Последние линии в эмиссионном спектре

Другие существенные обстоятельства, влияющие на интенсивность какой-либо спектральной линии, — обусловливающая ее энергия перехода и вероятность реализации последнего. С уменьшением энергии перехода интенсивность соответствующей линии экспоненциально растет, растет и вероятность е о осуществления. Поэтому наиболее интенсивные линии эмиссионного спектра элемента,связаны обычно с переходами между основным и самым низким по энергии разрешенным возбужденным состоянием. [c.358]

Среди других детектирующих систем, селективно регистрирующих серу и фосфор, в последние годы приобрел важное значение пламенно-фотометрический детектор, широко используемый при анализе жидких топлив и других нефтепродуктов, а также при изучении загрязнений окружающей среды. Действие этого детектора основано на регистрации с помощью фотоэлементов или фотоумножителей излучения в спектральных линиях эмиссионных спектров серы и фосфора, возникающих при сгорании содержащих серу и фосфор соединений в водородном пламени при некотором недостатке окислителя. Собственное излучение пламени экранируется, а эмиссионные линии излучения, возникающего непосредственно над пламенем, выделяются с помощью соответствующих светофильтров или монохроматоров. Для регистрации сернистых соединений используют фильтр, соответствующий длине волны 394 нм, а для веществ, содержащих фосфор,—526 кле [117—120]. В настоящее время описаны и производятся многочисленные модели пламенно-фотометрических детекторов, позволяющих одновременно регистрировать и сернистые и фосфорные соединения. Некоторые модели имеют коллекторный электрод и могут выполнять функции пламенно-ионизационного детектора. [c.158]

Последние линии элементов (нм) в эмиссионных спектрах [c.328]

Эмиссионный спектральный анализ основан на изучении эмиссионных спектров (спектра испускания или излучения). Каждому химическому элементу свойственен свой индивидуальный линейчатый спектр испускания, состоящий из ряда линий с определенными длинами волн. Наличие в спектре излучения этих линий дает возможность судить о наличии искомых элементов в исследуемом образце. Сначала наблюдают их в спектре анализируемого вещества, затем по имеющимся атласам и таблицам спектральных линий определяют принадлежность этих линий тем или иным элементам, что и позволяет устанавливать присутствие последних (качественный спектральный анализ). [c.181]

Последние линии в эмиссионном спектре. При обнаружении предельно малых концентраций вещества следует пользоваться наиболее интенсивными линиями, которые могут быть расположены в различных областях спектра, доступных для исследования. Эти линии получили название последних , так как при уменьшении концентрации элемента они исчезают в спектре последними. Наиболее интенсивными в спектре являются резонансные линии. Не все резонансные линии пригодны для использования, некоторые из них лежат в труднодоступной области спектра (например, в вакуумной Я<200 нм) или в области недостаточной чувствительности фотопластинки. Тогда вместо последних линий используют другие линии, менее чувствительные, что может снизить чувствительность обнаружения элемента. Чувствительные линии по элементам приведены в приложении. [c.8]

Спектр каждого элемента состоит из большого числа линий разной интенсивности. По мере уменьшения концентрации данного элемента в пробе интенсивность линий уменьшается, в конце концов они исчезают . Некоторые наиболее интенсивные линии исчезают последними (их так и называют последними линиями ). Это обычно резонансные линии, т. е. линии, соответствующие переходу электрона с основного уровня на ближайший возбужденный они наиболее легко возбуждаемые, для их возбуждения требуется сравнительно малая энергия. Но линии эти обладают ярко выраженной способностью к самопоглощению и самообращению — явлениям, состоящим в поглощении невозбужденными атомами излучения, испускаемого возбужденными атомами. Поэтому интенсивность резонансных линий пропорциональна концентрации данного атома лишь при малых содержаниях его, вследствие чего эмиссионный спектральный анализ пригоден для обнаружения и определения примесных атомов, а не основного вещества. Естественно, что интенсивность и число линий зависят от способа возбуждения спектра, т. е. способа подвода энергии. [c.192]

Качественный эмиссионный анализ, как известно, основан на том, что каждый элемент имеет свой линейчатый спектр. У каждого элемента есть линии, наиболее интенсивные в данных условиях анализа и поэтому наиболее чувствительны. Надежнее всего анализ проводить именно но этим линиям. Они появляются в спектре при наименьщей концентрации элемента в пробе и при уменьщении концентрации исчезают из спектра последними. Их принято называть последними линиями. Теоретически последними должны быть первые резонансные линии. Однако в действительности порядок исчезновения и появления линий элемента при данном общем составе пробы зависит от способа возбуждения и способа регистрации спектра. [c.171]

