Разрешение при рентгеновской дифракции

Очевидно, что трехмерная визуализация молекулярной структуры (как в случае оптического микроскопа для образцов с размерами в диапазоне 1-100 мкм) позволила бы получить требуемую информацию напрямую. Однако разрешающая способность (т. е. способность различить соседние объекты) такого прибора ограничивалась бы длиной волны излучения или частиц. Так как расстояния между химически связанными атомами обычно находятся в пределах 0,9-3 А(1 А = 10 см), то следовало бы ожидать, что рентгеновское излучение с длинами волн, лежащими в этом диапазоне или вблизи него, может быть использовано для наблюдения молекулярной структуры. К сожалению, такой прямой подход невозможен, так как еще не создан материал, способный фокусировать рентгеновское излучение так же, как это делает стеклянная линза оптического микроскопа. Однако электроны с высокими энергиями, которые имеют подходящую длину волны (которая дается уравнением де Бройля), можно сфокусировать электростатическим полем. Тем не менее электронная микроскопия, хотя и позволяет реально увидеть большие молекулы и в благоприятном случае атомы, все же не может добиться разрешения рентгеновской дифракции (разд. 11.2) и, следовательно, непригодна как метод массового структурного анализа. [c.389]

Для моделирования свойств смол и асфальтенов использовался полиэтилен низкой кристалличности (от 5 до 10%), определенной с помощью ИК-спектроскопии. Рентгенограмма также показала наличие слабых рефлексов, полоса — (200) при 3,7 А. Полиэтилен служил для имитации алифатической части молекул асфальтенов, а в качестве ароматической части таковых бралась сажа. Конечно, оба компонента в этой искусственной смеси (полиэтилен и сажа) не воспроизводили тип углеродного скелета алифатической и ароматической частей молекул асфальтенов. Это была искусственная модель (заменитель), в какой-то мере чисто формально позволившая выявить характер влияния двух образцов углеродистого вещества с разным типом С—С-связей алифатической (полиэтилен) и графитоподобной — ароматической (сажа), на физическую упаковку (структуру) этой бинарной смеси — заменителя асфальтенов. Смесь сажа—полиэтилен составлялась постепенным добавлением сажи к полиэтилену под гидравлическим резиновым прессом. Образец этой смеси проводился 15 раз через пресс. Рентгеновские измерения производились при интенсивности в интервале 20=8н-100°. Были получены записи рентгеновской дифракции для различных асфальтенов и нефтяных смол (рис. 46). Путем нормализации этих кривых и сравнения их с независимой кривой распределения углерода в интервале (sin 0)Д=0,08-н0,5 были получены кривые рентгеновской дифракции (рис. 47) для исследованных природных образцов, которые сопоставлялись с кривыми для образцов кристаллического полиэтилена, сажи и их смесей (рис. 48). Такой прием нормализации был применен с целью разрешения 7- и (002)-полос, которые в дальнейшем служили для количест- [c.232]

Теоретические принципы, лежащие в основе световой микроскопии, справедливы и для электронной, а электронный микроскоп во многих отношениях аналогичен световому. Длина волны электронного пучка зависит от величины ускоряющего напряжения. Так, при 50 кВ она равна 0,054 А, а при 1000 кВ — 0,0087 А, т.е. короче рентгеновского излучения и поэтому можно было бы ожидать, что такой микроскоп будет давать изображение с большим разрешением по сравнению с рентгеновской дифракцией. Однако по техническим причинам это неосуществимо и лучшие современные электронные микроскопы дают разрешение 2,0 А. [c.168]

Достигнутое разрешение не позволяет визуализировать вторичную структуру полипептидной цепи. Конформация а-спирали была показана с помощью рентгеновской дифракции. [c.201]

