Кристаллические структуры оптические измерения

Пленки, нанесенные путем катодного распыления, имеют кристаллическую структуру. Оптические и электрические свойства слоев, нанесенных распылением в вакууме, зависят от толщины слоя. Для определения толщины применяется [22] способ, основанный на измерении интенсивности прошедшего света. Идея метода состоит в том, чтобы измерять толщину тонкого слоя как разность толщины двух толстых слоев. При этом используется явление большого удельного поглощения света металлами в толстых слоях, благодаря которому незначительное изменение толщины толстого слоя вызывает заметное, легко измеримое изменение интенсивности прошедшего света. Метод позволяет улавливать различия в толщине слоя до долей миллимикрона. [c.75]

По оптическим свойствам кристалла, величине и знаку двулучепреломления вдоль главных направлений сферолита, можно оценить ориентацию цепей в сферолите. Например, в случае полиэтилена показатель преломления света, поляризованного в направлении радиуса сферолита, выше, чем у поляризованного перпендикулярно. Из измерений показателей преломления сильно ориентированных фибрилл очевидно, что показатель преломления имеет наибольшее значение в направлении длины цепей. Отсюда можно заключить, что в сферолите оси с кристаллитов (оси цепей) ориентированы нормально к радиусу сферолита [94]. Рациональное объяснение этого удивительного факта дано Банном [94]. Он показал, что радиусы сферолитов являются направлениями роста кристаллов при этом в полиэтилене развивается морфология, весьма сходная с кристаллической структурой короткоцепных углеводородов. Кристаллы последних растут в виде тонких пластинок, в которых цепи ориентированы перпендикулярно широким граням. Гораздо быстрее кристаллы растут в направлениях, перпендикулярных осям молекул, нежели в параллельном им направлении. [c.316]

Изучение электрических и магнитных свойств, а также природы связи необходимо проводить более обстоятельно и на хорощо аттестованных образцах. Многие измерения выполнены на плохо охарактеризованных препаратах, для которых, как правило, не известны влияние примесей, отклонения от стехиометрии и пористость. Более ценны для этих исследований монокристаллы. Необходимо большее внимание уделять изучению оптических свойств, что открывает возможность использовать предложенный Лаем [9] подход к расчету зонной структуры. Изоэлектронная природа этих материалов и влияние на нее кристаллической структуры также должны быть исследованы в будущем. Стехнометрические высокочистые монокристаллы, если их удастся приготовить, будут особо ценны для изучения особенностей поверхности Ферми, а также для создания более совершенных теорий межатомных связей. [c.252]

Частицы пигмента в порошке обычно слишком малы (С 1 мк) для исследования обычным оптическим микроскопом. Это создает трудности как при определении их размера, так и при измерении их спектров пропускания на микроспектрофотометре. Ганнам и Паттерсон , однако, преодолели эти трудности перекристаллизацией различных азопигментов из растворов, получая кристаллы - 75 л/с в сечении (рис. П1-3). С помощью дебаеграмм они контролировали неизменность кристаллической структуры при перекристаллизации. [c.54]

При образовании льда из водяного пара было обнаружено с помощью оптических измерений, что в объеме сублимационного конденсатора возникают ассоциированные кристаллические группы разных размеров. При этом в структуре льда четыре молекулы, окружающие пятую, образуют вершины тетраэдра. Если выделяющаяся энергия кристаллизации в состоянии аккумулироваться 42 [c.42]

Направление научных исследований физика и химия веществ в твердом состоянии при высоком давлении изучение кристаллических и электронных структур с помощью электрических и оптических измерений, рентгеновских лучей и магнитного резонанса. [c.385]

Данные о структуре кристаллических веществ можно получить на основании самых разнообразных исследований. К их числу можно отнести и чисто визуальное измерение внешних граней и углов в монокристаллах, и изучение их объемных характеристик, таких, например, как электропроводность или модули упругости. Однако эти характеристики не позволяют точно установить положение микрочастиц в кристаллах из-за их плотной упаковки. Поэтому при изучении структуры кристаллических веществ используются главным образом оптические методы, базирующиеся на поглощении и рассеянии различных излучений кристаллами. Поскольку длины связей в кристаллах (постоянные их решеток) порядка 0,1—0,3 нм, для анализа обычно используют коротковолновые излучения типа рентгеновского, а также нейтронные и электронные потоки. [c.91]

