементарной ячейки и расположение атомов в ней. Нарушения идеальности кристалла, напр, колебания атомов, наличие атомов различных хим. элементов, дислокаций, частиц новой фазы и др., изменяют положение, форму и интенсивность максимумов и вызывают дополнительное диффузное рассеяние, что дает возможность получать информацию об этих нару-шеннях. Дифракционными методалш изучают также строение веществ (напр., аморфных), пе обладающих строгой трехмерной периодичностью. Теории дифракции всех излучений имеют много общего, в то же время в них есть особенности, обусловли- [c.470]

Способы использования простых характеристик кристалла для структурного анализа были развиты Коулеем и Рисом [22]. В этой работе применяли метод Фурье. Результаты представляли собой распределение потенциалов, которое графически можно изобразить или на плоскости, или в пространстве. Трудности проведенця точных измерений интенсивности более значительны, чем при рентгеноструктурном анализе. Для получения удовлетворительных результатов необходимо вводить точные поправки на вторичное рассеяние. Имеется также значительная неопределенность формы кривых атомного рассеяния электронов. Однако из сказанного выше ясно, что метод дифракции электронов является значительно более результативным, чем метод дифракции рентгеновских лзшей, при обнаружении легких атомов в присутствии тяжелых, например атомов водорода в органических молекулах или углерода, кислорода и азота в соединениях, содержащих свинец или платину. [c.58]

Таким образом, многие явления, в действительности очень сложные, будут интерпретированы как простые. Другими словами, область составов, приписываемая бертоллиду, может содержать ряд дискретных, стехиометрических фаз, описываемых по-видимому, нерациональной формулой, причем металлические решетки этих фаз очень похожи. При этих обстоятельствах систематическое применение мбтодов работы с монокристаллами не просто имеет ряд преимуществ, но й является настоятельной необходимостью, если, разумеется, такие кристаллы можно получить. При этом метод дифракции нейтронов, если относительное рассеяние элементами не зависит от их атомных номеров, начинает играть все возрастающую роль при решении непосредственных проблем структурного анализа. [c.106]

При расчете синтеза Фурье используются как величины, так и фазы структурных факторов. В результате получается трехмерная контурная карта распределения электронной плотности, на которой должен быть виден каждый атом элементарной ячейки (по возможности также, и атомы водорода, содержащие лишь один электрон). Если пространственная группа рассматриваемой структуры цен-тросимметри на, то фазы структурных факторов будут либо +1, либо —1. Если определение структуры проводят с применением метода тяжелого атома, на первых стадиях структурного анализа получают координаты тяжелого атома из синтеза Патерсона. Далее приписывают фазы каждому структурному фактору в предположении, что в интенсивность рассеяния преобладающий вклад вносит тяжелый атом. Отсюда с помощью синтеза Фурье можно определить положение легких атомов в структуре.. [c.236]