ТОВ изучены, по крайней мере в степени, удовлетворяющей практические потребности спектроскопии, изучение спектров молекул, в частности органических, еще далеко от такого состояния. Главнейшим препятствием является, конечно, многочисленность, чтобы ие сказать бесчисленность органических соединений. Поэтому, несмотря на большую проделанную в последние годы работу, в результате которой более или меиее изучены спектры примерно 2 тысяч соединений, список веществ, даже наиболее важных для практических анализов, далеко пе полон. Это объясняется отчасти и тем обстоятельством, что выбор изученных до настоящего времени объектов делался далеко не всегда под углом зрения аналитических потребностей. К неполноте списков веществ присоединяется еще одно обстоятельство, осложняющее аналитическую работу спектры многих соединений близкого строения имеют значительное сходство, до известной степени затрудняющее их распознавание и требующее специальных поисков отличительных признаков. Отдельные соединения обладают менее богатыми спектрами, чем эмиссионные спектры большинства атомов но линии молекулярных спектров рассеяния группируются на гораздо более тесном интервале длин волн, чем эмиссионные линии атомов, охватывая область в несколько сот ангстрем, да и в пределах этой области распределяясь не равномерно, а группируясь в некоторых преимущественных интервалах. Все это делает спектральный анализ соединений более сложной задачей, чем анализ атомов. [c.160]

Спектр атомного поглощения элемента проще эмиссионного, так как состоит только из спектральных линий резонансной серии. В то же время среди линий резонансной серии имеются такие, которые в спектре эмиссии отсутствуют вследствие высоких потенциалов их возбуждения. Последние спектральные линии некоторых элементов (Со, Сг) смещены в спектре абсорбции в более коротковолновую область по сравнению с наиболее яркой эмиссионной спектральной линией. [c.49]

Интенсивность спектральной линии и фона в спектре являются функцией как электрических параметров дугового разряда, так и состава анализируемого образца (см. 4.1—4.3). Именно с последним обстоятельством связано широко применяемое в Эмиссионном спектральном анализе введение в пробы различных добавок, называемых буферами и носителями. [c.146]

Фотографический эмиссионный спектральный метод — метод измерения относительной интенсивности линий путем фотографирования спектров. На фотопластинке после проявления получают ряд линий, степень почернения которых измеряют при помощи микрофотометра. Последняя пропорциональна интенсивности излучения, значит и концентрации соответствующего элемента [41,42]. [c.14]

Рентгеновская спектроскопия, рентгеноспектральный анализ, рентгеновская эмиссионная спектроскопия, рентгеноспектральный локальный анализ, рентгеновский электронно-зондовый анализ — сфокусированный пучок электронов (электронный зонд) возбуждает рентгеновское излучение в микрообъеме анализируемого образца (шлиф), который служит анодом разъемной рентгеновской трубки. Излучение разлагают в спектр интенсивность соответствующих линий зависит от концентрации элемента в данном микрообъеме. Локальность составляет 0,1—0,3 мкм , локальный предел обнаружения —10 г. Интенсивность линий определяемого элемента А сравнивают фотографическим способом с интенсивностью / ближайшей линии стандартного элемента. Последний заранее вводят в пробу в известном весовом количестве (метод внутреннего стандарта). Отношение интенсивностей аналитических линий пропорционально отношению массовых количеств определяемого (Сд) и стандартного (с ) веществ [c.15]

Количественный анализ вещества по спектрам поглощения (абсорбции) основан на существовании определенной функциональной зависимости между концентрацией элемента в поглощающем слое и одним из параметров, характеризующих линию поглощения. Следовательно, для выполнения атомно-абсорбционного анализа необходимо прежде всего испарить анализируемую пробу и нагреть образующийся пр этом газ до температуры, при которой происходит полная или хотя бы частичная диссоциация молекул, содержащих определяемые элементы. Собственно, то же необходимо и при проведении эмиссионного спектрохимического анализа только в последнем случае необходимо еще и возбудить спектр свободных атомов, находящихся в плазме. [c.16]