Продукт, получаемый в результате кристаллизации, представляет собой сыпучую массу кристаллов различного размера. Внешняя геометрическая форма кристаллов специфична для каждого вещества. Характерной особенностью кристаллического строения вещества является строго определенное, периодически повторяющееся в трех измерениях расположение ионов, атомов или молекул, образующих кристаллическую решетку. Следствием внутренней упорядоченности структуры кристаллов является анизотропность различных физических свойств механических, оптических, электрических, магнитных и других. [c.353]

Разделенные изотопы также находят применение в спектроскопии и в физике твердого тела [1169]. Разницы в массах изотопов вызывают колебательные и вращательные изотопные эффекты в молекулярных спектрах. Разнообразные интересные спектроскопические эффекты вызваны разницей в значениях ядерного спина, магнитного момента и электрического квадрупольного момента для различных изотопов. Изучение этих эффектов очень трудно и иногда невозможно без наличия образцов, сильно обогащенных определенным изотопом. Исследование изотопных сдвигов в оптических спектрах атомов [670, 1170, 1847] дает возможность получить информацию о распределении заряда в ядрах различных изотопов и, следовательно, о размере, форме и структуре ядра. Многие из объемных свойств твердых тел зависят от масс атомов, и хотя эти эффекты малы и трудноопределимы, они изучались при рассмотрении электрической проводимости, температуры плавления, удельного объема, удельной теплоемкости и термоэлектродвижущей силы [1346]. Исследование в области сверхпроводимости показало, что критическая температура обратно пропорциональна атомной массе [ИЗО]. Методом дифракции рентгеновских лучей было рассмотрено различие кристаллических решеток LiF и LiF. Оказалось, что решетка LiF меньше на коэффициент 1,0002. Образцы разделенных изотопов нашли применение в качестве источников излучения. Они могут быть использованы для получения монохроматического излучения и, таким образом, пригодны в качестве эталонов длин волн и точного измерения длины. [c.462]

На основании анализа спектров, исходя из теории групп, было показано [920], что при определенных условиях трансляционные колебания решетки кристаллического полиэтилена становятся активны в ИК-опектре. В [834, 1720] рассчитали колебания решетки кристалла полиэтилена с учетом межмолекулярных взаимодействий. Полоса при 71 см была отнесена к трансляционному колебанию Вц, в кристалле на основании исследований дихроизма [65]. Эта полоса отсутствует в спектрах нормальных парафинов с элементарной ячейкой, содержащей только одну цепь. В спектрах дейтерированных парафинов эта полоса смещается к 67 см-, как п следовало ожидать согласно [935]. Охлаждение образцов вызывает смещение полосы в сторону более высоких волновых чисел [111, 1630], а плавление приводит к ее исчезновению [470]. Подобные изменения в положении полосы были объяснены изменениями параметров кристаллической решетки [65, 1724]. Измеряли непрерывное фоновое поглощение полиэтилена в дальней ИК-области, которое связано с наличием аморфных структур и может быть объяснено тем, что все колебания решетки становятся оптически активны, когда исчезает трансляционная симметрия кристаллической решетки [20]. Подобные измерения провели на облученном полиоксиметилене, а также на хлорированном полиэтилене [477]. [c.185]

Как указывалось в гл. 2, многие физические свойства очень чувствительны к присутствию примесей, и в стандартных учебниках по анализу рассмотрено много примеров применения неизбирательных методов [1]. Однако не все физические свойства можно привлечь для определения следов элементов (понятие следы относится к уровням концентраций менее 0,01%). Во-первых, точность измерения этих свойств не всегда достаточно высока (например, измерения температур замерзания и кипения, теплоты реакци , вязкости, поверхностного натяжения, упругости, скорости звука). Во-вто-рых, в настоящее время многие измерения еще очень сложны как теоретически, так и экспериментально (диэлектрическая релаксация, циклотронный резонанс, магнитоакустическое поглощение, внутреннее трение и свойств сверхпроводимости). Аналогично измерения оптических эффектов в твердых телах, включая люминесценцию, фотопроводимость и поглощение света, не всегда легко обеспечивают получение надежных данных о содержании примесей. В-третьих, другие свойства (например, восприимчивость или ширина линий спектра ферромагнитного резонанса) чувствительны только к определенным примесям в определенных основах. Не существует неизбирательного аналитического метода определения следов элементов, основанного на измерении магнитных свойств, поскольку структура пробы и присутствие компонентов в больших концентрациях по сравнению со следами играют доминирующую роль. В-четвертых, измерения термоэлектрических и некоторых механических свойств (вязкость, напряжение сдвига) можно использовать для подтверждения присутствия или отсутствия примесей, но их редко применяют как основной аналитический метод и поэтому они здесь не будут рассмотрены. Наконец, хотя многие свойства тела зависят от структуры, здесь не будут рассмотрены примеры обнаружения дефектов в кристаллических решетках (нанример, вакансий и дислокаций), поскольку эта тема слишком обширна. [c.376]