В микроскопии разрешение зависит от длины волны используе мого излучения. В световом микроскопе при длине волны 500 нм разрешение пе превышает 250 нм. Использование рентгеновской дифракции и расчет изображений с помощью ЭВМ позволяют достичь разрешения 0,1 нм при длине волны излучения 0,15 нм. В электронном микроскопе при ускоряющем напряжении 100 кВ длина волны электронов составляет 0,003 нм. Однако по техническим причинам реальное разрешение этих приборов достигает лишь --0,3 нм, что в принципе уже позволяет различать многие детали структуры молекул. К сожалению, в- случае биологических материалов чрезвычайно трудно приготовить образцы для исследования, сохранив их структуру неизменной на уровне таких разрешений. Ограничение разрешения обусловлено не микроскопом, а существующими в настоящее время методами подготовки образцов для микроскопирования, позволяющими сохранить исследуемую структуру в вакууме при бомбардировке пучком электронов. [c.547]

Традиционным способом решения этой проблемы является окрашивание структур тяжелыми металлами. Поэтому обычно получаемое изображение представляет собой картину распределения окрашивающего вещества в исследуемом образце, на основании которой можно судить об особенностях молекулярной структуры объекта. Разрешение в этих случаях, как правило, не превышает 1,5 нм. Для повышения разрешения вплоть до 0,6 нм сравнительно недавно были разработаны новые методы микроскопирования молекул. В этих методах увеличение отношения величин полезного сигнала и шума достигается, как и в случае рентгеновской дифракции, использованием упорядоченных молекулярных образований — кристаллов. Ниже будут рассмотрены принципы рутинных методов электронной микроскопии, а затем и их новейшие усовершенствования. [c.548]

Бактериальные клетки имеют средние размеры 1-10 мкм, клетки растений и животных по размерам сильно различаются от 10 мкм до 10" мкм. Вирусы имеют величину 10-100 нм и не видны в световой микроскоп (разрешение светового микроскопа 200 нм). Размер средней молекулы белка составляет примерно 6,5 нм надмолекулярного комплекса (рибосомы) -10 нм. Субклеточные структуры имеют размеры от 0,1 до 100 нм их изучают с помощью методов электронной микроскопии и дифракции рентгеновских лучей. [c.4]

Гипотеза о том, что в целом структура воды подобна структуре льда (эта гипотеза, конечно, допускает существование большего беспорядка в жидкости, чем в твердом теле), подтверждается исследованиями дифракции рентгеновских лучей. Из рентгенограмм воды при различных температурах (1.5- Ч-83°С) были получены кривые радиального распределения, откуда далее из площадей пиков можно оценить среднее число соседних молекул на различных расстояниях. Первый пик на кривой означает, что при 1,5°С у каждой молекулы воды в среднем имеется 4,4 соседние молекулы на среднем расстоянии 2,90 А прп 83°С соответствующие цифры равны 4,9 молекулы и 3,05 А. За первым пиком кривая постепенно выходит на плохо разрешенный максимум в области 4,5—4,9 А, который указывает на существование молекул, находящихся между ближайшим и следующим за ближайшим окружением в структуре льда (2,8 и 4,5 А). Вследствие того что кривая радиального распределения содержит лишь небольшое число сравнительно хорошо разрешенных пиков, она может быть интерпретирована многими способами. [c.389]

Дифракция рентгеновских лучей (в широких углах) дифракция электронов инфракрасная спектроскопия ноглош,ения (в том числе поляризационная) ядерный магнитный резонанс (высокого разрешения) спектры комбинационного рассеяния ультрафиолетовая спектроскопия поглощения микроволновая спектроскопия другие спектроскопические методы рассеяние нейтронов [c.163]

Обычно используют более совершенную технику рентгеновских измерений по сравнению с описанной выше. В принципе методы дифракции электронов и нейтронов аналогичны методу дифракции рентгеновских лучей, но иногда они обладают известными преимуществами. Коротковолновое электронное излучение позволяет добиться более высокого разрешения, чем рентгеновские лучи, и обычно его используют при исследовании структуры небольших образцов. Метод дифракции нейтронов позволяет исследовать вещества с легкими ядрами, такими, как протоны полезен он и при изучении магнитных структур. [c.27]