Прибор для эмиссионного спектрального анализа состоит из источника возбуждения спектра и устройства для анализа спектра. В последнем излучения каждой длины волны образуют одну линию. В зависимости от количества излучений разных длин волн получается различное число линий, которые можно наблюдать визуально, регистрировать на фотопластинке или с помощью фотоэлектрических приборов. [c.227]

При выборе типа пламени следует иметь в виду все те работы, целью которых является возбуждение в пламени атомных спектров элементов, образующих в обычных (стехиомет-рических) пламенах устойчивые окислы или гидроокиси поскольку возбуждение атомных линий является возможным только при наличии в пламени свободных атомов элементов, то очевидно, что выбранные условия пригодны и для проведения атомно-абсорбционного анализа в частности, в последние годы появилось немало работ, использующих для пламенно-эмиссионного определения алюминия, бериллия, РЗЭ и редких тугоплавких металлов по их резонансным линиям высоко восстановительное кислородно-ацетиленовое пламя [39, 83, 193, 266]. [c.27]

Разнообразие источников возбуждения спектров, применяемых при эмиссионном спектральном анализе, непрерывно увеличивается. Вместе с тем увеличиваются и наши знания о процессах, происходящих в этих источниках. Знания эти весьма важны для понимания сущности методов количественного спектрального анализа процессы, происходящие на электродах, определяют характер поступления вещества в зону разряда состояние плазмы источника определяет излучение энергии аналитической пары спектральных линий. Поэтому процессы в источниках возбуждения спектров являются предметом интенсивного изучения, особенно в последние 10—15 лет. Рассмотрим основные типы источников и направление их развития. [c.47]

Для решения задач эмиссионного спектрального анализа большое значение имеет знание распределения атомов и ионов в облаке разряда. Подача вещества в зону разряда часто осуществляется за счет испарения пробы, введенной в канал анода. Скорость испарения определяется реакциями, происходящими при высоких температурах анода, и летучестью образовавшихся химических соединений и элементов. Соединения различных элементов можно расположить в ряд по мере снижения летучести. Например, для окислов некоторых элементов наблюдается следующая последовательность появления спектральных линий 2п, РЬ, Мо, Мп, M.g, Ре, 81, А1, ЫЬ, Та. При анализе сложных проб имеет место фракционное поступление элементов в зону разряда. Поэтому для получения представления о полном составе пробы необходимо обеспечивать полное выгорание пробы из углубления анода. Обычно в этих случаях делают несколько снимков спектра первый спектр снимается в первые стадии горения дуги, затем, не прекращая горения дуги, передвигают кассету спектрографа в новое положение и делают новый снимок наконец, при третьем положении кассеты снимают спектр последних стадий выгорания. В этом случае на первом спектре появятся линии легколетучих элементов, на третьем — труднолетучих, на втором—промежуточных. Можно было бы снять один спектр за все время горения пробы, однако такой спектр будет очень интенсивным с сильным фоном при наличии многих линий возникнет большая вероятность наложения линий различных элементов, так как труднолетучие элементы дают обычно большое число линий. [c.50]

Переходам электронов с валентных оболочек (или зон) на вакансию на внутр. оболочке соответствуют т. наз. последние линии эмиссионного спектра. Эти линии отражают структуру валентных оболочек или зон. Согласно правилам отбора, переход на оболочки X и возможен с валентных oбoJЮчeк, в формировании к-рых участвуют / -состояния, переход на оболочки и з-с валентных оболочек (или зон), в формировании к-рых участвуют л- и -состояния изучаемого атома. Поэтому Ка-линия элементов 2-го периода в соед. дает представление о распределении электронов 2 opбитaлeй изучаемого элемента по энергиям, линия элементов 3-го периода-о распределении электронов Зр-орбиталей и т.д. Линия ХР в координационшох соед. элементов 4-го периода несет информацию об злектронной структуре лигандов, координированных с изучаемым атомом. [c.240]

Эмиссионные спектры в пламени довольно просты и состоят из нескольких спектральных линий, отличающихся характерной для каждого элемента длиной волны. Это позволяет по резонансному излучению различать анализируемые металлы, использовать эти спектры не только для качественного, но и для количественного анализа. Последний основан на том, что в определенном интервале концентрации анализируемого вещества интенсивность излучения атомов пропорциональна содержанию их в растворе, введенном в пламя. Характерную для элемента спектральную лийию выделяют с помощью светофильтра, направляют на фотоэлемент, измеряют силу возникшего в нем тока гальванометром и определяют интенсивность излучения. Содержание определяемого элемента находят по градуировочному графику, полученному для серии стандартных растворов. [c.372]