Вследствие этого Д. п. каолинита, гарниерита, глауконита, вермикулита и большинства др. типичных коллоидно-дисперсных минер, тел, обладающих гидрофильной природой индивидов, отличается значительной величиной. Изменение Д. п. гидрофильных минер, индивидов обусловлено преим. естественной поверхностной влажностью. Чтобы получить истинные значения, прибегают к измерению Д. п. сухих минералов (обычно минералы прогревают при т-ре 110—120° С). В то же время Д. п. гидрофобных минер, агрегатов, подобно аморфной сере, существенно не отличается от среднего значения Д. п. минер, индивидов. В общем случае Д. п. зависит от частоты электр. поля, в к-рое помещают минерал. В оптической области частот Д. п. равна квадрату показателя прелодиения света в минерале лишь для электронной поляризации. Следо-довательно, Д. п. связана с симметрией кристаллической структуры минералов, характеризуемых в зависимости от структурного мотива положительной или отрицательной индикатрисой проницаемости, оси к-рой в большинстве случаев совпадают с осями оптической индикатрисы. Д. п. используют для отделения минералов доломита от кальцита и магнезита, кварца от каолина, турмалина от граната и др.) в шлихах и концентратах, когда др. методы (по плотности или с помощью магн. сепарации) неприменимы или экономически невыгодны. [c.392]

Оптические изомеры при измерении в растворе дают идентичные спектры, однако в твердом состоянии иногда проявляют различия вследствие разницы в кристаллической структуре и т. п. Исследование ИК-спектров оптических изомеров особенно важно потому, что серии реакций при синтезе и деструкции приводят в конечном счете к необходимости сравнивать оптически активный природный изомер с рацемическим продуктом, которые могут различаться по температурам плавления [71, 125], как это показано для эфира 3-кето-А -этиохолатриеновой кислоты (рис. 5). [c.168]

Примером использования кристалличных полос является работа Мейнарда и Мочела по полихлоропрену [1051, в спектре которого полосы, явно связанные с кристаллической структурой, имеют частоты 953 и 780 Поскольку механически толщину пленок измерять трудно, то для этих целей служили определения оптической плотности полосы 2940 относящейся к валентным колебаниям СН. Для измерения толщины могут использоваться также и другие полосы, например 1665 см" (С = С) и 1450 слг 1 (ножничные колебания СН). При этом предполагается выполнение закона Бера, т. е. что оптическая плотность кристалличной полосы пропорциональна числу осцилляторов в кристаллической части полимера, а в случае полос, служащих для измерения толщин, оптическая плотность пропорциональна числу всех осцилляторов как в кристаллической, так и в аморфной части. В этом предположении доля кристалличности X дается соотношением [c.324]

Оптическая анизотропия кристаллов, как известно, объясняется пх строением. Основной чертой кристаллической структуры является налпчпе кристаллической решетки, т. е. периодического повторения в трех измерениях в пространстве расположения элементов, из которых она построена. Наличие определенного порядка периодичности в строении кристалла приводит одновременно к неравноценности различных направлений в кристалле. Существуют, однако, и некоторые исключения например, кристаллы кубической системы оптически изотропны, так как в них все направления равноценны. В среде, характеризующейся хаотическим расположением составляющих ее элементов, направления всегда равноценны. Все коллоидные растворы прп обычных условиях оптически изотропны вследствие полной хаотичности в расиоложе-пии К0ЛЛ01ЩНЫХ частиц. [c.47]