Разрешение карт электронной плотности. Поскольку данные по дифракции рентгеновских лучей представляют соответствующие наборы параллельных плоскостей отражения внутри кристалла, отстоящих друг от друга на расстояние d , теоретическое разрешение карты Фурье улучшается при уменьшении . После того как рентгеноструктурные данные представлены в виде полного набора рефлексов рентгеновских лучей вплоть до некоторого минимального расстояния между плоскостями min, предельное разрешение трехмерной карты Фурье определяется соотношением [c.20]

В работах [656, 657] исследованы закономерности деструкции хлорированного полиэтилена высокой плотности (24—25% хлора) с использованием таких разнообразных методов, как ЯМР и ИК-спектроскопия, дифференциальная сканирующая калориметрия и дифракция рентгеновских лучей. Резонансный пик (+ СНг-последовательности при 1,25 м. д. в спектре ЯМР достаточно хорошо разрешен, для того чтобы провести его точное интегрирование. Мольную долю СНг для любого образца можно вычислить из спектра делением площади пика этих групп, который находится в диапазоне химического сдвига [c.177]

С помощью спектроскопии ЯМР высокого разрешения были исследованы конформация и кристаллизация поливинилиденфторида [381]. Проведены [382] детальные исследования структуры и свойств поливинилиденфторида и поливинилфторида методами ЯМР, дифракции рентгеновских лучей, гель-проникающей хроматографии, дифференциального термического анализа. [c.513]

Однослойные углеродные ианотрубки средним диаметром 1.2-1.4 нм были исследованы после обработки высоким давлением 9.5-15 ГПа и температурой до 1500°С. Были использованы спектроскопия КРС, рентгеновская дифракция, электронная микроскопия высокого разрешения. Также были измерены плотность образцов и их твердость. Рентгеновские дифракционные картины обработанньге давлением образцов, также как и исходного материала, не содержат отчетливых пиков, поскольку трубки не были упорядочены. В то же время, отсутствие характерного для аморфного углерода пика в области межплоскостных расстояний [c.62]

РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, дифракционный метод исследования атомно-молекулярного строения в-в, гл. обр. кристаллов, основанный на изучении дифракции рентгеновских лучей с длиной волны ок. 0,1 нм. Нек-рые задачи, вапр. определение положения части атомов в кристаллах относительно простого строения, можно решать с применением поликристаллич. образцов, однако по.чное определение структуры проводят на монокристаллах размером 0,1—0,5 мм. Использование полихроматич. излучения (метод Лауэ) позволяет получать сведения о симметрии кристалла и ориентировать его правильным образом. Для полного изучения структуры измеряют интенсивность максимально возможного числа рентгеновских дифракц. отражений с использованием монохроматич. излучения чем больше таких отражений, тем больше разрешение пра определении положения атомов. Обработка результатов измерений осуществляется на больших ЭВМ. По интенсивностям отра- [c.506]

Спектрометрию ПМР высокого разрешения применяли [731] для исследования о-дихлорбензольных растворов стереоблоч-ного полипропилена, а также полипропиленов с очень высоким содержанием изотактических и синдиотактических структур. Обсуждена связь между степенью стереорегулярности и экранированием протонов, а также некоторые осложнения, возни-каюшие при регистрации резонансного сигнала метиленового протона и при определении степени регулярности некоторых полимеров с использованием резонансных сигналов метиленового протона. Содержание стереорегулярных пар для двух фракций стереоблочного полимера определяли методом, основанным на использовании резонансных сигналов метильного протона. Содержание стереоблочных структур оказалось более высоким, чем найденное из данных о плавлении этих же фракций. Результаты, полученные методом ПМР, хорошо согласуются с результатами, полученными для ряда полимеров методами ИК-спектроскопии, рентгеновской дифракции и дифференциального термического анализа. [c.194]

В результате пиролиза хлорированного полистирола образуются MOHO- и дихлорстиролы, состав которых позволяет получить информацию о положении заместителей в ароматическом ядре исходного полистирола [1074]. Для исследования растворов по-лн-а-бромстирола в бензоле применяли [1075] метод малоугловой рентгеновской дифракции высокогс разрешения. Получено [1076] соотнощение между величиной Мп и вязкостью нефрак-ционированного поли (га-хлорстирола) и поли (о-метоксистирола) низкой степени полимеризации. [c.257]