Среди всех физических методов качественного анализа центральное место по эффективности и приложимости для качественного анализа неорганических веществ занимает атомный эмиссионный анализ. Как было указано в гл. VII, положение линий в эмиссионном спектре является интенсивным свойством, с помощью которого можно идентифицировать элементы. Для этой цели используют так называемые аналитические тоследние ) линии элементов. Под аналитическими линиями элемента понимают наиболее интенсивные линии в его эмиссионном спектре, которые последними исчезают из спектра при уменьшении концентрации. [c.189]

Источниками возбуждающего наиряжения служат генераторы дуги пост, тока, активизированнои дуги перемен. тока (нанр., тина ДГ 2), высоковольтной конденсированной искры (наир., типа ИГ-3), генераторы с электронным управлением разряда (напр., типа ГЭУ-2). Для испарения вещества и возбуждения его атомов, ионов и молекул используют также лазер и пламя. Различают эмиссионный С. а. качественный и количественный. Качественный эмиссионный анализ не требует предварительных операций, с к-рыми обычно связан анализ химический. Для полного качественного эмиссионного анализа небольшую навеску вещества возбуждают дугой или искрой, одновременно фотографируя ее спектр. Каждый хим. элемент излучает характерный для него спектр — известный набор спектральных линий, длины волн к-рых сведены в таблицы и атласы. Чтобы установить наличие элемента в пробе, достаточно даже в очень сложном спектре обнаружить несколько его линш . Качественный эмиссионный анализ дает возможность не только устанавливать наличие, но часто и определять приблизительное содержание элемента в пробе. С этой целью используют т. н. последние линии — линии, к-рые при уменьшении содержания элемента в пробе исчезают в спектре в последнюю очередь. Выбор приборов для качественного эмиссионного анализа определяется областью спектра, где расположены самые чувствительные линии элемента, а также дисперсией и разрешающей способностью прибора. Для расшифровки спектрограмм применяют снектропроекторы (напр., типов ПС-18, ДСП-1), таблицы и атласы спектральных линий. В основу количественного эмиссионного анализа положена зависимость мензду интенсивностью спектральной линии определяемого элемента и концентрацией его атомов и ионов в облаке разряда [c.422]

Вращение электрона вокруг собственной оси в отличие от вращения вокруг атомного ядра обозначают как (нем.) или spin (англ.). Оно определяется квантовым числом, уже упомянутым на стр. 145 и называемым спиновым квантовым числом s. Вращение электрона вокруг собственной оси вносит свою долю в магнитный момент атома, так как вращение электрически заряженного шарика вокруг собственной оси оказывает такое же действие, как электрический круговой ток. Правда, влияние спинового квантового числа s на магнитный момент атома, так же как влияние магнитного квантового числа т, обусловленного орбитальным моментом, проявляется только тогда, когда на атом действует внешнее магнитное поле. Однако, с другой стороны, вращение электрона вокруг собственной оси оказывает также влияние на вращательный импульс атома. Вследствие этого общий вращательный импульс атома и таким образом его энергетическое состояние зависят не только от орбитального квантового числа I, но также и от спинового квантового числа s. Из обоих чисел образуется так называемое внутреннее квантовое число j. Последнее всегда имеет положительное значение, а именно для I = О оно имеет только одно значение (] = 1/2), а для каждого / > О два значения, например j = 1з ж ) = 1/2 ддя I = 1. С позиций волновой механики также можно обосновать спиновое квантовое число s и его комбинацию с I, дающую квантовое число /, хотя объяснение спинового квантового числа S здесь несколько иное. Так как у щелочных металлов все -уровни, за исключением тех, для которых I = 0, делятся на два энергетических уровня, все линии в спектрах щелочных металлов, которые образуются за счет перехода на основной уровень 1 = 0, должны давать дублеты. Это и наблюдается в действительности. Расстояние между линиями дублета сильно возрастает с увеличением атомного веса. У желтой натриевой линии оно так мало (разница в длине волн 5,97 A), что для разделения этих составляющих требуется хороший спектроскоп. У цезия расстояние, однако, так велико, что обе синие линии цезия различаются даже при довольно слабой дисперсии (разница в длине волн составляет здесь 37,94 A для лежащего в инфракрасной области дублета первого члена главной серии цезия она составляет даже 422,4А). При переходах на более высокие уровни, чем основной, в эмиссионном спектре могут появиться более чем две линии, так как в этом случае не только исходный, но и конечный уровень разделяется на два уровня. В таких случаях говорят о сложных дублетах . [c.197]