Таким образом, именно примеси, а также, как будет позднее показано, незанятые узлы решетки вакансии) и смещенные в междоузлия атомы основного вещества (рис. 2) междо-узельные атомы) определяют наиболее важные оптические свойства кристал-лофосфора. Все подобные нарушения периодической структуры кристалла называются дефектами кристаллической решетки, примесными, если они связаны с включением в решетку посторонних атомов, или собственными (структурными), если они представляют собой отклонение от нормального для данного кристалла расположения атомов основного вещества. Как выяснилось в результате измерений при возбуждении люминесценции катодными и рентгеновыми лучами и а-части-цами, степень превращения поглощенной энергии в свет весьма велика — она достигает 25%. Поскольку в этих случаях поглощение возбуждающего излучения заведомо происходит во всей массе вещества, в то время как испускание света происходит в немногих центрах свечения, то ясно, что имеется эффективный механизм передачи энергии от тех мест, где она поглощается, к центрам свечения. Как показывают экспериментальные данные, возможность такой передачи связана с кристаллическим состоянием вещества, а ее эффективность зависит от наличия примесей и структурных дефектов, способных перехватывать энергию возбуждения и передавать ее основанию люминофора в виде тепловых колебаний. Установление роли кристаллической структуры люминофора было важной вехой в развитии представления о люминесценции. [c.8]

Среди других оптических методов исследования применяются, хотя и редко, визуальные микроскопические методы, например для изучения флоккуляции и адгезии коллоидных частиц [33]. Мономолекул яр ные слои можно наблюдать непосредственно методом фазового контраста [34] и при помощи электронного микроскопа. Результаты, полученные в последнем случае, показывают, что мыло адсорбируется на стекле в виде островков , состоящих из ориентированных моно- и полислоев [35]. Метод дифракции рентгеновских лучей был применен для установления фазовых различий между наружными и внутренними слоями полимолекулярных пленок стронциевого мыла, осажденных по методу Лэнгмюра. Установлено, что изменения в их кристаллической структуре возникают лишь после нанесения около 100 слоев [36]. Для измерения толщины адсорбционных слоев жирных кислот на слюде успешно применялись интерференционные методы [37], а для оценки толщины и структуры адсорбционных слоев и в других случаях—эллиптичность светового пучка, отраженного от покрытых ими поверхностей [38]. Поверхностные слои на порошкообразных подкладках изучались при помощи специальной методики инфракрасной спектроскопии, для чего исследуемый порошок смеши- [c.292]

Выбор метода кристаллооптического анализа вещества зависит от размеров кристаллов. Оптические константы, сингонию и вид симметрии для крупных кристаллов определяют с помощью гониометра и кристаллрефрактометра. Однако измерением кристаллов можно установить только форму решетки, лежащей в основе внутренней структуры кристалла. Размеры элементарной ячейки определяют на основании данных рентгеноструктурного анализа. Сочетание кристаллооптического и рентгеноструктурного методов дает полную картину строения кристаллического вещества. Например, кристаллы тетраметоксисилана были изучены этими двумя методами. В результате исследования были определены кристаллическая структура и размеры элементарной ячейки вещества 9. Подобным образом изучены также кристаллы тетраарил-силанов2 0 2". [c.97]

О симметрии расположения можно получить более или менее полные данные путем измерения любого свойства, имеющего различную величину в различных направлениях. Путем измерения многих свойств, таким образом, удается найти элементы симметрии структурированного тела. Это известно из кристаллографии, в которой на основании оптических, механических, термо- и пьезоэлектрических, химических (фигуры травления) свойств производится причисление кристалла к определенному классу симметрии. Число геометрически возможных симметрий в пространстве, которые могут быть осуществлены путем бесконечного повторения одних и тех же элементов симметрии, очень велико, но имеет предел. Подробное рассмотрение учения о геометрических структурах, занимающегося возможными распределениями точек в пространстве по законам симметрии, завело бы нас слишком далеко. Развитие этого учения в виде теории кристаллических структур связано с именами А. Брава, Л. Зонке, А. Шенфлиса, И. Федорова. [c.280]

Для исследования примесей в кристаллической решетке гидротермального ос-кварца Уолрейфен и Луонджо [261] провели измерения КР-спектров и ИК-спектров поглощения в поляризованном свете для полос поглощения групп ОН и НаО. Было показано, что структуры с водородными связями типа О—Н- О—Н (т. е. гидратированные гидроксильные ионы) лежат в плоскости, перпендикулярной к оптической оси кристалла кварца. Агрегаты молекул воды, связанных водородными связями, ориентированы статистически и могут образовать обычную структуру гидратированного иона "ОН. [c.413]