Согласно экспериментальным данным, локальная упорядоченность в расположении сегментов характерна не только для твердых (стеклообразных), но и для жидких полимеров. Об этом свидетельствует, например, наличие нескольких четких межмолекулярных максимумов на рентген-дифрактограммах в широких углах некоторых некристаллизующихся полимеров (полистирол, полиизобутилен) выше и ниже температуры стеклования [29—31], а также кристаллизующихся полимеров (полиэтилен, поли-4-метилпентен-1) в расплаве [32, 33]. Аномальное изменение теплоемкости расплавов полиэтилена и полипропилена было отнесено П. Смитом [34] к обратимому разрушению и восстановлению областей ближнего порядка смектического типа, характерного для жидких кристаллов. На основании анализа формы линий спектра ЯМР низкого разрешения для полиэтилена и полиамидов Г. Цахман [35—37] сделал вывод о том, что наблюдаемый экспериментально сигнал в виде классической лоренцевой кривой для разбавленных растворов, с одной стороны, и в виде суперпозиции двух лоренцевых кривых для концентрированных растворов и расплава, с другой, свидетельствует о наличии в последнем случае флуктуационных областей с пониженной подвижностью макромолекул типа ММП. Представление о существовании сетки упорядоченных микрообластей ( микропачек ) было использовано Г. М. Бартеневым [37—40] для интерпретации процессов релаксации и течения расплавов полимеров в области низких значений скорости деформации и напряжения сдвига. Однако наиболее убедительные данные в пользу мнения о наличии ближнего сегментального порядка в расплавах различных полимеров были представлены в серии работ Ю. К. Овчинникова и Г. С. Марковой [41—45]. Анализ дифференциальных кривых функций радиального распределения, полученных методами электронографии и рентгеновской дифракции, позволил обнаружить существование в расплавах кристаллизующихся и некристаллизующихся полимеров участков квазипараллельного расположения сегментов, минимальные размеры которых в продольном (т. е. вдоль длинной оси макромолекулы) и в поперечном направлениях составляют в зависимости от природы полимера от 15 до 50 А [41— 45]. При этом расчетные значения плотности, полученные в предположении гексагональной упаковки развернутых цепей в расплаве, удовлетворительно совпадают с экспериментальными [c.5]

Химическое отделение Заведующий R. N. Haszeldine Направление научных исследований теория молекулярного строения применение рентгеновской дифракции для изучения молекулярного строения катализ и ингибирование реакций в газовой фазе электронный парамагнитный резонанс свободных радикалов в газовой фазе ЯМР высокого разрешения применение электронно-вычислительных машин для физико-химического анализа газожидкостная хроматография применение галогенов в аналитической химии гидриды металлов сильные неорганические кислоты химия фтора, висмута, фосфора, ванадия методы спектроскопического определения фтора в органических и металлорганических соединениях окисные катализаторы жидкофазное окисление углеводородов органические соединения азота использование полифосфорной кислоты в органическом синтезе кремний-, фосфор- и сераорганические соединения эмульсионные полимеры фторсодержащие полимеры фенол-форм альдегидные смолы силиконы, силоксаны, полисилоксаны масс-спектроскопическое изучение полимеров деструкция полимеров. [c.264]

Предыдущая глава была посвящена одному из самых выдающихся не только в биологии, но и во всем естествознании научных достижений уходящего столетия. На рубеже 1950-1960-х годов, как отмечалось, Перутц и Кендрью завершили расшифровку трехмерных структур гемоглобина и миоглобина. Тем самым они впервые решили поставленную еще четверть века до этого Берналом задачу определения с помощью рентгеновской дифракции пространственного строения белковых молекул. Труд Перутца и Кендрью означал становление нового магистрального направления в развитии биологии - морфологии элементарных биосистем, открывающей невиданные доселе возможности в познании строения живой материи. Рентгеноструктурный анализ белков после классических работ Перутца и Кендрью, а также Филлипса, установившего в 1965 г. трехмерную структуру лизоцима, стал развиваться быстрыми темпами во многих научных центрах. Спустя лишь два года после определения строения первого фермента были расшифрованы структуры рибонуклеазы А [228-230], а-химотрипсина [231] и карбо-ксипептидазы А [232]. К 1975 г. число белков, кристаллографические молекулярные структуры которых стали известны с разрешением <3,5 А, достигло 79 [196]. В настоящее время оно превышает 2500 [233]. [c.54]