Еще сто лет тому назад Бунзен высказал мысль об использовании характерных линий атомных эмиссионных спектров для качественного и количественного анализа металлов. Примерно за пятьдесят лет до этого Гершель открыл инфракрасные лучи, а затем Абней предсказал связь между характерными полосами поглощения в этой области спектра и некоторыми особенностями структуры молекул. К сожалению, приходится констатировать, что эти открытия нашли широкое применение только в последние сорок лет. Такая задержка произошла, возможно, не столько из-за технических трудностей, сколько из-за недостаточной разработанности основ теории спектров, которая была разработана в связи с применением квантовой теории к интерпретации спектров атомов и молекул. [c.9]

Это уравнение получено путем измерения длины волн спектральных линий и поэтому должно быть объяснено с помощью пригимае-мой атомной модели. Молекулы также дают спектр, состоянщй из линий, но эти последние группируются близко друг к другу, создавая впечатление непрерывных полос, которые в действительности состоят из групп правильно расположенных линий. Соответственно непрерывным и линей-нь м эмиссионным спектрам существуют непрерывные и линейные спектры иоглон1,еиия. В настоящей книге спектры не могут быть рассмотрены детально, но они имеют большое значение в химии. Прежде всего, излучение атомом энергии есть следствие тех изменений внутри атома, которые должны быть объяснены при помощи теории его строения. Во-вторых, после установления удовлетворительной модели атома анализ спектров может дать много данных о строении молекул, о чем кратко будет сказано в гл, VI, [c.21]

За последние годы опубликован ряд работ по применению детекторов, основанных па определении летучих соединений металлов путем измерения интенсивности линий их эмиссионных спектров или спектров поглощения. Отличительпой особенностью этих детекторов является их высокая селективность, позволяющая проводить определение даже при неполном разделении соединения искомого металла от летучих соединений других металлов, присутствующих в пробе. При применении спектральных детекторов отпадает необходимость в проверке, принадлежит ли полученный хроматографический пик именно соединению искомого элемента. Однако это свойство может оказаться и нежелательным, если необходимо в одном хроматографическом опыте определять несколько элементов, так как в этом случае нужно либо быстро перестраивать прибор с одной спектральной линии на другую, либо проводить многоканальное детектирование сразу по нескольким спектральным линиям, что приводит к усложнению прибора. [c.39]

Характерной особенностью редкоземельных элементов является исключительная многолинейчатость их эмиссионных спектров. Последние состоят из огромного числа спектральных линий, ЧТО сильно осложняет как их теоретическую интерпретацию, так и аналитическое приложение. Абсорбционные спектры намного проще, и имеется ряд работ, посвященных их изучению. Первые данные по абсорбционным спектрам редкоземельных элементов получены при использовании печи Кинга [61— 64] автором первых двух работ изучались абсорбционные спектры церия, неодима и самария (приводится 2500 линий этих элементов), а также спектры европия, диспрозия, гольмия, тулия и иттербия (длины волн абсорбционных линий не указаны) авторами двух последних работ пригни [c.231]

Решение проблемы определения ниобия и тантала в некоторых рудах является удачным сочетанием химического и рентгеновского методов. Химическое выделение из руд смеси окислов этой пары металлов — простая задача, но определение отношения ниобий/тантал мокрым методом в такой смеси чрезвычайно затруднительно и отнимает много времени. Весьма серьезным препятствием к определению этого отношения методом рентгеновской эмиссионной спектроскопии было недостаточное разрешение пригодных для работы линий второго порядка Nb/ a и первого порядка TaLau Последняя является самой удобной линией для определения тантала [186]. Трубка с вольфрамовым анодом дает рассеянные линии характеристического спектра вольфрама, которые накладываются на фон и усложняют спектр [235]. Работа трубки при напряжении 18 кв исключает возбуждения Nb К-серии (потенциал возбуждения 18,968 кв), но пр,и этом низка интенсивность аналитической линии тантала. Несмотря на эти трудности, удовлетворительные методы определения отношения [c.214]