Очевидно, что симметрия этих цепей такова, что все заместители в любой цепи эквивалентны, и поэтому абсолютное определение стереохимической конфигурации не может быть сделано методом ЯМР, хотя все замещенные углеродные атомы асимметричны. Их спектры должны, однако, несколько различаться можно в принципе установить различие между ними на основе конформационного анализа и измерений констант вицинального протон-протонного взаимодействия. Натта и др. [2,7] синтезировали оптически активные кристаллические полимеры из эфиров трамс гранс-сорбиновой кислоты и показали, что они имеют гране-1,4-эрмгро-диизотактиче-скую структуру (V). [c.73]

В области неорганических кристаллических систем внимание было еще раз сконцентрировано на соотношении между эффектами Сцилларда — Чалмерса и изучением внедренных в решетку атомов (или, более обще, изучением центров дефектов структуры методами физики твердого тела). Наиболее значительное открытие сделали Мэддок (Maddo k) и Валькоб (Val ob) [50]. Они нашли, что даже такой простой кристалл, как КВг, можно исследовать методом Сцилларда — Чалмерса, Можно предполагать, что любой атом отдачи брома будет либо ионом бромида в решетке, либо будет обмениваться с ним. Однако, когда облученный нейтронами КВг растерли с дибромэтиленом — реагентом, который быстро обменивается с атомами брома, но не ионами,— выделили фракцию брома отдачи, имеющую удельную активность, примерно в 100 раз большую, чем общая удельная активность брома. Они провели многочисленные опыты по контролю достоверности этих наблюдений и заключили, что по крайней мере некоторые атомы отдачи брома, весьма возможно внедренные, находились в местах дефектов. Ясно, что дальнейшая работа в этих нанравлениях дает наибольшую вероятность установить прямые соотношения между химическими и более типичными физическими (оптическими и т. д.) измерениями центров дефектов структуры. [c.118]

Для многих кристаллических полимеров характерен еще один, более высокий уровень организации — сферолиты. Эти сферические структуры построены из большого числа ламелей, выросших радиально в трех измерениях и соединенных аморфными сегментами [459]. Сферолиты легко наблюдать в оптический микроскоп в скрещенных николях. В этих условиях они дают характерную картину круговых двулучепреломляющих областей в виде мальтийского креста, как показано на рис. 1.11. [c.32]

Комплексы галоген — окись олефина выделены в кристаллическом состоянии [463] и исследованы спектрально при температуре 77 К [464]. В работе [462] комплексы Вг2, 12 и I 1 с окисями пропилена и циклогексена изучены в растворах. Изменения оптической плотности, наблюдаемые при смешении растворов галогенов с окисями в четыреххлористом углероде, обусловлены быстрым образованием лабильных внешних комплексов, которые медленно превращаются в более стабильные внутренние комплексы. Совокупность данных УФ- и ИК-спектроскопии, комбинационного рассеяния и ЯМР [465] показывает, что внутренний комплекс возникает за счет взаимодействия галогена со всей системой кольца как со своеобрааным л-донорам. Для внешнего комплекса характерна структура обычных л-комплексов. Энтальпия образования внешнего комплекса составляет АЯ= — 8 2 кДж/моль, а внутреннего — ДЯ= — 46 кДж/моль. Измерения электропроводности показали, что внутренние комплексы находятся в неионизированной форме. Для растворов смесей окиси цнклогексена, иода и брома в 1,2-дихлорэтане электропроводность и жри 20 С составляет 5-1Q-4 Ом-1 -см-1. Это значение много иже значений, характерных для солеобразных соединений. Методом изомольных серий было установлено, что максимум электропроводности соответствует соотношению взаимодействующих компонентов состава 1 1. [c.143]

ПИИ мономерного звена ППБА Д7=4,5-10 см , что в точности со<впадает с диамагнитной анизотропией бензольного кольца относительно центральной оси, лежащей в его плоскости (по измерениям в кристаллическом бензоле [72]). Это значит, что источником диамагнитной анизотропии молекулы ППБА служат фенильные кольца, входящие в молекулярную цепь, а характер кривой 3 (сходной с кривой 1) показывает, что по своим диамагнитным свойствам (так же как по оптическим) молекулы ППБА являются кристаллоподобными кинетически жесткими молекулами с высоким ориентационным порядком внутренней структуры. [c.80]