После многолетних попыток удалось закристаллизовать молекулы G-актина, причем только вместе с молекулами ДНКазы I в соотношении 1 1. Поэтому трехмерная структура мономерного актина на атомном уровне стала известна из данных рентгеновской кристаллографии комплекса G-актин-ДНКаза I [453]. Одновременно была пол чена диаграмма рентгеновского рассеяния F-актинового волокна с разрешением 6 А и найдена ориентация G-актинового мономера в двойной спирали полимера путем сравнения рассчитанных картин рентгеновской дифракции с наблюдаемой [452]. Оставшиеся неустра-ненными различия отражают тот факт, что полимеризация актина сопровождается незначительными конформационными изменениями. Но лишь отчасти, поскольку использование уточненной структурной модели G-актина в построении модели F-актиновой нити привело недавно к лучшему совпадению результатов расчета с экспериментальными данными [454]. Дальнейшее уточнение модели затруднено отоутствием для F-актина диаграммы рентгеновской дифракции более высокого, чем 6 А, разрешения. Выход может быть найден при обращении к теоретическому подходу и использованию методов конформационного анализа и молекулярной динамики [455,456]. Атомная модель Р-актина, построенная путем согласования данных рентгеноструктурного анализа кристаллов G-актина и тонких филаментов F-актина, совпала с атомной моделью, реконструированной по снимкам криоэлектронной микроскопии актиновой нити [457,458]. [c.123]

А А. Подготовка рентгеновской съемки кристаллов нативного белка или его производных. Закрепление кристаллов в капил-лярах. После того как кристаллы и их производные получены, необходимо исследовать их с помощью рентгеновской дифракции, чтобы определить пригодность для дальнейшей работы. Существуют два первичных критерия разрешение и изоморфизм. Для того чтобы можно было провести рентгеновские съемки, кристалл должен быть помещен в тонкостенный капилляр (рис. 20.9). С помощью тонкой пастеровской пипетки кристалл вместе с каплей маточного раствора переносят из кристаллизационной ячейки в капилляр. Для предотвращения изменения ионной силы во время съемки (например, в результате высыхания) в один из концов капилляра помещают дополнительную каплю маточного раствора и открытый конец капилляра герметично заклеивают зубным воском. Для удаления избытка жидкости вблизи кристалла пользуются тонкими полосками фильтровальной бумаги. Удаление избытка жидкости снижает фоновое рассеивание рентгеновских лучей, и кристалл лучше удерживается в неком фиксированном положении силами поверхностного натяжения следовых количеств жидкости вокруг него. В оставшийся открытым конец капилляра вводят еще одну каплю маточного раствора и закрывают его воском (рис. 20.9). Обычно начинают с того, что концы тонкостенного капилляра (длиной 30—40 мм) заранее покрывают воском так, чтобы после внесения кристалла и маточного раствора его можно было закупорить быстро и герметично. [c.541]

В экспериментах по исследованию эффекта Мёссбауэра в схеме на рассеяние, в особенности нри изучении дифракции мессбауэровских 7-квантов, удобно использовать так называемую фокусирующую схему в расположении источника, рассеивателя и детектора 7-квантов (рис. ХП.З). Такая геометрия съемки позволяет получать наибольшее угловое разрешение. Наиболее часто используется схема фокусировки по Бреггу — Брентано, для чего в конструкции мессбауэровских дифрактометров удобно использовать рентгеновские гониометры типа ГУР. [c.232]