Эмиссионный анализ редких земель сравнительно мало использовался в прошлые годы. Большое число линий в спектрах редкоземельных элементов сильно затрудняет возможность проведения такого анализа с высокой чувствительностью. За последнее время успешно выполнен ряд работ по опрейелению малых количеств редких земель методом эмиссионной спектроскопии (см. гл. VI, 5). Однако пока не представляется возможным предложить какой-либо способ прямого спектроскопического определения редких земель со столь высокой относительной чувствительностью. Наши исследования показали, например, что чувствительность определения гадолиния в тории при современных аппаратурных возможностях не превышает 0,1%. С другой стороны, абсолютная чувствительность определения Сс1, Ей и 5т достаточно высока в чистых растворах (свободных от других примесей) можно количественно определять 0,03 мкг гадолиния, 0,01 мкг европия и 0,1 мкг самария. [c.473]

Прежде всего число эмиссионных линий элемента в дуге постоянного тока (наиболее подходящем источнике для определения следов элементов) зависит от положения элемента в периодической системе. Щелочные элементы характеризуются очень простым спектром, состоящим из десятка линий, расположенных в широкой (от ультрафиолетовой до инфракрасной) области спектра. Спектры же переходных элементов (таких, как уран) имеют в той же области тысячи линий. При температурах плазмы дуги единственный электрон на последней орбите атомов щелочных металлов переходит на более высокую орбиту и атомы возбуждаются. По возвращении электрона на основную или промежуточные орбиты излучается одна линия, характерная дл>г данного перехода. В атоме урана несколько электронов, находящихся в разных оболочках, переходят при возбуждении на высшие орбиты. Большое число участвующих в переходах электронов и соответствующих уровней энергии приводит к возникновенинз многочисленных характеристических линий спектра урана. Можно считать, что число линий в спектре элемента обратно пропорционально чувствительности анализа. [c.149]

Калибровка прибора по длинам волн наиболее просто выполняется нахождением установок, соответствующих длинам волн максимумов известных полос поглощения. Удобные точки для калибровки прибора с каменной солью дают аммиак, углекислый газ и ацетилен при длине кюветы 20 см. Аммиак имеет полосы при 1,513, 1,976, 2,264, 2,988, 6,135, 10,322 и 10,710 р. Первая сильная линия в Р-ветви спектра аммиака при 11,0О8 резка и также является подходящей для калибровки точкой [129], углекислый газ имеет полосы при 4,27 и 14,97 ft [130] и ацетилен— при 4,0406, 7,674 и 13,69 [131]. Для калибровки может быть использован также эмиссионный спектр пламени бунзеновской горелки, и11 еющий сильные максимумы при 2,8 (водяные пары) и 4,4 [Л. (углекислый газ). Стандарты длин волн для инфракрасной области были определены при помощи приборов с решетками, и для точной калибровки призменного прибора важно, чтобы разрешение последнего и прибора с решеткой были одного порядка. Отьеном, Као Чао-лань и Рендаллом [84] измерены длины волн линий вращательного спектра поглощения водяных паров от 5 до [c.139]

Последние линии — термин в эмиссионном искровом спектральном анализе, введенный А. де Грамонтом. Такие линии в заранее выбранной области спектра при уменьшении процентного количества элемента в соединении исчезают самыми последними ). Например, при 0,05 /оо (промилле) Zr И в ZrSiOa в ультрафиолетовом спектре остается только линия 3391,96 A, которая и является последней. [c.190]

На практике, однако, концентрацию определяемого элемента находят не по этой зависимости, т. е. не по измерению абсолютного почернения линии, так как оно может значительно колебаться при небольших изменениях условий испарения и возбуждения пробы, обработки фотопластинки и т. д. Поэтому при любом Количественном методе эмиссионного спектрального анализа работают с относительным почернением линии, т. е. по методу сравнения ее с другой линией спектра. Последняя может принадлежать основному компоненту пробы или специально внесенному для этой цели веществу — внутреннему стандарту. Пару линий, почернение 0-торых сравнивают, называют аналитической парой. Наиболее точные результаты получают тогда, когда линии аналитической пары являются гомологическими. В некоторых случаях можнЬ сравнивать почернение с фоном пластлнки. [c.365]