Характерной особенностью кристаллов является строго определенное, периодически повторяющееся в трех измерениях расположение ионов, атомов или молекул, образующих кристаллическую рещетку. Этим расположением определяется внешняя форма кристаллов, специфичная для каждого вещества. Следствием внутренней упорядоченности структуры кристаллов является анизотропность их свойств, т. е. неодинаковость механических, оптических, электрических, магнитных и других свойств по различным направлениям для одного и того же вещества. [c.15]

Твердые растворы в системе 1пАз — СдТе существуют со стороны арсенида индия до 33 мол. % СёТе. Анализ диаграммы состояния показал, что система простого эвтектического типа [1]. Рентгенографические исследования позволили заключить, что кристаллическая рещетка всех составов того же типа, что у бинаров, и достаточно соверщенпа. Период кристаллической решетки в пределах Асг= 0,0005 А изменяется в зависимости от состава линейно. Экстраполяция этой зависимости точно выходит на значение периода кристаллической решетки для чистого С(1Те. Из электрических измерений известно, что образцы всех составов исследуемой системы сильно вырождены, концентрация носителей. /У ЫО см , поэтому наиболее эффективными при исследовании энергетической структуры являются оптические методы. [c.26]

НИЯ кристаллических полимеров. При использовании этого метода полностью сохраняют силу все преимущества и недостатки измерений в твердой фазе для определения микроструктуры. Ориентационные двулучепреломления стереорегулярных и атактических полимеров значительно различаются между собой вследствие различного влияния ориентации на кристаллические и аморфные области. Цветков показал [56—58], что в благоприятных случаях этот метод более чувствителен к присутствию небольшой доли кристаллической фазы, чем рентгенографический. Таким образом, коэффициент фотоэластичности может служить относительной мерой стереорегулярности. Кроме того, таким путем можно определить приблизительное значение сегментальной анизотропии — 2. С гораздо большей точностью эта величина может быть определена в растворе изучением двойного лучепреломления в потоке. Наконец, инфракрасные спектры дают значительную информацию о тонких деталях молекулярной структуры на малых отрезках молекул. Этот метод был одним из первых, использованных Натта [59] для того, чтобы продемонстрировать различия между стереорегулярнымн и атактическими полимерами. Основное препятствие в использовании этого метода состоит в том, что предварительно необходимо знать, к колебаниям каких связей относятся наблюдаемые полосы поглощения. Для идентификации полос чрезвычайно полезным оказалось дейтерирование образцов [60]. Соотношение оптических плотностей при двух длинах волн было использовано для полуколичественной оценки стереорегулярности нолиметилметакрилата [61], полиметакрилового ангидрида [62], полипропилена [59, 64] и поливинилхлорида [65, 66]. Для получения более детальной информации необходимо воспользоваться соотношением дихроизма полос поглощения, на что указал Готлиб [67]. Волчек и Роберман [68] использовали поляризованное излучение для определения микротактичности полипропилена. Дальнейшие детали можно найти в главе по инфракрасным спектрам . [c.20]

На основе всесторонних исследований оптического муара с помощью растров (сеток) А. В. Шубников предсказал возможность получения муара при наложении кристаллических атомных решеток (1926 г.). Его идея была реализована в 1957 г. с помощью электронного микроскопа, а затем в 1965—1968 гг.— с помощью рентгеновской дифракции. Рентгенодифракционный муар кристаллических атомных решеток в 10 раза более чувствительный, чем электронно-микроскопический, и соответственно и его возможности намного шире, особенно при исследованиях реальной структуры высокосовершенных кристаллов. По геометрии легко определяется характер искажения решетки (сжатие — растяжение решеток) — дилатацистшый муар или (поворот решетки) — ротационный муар. С помощью рентгеновского муара можно измерить искажения решетки Аё/с1 К)- и повороты решетки в 10- рад. Еще более расширяются возможности измереш я рентгенодифракционного муара при использовании трехкристального интерферометра. Здесь появляются новые возможности измерения абсолютных величин периодов решетки, длин рентгеновских волн, перемещений в 10- сл и углов поворота 10 рай и т. д. [c.403]