Электронография как метод изучения структуры кристаллов имеет след, особенности 1) взаимод. в-ва с электронами намного сильнее, чем с рентгеновскими лучами, поэтому дифракция происходит в тонких слоях в-ва толщиной 1-100 нм, 2) /з зависит от атомного номера слабее, чем /р, что позволяет проще определять положение легких атомов в присут. тяжелых 3) благодаря тому что длина волны обычно используемых быстрых электронов с энергией 50-100 кэВ составляет ок. 5-10 им, геом. интерпретация электронограмм существенно проще. Структурная электронография широко применяется для исследования тонкодисперсных объектов, а также для изучения разного рода текстур (глинистые минералы, пленки полупроводников и т. п.). Дифракция электронов низких энергий (10-300 эВ, X 0,1-0,4 нм)-эффективный метод исследования пов-стей кристаллов расположения атомов, характера их тепловых колебаний и т. д. Электронная микроскопия восстанавливает изображение объекта по дифракц. картине и позволяет изучать структуру кристаллов с разрешением 0,2-0,5 нм. [c.99]

В последние годы благодаря развитию экспериментальной техники, в первую очередь электронной микроскопии высокого разрешения и высокоразрешающих методов рентгеновской и электронной дифракции, стали возможными экспериментальные исследования структуры границ на атомном уровне. С помощью этих методов, а также ионной микроскопии получены убедительные доказательства справедливости кристаллогеометрических теорий для описания структуры границ. Эти выводы относятся как к межзе-ренным, так и к межфазным границам. [c.90]

РИС. 4-19. Б. Рентгенограмма, используемая при определении структуры гемоглобина. Дифракционная картина получена от кристалла дезоксигемоглобина человека кристалл вращали определенным образом вокруг двух разных осей, пропуская через него пучок рентгеновских лучей. Прп этом синхронно перемещалась и рентгеновская пленка. Наблюдаемая на рентгенограмме периодичность является следствием дифракции рентгеновских лучей на периодически расположенных атомах в кристалле. Расстояния рефлексов от начала координат (центра) обратно пропорциональны расстояниям между плоскостями атомов в кристалле. На этой фотографии (которая показывает только два измерения трехмерной дифракционной картины) рефлексы, расположенные на периферии, соответствуют расстоянию 0,28 нм. Измерив интенсивности рефлексов и определив фазы гармонических функций, необходимых для проведения обратного Фурье-преобразования, из полного набора аналогичных дифракционных картин можно установить структуру с разоещением 0,28 нм. Для дезоксигемоглобина человека полный набор должен включать примерно 27 ООО рефлексов (С любеаиого разрешения [c.309]

Разработка установок — комбайнов, сочетающих несколько методов и оборудованных вычислительных техникой, что позволяет производить измерения и анализ химических, геометрических, электронных и других свойств. Определяется переход от уникальных лабораторных установок к установкам, выпускаемым снециализи-рованиыми фирмами можно говорить о создании индустрии научного приборостроения, В качестве примера на рис. 3.29 приведен общий вид установки, в составе которой имеются Оже-снектрометр, рентгеновский электронный спектрометр, ионный микроскоп, электронный микроскоп на вторичных электронах с разрешением -З О мкм, Оже-микроскоп для элеметного анализа с разрешением до 1 мкм, ионная очистка, прибор для дифракции электронов и т, д. Установ- [c.148]

Спектры комплексов, содержащих циановую группу, были получены методами суспензии и таблеток КВг кроме того, наблюдались спектры монокристаллов этих веществ. Спектры восьми октациановых комплексов вольфрама и молибдена были исследованы в области 5000—300 см- методом таблеток КВг [247]. Спектры дегидратированных комплексов содержат две хорошо разрешенные полосы, соответствующие валентным колебаниям ОН кроме того, наблюдается расщепление полосы, соответствующей валентным колебаниям С ннМ. Когда было сконструировано специальное приспособление для дегидратирования образцов, расщепление стало менее заметным, а интенсивная полоса, наблюдаемая в спектрах гидратированных образцов вблизи 400 слг оказалась сдвинутой в длинноволновую часть спектра. Джонс [248—252] рассчитал силовые постоянные деформационных и валентных колебаний для ряда молекул цианидов, используя колебательные частоты, полученные экспериментальным путем. Результаты показывают, что в молекулах КАи(СЫ)г, Нд(СЫ)2 и KAg( N)2 металлы связаны с цианидами через атомы углерода. Используя спектры KAg( N)2 и КАи(СН)2, полученные с помощью поляризованного излучения, Джонс показал, что угол между линейной группой ЫС—М—СМ (где М представляет собой Ag или Аи) и осью с кристалла является одним и тем же для этих двух соединений. Величина аналогичного угла в соединении KAg( N)2 была найдена из результатов работ по дифракции рентгеновских лучей и оказалась равной 27° [253]. [c.85]