Кроме эмиссионной спектроскопии, в последние годы начала распространяться атомно-абсорбционная. Этот метод основан на резонансном поглощении парами пробы, диссоциированными на атомы, света, излучаемого специальной лампой. Такие лампы, испускающие тонколинейчатый спектр каждого из платиновых металлов, изготовляются за границей и осваиваются в Советском Союзе [398, 399]. Излучение лампы проходит через пары анализируемой пробы. При этом, чем больше в пробе атомов исходного элемента, тем более интенсивно поглощение света от источника и, следовательно, тем больше ослабляются характерные спектральные линии. Интенсивность спектральных линий измеряется при помощи фотоэлемента. Этот метод обеспечивает ббльшую точность определения, чем предыдущий (1—2%). Он может быть применен для анализа тех же продуктов, а также для анализа растворов [407, 408]. [c.205]

Последним вопросом, рассматриваемым здесь в связи с анализом легких элементов, является чувствительность рентгеновских спектров, как абсорбционных, так и эмиссионных, к химическому состоянию элемента (см. 1.22). Влияние химического состояния обычно не очень существенно, но оно может проявиться в изменении N , обусловленном смещением максимума интенсивности по щкале длин волн, которое в свою очередь вызвано изменением химического состояния анализируемого элемента. Такое смещение максимума интенсивности аналитической линии по сравнению с положением этой линии, зарегистрированным для чистого элемента, может привести к изменению распределения числа счетов относительно их прежнего среднего значения. Аналитические затруднения такого рода существенно возрастают, если химическое состояние элемента в неизвестных пробах не определено или если таких состояний несколько. Исследования [37] влияния химических связей на положение /Са-линии серы показали, какие изменения можно при этом ожидать (см. 1.24). Хотя обычный аналитический спектрограф и не будет разрещать эти химические смещения, можно показать, что изменение в распределении интенсивности аналитической линии при измерении угла установки гониометра заметно, если такие смещения имеются. [c.235]

В ранних исследованиях с применением эмиссионного анализа спектры регистрировали на фотопластинке, а интенсивность линий определяли денситометром. Хотя регистрирующие денситометры выпускаются серийно, в анализе их используют ограниченно, в основном из-за присущих фотопластинке недостатков, затрудняющих выполнение быстрых, точных и воспроизводимых измерений. Кроме того, в последнее время вместо фотопластинок в качестве чувствительного элемента широко используют фотоумножители. Появление фотоумножителей привело к разработке спектрографов прямого отсчета, что явилось началом сокращения ручного труда в спектральном анализе. Спектрографы непосредственной регистрации позволяют определять ряд элементов одновременно или последовательно за сднс [c.172]

Эмиссионный спектральный анализ редкоземельных элементов получил распространение лищь за последнее десятилетие. До 1948 г. было выполнено несколько работ, посвященных главным образом решению частных задач определению какого-либо элемента в образцах, содержащих в основном другой редкоземельный элемент. Например, Гаттерер и Юнкес определяли содержание Ей в 5т [ ], Лопец де Аскона анализировал 5т на примесь 0с1 Селвуд проводил полуколичественное определение 5т в Ыс1, 0(1 в N(1 и Га в V [ ]. Чувствительность определений обычно не превышала 0,1% вопросу о точности и воспроизводимости анализа не уделялось достаточного внимания. Лишь при определении Ей, отдельные линии которого обладают очень большой интенсивностью, авторам удалось достичь чувствительности — 0,005%. Люминесцентные методы и определение индивидуальных редких земель по квазилинейчатым спектрам поглощения играли несравненно большую роль (см., например, [c.292]

Ширина щели и разрешение. В действительности конечная ширина щели не позволяет получить теоретическую разрешающую силу, и, кроме того, разрешающая сила данного спектрографа при данной ширине щели зависит от характера освещения последней. Указанием на то, какую следует брать практически ширину щели, если требуется высокое разрешение, может служить анализ (по Шустеру) чистоты спектров при щелях конечной ширины, которые рассматриваются как источники излучения. Оптимальная ширина щели приблизительно равна 4/ХШ, где /—фокусное расстояние, В—действующее отверстие объектива коллиматора я X—длина волны. При сужении щели интенсивность спектрального изображения эмиссионной линии уменьшается без заметного утели- [c.28]