Рядом исследователей [90—92] опубликованы ИК-спектры целлюлозы в ближней ИК-области и проведено отнесение по-, юс поглощения [93], связанных с комбинациями основных частот и (или) обертонами. Невозможность соотнести линию поглощения со специфическими химической связью или колебаниями несколько ограничивает структурную информацию, которая могла бы быть получена из спектров в ближней ИК-об-ласт11. Были отмечены [92, 93] различия в степени разрешения и относительных интенсивностях линий для различных образцов целлюлозы, но не проведено специфических корреляций. Из ИК-спектров можно оцепить кристалличность целлюлозы, а также прочность внутримолекулярных водородных связей и силы кристаллической решетки. Так как преобладающими яв-ляются валентные и деформационные колебания связей С—О и О—И, это позволяет ожидать, что кристалличность будет влиять и на ближнюю ИК-область. По интенсивности полос поглощения в ближней ИК-области была определена [94] степень кристалличности. Полученные данные для природной и регенерированной целлюлозы были сопоставлены с данными метода дифракции рентгеновских лучей (рис. 169). Значения, полученные методом ИК-спектроскопии, зависят от размеров кристаллитов. [c.473]

Внедрению рентгеноспектральных методов в практику способствовало то обстоятельство, что за последние 10—15 лет помимо классического кристалл-дифракционного рентгеноспектрального анализа, использующего дифракцию рентгеновского излучения на кристаллах-анализаторах, появился и получил значительное развитие бескристальный вариант рентгеноспектрального анализа, отличающийся рядом существенных преимуществ и в первую очередь высокой светосилой и аппаратурной простотой. Исключение из схемы прибора кристалла-анализатора или дифракционной решетки приводит к снижению разрешающей способности метода, избирательность которого в бес-кристальном варианте обеспечивается энергетическим разрешением детектора в сочетании с фильтрами и дифференциальной амплитудной дискриминацией. Однако благодаря повышению светосилы на 5—6 порядков удается использовать радиоизо-топные источники сравнительно малой активности или специальные маломощные (менее 10 Вт) рентгеновские трубки. Отсутствие прецизионных, требующих точной настройки рентгенооптических систем и мощного источника питания, позволяет взамен кристалл-дифракционной рентгеновской аппаратуры (массой до 2000 кг и потребляемой от сети мощности около 10 кВт) создать портативные, легко транспортабельные (массой не более 100 кг), надежные и сравнительно недорогие приборы, которые особенно эффективны при непрерывном автоматическом контроле элементного состава материалов без отбора проб. [c.5]

Наиболее близким к Со(Н)-карбоангидразе по спектральным свойствам оказался недавно полученный комплекс Со(II) с координационным числом 5 [93—96]. В результате этого появились мнения о том, что и в белке для кобальта характерно координационное число пять. Однако по данным рентгеноструктурного анализа с разрешением 2 А координационная сфера Со(II) напоминает сильно искаженную тетраэдрическую конфигурацию (рис. 16.20, Б) [98]. Подобная структура наблюдалась и у недавно исследованных методом дифракции рентгеновских лучей кристаллов б с-ацето-быс-(этилентиокарбамид)кобальта(И) [97]. При комнатной температуре спектр этого соединения очень похож на спектры Со(II)-карбоангидразы. [c.582]

Поскольку новые методы исследования тесно связаны со стереорегулярностью полимеров, в книге приведена отдельная глава но определению микротактичности. Только одна глава книги — фракционирование—составлена с препаративной точки зрения. Но даже в этом случае выбраи один метод — экстракционная хроматография применительно к полиолефинам. В шести главах изложены методы, которые можно отнести к категории оптических. К ним относятся использование поляризованного излучения и дейтерированных образцов в инфракрасной спектроскопии, двойное лучепреломление и светорассеяние твердыми полимерами, дисперсия оптического вращения, поляризационная флуоресценция, дифракция рентгеновских лучей под малыми углами и дифракция электронов. В главе о ядерном магнитном резонансе рассматриваются только спектры высокого разрешения. Двумя термометрическими методами являются дифференциальный термический анализ и новый метод измерения тепловых эффектов при механической деформации. Остальные пять глав посвящены свойствам растворов и некоторым другим свойствам светорассеянию и осмометрии при повышенных температурах, ультрацентрифугированию в градиенте плотности, двойному лучепреломлению в потоке, эластоосмометрии и полимерным монослоям. [c.7]

Направление научных исследований расчет плотности электронов изучение строения сложных молекул с помощью рентгеновской и нейтронной дифракции ЯМР высокого разрешения четвертичные производные пиридина витамин К механизм фосфорили-рования in vivo и in vitro химия коэнзимов. [c.273]

Твердые комплексы с водородной связью типа кислых солей карбоновых кислот делят на два класса по ряду различных физических критериев. К первому классу относят комплексы, для которых при помощи инфракрасной спектроскопии, дифракции нейтронов и рентгеновских лучей показано, что карбоксильная группа и карбоксилат-ион сохраняют в общем каждый свою индивидуальность, хотя их структуры могут быть искажены водородной связью, и что протон находится вблизи одного из атомов, с которым он образует связь. Эти системы несомненно отвечают водородным связям с двумя потенциальными ямами, хотя точный вид потенциальных кривых остается спорным. Ко второму классу относят твердые комплексы, обладающие рядом свойств, характерных для симметричных систем с одной потенциальной ямой. Эксперименты по дифракции нейтронов на смешанных кристаллах фенилуксусной кислоты с ее натриевой солью при низкой температуре указывают на то, что, в пределах довольно высокого разрешения этого метода протон находится посредине между двумя атомами кислорода, являясь участником, по-видимому, симметричной водородной связи [46]. Рентгенографические исследования ряда систем этого типа, таких, как комплекс трифторуксусной кислоты с ее натриевой солью с расстоянием О...О, равным 2,435 А, показывают, что две карбоксильные группы становятся эквивалентными и имеют ДЛ1ШЫ связей, промежуточные между длинами связей в свободной и ионизированной карбоксильных группах. Это значит, что либо система является симметричной (VI), либо протон может перемещаться между двумя карбоксильными группами таким образом, что обе группы выглядят идентичными при рентгенографическом анализе. [c.268]

Нейтронные монохроматоры. Для выполнения экспериментов с нейтронами, обладаюш ими определенной энергией, был разработан целый ряд методов их селекции. Один из них основан на использовании кристаллического спектрометра, являющегося аналогом монохроматора с дифракционной решеткой в оптике. Тепловые нейтроны со скоростью 2,2- Ю см/сек (наиболее вероятная скорость при 20°) обладают длиной волны Я = himv = 1,8-10 см, что соответствует интервалу длин волн обычных рентгеновских лучей (1,54-10 см для линии -атома меди). Расстояния между атомными плоскостями в кристалле таковы, что они образуют подходящую дифракционную решетку для медленных нейтронов, равно как и для рентгеновских лучей. Дифракция нейтронов значительно больших энергий (обладающих, следовательно, меньшей длиной волны) может с успехом наблюдаться, если они падают на кристалл под скользящими углами. При наличии интенсивного источника медленных нейтронов (например, ядерного реактора) комбинация кристалла и щели может служить селектором нейтронов с хорошим разрешением — от - 0,02 до - 10 зв, — отбирающим их из непрерывного спектра. [c.378]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология